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高壓電氣設(shè)備電暈放電檢測(cè)用紫外成像儀技術(shù)條件2017-12-27發(fā)布2018-06-01實(shí)施國(guó)家能源局發(fā)布DL/T1779—2017前言 Ⅱ 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語(yǔ)和定義 4工作原理 25技術(shù)要求 26檢驗(yàn)方法 47檢驗(yàn)規(guī)則 7 8附錄A(資料性附錄)紫外成像儀工作原理 附錄B(規(guī)范性附錄)帶外抑制測(cè)試方法 附錄C(規(guī)范性附錄)紫外線檢測(cè)靈敏度測(cè)試方法 附錄D(規(guī)范性附錄)放電檢測(cè)靈敏度測(cè)試方法 附錄E(規(guī)范性附錄)紫外/可見(jiàn)光圖像疊加精確度測(cè)試方法 I本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫》給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)高電壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC163)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國(guó)電力科學(xué)研究院、國(guó)家電網(wǎng)公司華東分部、國(guó)網(wǎng)江蘇省電力公司電力科學(xué)研究院、國(guó)網(wǎng)湖北省電力公司電力科學(xué)研究院、廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院、國(guó)網(wǎng)安徽省電力公司電力科學(xué)研究院、廣西電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院、國(guó)網(wǎng)山東省電力公司電力科學(xué)研究院、國(guó)網(wǎng)浙江省電力公司電力科學(xué)研究院、國(guó)網(wǎng)遼寧省電力公司電力科學(xué)研究院、國(guó)網(wǎng)四川省電力公司電力科學(xué)研究院、國(guó)網(wǎng)河北省電力公司電力科學(xué)研究院、國(guó)網(wǎng)湖南省電力公司電力科學(xué)研究院、深圳供電局、江蘇南大五維電子科技公司、南京順泰科技有限公司。1DL/T1779—2017高壓電氣設(shè)備電暈放電檢測(cè)用本標(biāo)準(zhǔn)適用于高壓電氣設(shè)備電暈放電檢測(cè)用日盲型紫外成像儀(以下簡(jiǎn)稱紫外成像儀)的設(shè)計(jì)、2規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T2423.1—2008GB/T2423.2—2008GB/T2423.3—2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱方法GB/T2423.5—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊GB/T2423.10—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)GB4208—2017外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)GB/T4943.1—2011信息技術(shù)設(shè)備安全第1部分:通用要求GB/T18268.1—2010測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用的電設(shè)備電磁兼容性要求第1部分:通用要求DL/T345—2010帶電設(shè)備紫外診斷技術(shù)應(yīng)用導(dǎo)則3術(shù)語(yǔ)和定義適于電氣、電力領(lǐng)域,通過(guò)紫外光學(xué)系統(tǒng)、紫外探測(cè)器接收電氣設(shè)備電暈放電時(shí)產(chǎn)生的紫外線,成像波段為240nm~280nm范圍內(nèi)的紫外成像儀。2DL/T1779—2017[DL/T345—2010,定義3.2]日盲型紫外成像儀工作在日盲紫外波段240nm~280nm區(qū)間,具有帶外抑制能力,不受日光紫外線干擾,可在日照環(huán)境下進(jìn)行電暈放電檢測(cè)。它具有電暈放電探測(cè)、定位和光子計(jì)數(shù)的功能,工作原理示意可參見(jiàn)附錄A。在附錄B規(guī)定檢驗(yàn)方法及條件下,平均每幀光斑點(diǎn)數(shù)不大于1。在附錄D規(guī)定檢測(cè)方法和條件下,放電檢測(cè)靈敏度優(yōu)于5pC,10m距離。3按6.3.7檢驗(yàn)方法獲取光子數(shù)的算術(shù)平均值和標(biāo)準(zhǔn)差,紫外成像儀在相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差小于10%的連續(xù)工作時(shí)間不低于2h。采樣幀速率不低于25Hz。靜電放電抗擾度應(yīng)達(dá)到GB/T18268.1—2010中表2試驗(yàn)要求。發(fā)射限值應(yīng)根據(jù)具體使用環(huán)境,滿足GB/T18268.1—2010的7.2中發(fā)射限值A(chǔ)類或B類規(guī)定。外殼防護(hù)應(yīng)符合GB4208—2017外殼防護(hù)等級(jí)IP54的要求。低壓電氣安全應(yīng)符合GB/T4943.1—2011中2.2SELV(安全超低電壓)電路的要求。溫度為—15℃~50℃,相對(duì)濕度為85%。d)存儲(chǔ)功能:可拍攝圖像和錄制視頻,并存儲(chǔ)。i)光子計(jì)數(shù)功能:可實(shí)時(shí)顯示和輸出計(jì)數(shù)框內(nèi)電暈的光子計(jì)數(shù)。4DL/T1779—2017d)定位功能。a)界面顯示:中文界面。視頻輸出格式為PAL或NTSC制式。5在規(guī)定觀察距離不小于10m、增益不小于80%最大增益值條件下,紫外成像儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)日盲紫外光源(光源光子數(shù)宜調(diào)整在每分鐘幾千的數(shù)值)連續(xù)檢測(cè)2h,每隔15min記取一次屏顯光子數(shù)值(也可一次連續(xù)記3個(gè)讀數(shù),取平均值),共取9個(gè)點(diǎn)數(shù),計(jì)算其相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差,結(jié)果應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)5.1.7的按照GB4208—2008中12.4和13.2.4的方法進(jìn)行試驗(yàn),結(jié)果滿足本標(biāo)準(zhǔn)5.1.10的要求。6.4環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)環(huán)境溫度:-15℃~+50℃;環(huán)境相對(duì)濕度:≤85%(40℃時(shí))。a)顯示通道切換;6按照GB/T2423.3—2016“試驗(yàn)Cab:恒定濕熱方法”進(jìn)行試驗(yàn),溫度為40℃,濕度為85%,試驗(yàn)按照GB/T2423.2—2008“試驗(yàn)Bb”進(jìn)行試驗(yàn),溫度為50℃,試驗(yàn)時(shí)間為2h,在1.5h、2h時(shí)分別按照GB/T2423.1—2008“試驗(yàn)Ab”進(jìn)行試驗(yàn),溫度為-15℃,試驗(yàn)時(shí)間為2h,在1.5h、2h時(shí)分按照GB/T2423.5—1995“試驗(yàn)Ea”進(jìn)行。沖擊量值為300m/s2,脈沖持續(xù)時(shí)間為11ms,半正弦△v=2.1m/s,沿X、Y、Z(見(jiàn)圖1)方向各進(jìn)行三次沖擊試驗(yàn)。試驗(yàn)后,檢驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)6.4.2所列的按照GB/T2423.10—2008“試驗(yàn)Fc”進(jìn)行。正弦10Hz-55Hz-10Hz,位移振幅為0.15mm;掃描時(shí)間為10min,掃描循環(huán)數(shù)為2次。試驗(yàn)方向:Z方向(見(jiàn)圖1)。試驗(yàn)后,檢驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)6.4.2所列的7將紫外成像儀的輸出視頻信號(hào)連接到外部監(jiān)視器上,將監(jiān)視器的顯示模式選為PAL或NTSC制7檢驗(yàn)規(guī)則型式檢驗(yàn)在新產(chǎn)品定型時(shí)進(jìn)行。在生產(chǎn)過(guò)程中,如果發(fā)生材料、工藝或產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的重大改進(jìn)和改變,且此改變有可能影響產(chǎn)品的性能時(shí),也應(yīng)進(jìn)行型式檢驗(yàn),但允許只進(jìn)行同這些改變相關(guān)的檢驗(yàn)項(xiàng)周期檢驗(yàn)包括產(chǎn)品用戶進(jìn)行的首次檢驗(yàn)和每?jī)赡暌淮蔚闹芷跈z驗(yàn),以保證在用產(chǎn)品合格。檢驗(yàn)項(xiàng)目見(jiàn)表1。項(xiàng)目序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目技術(shù)要求檢驗(yàn)方法型式檢驗(yàn)出廠檢驗(yàn)周期檢驗(yàn)1外觀5.1.16.3.12帶外抑制5.1.26.3.23紫外線檢測(cè)靈敏度5.1.36.3.34放電檢測(cè)靈敏度5.1.46.3.4OO5可見(jiàn)光感光靈敏度5.1.56.3.5OO6紫外/可見(jiàn)光圖像疊加精確度5.1.66.3.6O7連續(xù)穩(wěn)定工作時(shí)間5.1.76.3.7OO8電磁兼容性5.1.96.3.89外殼防護(hù)5.1.106.3.9—低壓電氣安全5.1.116.3.10環(huán)境適應(yīng)性5.1.12功能檢查注:“●”表示必檢;“O”表示根據(jù)用戶要求可選。8a)產(chǎn)品型號(hào);c)產(chǎn)品表面無(wú)灰塵。產(chǎn)品應(yīng)存貯在環(huán)境溫度為-20℃~+60℃、濕度不大于85%的庫(kù)房中,長(zhǎng)期儲(chǔ)存每隔6個(gè)月開機(jī)9電暈和其他形式的放電都會(huì)在紫外波段發(fā)射出紫外線。紫外成像儀是對(duì)接收到的電暈放電所產(chǎn)生的紫外波段的光線進(jìn)行成像。為便于對(duì)電暈放電點(diǎn)的目視定位,紫外成像儀附加一路可見(jiàn)光通道,通過(guò)圖像疊加的方式,將電暈放電圖像疊加至可見(jiàn)光圖像上,經(jīng)圖像處理模塊進(jìn)行的兩路視頻疊加、光子計(jì)數(shù)等運(yùn)算處理,完成圖像的顯示、存儲(chǔ)和輸出。日盲紫外成像儀在應(yīng)用濾光片技術(shù)時(shí),只接收240nm~280nm波段的紫外線進(jìn)行成像(非日盲普通型紫外成像儀工作波段為285nm~400nm)。紫外成像儀工作原理示意見(jiàn)圖A.1,疊加模式圖像顯示見(jiàn)圖A.2??梢?jiàn)光通道存儲(chǔ)成像器件濾光片成像器件圖A.1紫外成像儀工作原理示意圖DL/T1779—2017(規(guī)范性附錄)B.1性能測(cè)試說(shuō)明帶外抑制可以為紫外成像儀提供不受陽(yáng)光干擾,進(jìn)行日間紫外成像的能力。B.2測(cè)試方法B.2.1實(shí)用檢驗(yàn)方法選取室外無(wú)電弧焊和明火的空曠場(chǎng)地,將紫外成像儀正對(duì)晴日太陽(yáng)°,增益設(shè)置為最大值,積分時(shí)間設(shè)置為0,手動(dòng)對(duì)焦至無(wú)窮遠(yuǎn),紫外通道放大倍率為1X,錄制紫外通道視頻圖像3s~5s。觀察視頻,統(tǒng)計(jì)平均每幀光斑點(diǎn)數(shù)作為帶外抑制參數(shù),單位用光斑數(shù)/幀表示。B.2.2實(shí)驗(yàn)室測(cè)試方法測(cè)量設(shè)備:日盲紫外單色光源、功率計(jì)、衰減器、紫外成像儀。測(cè)試方法示意圖見(jiàn)圖B.1。衰減衰減日盲紫外成像儀單色光源圖B.1實(shí)驗(yàn)室測(cè)試方法示意圖a)在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)無(wú)其他紫外光照條件的環(huán)境中,將紫外成像儀正對(duì)日盲紫外單色光源。由式(B.1)計(jì)算輸出光功率和紫外成像儀光子數(shù)計(jì)算成像儀的透過(guò)率:T=Nhy/W(B.1)c)連續(xù)改變?nèi)彰ぷ贤鈫紊庠摧敵霾ㄩL(zhǎng),得到紫外成像儀透過(guò)率曲線。制性能(SIL)參數(shù):式中:A為鏡頭面積,單位為平方厘米(cm2);△t為紫外成像儀單幀積分時(shí)間,單位為秒每幀;Φ(λ)由MODTRAN軟件生成,單位為光子個(gè)數(shù)每平方厘米每納米每秒(光子/cm2/nm/s)。λ?小于280nm,λ2需大于850nm。e)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試法帶外抑制參數(shù)單位用光斑點(diǎn)數(shù)每幀表示。0實(shí)用檢驗(yàn)方法中若為防止可見(jiàn)光通道因聚焦強(qiáng)光損壞,檢驗(yàn)時(shí)可在鏡頭前用一可見(jiàn)光衰減片防護(hù)(衰減片450nm~700mm透過(guò)率小DL/T1779—2017(規(guī)范性附錄)C.2測(cè)試方法成像儀衰減成像儀衰減a)該實(shí)驗(yàn)須在暗室中進(jìn)行(小于0.00011x)。b)開啟日盲紫外單色光源,使用功率計(jì)測(cè)量光源發(fā)光功率W,并記錄功率計(jì)的感光面直徑d。(建議衰減密度10OD以上)c)開啟紫外成像儀,將紫外成像儀增益設(shè)置為最大值,積分時(shí)間設(shè)置為0,手動(dòng)對(duì)焦至無(wú)窮遠(yuǎn)。密度xOD,靈敏度值Sen由式(C.1)計(jì)算:Sen=W/[π×(d/2)2/10(C.1)注:OD為光學(xué)密度(opticaldensity,引用自GB/T13962—2009光學(xué)儀器術(shù)語(yǔ)),本測(cè)試方法中表示衰減片的透過(guò)率。衰減片衰減密度為xOD,指衰減片透過(guò)率為10?*。(規(guī)范性附錄)D.2測(cè)試方法a)增益設(shè)置為最大增益值的80%,積分時(shí)間設(shè)置為0,手動(dòng)對(duì)焦至無(wú)窮遠(yuǎn);d)成像儀距放電點(diǎn)10m放置,成像儀屏顯觀測(cè)和局部放電儀檢測(cè)同步,在閉燈環(huán)境下觀察成像UVI——紫外成像儀;PDO——局部放電儀示波器;S——電暈放電針
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