DL-T 297-2023 汽輪發(fā)電機(jī)合金軸瓦超聲檢測

DL/T297—2023代替DL/T297—2011汽輪發(fā)電機(jī)合金軸瓦超聲檢測2023-10-11發(fā)布2024-04-11實(shí)施國家能源局發(fā)布DL/T297—2023 I 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14檢測人員 15檢測設(shè)備 16準(zhǔn)備工作 27檢測 38缺陷的定量和評定 3 410檢測報(bào)告 4附錄A(規(guī)范性)軸瓦超聲檢測對比試塊 5附錄B(資料性)軸瓦超聲檢測參考試塊 6附錄C(資料性)反射回波 7DL/T297—2023本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī) 1汽輪發(fā)電機(jī)合金軸瓦超聲檢測本文件規(guī)定了在役汽輪發(fā)電機(jī)合金軸瓦超聲檢測方法和結(jié)果的評定。本文件適用于錫基合金厚度不小于1mm的軸瓦安裝和檢修時(shí)的檢測。本文件不適用于距軸瓦、油孔和油槽邊緣探頭半徑范圍內(nèi)區(qū)域的檢測；如在軸瓦結(jié)合面上帶有燕尾槽，則不適用于在沿燕尾槽邊緣區(qū)域的檢測。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T11259無損檢測超聲檢測用鋼參考試塊的制作和控制方法GB/T27664.1三無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第1部分：儀器GB/T27664.2O無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第2部分：探頭GB/T27664.3-無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第3部分：組合設(shè)備JB/T8428無損檢測超聲試塊通用規(guī)范JB/T9214無損檢測A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法3術(shù)語和定義本文件沒有需要界定的術(shù)語和定義。4檢測人員4.1按本文件從事檢測的人員應(yīng)取得超聲Ⅱ級及以上培訓(xùn)證書，檢測報(bào)告應(yīng)由Ⅱ級及以上的超聲檢測4.2檢測人員應(yīng)熟悉本文件的各項(xiàng)規(guī)定、被檢設(shè)備結(jié)構(gòu)及相關(guān)技術(shù)規(guī)范，并能按規(guī)定的檢測方法熟練操作。5檢測設(shè)備5.1.1應(yīng)用A型脈沖反射式數(shù)字超聲檢測儀，儀器時(shí)基線性等主要性能參數(shù)應(yīng)符合GB/T27664.1規(guī)定，且工作頻率應(yīng)至少包括0.5MHz～20MHz頻率范圍。5.1.2超聲檢測儀應(yīng)有合格的證明文件。5.2.1軸瓦超聲檢測用單晶縱波直探頭或雙晶縱波直探頭，頻率選用5MHz～10MHz。5.2.2批量生產(chǎn)的探頭應(yīng)有制造廠家提供帶有允差的規(guī)定參數(shù)值數(shù)據(jù)表，專用探頭應(yīng)有合格證明文件。5.2.3探頭應(yīng)標(biāo)明工作頻率、晶片尺寸，其外觀、脈沖波形、中心頻率和帶寬、脈沖回波靈敏度、擴(kuò)散角、焦距和近場等主要性能參數(shù)應(yīng)滿足GB/T27664.2規(guī)定，還應(yīng)滿足以下要求：2DL/T297—2023a)時(shí)基線性：線性偏差的最大允許值為全屏寬度的±1%;b)垂直線性：偏差不大于5%,任意60dB的量程其累積誤差的最大允許值為±1dB;5.4.2對比試塊，用于時(shí)基線性及檢測靈敏度的調(diào)整，用ZChSnSb11-6巴氏合金加工，應(yīng)符合GB/T11259和JB/T8428的規(guī)定，見附錄A。5.5耦合劑合金厚度mm探頭選擇探頭頻率MHz晶片尺寸mm雙晶直探頭54×4×2～8×8×2單晶直探頭φ4~φ83DL/T297—20236.3.1雙晶直探頭：探頭置于對比試塊找出被檢軸瓦合金相同或相近厚度的矩形槽最強(qiáng)反射波，將其時(shí)基線調(diào)整為滿刻度20%～40%。6.3.2單晶直探頭：探頭置于與被檢軸瓦結(jié)合良好區(qū)域，找出基體底面最強(qiáng)反射波，將其時(shí)基線調(diào)整為滿刻度40%。6.4.1探頭置于對比試塊，找出被檢軸瓦合金相同或相近厚度的矩形槽最強(qiáng)反射波，調(diào)整為80%波高6.4.2檢測范圍內(nèi)最大聲程處的檢測靈敏度不應(yīng)低于熒光屏滿刻度的20%。7.3典型的反射回波見附錄C。7.4.2每次檢測結(jié)束前或連續(xù)檢測時(shí)間超過4h,應(yīng)進(jìn)行下列復(fù)核：a)時(shí)基線性復(fù)核，如發(fā)現(xiàn)時(shí)基線性偏差大于1%時(shí)，對發(fā)現(xiàn)缺陷的軸瓦應(yīng)重新檢測。b)檢測靈敏度復(fù)核，如檢測靈敏度下降大于等于2dB,應(yīng)對檢測結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢；如檢測靈敏度上升大于等于2dB,應(yīng)對所有記錄的缺陷進(jìn)行重新評定。8缺陷的定量和評定8.1.1應(yīng)按照本文件進(jìn)行檢測結(jié)果的評定，只計(jì)入不小于晶片50%面積的結(jié)合處缺陷。8.1.2應(yīng)用半波高度法(-6dB法)測量缺陷的邊界，相鄰缺陷之間的間距不大于10mm時(shí)，視為連表2缺陷評級缺陷組別結(jié)合面單個(gè)缺陷面積(不大于)mm2全部缺陷所占面積(不大于)%I00ⅡL?ba1ⅢL?b?1DL/T297—2023表2(續(xù))缺陷組別結(jié)合面單個(gè)缺陷面積(不大于)mm2全部缺陷所占面積(不大于)%L?b°2VL?ba5注：若單個(gè)缺陷面積所占的百分比大于表中規(guī)定全部缺陷所占面積允許的百分比時(shí)，用后者評級。)“b”的單位是mm,指徑向軸瓦或推力瓦的寬度；L?=0.75mm,L?=2mm,L?=4mm。9記錄5(規(guī)范性)6(資料性)圖B.1ZW-I參考試塊(單位：mm)1)試塊材料。7反射回波單晶直探頭檢測不同合金層厚度的結(jié)合良好和結(jié)合不良反射回波如圖C.1～圖C.5所示。8DL/T297—2023a)結(jié)合良好