GB 4075-2009 密封放射源 一般要求和分級(jí)（正式版）

代替GB4075—2003密封放射源一般要求和分級(jí)(ISO2919:1999,Radiationprotection—Sealedradioactivesources—Generalrequirementsandclassification,MOD)中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局I Ⅲ 12規(guī)范性引用文件 1 14分級(jí)和表示方法 25活度水平規(guī)定 4 5 6 99源證書 附錄A(資料性附錄)放射性核素毒性分組 附錄B(資料性附錄)密封放射源證書舉例 附錄C(資料性附錄)惡劣環(huán)境條件下的一般要求 附錄D(資料性附錄)附加檢驗(yàn) ⅢGB4075—2009本標(biāo)準(zhǔn)的第4章、第5章、第6章、第8章、第9章和第10章為強(qiáng)制性的，其余為推薦性的。本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ISO2919:1999《密封放射源一般要求和分級(jí)》。本標(biāo)準(zhǔn)與ISO2919:1999相比存在如下技術(shù)性差異：——?jiǎng)h除了國際標(biāo)準(zhǔn)的前言和引言；-—4.1中分級(jí)表示方法按中國的實(shí)際情況進(jìn)行修改；——第8章中增加了源編碼。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB4075—2003《密封放射源一般要求和分級(jí)》。本標(biāo)準(zhǔn)與GB4075—2003相比主要a)將原標(biāo)準(zhǔn)中所有“GB/T15849—1995”改為“GB15849—1995”;c)在4.1分級(jí)表示方法中GB之后增加標(biāo)準(zhǔn)號(hào)4075,修改為GB4075/××××/C(或E)×××d)在6.1中增加了污染檢驗(yàn)的污染量要求；e)將7.6.1.1中b)、c)項(xiàng)合并，修改為撞針高度(6.0±0.2)mm,直徑(3.0±0.1)mm;f)在第8章源標(biāo)識(shí)、第9章源證書和附錄B中增加了放射源編碼；h)對圖1彎曲檢驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行了修改；i)對附錄B證書表述進(jìn)行修改；j)將附錄D引用的文件均作為規(guī)范性引用文件列出；k)將參考文獻(xiàn)中1的版本升級(jí)為2005版；l)對某些文字進(jìn)行修改以使技術(shù)含義更加明確。本標(biāo)準(zhǔn)由全國核能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)于1983年12月24日首次發(fā)布，2003年3月24日第一次修訂。1GB4075—2009密封放射源一般要求和分級(jí)本標(biāo)準(zhǔn)為密封放射源產(chǎn)生者提供了評價(jià)其產(chǎn)品在使用中安全性的系列檢驗(yàn)，同時(shí)也便于使用者選擇滿足使用要求的放射源類型，特別是對關(guān)注防止因放射性物質(zhì)泄漏而造成電離輻射照射的場所選擇放射源類型時(shí)能提供幫助。本標(biāo)準(zhǔn)也可為管理部門提供指導(dǎo)。注1:泄漏檢驗(yàn)方法見GB15849—1995。表4給出了對密封放射源主要典型使用中的每種應(yīng)用和建議的檢驗(yàn)級(jí)別。廣義來說，這些檢驗(yàn)是對各種使用的最低要求，在一些特別惡劣條件下使用時(shí)(見附錄C)所須考慮的因素列于4.2。注2:生產(chǎn)者和檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)應(yīng)按GB/T19001—2000分別制定質(zhì)量保證大綱。質(zhì)(含密封源)和燃料元件。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有GB15849—1995密封放射源的泄漏檢驗(yàn)方法(eqvISO9978:1992)GB/T19001—2000質(zhì)量管理體系要求(idtISO9001:2000)《放射源編碼規(guī)則》(環(huán)發(fā)[2004]118號(hào))本標(biāo)準(zhǔn)采用下列術(shù)語和定義。3.1防止放射性物質(zhì)泄漏的保護(hù)性殼。3.2物理和化學(xué)性質(zhì)相似的物質(zhì)代替。3.3注量率fluencerate3.4放射性物質(zhì)從密封放射源內(nèi)逸入環(huán)境中。2GB4075—20093.5密封leaktight用于密封放射源的術(shù)語，指經(jīng)檢驗(yàn)密封放射源的泄漏量不高于GB15849—1995表1中給出的限值。3.6型號(hào)modeldesignation用于標(biāo)識(shí)密封放射源具體類型的專用名稱(數(shù)字、代號(hào)或兩者的組合)。3.7指密封放射源內(nèi)的放射性物質(zhì)實(shí)際上不溶于水，也不可能轉(zhuǎn)變?yōu)榭蓴U(kuò)散物質(zhì)。3.8原型密封源prototypesealedsource某種放射源的原始樣品，它是制造所有具有相同型號(hào)密封放射源的模型。3.9質(zhì)量保證qualityassurance為了提供足夠的信任表明實(shí)體能夠滿足質(zhì)量要求，而在質(zhì)量體系中實(shí)施并根據(jù)需要進(jìn)行證實(shí)的全部有計(jì)劃和有系統(tǒng)的活動(dòng)。3.10放射性核素毒性radiotoxicity放射性核素進(jìn)入人體內(nèi)，其放出的輻射對人體產(chǎn)生損傷的程度。3.11密封放射源sealedsource密封在包殼內(nèi)或與某種材料緊密結(jié)合的放射性物質(zhì)。在規(guī)定的使用條件下和正常磨損下，這種包殼或結(jié)合材料足以保持源的密封性。3.12模擬密封放射源simulatedsealedsource某種密封放射源的復(fù)制品，其包殼的結(jié)構(gòu)和材料與其代表的真實(shí)密封源完全相同，但放射性物質(zhì)采用物理和化學(xué)性質(zhì)盡可能相近的物質(zhì)代替，且僅含示蹤量的放射性物質(zhì)。注：示蹤劑應(yīng)能溶于溶劑中，溶劑不能浸蝕包殼，且示蹤劑具有與在試驗(yàn)環(huán)境使用相一致的最大活度(例如，約3.13源組件sourceassembly包含在源托內(nèi)或緊貼在源托上的密封源。3.14源托sourceholder用以固定或承載源的固定的或可移動(dòng)的機(jī)械裝置。3.15照射時(shí)保存在屏蔽裝置內(nèi)的密封源，因此使用時(shí)可提供一定的機(jī)械保護(hù)。4分級(jí)和表示方法4.1表示方法密封源的分級(jí)表示方法是，用GB4075/,之后用四位數(shù)字表示確定分級(jí)所用標(biāo)準(zhǔn)的批準(zhǔn)年份，隨后3GB4075—2009字母必須是C或E:——C表示密封源的活度不超過表3規(guī)定的水平。如果需要，可以在括弧內(nèi)加一個(gè)數(shù)字或多個(gè)數(shù)字表示已通過了彎曲檢驗(yàn)的源的類別。某些特定形狀的源(細(xì)長源，近距離治療針)的彎曲檢驗(yàn)見表1,具體要求見7.7。為了滿足檢驗(yàn)準(zhǔn)則，可能要進(jìn)行多示例：--—一個(gè)典型無防護(hù)工業(yè)照相源可表示為：“GB4075/2003/C43515(1)”或“GB4075/2003/C43515”;--—一個(gè)典型近距離治療源可表示為“GB4075/2003/C53211(8)”;-—一個(gè)典型輻照裝置源可表示為“GB4075/2003/C53424(4.7)”。4.2分級(jí)分級(jí)等級(jí)見表1和表2。表2給出了按嚴(yán)格程度遞增的各個(gè)級(jí)別的環(huán)境檢驗(yàn)條件。彎曲檢驗(yàn)等級(jí)12345678×參照條款免檢彎曲檢驗(yàn)彎曲檢驗(yàn)彎曲檢驗(yàn)彎曲檢驗(yàn)彎曲檢驗(yàn)彎曲檢驗(yàn)彎曲檢驗(yàn)特殊檢驗(yàn)靜壓力表2密封源性能分級(jí)(用5個(gè)數(shù)字表示)檢驗(yàn)內(nèi)容123456×溫度免檢十80℃(1h)—40℃(20min)400℃到20℃的熱沖擊+600℃(1h)及600℃到20℃的熱沖擊800℃到20℃的熱沖擊特殊檢驗(yàn)外壓免檢25kPa至大氣壓25kPa至2MPa25kPa至7MPa25kPa至70MPa25kPa至170MPa特殊檢驗(yàn)沖擊免檢50g,下落距離1m或等值沖擊能200g,下落距離lm或等值沖擊能2kg,下落距離1m或等值沖擊能5kg,下落距離1m或等值沖擊能20kg,下落距離1m或等值沖擊能特殊檢驗(yàn)振動(dòng)免檢在49ms-2(5g)500Hz試驗(yàn)3次，每次10min50Hz在峰與峰之間振幅為0.635mm時(shí)，50Hz至90Hz(10g)條件下90Hz至500Hz在峰與峰之間振25Hz至80Hz和在196ms-2(20g)條件下80Hz至2000Hz以上均試驗(yàn)3次，每次30min不需要不需要特殊檢驗(yàn)穿刺免檢錘重1g,下落距離1m或等值沖擊能錘重10g,下落距離1m或等值沖擊能錘重50g,下落擊能錘重300g,下落擊能錘重1kg,下落距離1m或等值沖擊能特殊檢驗(yàn)a加速的最大振幅4GB4075—2009表4給出的分級(jí)未考慮火災(zāi)、爆炸及腐蝕的影響。在評價(jià)密封源時(shí)，生產(chǎn)者和使用者需考慮火災(zāi)、爆炸及腐蝕等事件的可能性及此類事件可能造成的后果。當(dāng)確定需要進(jìn)行特殊檢驗(yàn)時(shí)，應(yīng)考慮下述a)放射性物質(zhì)泄漏所造成的后果；b)密封源內(nèi)放射性物質(zhì)的量；c)放射性核素毒性；d)放射性物質(zhì)的物理和化學(xué)形態(tài)；f)密封源或源一裝置組合所提供的防護(hù)情況。必要時(shí)，使用者和生產(chǎn)者應(yīng)商定密封源的附加檢驗(yàn)。附錄D給出了特殊檢驗(yàn)的實(shí)例。4.3級(jí)別確定每一類型密封源的級(jí)別應(yīng)采用以下方法之一來確定：——按表2所示的每項(xiàng)檢驗(yàn)，要用同種類型(樣品源、假密封源或模擬源)的兩個(gè)源進(jìn)行實(shí)際檢驗(yàn)。——如果以前已進(jìn)行過這些檢驗(yàn)，并已證明密封源合格。每項(xiàng)檢驗(yàn)可以采用不同的樣品。應(yīng)以檢驗(yàn)后密封源能否保持它的密封性能來確定是否符合標(biāo)準(zhǔn)。每項(xiàng)檢驗(yàn)后，應(yīng)用肉眼檢查源完整性的損壞情況，還應(yīng)按照GB15849—1995進(jìn)行適當(dāng)?shù)男孤┰囼?yàn)。當(dāng)用模擬源做泄漏檢測時(shí)，所選方法的靈敏度應(yīng)適當(dāng)。當(dāng)密封源有多層包殼時(shí)，經(jīng)檢驗(yàn)至少有一層包殼密封，就確定為檢驗(yàn)合格。5活度水平規(guī)定附錄A給出了四個(gè)放射性核素毒性組，規(guī)定的密封源活度值見表3,活度低于該規(guī)定值的，對具體用途和設(shè)計(jì)不要求進(jìn)行單獨(dú)評價(jià)。表3按放射性核素毒性分組規(guī)定的活度水平放射性核素組(見附錄A)規(guī)定活度/TBq(Ci)可浸出的“不可浸出的bA0.01(約0.3Ci)0.1(約3Ci)1(約30Ci)10(約300Ci)10(約300Ci)100(約3000Ci)C20(約500Ci)200(約5000Ci)a可浸出的：依據(jù)GB15849—1995中5.1.1規(guī)定，將源芯浸在50℃100mL靜水中，4h,水中的放射性活度大于總活度0.01%。b不可浸出的：依據(jù)GB15849—1995中5.1.1規(guī)定，將源芯浸在50℃100mL靜水中，4h,水中的放射性活度低于總活度0.01%。密封源的活度超過規(guī)定值時(shí)，應(yīng)對具體用途和設(shè)計(jì)作進(jìn)一步評價(jià)。為了便于分級(jí)，生產(chǎn)時(shí)應(yīng)根據(jù)表3考慮密封源的活度水平。除非需要，只有當(dāng)密封源活度超過表3所示規(guī)定值時(shí)才須考慮對火災(zāi)、爆炸、腐蝕和放射性核素毒性的影響進(jìn)行評價(jià)。如果活度超過規(guī)定值，則應(yīng)根據(jù)不同情況來考慮密封源的分級(jí)。如果活度不超過表3的規(guī)定值，無須進(jìn)一步考慮毒性和可溶性就可直接使用表4。5GB4075—20096.1一般要求所有密封源在制造后均應(yīng)進(jìn)行檢驗(yàn)，污染檢驗(yàn)值小于200Bq,即視為該源通過污染檢驗(yàn)。該檢驗(yàn)應(yīng)按GB15849—1995中5.3規(guī)定的試驗(yàn)之一進(jìn)行。所有密封源在制造后均應(yīng)進(jìn)行檢驗(yàn)，以確保不泄漏。該檢驗(yàn)應(yīng)按GB15849—1995規(guī)定的一種或一種以上方法進(jìn)行。密封源所含放射性物質(zhì)的活度均應(yīng)進(jìn)行估算。這可以通過輻射輸出量的測量結(jié)果或通過生產(chǎn)所用的該批投料的放射性測量進(jìn)行估算。密封源樣品應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)第7章所述方法進(jìn)行檢驗(yàn)，按第4章的規(guī)定進(jìn)行分級(jí)。密封源使用方式密封源級(jí)別(由檢驗(yàn)確定)溫度壓力沖擊振動(dòng)穿刺工業(yè)射線照相密封源43515裝置中源43313醫(yī)用射線照相32312γ射線遠(yuǎn)距離治療53524近距離治療[6]*53211表面敷貼器43312γ儀表(中、高能)無防護(hù)源43333裝置中源43232β儀表、低能γ儀表或x射線熒光分析33222油田測井56522便攜式濕度計(jì)和密度計(jì)(包括手提或車載)43333一般中子源應(yīng)用(不包括反應(yīng)堆啟動(dòng))43323儀器刻度源，活度>1MBq22212γ輻照源[3],[5]I類b43323Ⅱ、Ⅲ和IV類53424離子發(fā)生器色譜32211靜電消除器22222感煙探測器b32222a這種類型的源在使用時(shí)可能會(huì)嚴(yán)重變形，生產(chǎn)者和使用者應(yīng)商定附加的或?qū)ｉT的檢驗(yàn)程序。b不包括充氣源。C可以用裝置中源或源組件作檢驗(yàn)。每個(gè)密封源均應(yīng)按第8章的要求進(jìn)行標(biāo)識(shí)，按第9章的要求提供包括檢驗(yàn)結(jié)果等內(nèi)容的證書。密封源包殼在物理和化學(xué)性質(zhì)上應(yīng)與內(nèi)容物相容。如果密封源直接由照射生產(chǎn)，則包殼不應(yīng)含有6GB4075—2009行泄漏檢驗(yàn)的最大活度(例如，約1MBq137Cs)。6.2典型使用要求密封源、源組件或裝置中源的某些典型使用及其最低性能要求見表4。有可能要求一種或多種彎曲試驗(yàn)，規(guī)定見7.7。活性區(qū)長度(L)與最小外包殼直徑(D)之比大于或等于15(即L/D≥15)的檢驗(yàn)源，要求的彎曲檢驗(yàn)見7.7.1。例如，用于I類輻照裝置的密封源，要求達(dá)到4級(jí)，Ⅱ、Ⅲ和IV類輻照裝置則要求達(dá)到活性區(qū)長度(L)與最小外包殼直徑(D)之比等于10或大于10(即L/D≥10)的檢驗(yàn)源及活性區(qū)長度等于或大于100mm(即L≥100mm)的檢驗(yàn)源，要求的彎曲檢驗(yàn)見7.7.2,且要達(dá)到7級(jí)。活性區(qū)長度(L)大于或等于30mm(即L≥30mm)的近距離治療針類密封源，要求的彎曲檢驗(yàn)見7.7.3,且要求達(dá)到8級(jí)。這些要求考慮了正常使用和適當(dāng)?shù)囊馔馕ｋU(xiǎn)，但不包括暴露在火災(zāi)、爆炸或腐蝕中的情況。密封源通常安裝在裝置內(nèi)，在確定某特定用途的級(jí)別數(shù)值時(shí)，考慮了由裝置提供的對密封源的附加保護(hù)。因此，對表4列出的全部用途來說，相應(yīng)級(jí)別數(shù)值所規(guī)定的檢驗(yàn)，密封源都需進(jìn)行。離子發(fā)生器型除外，它可用整個(gè)源組件或裝置中源進(jìn)行檢驗(yàn)。這些規(guī)定的檢驗(yàn)未覆蓋所有密封源的使用情況，特殊使用條件或與潛在事故相關(guān)的情況與表4規(guī)定的分級(jí)不完全一致，生產(chǎn)者和使用者應(yīng)根據(jù)不同情況，考慮進(jìn)行合適的檢驗(yàn)。表4所示的數(shù)字指表2中的級(jí)別數(shù)字。6.3確定級(jí)別的程序和性能要求6.3.1由附錄A確定放射性核素毒性組。6.3.2根據(jù)表3確定規(guī)定的活度值。6.3.3如果密封源的活度不超過表3規(guī)定的活度值，應(yīng)對火災(zāi)、爆炸、腐蝕等作危險(xiǎn)性評估，如果確認(rèn)沒有重大危險(xiǎn)，密封源及其使用可按最低級(jí)別要求(見6.2)。如確認(rèn)會(huì)產(chǎn)生重大危險(xiǎn)，則須對要求的試驗(yàn)進(jìn)行全面評估(見4.2),同時(shí)要特別注意溫度和沖擊所造成的危險(xiǎn)性。6.3.4如果密封源活度超過表3允許水平，則應(yīng)對要求的試驗(yàn)分別予以評價(jià)，包括源的設(shè)計(jì)、特定用6.3.5在確定了特定使用或用途要求密封源的最低級(jí)別后，可直接由表1和表2得到要求的性能標(biāo)準(zhǔn)。6.3.6密封源的級(jí)別可由表1、表2確定，也可按表4來選擇合適的應(yīng)用。由于表2是按嚴(yán)格的程度遞增的順序，從1級(jí)～6級(jí)排列的，因此已確定級(jí)別的密封源可適用于任何具有相同或低于嚴(yán)格特定性能要求的場合。7檢驗(yàn)方法7.1概述本章所給出的檢驗(yàn)方法是確定性能等級(jí)可接受的。全部規(guī)定的指標(biāo)是最低要求。其他方法，如果能證明至少與本章方法等效也可采用。除溫度檢驗(yàn)外，所有的檢驗(yàn)都應(yīng)在環(huán)境溫度下進(jìn)行。檢驗(yàn)后源的級(jí)別應(yīng)按4.3來判定。7.2溫度檢驗(yàn)7.2.1裝置加熱或冷卻裝置中檢驗(yàn)區(qū)域的體積至少為樣品體積的5倍。如果用煤氣或燃料油加熱，整個(gè)檢驗(yàn)7GB4075—20097.2.2方法所有檢驗(yàn)均須在大氣中進(jìn)行。注：低溫檢驗(yàn)中，允許采用能獲得比要求溫度更低的二氧化碳(干冰氣氛)。進(jìn)行低于環(huán)境溫度檢驗(yàn)的密封源，應(yīng)在45min內(nèi)從環(huán)境溫度降至檢驗(yàn)溫度。進(jìn)行高于環(huán)境溫度檢檢驗(yàn)溫度/℃最大時(shí)間限值/min5400800°a6級(jí)溫度檢驗(yàn)與IAEA規(guī)定的試驗(yàn)方法相似[1]。對于2級(jí)和3級(jí)檢驗(yàn)，密封源至少在檢驗(yàn)溫度以上保持1h,然后在爐內(nèi)或?qū)嶒?yàn)室氛圍中慢慢降溫對4級(jí)、5級(jí)、6級(jí)檢驗(yàn)，密封源至少在檢驗(yàn)溫度以上保持1h,熱沖擊時(shí)在15s之內(nèi)將樣品投入環(huán)境溫度(20℃左右)的水中，每分鐘水流量應(yīng)至少為源體積的10倍，如用靜水，則水量應(yīng)至少為源體積的20倍。7.3外壓檢驗(yàn)壓力計(jì)應(yīng)是剛校準(zhǔn)過的，且其壓力量程至少比檢驗(yàn)壓力大10%。真空計(jì)至少能讀出20kPa絕對氣壓。低壓和高壓檢驗(yàn)可以在不同的小室中進(jìn)行。之間壓力應(yīng)恢復(fù)至大氣壓。注：液壓油不能直接與密封源接觸，因?yàn)榭赡軙?huì)暫時(shí)堵7.4沖擊檢驗(yàn)(3.0±0.3)mm。鋼錘的重心剛好落在沖擊面圓形中軸線上，中軸線穿過固定裝置的固定點(diǎn)。每個(gè)等級(jí)檢驗(yàn)鋼錘質(zhì)量見表2。依據(jù)表2,按所確定的檢驗(yàn)等級(jí)選擇鋼錘質(zhì)量。調(diào)節(jié)鋼鉆上密封源上部至鋼錘下表面距離，使跌落高度為1m,讓薄弱的源表面對準(zhǔn)鋼錘放鋼錘。能完成規(guī)定檢驗(yàn)內(nèi)容的振動(dòng)裝置。8GB4075—20097.5.2方法2級(jí)和3級(jí)檢驗(yàn)，對規(guī)定的每個(gè)條件，密封源需進(jìn)行三次完整的試驗(yàn)。檢驗(yàn)時(shí)，以勻速方式掃過范4級(jí)檢驗(yàn)，對規(guī)定的每個(gè)條件，密封源需進(jìn)行三次完整的試驗(yàn)。檢驗(yàn)時(shí)，以勻速方式掃過所有頻率范圍，從最小頻率至最大頻率，30min或更長時(shí)間后，掃回至最小頻率。源的每個(gè)軸向按下述規(guī)定試表性幾何外形斷面作為軸向。a)洛氏硬度：50至60(RockwellC);c)沖擊表面為半球形。撞針的中心線應(yīng)與鋼錘固定裝置的重心及固定點(diǎn)在一直線上，鋼錘及撞針的質(zhì)量由檢驗(yàn)級(jí)別確定。7.6.1.2淬火鋼砧按表2選擇相應(yīng)級(jí)別的鋼錘和撞針質(zhì)量。將密封源放在鋼砧上，先測量密封源上部至撞針下端之間的距離，調(diào)節(jié)跌落高度至少為1m,然后弱面都應(yīng)檢驗(yàn)。性區(qū)長度上垂直于密封源主軸的最小外包殼尺寸。彎曲檢驗(yàn)分級(jí)是根據(jù)施加的靜壓力，使用如圖1所示檢驗(yàn)參數(shù)和三個(gè)圓柱。所有三個(gè)圓柱不能旋轉(zhuǎn)且縱軸應(yīng)相互平行。圓柱表面應(yīng)光滑，且有足夠的長度以在檢驗(yàn)過程中給源包殼提供足夠的接有效壓力。靜壓力應(yīng)施予密封源最脆弱的部分。每個(gè)等級(jí)彎曲檢驗(yàn)所加靜壓力見表1。9GB4075—20092——5D—受壓圓柱；3——密封源；4——2D—支撐圓柱。圖1彎曲檢驗(yàn)參數(shù)7.7.2L/D≥10且L≥100mm密封源的彎曲檢驗(yàn)L/D≥10以及L≥100mm的密封源應(yīng)進(jìn)行此項(xiàng)彎曲檢驗(yàn)，這里，L為活性區(qū)長度，D為最小外包殼直徑或沿活性區(qū)長度上垂直于密封源主軸的尺寸。密封源應(yīng)剛性地卡固在水平位置上，并使其一半伸出夾具面。樣品放置方向應(yīng)使源自由端受鋼錘平面沖擊時(shí)損傷最大，鋼錘沖擊樣品應(yīng)產(chǎn)生等同于1.4kg重物從1m高度垂直自由下落產(chǎn)生的沖擊效果。鋼錘外直徑應(yīng)為(25±1)mm,且其沖擊面的邊角倒圓、半徑為(3.0±0.3)mm。密封源通過此彎曲檢驗(yàn)則為7級(jí)。7.7.3近距離治療針的彎曲檢驗(yàn)總長度大于或等于30mm的近距離治療針型密封源應(yīng)進(jìn)行此項(xiàng)彎曲檢驗(yàn)[6]。密封源應(yīng)放置在一個(gè)合適裝置中，以使源能彎曲至少90°角成一半徑為(3.0±0.1)mm的圓弧。進(jìn)行此項(xiàng)檢驗(yàn)時(shí)，應(yīng)將密封源約為總長1/3部分放入裝置內(nèi)，用合適工具(例如鉗子)夾住伸出部密封源通過此項(xiàng)彎曲檢驗(yàn)則為8級(jí)。8源標(biāo)識(shí)b)生產(chǎn)者名稱或代碼；e)放射性核素的化學(xué)符號(hào)和質(zhì)量數(shù)；f)中子源的靶元素。GB4075—20099源證書a)生產(chǎn)者名稱；b)用第4章規(guī)定的代碼表示的等級(jí)及已有的特殊形式放射性物質(zhì)的批準(zhǔn)證書號(hào)；c)源序號(hào)和簡要說明，包括放射性核素的化d)源編碼；e)裝料活度，根據(jù)所用的放射性物質(zhì)的分析或輻射輸出量的測量以及吸收數(shù)據(jù)估算；f)輻射輸出量，例如注量率或γ輻射源在規(guī)定方向1密封放射源證書示例參見附錄B。大綱。每個(gè)生產(chǎn)者都應(yīng)制定適用于源設(shè)計(jì)與制造的質(zhì)量保證大綱。以下分類系根據(jù)ICRP第5號(hào)出版物。此外還包括了核素125I、Ga、*Y和11In。括弧內(nèi)組別為歐洲原子能聯(lián)營指導(dǎo)書84/466及84/467推薦的類別，這里的(2)、(3)和(4)分別表示的組別為2組、3組或4組。下面給出的組別(表A.1,表A.2,表A.3,表A.4)可與國際標(biāo)準(zhǔn)一起使用。注2:本附錄已不作參考件使用，但從中獲得并在此列出的資料與本標(biāo)準(zhǔn)一起使用是適當(dāng)?shù)摹?第1組：極毒)B組：中毒高毒)228Ac36Cl(3)56C(3)60C(3)234Th(3)240Tl(3)152(13a)Eu46Sc(3)249Bk54Mn(3)89Sr(3)45Ca(3)22Na(3)90Sr93Zr(3)GB4075—2009表A.3B組：中毒中毒)64Cu(4)43K97Tc(4)165Dy(4)85mKr(4)97mTc41Ar87Kr193Pt(4)99Tc(4)127Te(4)152(9.2h)Eu52Mn129Te(4)155Eu(2)56Mn(4)99Mo24Na231Th93mNb220Rn(4)200Tl59Fe95Nb222Rn201Tl(4)7Be(4)67Ga97Ru202TI206Bi72Ga149Nd(4)212Bi63Ni48V82Br65Ni(4)35S(4)181W(4)239Np47Ca47Sc109Cd(2)203Hg48Sc135Xe(4)75Se87Y31Si(4)90Y233Pa38Cl(4)134I(4)203Pb93Y57Co58Co65Zn51Cr(4)85Sr69mZn131Cs(4)91Sr97Zn96Tc表A.4C組：低毒低毒)37Ar193mP(3)96mTc天然U58mCo99mTc83Kr232Th(2)97Nb91mY59Ni235U69Zn3H238U93Zr(2)85mSrGB4075—2009(資料性附錄)密封放射源證書舉例密封放射源證書生產(chǎn)者名稱，地址，電話號(hào)碼，傳真號(hào)型號(hào)：X63/1源編碼：××××××××××××放射性核素：137Cs(中子源尚須給出靶元素名稱)放射性核素雜質(zhì)：13+Cs活度<1.0%說明：γ輻射源CsCl小球裝入雙層不銹鋼包殼內(nèi)，X63/1型GB級(jí)別：GB4075/2003/E63636(1)特殊形式證書號(hào)：GB/199/S內(nèi)容物估計(jì)活度：6.99TBq日期：××××-××-××(對短壽命核素還應(yīng)給出測量時(shí)間)輻射輸出量率：定量測量方法：在源徑向，例如垂直于源的對稱軸方向，離源中心1m處的空氣比釋動(dòng)能率。結(jié)果：139pμGy/s日期：××××-××-××表面沾污檢驗(yàn)：方法：GB15849干擦拭法(見5.3)結(jié)果：合格泄漏檢驗(yàn)：方法1:GB15849真空氣泡法(見6.2)結(jié)果：合格方法2:GB15849氦質(zhì)譜