GB/T 43883-2024微束分析分析電子顯微術(shù)金屬中納米顆粒數(shù)密度的測(cè)定方法

ICS7104099

CCSN.33.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T43883—2024

微束分析分析電子顯微術(shù)金屬中納米

顆粒數(shù)密度的測(cè)定方法

Microbeamanalysis—Analyticalelectronmicroscopy—Methodfor

determiningthenumberdensityofnanoparticlesinametal

2024-04-25發(fā)布2024-11-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T43883—2024

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

符號(hào)

4………………………2

原理

5………………………3

試樣

6………………………5

儀器設(shè)備

7…………………5

的準(zhǔn)備

8TEM/STEM……………………6

試驗(yàn)方法

9…………………6

試樣厚度的測(cè)定

10………………………12

數(shù)密度的計(jì)算

11…………………………12

不確定度評(píng)定

12…………………………13

檢測(cè)報(bào)告

13………………15

附錄資料性用圖像分析軟件統(tǒng)計(jì)顆粒數(shù)的方法

A()…………………16

附錄資料性鋁合金中某析出相顆粒數(shù)密度的測(cè)定示例

B()TEM…………………17

參考文獻(xiàn)

……………………24

Ⅰ

GB/T43883—2024

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專(zhuān)利的責(zé)任

。。

本文件由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位中國(guó)航發(fā)北京航空材料研究院北京科技大學(xué)牛津儀器科技上海有限公司

:、、()。

本文件主要起草人婁艷芝柳得櫓徐寧安

:、、。

Ⅲ

GB/T43883—2024

引言

金屬材料中彌散分布的納米尺度第二相顆粒對(duì)材料的顯微組織與力學(xué)性能有重要影響第二相顆

。

粒的數(shù)密度是許多材料在進(jìn)行性能評(píng)估及生產(chǎn)工藝改進(jìn)時(shí)都不可或缺的重要參數(shù)金屬材料中的納米

,

級(jí)析出相顆粒尤為重要受分辨率的限制很多分析手段難以對(duì)其進(jìn)行觀測(cè)和統(tǒng)計(jì)而透射電子顯微

。,,

術(shù)掃描透射電子顯微術(shù)等高分辨率的現(xiàn)代技術(shù)是進(jìn)行納米顆粒分析的通用技術(shù)規(guī)

/(TEM/STEM)。

范材料中納米顆粒數(shù)密度的測(cè)定方法對(duì)于金屬材料的研發(fā)以及生產(chǎn)工藝的制定與改進(jìn)具有極其重要的

意義

。

Ⅳ

GB/T43883—2024

微束分析分析電子顯微術(shù)金屬中納米

顆粒數(shù)密度的測(cè)定方法

1范圍

本文件描述了應(yīng)用透射電子顯微鏡掃描透射電子顯微鏡技術(shù)測(cè)定金屬材料中納

/(TEM/STEM)

米級(jí)第二相顆粒數(shù)密度的方法

。

本文件適用于測(cè)定金屬材料中彌散分布粒徑在幾納米至幾十納米范圍的第二相顆粒的數(shù)密度

、。

被測(cè)顆粒的平均尺寸宜在透射電鏡試樣厚度的約以下且試樣中的顆粒在透射電鏡圖像上沒(méi)有互

1/3,

相重疊或很少重疊顆粒尺寸不在這個(gè)范圍的試樣可參照?qǐng)?zhí)行其他晶體材料可參照?qǐng)?zhí)行

。,。

本方法不適于測(cè)定聚集成團(tuán)的第二相顆粒的數(shù)密度

。

注1可測(cè)定的最小顆粒尺寸取決于所用設(shè)備的分辨率和采用的實(shí)驗(yàn)技術(shù)

:TEM/STEM。

注2待測(cè)定的第二相顆粒尺寸通常在范圍

:5nm~40nm。

注3圖像上若出現(xiàn)第二相顆粒重疊的情況將增大顆粒計(jì)數(shù)的不確定度

:TEM,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

微束分析分析電子顯微術(shù)透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

GB/T18907

微束分析薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測(cè)定方法

GB/T20724

測(cè)量不確定度評(píng)定和表示

GB/T27418

微束分析分析電子顯微學(xué)術(shù)語(yǔ)

GB/T40300

3術(shù)語(yǔ)和定義

界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T40300。

31

.

測(cè)量框measurementframe

試樣圖像上的一個(gè)區(qū)域在此區(qū)域中對(duì)顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)和圖像分析

,。

注一系列的測(cè)量框構(gòu)成總的測(cè)試區(qū)域

: