(高清版)GBT 16857.8-2022 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS） 坐標測量系統(tǒng)（CMS）的驗收檢測和復檢檢測 第8部分：使用光學距離傳感器的坐標測量機

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)第8部分：使用光學距離傳感器的國家標準化管理委員會國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布國家標準化管理委員會 I Ⅱ 1 1 2 8 85.1環(huán)境條件 85.2工作條件 95.3探測形狀誤差 95.4探測離散值 95.5探測尺寸誤差 9 95.7長度測量誤差 5.8平面形狀測量誤差 5.9工件載荷的影響 6驗收檢測和復檢檢測 6.1總則 6.2探測特性 6.3長度測量誤差 6.4平面形狀測量誤差 7合格判定 207.1驗收檢測 207.2復檢檢測 8.1驗收檢測 8.2復檢檢測 8.3期間核查 9產(chǎn)品文件和數(shù)據(jù)頁中的說明 22附錄A(資料性)結(jié)構(gòu)分辨力檢測 附錄C(資料性)量規(guī)的找正 附錄D(規(guī)范性)配置光學距離傳感器的萬向探測系統(tǒng)的坐標測量機萬向位置值 41I ⅡGB/T16857擬由14部分構(gòu)成?！?部分：詞匯。目的在于確定坐標測量機及其驗收——第2部分：用于測量線性尺寸的坐標測量機。目的在于規(guī)定用于測量按照制造商給定的特性指標進行驗收檢測的驗證方法，以及用戶對 第3部分：配置轉(zhuǎn)臺的軸線為第四軸的坐標測量機。目的在于規(guī)定驗證一臺由制造商所規(guī)定 -第4部分：在掃描模式下使用的坐標測量機。目的在于規(guī)定在掃描模式下使用的坐標測量機 -第5部分：使用單探針或多探針接觸式探測系統(tǒng)的坐標測量機。目的在于規(guī)定帶有接觸式探 ——第7部分：配置影像探測系統(tǒng)的坐標測量機。目的在于規(guī)定驗證用于測量尺寸的坐標測量機 —第8部分：使用光學距離傳感器的坐標測量機。目的在于規(guī)定由坐標測量機制造商或用戶規(guī) 第11部分：工業(yè)CT。目的在于規(guī)定以基于X射線衰減的X射線計算機斷層掃描(CT)原理Ⅲ——第12部分：關(guān)節(jié)臂式坐標測量機。目的在于規(guī)定關(guān)節(jié)臂式坐標測量機性能的驗收檢測和復檢——第13部分：光學三維坐標測量機。目的在于規(guī)定光學三維坐標測量機性能的驗收檢測和復檢1本文件規(guī)定了按照制造商給定的特性指標驗證坐標測量機的驗收檢測方本文件規(guī)定的驗收檢測和復檢檢測的方法只適用于使用光學距離傳感器的笛卡爾坐標系坐標測量機。下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文GB/T16857.2—2017產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標測量機的驗收檢測和復檢檢測第2部GB/T16857.5—2017產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標測量機的驗收檢測和復檢檢測第5部ISO10360-1:2000產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標測量機的驗收檢測和復檢檢測第1部分：詞匯[GeometricalProductSpecifications(GPS)—Acceptanceandreverificationtestsforcoordinatemeasuringmachines(CMMISO14253-1產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)工件與測量設(shè)備的測量檢驗第1部分：按規(guī)范驗證合workpiecesandmeasuringequipment—Part1:Decisionrulesforverif2ISO/TS23165產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標測量機的檢測不確定度評估指南[Geometricalproductspecifications(GPS)—Guidelinesfortheevaluationofcoordin3圖1成像區(qū)域定義探測形狀誤差probingformerror對球形尺寸實物標準器的測量點進行最小二乘法擬合(高斯擬合要素)計算，能確定徑向距離變化范圍，或?qū)植繖z測平面上的測量點進行最小二乘法擬合計算，能確定法向距離變化范圍，示值誤差處于該范圍內(nèi)。見圖2。4DaDaQ探測離散值probingdispersionvalue包含95%數(shù)據(jù)點的兩個同心球面最小半徑差或兩個平行平面間的最小間距。5取分布于檢測球上25個代表點，所得到最小二乘擬合直徑與其校準直徑之間的差值為示值誤差。見圖2。全探測尺寸誤差probingsizeerrorAll取檢測球上全部測量點，所得到最小二乘擬合直徑與其校準直徑之間的差值為示值誤差。長度測量誤差lengthmeasurementerror對參考檢測長度進行測量所得到的示值誤差。平面形狀測量誤差flatformmeasurementerror兩個平行平面間的最小距離，包含全局檢測平面上95%的測量點。6探測形狀最大允許誤差maximumpermissibleerrorforprobingform技術(shù)規(guī)范所允許的Promsh?×25jons極限值作為最大允許誤差。b)Ppomsh1×5J?0s.swre=(A+Lp/探測離散值的最大允許限maximumpermissiblelimitofprobingdispersion技術(shù)規(guī)范所允許的Promsh?s%jos極限值作為最大允許限。b)PpomsLDs5%j.00s.AmL=(A+Lp/探測尺寸最大允許誤差maximumpermissibleerrorforprobingsize技術(shù)規(guī)范所允許的Psimsm?×25j.os極限值作為最大允許誤差。b)Psmsml×sJ.00s.xcr=(A+Lp/7技術(shù)規(guī)范所允許的Psie.SphAllj,os極限值作為最大允許誤差。b)Psm.sph.AMj:00S,MPE=(A+Lp/K);長度測量最大允許誤差maximumpermissibleerrorforlengthmeasurement技術(shù)規(guī)范所允許的EBijons或Eum.j:ops極限值作為最大允許誤差。平面形狀測量最大允許誤差maximumpermissibleerrorforflatformmeasurement技術(shù)規(guī)范所允許的EForm.PLD?5%jos極限值作為最大允許誤差。b)EFormPLD95%j.ODS.Mpe=(A+Lp/c)EFarm.PL.D?5%j,0DA——大于零的常數(shù)，單位為微米(μm),由制造商提供；萬向位置值articulatedlocationvalue五個球心的最小外接球直徑。坐標測量機技術(shù)規(guī)范及相關(guān)規(guī)定等所允許的萬向位置值(3.17)的極限值為Lpa?×25,An,os。b)LDa?×25.At:0DS,MnL=(A+Lp/84符號本文件中所用到的符號如表1所示。萬向位置值的最大允許限萬向：使用萬向系統(tǒng)調(diào)整傳感器方位時5計量特性要求5.1環(huán)境條件環(huán)境條件的允許極限值(包括坐標測量機安裝場地影響測量工作的溫度、濕度和振動等),應按如下9 使用陶瓷或鋼制實物標準器確定探測誤差和數(shù)值，允許使用其他適合的材料。所使用材料應是具值和待驗證值可發(fā)生變化。相較于對應的最大允許誤差(MPE)或最大允許限(MPL),待檢測實物標準尺寸遠小于成像區(qū)域的尺寸(見圖4),采集點數(shù)可以不足，且可不評價傳感器的畸測量區(qū)域小于成像區(qū)域的66%時，還應測量局部檢測平面。如果制造商和用戶同意使用大球體，則可量區(qū)域應至少為成像區(qū)域的66%。測尺寸誤差。局部檢測平面和更大的檢測球可用否≥66%成像區(qū)域是與(P?及Po)與(P?及Po)Ps——Ps.sph?×2s,j?oos和Psm.sphAIPy——Ppom.sh?×25,j.oosPp——PForm.SphD?5%,j配置光學距離傳感器的坐標測量機實物標準器，例如標準球用于探測系統(tǒng)標定，但不應用于本應校準檢測球的直徑與形狀，以及局部檢測平面的形狀，并建議形狀誤差MPE或MPL的20%。檢測球及局部檢測平面的形狀偏差和表面粗糙度影響檢測結(jié)果。應按用戶可在制造商指定的極限范圍內(nèi)任意選擇檢測球或檢測平面的位置，測量檢測球的表面時，檢測球的測量區(qū)域宜覆蓋制造商規(guī)定的球體最寬錐角(見圖6)。應在技術(shù)s——檢測球；圖6待發(fā)布的檢測球測量區(qū)域和錐角6.2.3.3使用檢測平面的檢測程序測量檢測平面的表面時，檢測平面最寬的測量區(qū)域不宜超過制造商規(guī)定的成像區(qū)域。應在技術(shù)文件中說明所選擇的點所處平面的測量區(qū)域。對于配置光學距離傳感器的坐標測量機，實際評價數(shù)據(jù)點的數(shù)量差異可顯著如果軟件具有剔除屬于其他表面點的自動功能，則從檢測球或局部檢測平面上的測量區(qū)域中選擇25個區(qū)域，并縮減至每制造商應提供軟件工具，以將數(shù)據(jù)縮減到代表點。這些軟件工具在坐標可使用。制造商的操作手冊中所介紹的濾波用途和條件，可根據(jù)雙方協(xié)議作應用。應記錄并向用戶提供濾波應用程序。如將數(shù)據(jù)縮減至代表點，除了該區(qū)如果在檢測球上進行檢測，宜按照GB/T16857.5—2017要求的25個位置作為檢測球上25個區(qū)域的中心位置。對于配置離散單點測量傳感器的坐標測量機，則應按照GB/T16857.5的程序測量25個點。如果傳感器不能測量整個半球，則可由制造商規(guī)定制造商可自行決定為特殊工作條件(如濾波)指定額外的MPE。在指定或檢測MPE時，可不使用使用25個代表點，計算無約束的高斯(即最小二乘)擬合球。分別計算出25個代表點的高斯徑向距離r,記錄相對于最小二乘球心(如球的形狀誤差rmx-rmim)的25個代表點的高斯徑向距離變化范PForm.Sph?×25.j:oDs=rma使用25個代表點，計算無約束的高斯(即最小二乘)擬合平面。分別計算25個代表點的高斯法向距離d,記錄相對于最小二乘平面(如平面形狀誤差dmx-dmim)的25個代表點的高斯法向距離的變化PPorm.sph?×25j:os=d應采用探測形狀誤差所用的25個相同代表點。使用25個代表點，根據(jù)最小二乘法確定半徑不受約束的高斯擬合球。通過球體測量直徑Dm和校準直徑Da的差值獲得探測尺寸誤差Psmsh?×25j.os:Psie.Sph?×25j:ops=Dme無論濾波是否為制造商規(guī)定的額定工作條件的組成部分，該檢測應在用確定包含95%所有測量點的兩個同心球面最小半徑差，該范圍定義為探測離散值。使用局部檢測平面時，計算包含95%所有測量點的高斯擬合平面的法向距離范圍。檢測球的所有測量點擬合為半徑不受約束的高斯球，通過球體測量直徑Dm和校準直徑Da的差Pse.SphA.j:oDs=Dmeas長度測量誤差評價方法的原理是通過比較5個不同檢測長度的校準值和示值，確定配置光學距離應按B.3規(guī)定的程序測量單向長度。如果配置光學距離傳感器的坐標測量機還具有其他類型的探測系統(tǒng)(如接觸式探測系統(tǒng)和影像探測系統(tǒng)),則應使用制造商規(guī)定的其中一種探測系統(tǒng)進行長度測量檢測。如果僅有光學傳感器可用，則使用陶瓷或鋼制實物標準器確定長度測量誤差，允許使用其他適合的材差值和待驗證值可發(fā)生變化。相較于對應的長度測量最大允許誤差，待檢應小到可忽略不計。如果制造商未規(guī)定實物標準器的材料和表面特性，則能由用戶任意選擇。除非用每個位置最長的已校準檢測長度應至少為沿著坐標測量機測量線方向最大量程的66%。因此，沿5個不同的參考檢測長度應放置在坐標測量機測量空間的7個不同方位(位置和方向),每個長度應測量3次，合計共105次測量。7個方位中的4個應是空間對角線，如表2和圖7所示。用戶可指定剩余的3個方位，默認的方位是平行于坐標測量機的3個坐標軸，如表2所示。能根據(jù)雙方協(xié)商采用與表2和圖7不同的方位，在此情況下，應在技術(shù)文件中記錄。如果軟件具有自動剔除屬于其他表面點的功能，則可使用該功能。通過附錄A中所述的分辨力檢測能觀察到濾波的影響。如果執(zhí)行分辨力檢測，則應使用相同的坐制造商可自行決定為特殊工作條件(如濾波)指定額外的MPE。圖7待評價的實物標準器方位：需4個對角線方位和沿坐標系軸線的3個默認方位表2在測量空間的方向在測量空間的方向1沿空間對角線從點(1,0,0)到(0,1,1)必需2沿空間對角線從點(1,1,0)到(0,0,1)必需3沿空間對角線從點(0,1,0)到(1,0,1)必需4沿空間對角線從點(0,0,0)到(1,1,1)必需5平行于機器標尺從點(0,1/2,1/2)到(1,1/2,1/2)6平行于機器標尺從點(1/2,0,1/2)到(1/2,1,1/2)7平行于機器標尺從點(1/2,1/2,0)到(1/2,1/2,1)注：在此表中，坐標系(x、y、z)中測量空間對角點假設(shè)為(0,0,0)和(1,1,1如果參考檢測長度并非由GB/T16857.2—2017中定義的“常規(guī)CTE材料”構(gòu)成，則相應的*殷鋼材料的CTE不大于0.5×10-?K-1,CTE的擴展不確定度(k=2)不大于0.3×10-?K-1。常規(guī)CTE材料的參考檢測長度。常規(guī)CTE材料的檢測長度應大于0.5m或坐標測量機最長能通過算術(shù)調(diào)整低CTE檢測長度，從而得出符合GB/T16857.2—2017通過105次測量可獲得長度測量誤差EBj.ons如按B.2中的規(guī)定使用雙向測量實物標準器，則每個EBi,j.os可由每種實物標準器的測量值LBme如按B.3中的規(guī)定使用單向測量實物標準器，則每個Eumjions可由每種實物標準器的測量值單向測量每條測量線的5個長度時，可使用以下兩種方法(方法A或方法B)中的任一種來計Lunima.-Lunial+Psin.sph?×25鑒于可比性原因，如果采用點云采樣進行單向誤差測量時，則針對105次待檢測長度采樣如果坐標測量機帶有附加裝置(包括第三方軟件),已校準檢測長度的ISO10360-1:2000中圖12、圖13或圖14)表達方式相同。6.4.1原理探測形狀檢測不易檢測到此類誤差，配置區(qū)域測量傳感器的坐標測量機通常形狀。由于此類誤差對表面形狀測量有很大影響，因此對于這類坐標測量檢測。過幾種不同的方式實現(xiàn)拼接。本文件通過引用由笛卡爾坐標系的坐標測量機獲得的三維坐標將拼接限制為基于簡單數(shù)據(jù)合并的拼接操作?；谕ㄟ^參考重疊區(qū)域或使用參考標記另外，通過探測形狀檢測難以檢測到由于坐標測量機的機械結(jié)構(gòu)存在缺陷而導致的直線度測量誤平面形狀測量誤差評價方法的原理是，通過測定以下內(nèi)容來確定配置光學距機是否能夠在規(guī)定的平面形狀測量最大允許誤差使用陶瓷或鋼制實物標準器用于確定平面形狀測量誤差，允許使用其他著平面形狀誤差和待驗證值可發(fā)生變化。相對于平面檢測的最大允許誤差，待應小到可忽略不計。如果制造商未規(guī)定實物標準器的材料和表面，則能由用戶——平面的較長邊長度至少是線掃描或點掃描傳感器的投影線長度的兩倍，或系的空間對角線。建議采用圖8和表3中所示的方位，并應記錄與圖8不同的方位，應由用戶自行決定如果探測系統(tǒng)配有轉(zhuǎn)向功能，則檢測結(jié)果可受到光學距離傳感器方向的顯著影響。建議在檢測期如果軟件具有自動剔除屬于其他表面點的功能，則可使用該功能。如果正常的操作程序中包括手分辨力檢測能觀察到濾波的影響見附錄A。如果執(zhí)行分辨率檢測，則應使用相同的坐標測量機工制造商可自行決定為特殊工作條件(如濾波)指定額外的MPE。圖8待評價的檢測平面的推薦位置：沿x-y平面上的對角線的1個位置和1個空間對角線位置在測量空間的方向1沿x-y平面對角線的點(0,0,0)到(1,1,0)2沿空間對角線的點(0,0,0)到(1,1,1)注：在此表中，坐標系(x、y、z)中測量空間對角點假設(shè)為(0,0,0)和(1,1,1EForm.PLaD95%,j:ops=dmax 置光學距離傳感器的坐標測量機還具有其他類型的探測系統(tǒng)(如接觸式探測系統(tǒng)和影像探測 ——平面形狀測量誤差EromPLD?5%j:os不大于制造商規(guī)定的平面形狀測量最大允許誤差按照6.3要求的35組長度測量誤差中，最多5個、3次重復中可最多1次(不多于1次)超出合格不應額外進行重復測量。7.2復檢檢測則認為已驗證配置光學距離傳感器的坐標測量機的性能。以此類推，同7.1的規(guī)定，在6.4中所述的額外的EFarmPLD?5%,jons不大于最大允許誤差8.1驗收檢測可用于驗證配置光學距離傳感器的坐標測量機的探測和長度測量性能是否符合由制造商和用戶一致同意的最大允許誤差。8.2復檢檢測在組織內(nèi)部的質(zhì)量保證體系中，本文件所給出的復檢檢測能用于驗證配置光學距離傳感器的坐標測量機的探測和長度測量性能，由用戶來確定最大允許誤差的要求，允許用戶為此給出所有可能及詳細的適用限制。8.3期間核查在組織內(nèi)部的質(zhì)量保證系統(tǒng)中，能周期性地使用簡化的復檢檢測來驗證坐標測量機是否滿足最大允許誤差的要求?？赏ㄟ^減少待評價的實際測量點數(shù)簡化本文件所規(guī)定的光學距離傳感器的期間核查的范圍。宜對探測系統(tǒng)進行定期檢測，以及在發(fā)生對探測性能影響顯著的事故后進行檢測。9產(chǎn)品文件和數(shù)據(jù)頁中的說明第4章中給出的符號不適合用于產(chǎn)品文件、圖樣、數(shù)據(jù)頁等，表4給出了允許的對應標識。表4產(chǎn)品文件、圖紙、數(shù)據(jù)頁中的符號和對應標識MPE(P[Form.Sph.1×25:j:ODMPL(P[Form.Sph.D95%:j:ODMPE(P[Size.Sph.1×25:i:ODMPE(P[Size.Sph.All:j:ODMPE(E[Form.Pla.D95%:j:OD圖A.1使用結(jié)構(gòu)標準器驗證結(jié)構(gòu)分辨力A.2.3棱邊結(jié)構(gòu)使用直角棱邊結(jié)構(gòu)(凹坑、尖狀、間隙或類似結(jié)構(gòu))作為待檢測特征的實物標準器。實物標準器的尺寸(如凹陷直徑和深度)應遠大于待驗證的分辨力。如采用旋轉(zhuǎn)對稱結(jié)構(gòu)，則能獲得平面中任何方向的信息。棱邊的質(zhì)量(棱邊的圓整、相互垂直)應顯著優(yōu)于要驗證的分辨力。如圖A.2所示，使用傳感器測量棱邊輪廓，結(jié)果用于確定結(jié)構(gòu)分辨力。將獲得的值與指定的值進行比對。XX圖A.2測量棱邊結(jié)構(gòu)確定結(jié)構(gòu)分辨力A.2.4波形標準器使用包含一個或多個正弦波的標準器作為實物標準器，其存在相對應分辨力的待驗證截止波長，且波幅和波長應校準。如使用旋轉(zhuǎn)對稱結(jié)構(gòu)，則能獲得平面中任何方向的信息。使用傳感器測量波形標準器的表面，結(jié)果用于確定標準器的波長，如圖A.3所示，該波長通過測量波幅與校準波幅大于0.7的比值進行表征。將該波長與指定的分辨力進行比對。圖A.3測量波形標準器確定結(jié)構(gòu)分辨力A.3基本原理系統(tǒng)理論表明，能在時域(此處：在空間中)以及頻域(此處：空間頻率，極限值。兩個圖像都包含相同的信息，且可通過傅里葉變換將一圖像轉(zhuǎn)換為另一圖像及反變換。作為分辨力極限值模型，應使用一階低通(在控制工程中稱為具有一階延遲的比例環(huán)節(jié))。首先，考慮空間域(見圖A.4),特征結(jié)構(gòu)(接合點、階躍、斜率)將在濾波后產(chǎn)生相應的響應。從計量學的角度來看，階躍是最重要的特征，它以理想形狀的階躍形式實現(xiàn)。濾波器特性的常數(shù)X?是過零點的切線和距離切線足夠長的階躍高度之間的交點。該常數(shù)能轉(zhuǎn)換對于空間域中的階躍響應：空間截止頻率vg(單位：每毫米線對數(shù))是傳遞系數(shù)的絕對值下降到1/√2時的頻率(極限為-3dB):式中：λg——截止波長。圖A.4系統(tǒng)輸入和響應的階躍，用于確定結(jié)構(gòu)分辨力的極限值因此，階躍響應(理想形狀階躍的測量)允許計算正傳遞的正弦輪廓高度70%的截止波長。圖A.5說明了此關(guān)系。嚴格而言，此考慮僅適用于正弦輪廓(波形標準器)。然而，矩形輪廓能用于充分逼近(相當于半周期寬度的正階躍和負階躍的周期性延伸)。該矩形輪廓由眾多疊加的正弦波(傅里葉級數(shù))組成。由于高次諧波在很大程度上將因低通濾波而消失，僅考慮基波(正弦波)即可。使用具有對應分辨力的截止波長的波形標準器，并檢查傳遞系數(shù)是否至少為70%(正弦)或90%(矩形)。生產(chǎn)或獲得多波形標準器不僅要求高，且價格昂貴。因此，在階躍(見圖A.4)或兩個連續(xù)的反向階躍(間隙)上獲得相同的信息切實可行。2)——高度降低到正弦波幅的70%或矩形高度的90%.圖A.5具有指定截止波長周期的正弦波及矩形波，以及成功檢測時的響應信號(規(guī)范性)測。在此情形下，有些坐標測量機不必準確到達名義位置。這并不會帶來坐制造商宜提供軟件工具，以將數(shù)據(jù)縮減到代表點。這些軟件工具在坐標宜使用。制造商的操作手冊中所介紹的濾波器用途和條件，可根據(jù)雙行應用。宜記錄并向用戶提供濾波應用程序。如將數(shù)據(jù)縮減至代表點，如果軟件具有自動剔除屬于其他表面點的功能，則可使用該功能。除消除噪聲或異常值之外，不宜濫用自動或手動數(shù)據(jù)選項。可能考慮多種方法將測量點縮減到每個區(qū)域的代表點。一種簡易的方法是分別在25個區(qū)域中選擇單個點或計算三維坐標的簡易算術(shù)平均值。另一種方法是將每個區(qū)域中的測量點擬合到球體或平面上，并確定球體或平面上的代表點。如使用球體，建議使用后一種方法進行檢測。如果使用配置離散點測量傳感器的坐標測量機，則宜測量和評價離散點。B.2驗證雙向長度測量性能的雙向測量B.2.1概述已校準量規(guī)的雙向測量可提供一個雙向已校準檢測長度。雙向測量涉及在量規(guī)的每端探測一個單點或代表點，并從完全相反的方向獲取這些探測點(外部雙向測量的示例見圖B.1)。內(nèi)部和外部雙向測量不應在一條測量線上混用。下面描述了幾種可能的雙向測量方法。一些光學距離傳感器可在無探測運動的情況下獲取探測點。但是，如需要傳感器的探測運動，宜按圖B,1所示的探測方向。b)1——位置1;圖B.1每個點到點或等效方式的雙向測量示例B.2.2量塊可通過點到點測量校準的量塊提供參考檢測長度，其中該點為單點或代可用點到點的雙向方法測量經(jīng)校準的步距規(guī)來提供參考檢測長度，其中該點為單點或代表點(見圖B.1)。找正程序見附錄C?？捎们虬艋蚯虬逄峁﹨⒖紮z測長度，其中長度等于已校準球心至球心的徑的一半。采用點到點雙向測量方法，其中該點為單點或代表點(與量塊雙向尺序見附錄C。可用激光干涉儀和已校準尺寸的實物標準器提供參考檢測長度，采用兩行測量。參考檢測長度是尺寸實物標準器的校準長度與校準的激光干涉儀記錄的位移總和。方法是：在初始位置以單點或代表點探測尺寸實物標準器，在第二個位置以單點或代表點已校準量規(guī)的單向測量可提供一個單向已校準檢測長度。單向測量涉及在量規(guī)的每端探測一點或代表點，并從相同的名義方向獲取這些探測點(見圖B.2)。從不同方向的單側(cè)單向測量不應在一2圖B.2驗證單向長度測量性能的單向測量示例圖B.2驗證單向長度測量性能的單向測量示例(續(xù))B.3.2量塊可通過點到點測量已校準量塊提供參考檢測長度，其中該點為單點或代可用點到點的單向方法測量經(jīng)校準的步距規(guī)來提供參考檢測長度，其中該點為單點或代表點(見圖B.1)。找正程序見附錄C。B.3.4球棒或球板用于單向測量可用球棒或球板提供參考檢測長度，其中長度等于已校準球心至球心的長度，測量的探測點見可用激光干涉儀和實物標準器提供參考檢測長度，采用兩個探測點或兩二個位置以單點或代表點探測實物標準器名義上相同的校準點(見圖B.2)。B.4.1通則干涉儀的一些方法(見圖B.3)。能用校準的單向長度與本條中具體描述的校準雙向長度(默認為短量塊)的算術(shù)和提供校準的檢測由點云獲得的單向長度誤差不應用于評價單向長度測量性能。但是，應用6.3.5中描述的推導過pc圖B.3需補充雙向測量的單向測量B.4.2單向測量和雙向短量塊測量組成的參考檢測長度對每一條測試的測量線，采用B.2.2所述的雙向測量方法測量經(jīng)校準的短尺寸實物標準器(默認為尺寸實物標準器應沿測量線放置，即其軸向應與測試的測量線方向大致一致。尺寸實物標準器的位置應盡可能靠近測試的測量線；當然，為了裝夾的方便，尺寸實物標準器可靠近坐標測量機工作臺面。例如，如果坐標測量機的空間對角線是待測試的測量線，則尺寸實物標準器應沿空間對角線方向，但可裝夾在對角線下方的工作臺臺面上。如果已校準直徑的小球體(默認為25mm)作為尺寸實物標準器，則宜測量球體上共四個點。其中兩個點(或兩個代表點)應位于平行于測量線的球直徑上相對位置。另兩個點位于垂直于測量線并通過球心的平面內(nèi)，在空間應相隔90°。以這種方法測量的球直徑等同于短量塊的雙向測量值。對于每條待測試的測量線，應測量短尺寸實物標準器的雙向長度三次，并按時間順序記錄其示值每個單向參考檢測長度的三次示值誤差按時間順序加上(通常是算術(shù)方法)準器的雙向示值誤差，生成參考檢測長度的示值誤差。重復測量每條測量線每個單向參考檢測長度的15次示值誤差按時間順序加上(通常是算術(shù)方法)相對應的短尺寸實物標準器的雙向示值誤差，生成參考檢測長度的示值誤差。對每條測量線，共包含明確指出本條中單向誤差和雙向誤差的組合方法與B.4.3中其他條款的方法不同。這是由于在實(資料性)為了比對坐標測量機的測量長度與檢測長度的校準值，需要適當找正檢測長度。如果檢測長度的校準證書提供了找正的操作指南，則在長度測量前宜按照此指南執(zhí)行。如果校準證書沒有提供找正的C.2平行面量規(guī)測頭多點探測一個測量面建立一個基準面(最小二乘擬合),垂直這個面的方向是基準方向(量規(guī)軸對有些長度遠遠大于測量面尺寸的量規(guī)(例如校準長度大于測量面尺寸的10倍),基準方向的建立心。量規(guī)軸線即兩個球的球心到球心連線。采用這種找正方法，這種類型的參考檢測長度應僅用于探在這兩種方