2024增材制造標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件增材制造系統(tǒng)幾何成形能力評(píng)估

增材制造標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件增材制造系統(tǒng)幾何成形能力評(píng)估II目 次前言 II引言 I1范圍 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14制備測(cè)試件的一般要求 14.1材料 1工藝規(guī)范 1文件格式 2測(cè)試規(guī)范和測(cè)試過程 2測(cè)試件的數(shù)量和位置 2成形位置和方向 34.7標(biāo)記 3測(cè)試件陣列與合并 3支撐和后處理 35測(cè)量測(cè)試件的一般要求 35.1通則 3沉積態(tài)測(cè)試件的測(cè)量 4測(cè)量方案 4測(cè)量不確定度 46測(cè)試件幾何形狀 46.1概述 46.2精度 4成形分辨率 11表面粗糙度 196.5標(biāo)記 22附錄A(資料性)測(cè)試件擺放示例 26附錄B(資料性)測(cè)試方法 28附錄C(資料性)測(cè)試過程 31附錄D(資料性)本文件與ISO/ASTM52902:2023相比的結(jié)構(gòu)變化情況 38附錄E(資料性)本文件與ISO/ASTM52902:2023的技術(shù)性差異及其原因 39參考文獻(xiàn) 40PAGEPAGE10增材制造標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件增材制造系統(tǒng)幾何成形能力評(píng)估范圍本文件規(guī)定了增材制造標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件制備、測(cè)量和幾何形狀的一般要求。本文件適用于利用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件進(jìn)行增材制造系統(tǒng)校準(zhǔn)和成形能力評(píng)估。規(guī)范性引用文件（包括所有的修改單適用于本文件。GB/T35022增材制造主要特性和測(cè)試方法零件和粉末原材料GB/T35351增材制造術(shù)語GB/T39329—2020增材制造測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件精度檢驗(yàn)GB/T41507—2022增材制造術(shù)語坐標(biāo)系和測(cè)試方法（GB/T41507—2022，ISO52921:2013，MOD）HB8747-2023航空增材制造測(cè)試報(bào)告格式與數(shù)據(jù)要求術(shù)語和定義GB/T35351界定的術(shù)語和定義適用于本文件。制備測(cè)試件的一般要求總則本章節(jié)規(guī)定了適用于制備本文件中所有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件（以下簡(jiǎn)稱“測(cè)試件”）幾何形狀的總體原則，僅包括與測(cè)試件制備過程相關(guān)的通用要求，針對(duì)具體幾何形狀的特定要求見第6章。材料規(guī)范（如流動(dòng)性（如化學(xué)成分和污染程度）等要求，并明確原始粉末再利用的要求，包括原始粉末/使用過粉末的混合百分A)。工藝規(guī)范測(cè)試件加工前，供需雙方應(yīng)確定滿足ASTMF2971要求的工藝規(guī)范（附件A1中的元素“C”）（供需雙方宜就工藝規(guī)范中的參數(shù)達(dá)成一致。準(zhǔn)備用文件的格式、切片參數(shù)及數(shù)據(jù)文件的準(zhǔn)備步驟。文件下載標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件幾何形狀的3D數(shù)字模型可在\h文件轉(zhuǎn)換要求為確保測(cè)試件能夠準(zhǔn)確反映增材制造系統(tǒng)的成形能力，CAD模型轉(zhuǎn)換為AMF、STL或其他任何中間文CAD模型的最大偏差小于增材制造系統(tǒng)預(yù)期精度的想情況下小于所評(píng)估增材制造系統(tǒng)預(yù)期精度的1/10。目前，大多數(shù)增材制造設(shè)備無法成形精度優(yōu)于10μm的特征結(jié)構(gòu)，因此CAD模型保存為STL/AMF格式時(shí)，應(yīng)確保至少2.5μm或更高精度。這只是一般性指大偏差，如弦高和角度偏差。型，并將其記錄為工藝規(guī)范的一部分。測(cè)試規(guī)范和測(cè)試過程ASTMF2971-13：2021A/6ASTMF2971-13：2021A測(cè)試件的數(shù)量對(duì)于設(shè)備性能的完整測(cè)試，測(cè)試件的數(shù)量需至少考慮以下兩個(gè)方面：——測(cè)試規(guī)范/5量結(jié)果?！獪y(cè)試件覆蓋的成形區(qū)域?qū)Τ尚纹脚_(tái)要有足夠的區(qū)域覆蓋率（見4.7）以檢測(cè)不同成形位置之間的性能差異。重復(fù)成形能用來測(cè)試工藝的可重復(fù)性。對(duì)增材制造系統(tǒng)性能進(jìn)行抽查或演示時(shí)可以減少測(cè)試件數(shù)量，降低區(qū)域覆蓋率，如附錄A。測(cè)試件的數(shù)量應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定，并不少于5次測(cè)量。測(cè)試件的分布建議測(cè)試件的擺放區(qū)域至少占設(shè)備成形平臺(tái)的80%。如果成形位置影響已知或與用戶要求的特定試驗(yàn)無關(guān)，則可根據(jù)供需雙方之間的協(xié)議選擇單個(gè)成形位置。要檢測(cè)非線性或周期性的校正，就必須要有橫跨構(gòu)建體積范圍的長(zhǎng)的測(cè)試件。測(cè)試件的位置和方向按照附錄A的規(guī)定，測(cè)試報(bào)告宜包含測(cè)試件的成形位置和方向（見GB/T41507）。標(biāo)記標(biāo)記符號(hào)宜添加到測(cè)試件上以識(shí)別測(cè)試件的成形方向和零件位置。具體見6.5。測(cè)試件陣列與合并（因?yàn)檫@將影響到測(cè)試結(jié)果測(cè)試件的幾何圖形以獲得更大的覆蓋區(qū)域，見圖2進(jìn)行的縮放，例如在使用粘結(jié)劑噴射增材制造的應(yīng)用中。AMF或STL單個(gè)文件中準(zhǔn)確定位零件陣列的相對(duì)位置。增材制造是沿ZX-Y中數(shù)據(jù)的四舍五入會(huì)影響特定圖層或像素的成形。因此測(cè)試報(bào)告宜包含測(cè)試件的成形方向（見GB/T41507）。度，建議用戶制作測(cè)試件時(shí)確保足夠的間距。支撐和后處理限于材料、幾何尺寸、去除方法。形能力情況下，可進(jìn)行適當(dāng)?shù)谋砻嫣幚砘蚝筇幚?，否則不宜進(jìn)行任何的表面處理或后處理。（或未進(jìn)行）縮放”。測(cè)試件測(cè)量的一般要求總則6（千分表GB/T35022推薦了一些測(cè)量方法，測(cè)試報(bào)告宜包含本節(jié)規(guī)定的測(cè)量方法，詳細(xì)信息見附錄A和附錄B。沉積態(tài)測(cè)試件的測(cè)量記錄。測(cè)量方案附錄B和C根據(jù)實(shí)際情況選擇最小測(cè)量不確定度的測(cè)量方案。測(cè)量不確定度每項(xiàng)測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)不確定度應(yīng)與測(cè)量結(jié)果一起報(bào)告。用戶宜記錄測(cè)量過程和使用設(shè)備的任何校準(zhǔn)和質(zhì)量保證體系，應(yīng)在測(cè)試報(bào)告中明確測(cè)量設(shè)備的精度。測(cè)量系統(tǒng)分析(MSA)和量具重復(fù)性和再現(xiàn)性(R&R)也是進(jìn)行測(cè)量不確定度評(píng)估的可接受方法。參見ASTME2782。測(cè)試件的幾何屬性概述下文描述了七種類型的測(cè)試件，每種測(cè)試件旨在測(cè)試增材制造系統(tǒng)不同的性能或能力。精度線性精度測(cè)試件目的性誤差可作為診斷系統(tǒng)運(yùn)動(dòng)誤差或定位補(bǔ)償?shù)囊罁?jù)。幾何形狀圖1為X,Y征的包圍盒為5mm×5mm×5mm圖1X,Y方向線性精度測(cè)試件度測(cè)試件時(shí)，端部凸起的2.5mm疊加形成了中心凸起全部為5mm立方塊，如圖2所示。圖2兩個(gè)線性精度測(cè)試件合并1測(cè)試件模型整體按1:2要較長(zhǎng)的線性精度測(cè)試件，將圖1測(cè)試件模型整體按2:1放大制作。測(cè)量線性精度測(cè)試件主要測(cè)量立方體表面相對(duì)于測(cè)試件末端主基準(zhǔn)面的位置（見圖1）或者測(cè)量每個(gè)凸起的長(zhǎng)度和每個(gè)凸起之間的間距.可選測(cè)量項(xiàng)目是基座沿測(cè)試件長(zhǎng)度的直線度、基座每一側(cè)沿測(cè)試件長(zhǎng)度的平行度和每個(gè)凸起的高度。線性精度測(cè)試件測(cè)量項(xiàng)目見表1。表1線性精度測(cè)試件測(cè)量項(xiàng)目表測(cè)量項(xiàng)目可選擇的測(cè)量項(xiàng)目X,Y方向：立方體表面相對(duì)于測(cè)試件末端基準(zhǔn)面的位置或者測(cè)量每個(gè)凸起的長(zhǎng)度和每個(gè)凸起之間的間距Z沿測(cè)試件長(zhǎng)度的基座的直線度、基座每一側(cè)沿著測(cè)試件長(zhǎng)度的平行度和每個(gè)凸起的高度注意事項(xiàng)X,Y,Z41507(例如沿龍門系統(tǒng)的X軸滑動(dòng))，可以更好地將測(cè)試件的誤差與定位系統(tǒng)中的誤差運(yùn)動(dòng)聯(lián)系起來。成形方向宜避免造成刮刀運(yùn)動(dòng)碰撞或損壞測(cè)試件。間以及行程末端附近。（例如在凸起部分的下面（宜慎重選擇支撐策略以盡量減小對(duì)測(cè)量過程/精度的影響。（Z（6.2.3）圓形測(cè)試件目的建表面上的方法(例如粘接劑噴射)。通過這些測(cè)試件可以區(qū)分材料的影響與增材制造系統(tǒng)中可能存在的外部誤差源。幾何形狀基座圓環(huán)內(nèi)徑的尺寸:粗圓形的內(nèi)徑為20.0mm，中圓形的內(nèi)徑為10.0mm，細(xì)圓形的內(nèi)徑為5.0mm;粗100.050.025.0mm12.0mm、6.0mm、3.0mm。并在圓柱體外相交。圖3圓形測(cè)試件外環(huán)所述圓環(huán)的外徑為粗圓形為94.0mm，中圓形為47.0mm，細(xì)圓形為23.5mm，粗圓形為60.0mm，中圓形為30.0mm，細(xì)圓形為15.0mm。圓環(huán)的高度分別為距底座頂面40.0mm、20.0mm和10.0mm。內(nèi)圈32.015.08.028.014.0mm，7.0mm40.0mm、20.0mm、10.0mm。測(cè)量主要測(cè)量方法是測(cè)量圓環(huán)表面的圓度(圓度)。另外，每個(gè)內(nèi)環(huán)和外環(huán)的直徑大小可以在多個(gè)(至少五個(gè))位置測(cè)量，報(bào)告最大內(nèi)切圓和最小外切圓直徑。第二種選擇是在多個(gè)(至少五個(gè))位置測(cè)量每個(gè)環(huán)的壁厚。該工件的可選測(cè)量包括每個(gè)圓環(huán)的每個(gè)面的同心度以及每個(gè)環(huán)的每個(gè)面的圓柱度。注意事項(xiàng)構(gòu)建位置和方向:需要考慮構(gòu)建空間中的多個(gè)圓環(huán)結(jié)構(gòu)。確定工件擺放方向，使機(jī)器的兩個(gè)運(yùn)動(dòng)軸獨(dú)立運(yùn)動(dòng)，減少因軸間運(yùn)動(dòng)干擾導(dǎo)致的誤差。(即參考面D的方向應(yīng)與XY、YZ或ZX平面正交)。如果零件與平行于XY平面的參考面D建造，則不需要使用支撐?；鍛?yīng)該是一個(gè)堅(jiān)實(shí)的結(jié)構(gòu)，能夠牢牢固定圓環(huán)的底面為防止成型失敗，用戶應(yīng)該考慮他們系統(tǒng)的壁厚的成型能力。報(bào)告除測(cè)量值外，圓形測(cè)試件的報(bào)告應(yīng)至少包括下列資料:--同心圓數(shù)量;--為便于識(shí)別，圓環(huán)的命名方法;--擺放在基板上的位置;--圓環(huán)標(biāo)識(shí)(由內(nèi)到外)。Z目的這些工件用于測(cè)試沿機(jī)器z軸方向的線性定位精度。這就像線性精度工件，不需要任何支撐結(jié)構(gòu)來表示機(jī)器的z軸定位性能。根據(jù)工件的方向和機(jī)床配置，工件的誤差可以為定位補(bǔ)償或診斷z軸定位系統(tǒng)中的特定誤差運(yùn)動(dòng)提供依據(jù)。幾何形狀圖4描述了中等z中、小3類測(cè)試件：具有9(33)級(jí)階梯的小型測(cè)試件，具有16(44)級(jí)階梯的中型測(cè)試件，以及具有36(66)級(jí)階梯的大型測(cè)試件。圖3Z軸測(cè)試件表1-z軸測(cè)試工件的臺(tái)階高度列表步小測(cè)試件中測(cè)試件大測(cè)試件12500mm3000mm3500mm26250mm7500mm8750mm311875mm14250mm16625mm417500mm24375mm24500mm521250mm34500mm29750mm623750mm41250mm33250mm726250mm45750mm36750mm830000mm48750mm42000mm935625mm51750mm49875mm1056250mm57750mm1163000mm63000mm1273125mm66500mm1383250mm70000mm1490000mm75250mm1594500mm83125mm1697500mm91000mm1796250mm1899750mm19103250mm20.108500mm21116375mm22124250mm23129500mm24133000mm25136500mm26141750mm27149625mm28157500mm29162750mm30.166250mm31169750mm32175000mm33182875mm34190750mm35196000mm36199500mm步小測(cè)試件中測(cè)試件大測(cè)試件12500mm3000mm3500mm26250mm7500mm8750mm311875mm14250mm16625mm417500mm24375mm24500mm521250mm34500mm29750mm623750mm41250mm33250mm726250mm45750mm36750mm830000mm48750mm42000mm935625mm51750mm49875mm1056250mm57750mm1163000mm63000mm測(cè)量z軸測(cè)量件主要測(cè)量臺(tái)階面相對(duì)于矩形基座上部的位置(圖4中的基準(zhǔn)面C)。允許確定單個(gè)臺(tái)階之間的距離，并且可以允許與主要測(cè)量相結(jié)合的額外分析?？蛇x的測(cè)量包括工件垂直表面的形狀(例如平面度)。注意事項(xiàng)沖突。用戶應(yīng)該考慮將z軸工件放置在構(gòu)建區(qū)域的中間或附近構(gòu)建平臺(tái)的外緣。建部分)鼓形測(cè)試件后進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試方法按GB/T39329-2020中第7章的要求進(jìn)行。成形分辨率圓柱銷測(cè)試件目的映了系統(tǒng)精度的有關(guān)信息。幾何形狀354細(xì)三類。粗圓柱銷的直徑從4mm~0.5mm(4.0mm、3.0mm、2.0mm、1.0mm和0.5mm)，中圓柱銷的直徑從0.5mm~0.1mm(0.5mm、0.4mm、0.3mm、0.2mm和0.1mm)，細(xì)圓柱銷的直徑從0.2mm~0.025mm(0.2mm、0.15mm0.1mm0.05mm和0.025mm)和10:13為長(zhǎng)徑比為6:1的圓柱銷測(cè)試件。圖5圓柱銷測(cè)試件圓柱測(cè)試件基本尺寸按照下表尺寸：表1圓柱銷測(cè)試件基本尺寸單位：毫米基座圓柱尺寸（直徑×高度）圓柱中心距長(zhǎng)寬高細(xì)2533φ0.2×0.8φ0.15×0.6φ0.1×0.4φ0.05×0.2φ0.025×0.15φ0.2×1.2φ0.15×0.9φ0.1×0.6φ0.05×0.3φ0.025×0.15φ0.2×1.6φ0.15×1.2φ0.1×0.8φ0.05×0.4φ0.025×0.2φ0.2×2、φ0.15×1.5、φ0.1×1、φ0.05×0.5、φ0.025×0.25中2533φ0.5×2、φ0.4×1.6、φ0.3×1.2、φ0.2×0.8、φ0.1×0.45φ0.5×3、φ0.4×2.4、φ0.3×1.8、φ0.2×1.2、φ0.1×0.6φ0.5×4、φ0.4×3.2、φ0.3×2.4、φ0.2×1.6、φ0.1×0.8φ0.5×5、φ0.4×4、φ0.3×3、φ0.2×2、φ0.1×1粗3563φ4.0×16、φ3.0×12、φ2.0×8、φ1.0×4、φ0.5×27φ4.0×24、φ3.0×18、φ2.0×12、φ1.0×6、φ0.5×3φ4.0×32、φ3.0×24、φ2.0×16、φ1.0×8、φ0.5×4φ4.0×40、φ3.0×30、φ2.0×20、φ1.0×10、φ0.5×5特征尺寸的確定（如金屬粉末床熔融系統(tǒng)可以成形最小直徑的圓柱銷在不同長(zhǎng)徑比下的規(guī)格不同。征（例如線性精度測(cè)試件上2.5mm和5.0mm的凸起）。可以成形的直徑最小的圓柱銷取決于成形方向，特別是對(duì)于具有各向異性的工藝(例如某些增材制造工藝可能在XY方向比Z例如平行于設(shè)備Z軸方向和X（例如選擇一個(gè)方向作為對(duì)系統(tǒng)的特定挑戰(zhàn)或作為最佳情況的場(chǎng)景）。件在成形空間體積內(nèi)成形時(shí)可能失效的風(fēng)險(xiǎn)，以避免對(duì)其余特征成形產(chǎn)生不利影響。測(cè)量圓柱銷主要測(cè)量直徑，中細(xì)圓柱銷間距5.0mm，以便使用光學(xué)顯微鏡或或手持測(cè)量設(shè)備（如千分尺或卡尺）進(jìn)行測(cè)量?？蛇x測(cè)量項(xiàng)目包括圓柱銷的高度、圓柱度和圓跳動(dòng)，測(cè)量方法參見附錄B。注意事項(xiàng)錄直徑相同的圓柱銷與設(shè)計(jì)尺寸是否一致。作ZZX方向(ZX)對(duì)齊;平行于設(shè)備ZY方向(ZY)對(duì)齊。圓孔測(cè)試件目的力。圓孔的直徑測(cè)量值反映了系統(tǒng)成形微小圓孔特征的有關(guān)信息。圓孔測(cè)試件除了評(píng)估圓孔的成形能力之外，還提供了評(píng)估從小孔中去除未固化材料的能力。幾何形狀組54mm~0.5mm(4.0mm3.0mm、2.0mm、1.0mm和0.5mm)，中孔的直徑從0.5mm~0.1mm(0.5mm、0.4m、0.3mm、0.2mm和0.1mm)，小孔的直徑從0.2mm~0.025mm(0.2mm、0.15mm、0.1mm、0.05mm和0.025mm)。零件高度為2.5mm，孔為通孔。例如圖2為中孔測(cè)試件。圖6圓孔測(cè)試件圓孔測(cè)試件基本尺寸請(qǐng)按照下表尺寸：表2圓孔測(cè)試件基本尺寸表

單位：毫米零件圓孔直徑孔中心距長(zhǎng)寬高大2532.5φ0.2φ0.15φ0.1φ0.05φ0.0255中2532.5φ0.5、φ0.4、φ0.3、φ0.2、φ0.15小28102.5φ4.0、φ3.0、φ2.0、φ1.0、φ0.56特征尺寸的確定含預(yù)估分辨率的特征集。融工藝，并考慮從盲孔中去除殘余粉末?？梢猿尚蔚闹睆阶钚〉膱A孔取決于成形方向，特別是對(duì)于具有各向異性的工藝。因此，測(cè)試件宜在ZX應(yīng)和層厚對(duì)圓孔成形的影響。成形良好，但在表面下方成形失敗（盲孔），可通過針規(guī)或無損檢測(cè)技術(shù)檢查表面下方的成形質(zhì)量。測(cè)量的深度、圓度和圓柱度，測(cè)量方法見附錄B。注意事項(xiàng)（盲孔直徑相同的圓孔與設(shè)計(jì)尺寸是否一致。錄C符合常見的公制量規(guī)尺寸。增材制造系統(tǒng)可成形的最小孔可能小于常用的最小規(guī)格)。筋板測(cè)試件目的分辨率的有關(guān)信息。幾何形狀366.0mm~1.0mm(6.0mm5.0mm、4.0mm、3.0mm、2.0mm和1.0mm)，中測(cè)試件的筋板從1.0mm~0.1mm(1.0mm、0.8mm、0.6mm、0.4mm、0.2mm和0.1mm)，小筋板從0.1mm~0.01mm(0.1mm、0.08mm、0.06mm、0.04mm，0.02mm和0.01mm)。測(cè)試件的高度可為10.0mm或20.0mm。每個(gè)測(cè)試件由較大的支柱沿垂直表面的一側(cè)支撐(見圖3或圖4)（厚度大于1.0具有不同的幾何形狀(見圖5)，戶可以使用此特征測(cè)量測(cè)試件與模型的偏差，評(píng)估增材制造系統(tǒng)滿足輪廓公差的能力。圖7中等尺寸筋板測(cè)試件圖8大尺寸筋板測(cè)試件特征尺寸的確定況下，可將測(cè)試件修改成在一個(gè)基座上成形更少的特征。特別是對(duì)于具有各向異性的工藝X方向或Y對(duì)成形無支撐薄壁結(jié)構(gòu)的限制，不推薦測(cè)試件的長(zhǎng)度方向平行于設(shè)備的Z的運(yùn)動(dòng)方向，因?yàn)榇怪庇诠蔚哆\(yùn)動(dòng)方向的測(cè)試件更易彎曲或變形。在成形空間體積內(nèi)成形時(shí)可能失效的風(fēng)險(xiǎn)。測(cè)量尺、千分尺、光學(xué)顯微鏡和三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x。面度，以及大筋板基座的輪廓度，測(cè)量方法參見附錄B。注意事項(xiàng)宜記錄（失敗或損壞的測(cè)試件的長(zhǎng)度和高度反映系統(tǒng)筋板成形良好，但有幾個(gè)測(cè)試件厚度相同，宜注意并記錄厚度相同的測(cè)試件與設(shè)計(jì)尺寸是否一致。每個(gè)測(cè)試件上的6個(gè)基座可用于測(cè)試數(shù)據(jù)文件與測(cè)試件的一致性。槽測(cè)試件目的本文件提供了一套槽測(cè)試件用以評(píng)估增材制造系統(tǒng)可成形的最小尺寸的槽或槽之間的最小間距的能力。可成形的最小的槽反映設(shè)備可成形的最小槽寬。槽的寬度測(cè)量值反映了系統(tǒng)成形精度的有關(guān)信息。幾何形狀366.0mm~1.0mm(6.0mm、5.0mm、4.0mm、3.0mm、2.0mm和1.0mm)，中槽的寬度從1.0mm`0.1mm(1.0mm、0.8mm、0.6mm、0.4mm、0.2mm和0.1mm)，小槽寬度從0.1mm`0.01mm(0.1mm、0.08mm、0.06mm、0.04mm、0.02mm和0.01mm)。大槽的高度為5.0mm，10.0mm或20.0mm，中槽和小槽的高度為5.0mm和10.0mm。槽間距是恒定的，大槽為5.0mm，中槽為2.0mm，小槽為1.0mm。圖9中等尺寸槽測(cè)試件（槽寬（見圖可選角度為510°、15°、20°、25°、30°，用戶可測(cè)量角度，評(píng)估增材制造系統(tǒng)滿足角度公差的能力。圖10大尺寸角度槽測(cè)試件若某些工藝需要較小或特征較粗大的測(cè)試件，可由供需雙方協(xié)商測(cè)試件的幾何形狀，并遵循圖6，圖7或圖8測(cè)試件的設(shè)計(jì)原則。特征尺寸的確定含預(yù)估成形分辨率的特征集。特征(例如線性測(cè)試件上的凸起間距為2.5mm和5mm)。特別是對(duì)于具有各向異性的工藝增材制造過程中以不同的方向成形，例如槽位于xz平面、槽的長(zhǎng)度平行于x方向或槽位于yz度平行于y方向。能失效的風(fēng)險(xiǎn)。測(cè)量槽測(cè)試件主要測(cè)量槽的寬度。槽的間距為2mm，在一個(gè)或多個(gè)槽成形失敗的情況下，便于用戶找到每個(gè)槽的位置。測(cè)量槽寬宜沿槽長(zhǎng)度方向測(cè)量多個(gè)位置，測(cè)量方法包括但不限于光學(xué)顯微鏡和塞尺。測(cè)試件的可選測(cè)量項(xiàng)目是每個(gè)槽的長(zhǎng)度、沿著每個(gè)槽長(zhǎng)度方向槽的直線度以及槽兩個(gè)面的平行度，測(cè)量方法參見附錄B。注意事項(xiàng)（注意測(cè)量部分成形的槽的長(zhǎng)度和寬度相同的幾個(gè)槽尺寸與設(shè)計(jì)尺寸是否一致。成形Z方向槽：平行于設(shè)備Z方向、基座與設(shè)備X方向(ZX)對(duì)齊、和平行于設(shè)備Z方向、基座與設(shè)備Y(ZY)對(duì)齊。表面粗糙度目的（輪廓（面積（對(duì)于材料擠出成形幾何形狀圖14mm×15.0mm×0.4mm，中等粗糙度測(cè)試件的扁平片尺寸為12.0mm×30.0mm3.0mm24.0mm60.0mm×6.0m，這對(duì)于5.0mm×8.0mm的面積測(cè)量或12.5mm的輪廓測(cè)量已經(jīng)足夠。標(biāo)引序號(hào)說明：1——每個(gè)平片為3.0mm×12.0mm×30.0mm；2——連接梁；a——扁平片。圖9表面粗糙度測(cè)試件特征尺寸的確定建議成形所有角度的測(cè)試件，根據(jù)用戶與供應(yīng)商之間的協(xié)議，可以選擇成形更少規(guī)格的測(cè)試件。測(cè)量主要測(cè)量項(xiàng)目為表面粗糙度，可選的測(cè)量項(xiàng)目為角度。個(gè)樣品的長(zhǎng)度方向。測(cè)量方向無需記錄。輪廓測(cè)量應(yīng)在每個(gè)表面不同的位置重復(fù)多次測(cè)量(至少3見圖10標(biāo)引序號(hào)說明：1——建議輪廓測(cè)量位置；2——待測(cè)扁平片表面；3——建議面積測(cè)量位置。圖10輪廓測(cè)量和區(qū)域測(cè)量的建議位置可能的情況下，每個(gè)測(cè)試件的兩個(gè)表面(上表面和下表面)應(yīng)分別測(cè)量和報(bào)告，測(cè)量方法參見附錄B。報(bào)告表3為粗糙度測(cè)量應(yīng)測(cè)量和記錄的參數(shù)。輪廓測(cè)量的記錄輪廓長(zhǎng)度，區(qū)域測(cè)量的記錄測(cè)量面積。建議值參見GB/T3505、GB/T10610、GB/T33523。表3建議的測(cè)量參數(shù)名稱符號(hào)(輪廓測(cè)量)符號(hào)(區(qū)域測(cè)量)表面平均粗糙度(算術(shù)平均差)RaSa表面平均峰谷高度RzSz表面高度分布的偏斜度(不對(duì)稱度)RskSsk表面高度分布的陡度RkuSku按照國(guó)標(biāo)中的粗糙度測(cè)量方法改寫。（粗糙度測(cè)量按照國(guó)標(biāo)GB/T的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行）注意事項(xiàng)成形方向0°（見圖重復(fù)性果需要與其他結(jié)果進(jìn)行比較，還宜記錄測(cè)試件在成形室中的位置和方向。支撐壞被測(cè)表面的風(fēng)險(xiǎn)，用戶可查閱設(shè)備說明書獲取更多的信息。刮刀測(cè)試件成形失敗。標(biāo)記目的在基板或測(cè)試件上都可以。幾何形狀X和Y所示。注意事項(xiàng)制作標(biāo)記時(shí)，建議使用非對(duì)稱結(jié)構(gòu)特征/形狀，用以描述測(cè)試件位置，以防誤解，圖12為帶有標(biāo)記的測(cè)試件。標(biāo)引序號(hào)說明：1——連接梁。圖13XY標(biāo)記圖14不同成形角度的XY標(biāo)記a）0°，90°；b）45°附錄A格式和要求報(bào)告標(biāo)題要求數(shù)據(jù)元素格式支持信息原材料材料規(guī)范由字母/數(shù)字組成的唯一性代碼符合本文件要求的原材料規(guī)范。工藝標(biāo)準(zhǔn)工藝規(guī)范由字母/數(shù)字組成的唯一性代碼至少包含進(jìn)料方式、工藝以及后處理的信息。測(cè)試大綱或規(guī)范文件或文件名由字母/數(shù)字組成的唯一性代碼至少包含與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法或非標(biāo)測(cè)試方法之間的具體偏離。測(cè)量數(shù)據(jù)要求測(cè)試方案測(cè)試計(jì)劃/標(biāo)準(zhǔn)或工藝文件由字母/數(shù)字組成的唯一性代碼至少包含單位、具體測(cè)試配置、報(bào)告選項(xiàng)、樣品準(zhǔn)備和狀態(tài)。樣品取向坐標(biāo)X/Y/Z和角度按GB/T51407執(zhí)行。附錄B測(cè)試件擺放示例足需求的情況下可簡(jiǎn)化配置。本附錄提供了測(cè)試件的擺放示例以供參考。A.1能力評(píng)估。該配置能快速檢查X/Y平面特性，旨在評(píng)估X/Y平面（特別是成形平臺(tái)的中心）的增材制造系統(tǒng)的幾何成形能力。此外，該配置旨在快速成形并需要少量的原材料。注意這個(gè)配置測(cè)試件少，成形高度低，并不是系統(tǒng)性能的全面表征。（心上方）引起的系統(tǒng)偏差。圖A.1在X/Y平面測(cè)試件擺放附錄C(資料性)測(cè)量方法概述方法及其相關(guān)設(shè)備在測(cè)量難度、不確定度和成本上有所不同，因此，將這些測(cè)量方法分為三類:——A級(jí)：常見的簡(jiǎn)單、經(jīng)濟(jì)的測(cè)量；——AA級(jí)：稍高精度的測(cè)量；——AAA級(jí)：測(cè)量昂貴且具有最低的測(cè)量不確定度，用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)測(cè)量。對(duì)于每種測(cè)試件的集中測(cè)量方法總結(jié)在下表中，其中許多是可選測(cè)量。4倍(10倍)0.5mm0.125mm(0.05mm)GB/T27025-2019。表B.1建議測(cè)量方法和測(cè)試件的主要特征被測(cè)量對(duì)象輸出測(cè)量設(shè)備測(cè)量等級(jí)線性精度測(cè)試件位置各面坐標(biāo)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xAAA各面坐標(biāo)三維掃描儀A~AA突出厚度手持式千分尺或卡尺A突出間距手持式卡尺A平直度測(cè)試件長(zhǎng)度方向三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xAAA測(cè)試件長(zhǎng)度方向三維掃描儀A~AA測(cè)試件長(zhǎng)度方向帶校準(zhǔn)定位臺(tái)的千分表AA測(cè)試件長(zhǎng)度方向帶直尺的千分表A圓柱銷測(cè)試件圓柱直徑最小外接圓三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xAAA最小外接圓校準(zhǔn)的顯微測(cè)量裝置AA~AAA最大內(nèi)接圓三維掃描儀A~AA兩點(diǎn)直徑手持式千分尺或卡尺A圓柱高度N/A三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xAAA深度尺或手持式卡尺AA~AAA圓度校準(zhǔn)的顯微測(cè)量裝置AA~AAA三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xAAA圓柱度三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xAAA三維掃描儀A~AA圓孔測(cè)試件直徑最大內(nèi)接圓已校準(zhǔn)的顯微鏡AA~AAA最佳擬合圓已校準(zhǔn)的顯微鏡AA~AAA最大內(nèi)接圓針規(guī)A孔深帶有深度尺的針規(guī)A圓度已校準(zhǔn)的顯微鏡AA~AAA筋板測(cè)試件厚度三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xAAA手持式卡尺或千分尺A直線度測(cè)試件的形式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xAAA測(cè)試件的形式三維掃描儀A~AA測(cè)試件的形式帶校準(zhǔn)定位臺(tái)的千分表AA測(cè)試件的形式帶直尺的千分表A槽測(cè)試件槽寬面間距塞規(guī)A面間距三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x（僅限槽寬≥1mm）AAA面間距手持式卡尺或千分尺（僅限槽寬≥1mm）A平面度與最佳擬合圓的偏離三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x（僅限槽寬≥1mm）AAA平行度三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x（僅限槽寬≥1mm）AAA表面粗糙度平均表面粗糙度Ra接觸式（觸針）輪廓儀AA~AAASa光學(xué)輪廓儀AA~AAA偏斜度Rsk接觸式（觸針）輪廓儀AA~AAASsk光學(xué)輪廓儀AA~AAA峰值Rku接觸式（觸針）輪廓儀AA~AAASku光學(xué)輪廓儀AA~AAA角度相對(duì)角度三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xAAA尺寸測(cè)量的建議一般建議：3次；——測(cè)量時(shí)對(duì)測(cè)量的零件施加最小的力，特別是對(duì)于小的易碎的零件；——鼓勵(lì)用戶在可能影響結(jié)果的標(biāo)稱平面上尋找非平坦或翻邊的位置進(jìn)行測(cè)量；于實(shí)際尺寸。對(duì)于坐標(biāo)測(cè)量：——選取多點(diǎn)測(cè)量；——建議坐標(biāo)測(cè)量范圍至少覆蓋80%的表面；——隨機(jī)取點(diǎn)測(cè)量比均勻取點(diǎn)測(cè)量具有更低的測(cè)量不確定度，因?yàn)樗苊饬讼到y(tǒng)誤差的混疊。對(duì)于光學(xué)顯微鏡測(cè)量：確定度的影響；——照明影響圖像質(zhì)量從而影響邊界識(shí)別。使用現(xiàn)有設(shè)備實(shí)現(xiàn)均勻照明(同時(shí)避免飽和)的可重復(fù)過程有助于降低測(cè)量不確定度。附錄C(資料性)測(cè)量過程概述高端測(cè)量技術(shù)（BAAAAA，如三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等）有大量良好做法的文件；鼓勵(lì)用戶尋線性精度測(cè)試件測(cè)量設(shè)備0.02mm準(zhǔn)確。測(cè)量過程在每個(gè)距離的立方體的不同高度上測(cè)量3次：——第1次在底部測(cè)量；2次在立方體的中部測(cè)量；3次在立方體的頂部測(cè)量。測(cè)量注意事項(xiàng)C.1在整個(gè)測(cè)量過程中，測(cè)量位置保持一致，并在測(cè)量過程中盡可能避免這種局部特征。圖C.1幾何特征頂面上形成的棱邊（并可能確定大小不同誤差源對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，并采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修正和補(bǔ)償。圓形工件測(cè)量設(shè)備——光學(xué)測(cè)量、三坐標(biāo)或同等設(shè)備?；鶞?zhǔn)測(cè)量說明圓環(huán)的圓度(C.2E、DF尺寸取決于所選擇的測(cè)量圓形工件）?！獟呙钁?yīng)從Pt1開始?！狿t1距平面-B-0.5Dmm，距平面-A-0.5（D-E）mm。Pt1結(jié)束?！獟呙钁?yīng)在平行于表面-C-的平面上進(jìn)行，高度為表面-C-的0.5Fmm?！獔A環(huán)的同心度/圓柱度：——應(yīng)在以下兩個(gè)平行于表面-C-的高度處測(cè)量/構(gòu)建圓圈/圓柱體距離表面-C-0.25Fmm和0.75Fmm的高度。D-G-尺寸——內(nèi)外直徑應(yīng)在與表面-C-和-C-平行的兩個(gè)高度處測(cè)量平均值。測(cè)量應(yīng)在距表面-C-0.25Fmm和0.75Fmm處進(jìn)行。環(huán)的壁厚：——應(yīng)在五個(gè)或更多位置測(cè)量墻壁厚度?！狿t1應(yīng)與圓度測(cè)量中使用的Pt1一致。Pt2-72Pt3-160Pt4-216Pt5-285。-C--C0.5Fmm。單位（毫米）關(guān)鍵G軸線Pt1point1Pt2point2

圖C.2-圓形工件測(cè)量尺寸提供機(jī)構(gòu):國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)網(wǎng)址提供機(jī)構(gòu):國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)網(wǎng)址:\h訂單號(hào):01010320230904hxkn-測(cè)量設(shè)備三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、3D掃描儀或同等設(shè)備?；鶞?zhǔn)測(cè)量說明步高:中描述的優(yōu)先順序建立高度測(cè)量的參考位置(4C)。測(cè)量臺(tái)階相對(duì)于參考位置的位置。測(cè)量基準(zhǔn)的注意事項(xiàng)Z放高度測(cè)量。如圖C.1所示如果從邊緣開始測(cè)量，測(cè)量結(jié)果會(huì)有變化。在整個(gè)測(cè)量過程中，位置應(yīng)保持一致，在測(cè)量過程中應(yīng)盡可能避免局部特征，如邊緣。圓柱銷測(cè)試件測(cè)量設(shè)備最大允許誤差為≤0.02mm的游標(biāo)卡尺。小，因此是首選方法。測(cè)量過程從圓柱銷底部到頂部逐個(gè)測(cè)量如圖C.2所示的圓柱銷直徑。圖C.2圓柱銷的測(cè)量盡可能在多點(diǎn)上進(jìn)行測(cè)量。如果可能的話，進(jìn)行三點(diǎn)測(cè)量。測(cè)量注意事項(xiàng)表面結(jié)構(gòu)會(huì)影響測(cè)量結(jié)果，因此建議使用測(cè)量平均值進(jìn)行補(bǔ)償。圓孔的測(cè)量設(shè)備包括：——經(jīng)校準(zhǔn)合格的針規(guī)，間隔0.1mm，量程0.4mm~3.0mm；——推薦使用具有測(cè)量能力的顯微鏡。測(cè)量過程圓孔測(cè)量過程如下：——使用孔直徑為3.0mm、2.0mm、1.0mm的針規(guī)；0.5mm的針規(guī)開始(0.5mm開始)；0.1mm的增量逐漸增加；——找到最大針規(guī)直徑使得針規(guī)在不需要外力的情況下一直能穿過孔的末端并記錄結(jié)果；——如果沒有可以順利插入的圓孔，說明成形失??；——使用分辨率小于1.0mm的顯微鏡測(cè)量；——通過零件底部的光線；——使用圖像在孔的輪廓內(nèi)擬合最大尺寸的內(nèi)切圓；——記錄圓孔的直徑。測(cè)量注意事項(xiàng)圓孔測(cè)量時(shí)，注意事項(xiàng)如下：x和y特征內(nèi)。0.1mm的增量逐漸增加。筋板測(cè)試件測(cè)量設(shè)備最大允許誤差≤0.02mm的游標(biāo)卡尺。測(cè)量過程1/3的位置。圖C.3筋板測(cè)試件在不同點(diǎn)的測(cè)量測(cè)量注意事項(xiàng)表面結(jié)構(gòu)會(huì)影響測(cè)量結(jié)果，因此建議使用測(cè)量平均值進(jìn)行補(bǔ)償。槽測(cè)試件測(cè)量設(shè)備槽的測(cè)量設(shè)備包括：——槽寬：校準(zhǔn)的塞尺，最小增量為0.05mm，量程0.05mm~1.0mm；——角度：三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x、三維掃描儀，或同等設(shè)備。測(cè)量過程槽寬的測(cè)量過程如下：——從比標(biāo)稱寬度小于0.5mm的塞尺開始測(cè)量(若不適用，則從0.05mm開始)；——如果塞尺通過不需要借助外力，則以0.05mm的增量逐漸增加；——找到最大厚度的塞尺使得塞尺在不需要外力的情況下一直能到槽的末端，記錄結(jié)果；——如果沒有不使用外力可以順利插入的槽，說明成形失敗。槽角度的測(cè)量過程：確定臂表面相對(duì)于基準(zhǔn)面A的角度。測(cè)量注意事項(xiàng)測(cè)量槽寬時(shí)，注意事項(xiàng)如下：——槽的末端逐漸變窄，塞尺從頭至尾插入且不需要外力；——槽口尺寸小于標(biāo)稱值，因此首先用比標(biāo)稱尺寸小得多的塞尺尺寸，隨后以0.05mm的增量逐漸增加。C.1量位置保持一致，并在測(cè)量過程中盡可能避免這種局部特征。表面結(jié)構(gòu)測(cè)量設(shè)備表面結(jié)構(gòu)的測(cè)量設(shè)備包括：——用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量使用的接觸法和光學(xué)方法應(yīng)符合GB/T3505-2009；——為了方便、快速、準(zhǔn)確地測(cè)量，用戶可以制作標(biāo)準(zhǔn)夾具來夾持測(cè)試件(典型的是具有孔的扁平框架，以使多個(gè)樣品穩(wěn)固在正確的方向上)。測(cè)量注意事項(xiàng)表面結(jié)構(gòu)的測(cè)量注意事項(xiàng)如下：——使用接觸式/光學(xué)輪廓儀器測(cè)量Ra,Rz,Rku,Rsk,Rv,和Rp；——沿平行于縱軸、橫跨各層的輪廓線測(cè)量；——評(píng)估長(zhǎng)度12.5mm；——取樣長(zhǎng)度(λc):2.5mm；——光學(xué)掃描設(shè)置：掃描面積：13.0mm×1.5mm，z1.0mm；放大倍數(shù)：10倍；1μm3μm。附錄D