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1T/ZEIIA05—2024抗硫化厚膜片式固定電阻器詳細(xì)規(guī)范本文件規(guī)定了抗硫化厚膜片式固定電阻器的術(shù)語(yǔ)和定義、型號(hào)規(guī)格、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸及貯存。本文件適用于抗硫化厚膜片式固定電阻器(以下簡(jiǎn)稱抗硫化電阻)的生產(chǎn)。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧GB/T2828.1計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第1部分:按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃GB/T2829周期檢驗(yàn)計(jì)數(shù)抽樣程序及表(適用于對(duì)過(guò)程穩(wěn)定性的檢驗(yàn))GB/T5729-2003電子設(shè)備用固定電阻器第1部分:總規(guī)范GB/T9546.8-2015電子設(shè)備用固定電阻器第8部分:分規(guī)范表面安裝固定電阻器IEC60068-2-58:2015表面貼裝器件(SMD)的可焊性及所鍍金屬的抗熔解性和抗焊接熱的測(cè)試方法3術(shù)語(yǔ)和定義GB/T5729-2003界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。3.1抗硫化型常規(guī)型電阻Anti-SulruratedGeneralThickFilmChipFixedResistor以具有優(yōu)越的防硫化、抗腐蝕性能為特點(diǎn),能在含硫的環(huán)境正常穩(wěn)定工作的厚膜片式固定電阻器。3.2抗硫化功率型電阻Anti-SulruratedHighPowerThickFilmChipFixedResistor以額定功率大且具有優(yōu)越的防硫化、抗腐蝕性能為特點(diǎn),能在含硫的環(huán)境正常穩(wěn)定工作的厚膜片式固定電阻器。3.3抗硫化抗浪涌型電阻Anti-SulruratedAnti-SurgeThickFilmChipFixedResistor以具有優(yōu)越耐瞬時(shí)脈沖和抗浪涌能力,以及具有優(yōu)越的防硫化、抗腐蝕性能為特點(diǎn),能在含硫的環(huán)境正常穩(wěn)定工作的厚膜片式固定電阻器。3.4抗硫化高壓型電阻Anti-SulruratedHighVoltagePowerThickFilmChipFixedResistor以高于常規(guī)型電阻的最大工作電壓,以及具有優(yōu)越的防硫化、抗腐蝕性能為特點(diǎn),能在含硫的環(huán)境正常穩(wěn)定工作的厚膜片式固定電阻器。4型號(hào)規(guī)格4.1型號(hào)規(guī)格表示格式①②③④⑤⑥⑦⑧①表示產(chǎn)品系列代號(hào),見(jiàn)4.2。②表示產(chǎn)品分類代號(hào),見(jiàn)4.3。③表示額定功率代號(hào),見(jiàn)4.4。④表示型號(hào)代號(hào),見(jiàn)4.5。2T/ZEIIA05—2024⑤表示電阻溫度系數(shù)代號(hào),見(jiàn)4.6。⑥表示阻值代號(hào),見(jiàn)4.7。⑦表示電阻值誤差精度代號(hào),見(jiàn)4.8。⑧表示包裝代號(hào),見(jiàn)4.9。4.2產(chǎn)品系列代號(hào)“R”表示厚膜片式固定電阻器。4.3產(chǎn)品分類代號(hào)產(chǎn)品分類代號(hào)如表1所示,復(fù)合型系列產(chǎn)品用2位代號(hào)組合。表1分類代號(hào)H///4.4額定功率代號(hào)4.4.1對(duì)于抗硫化常規(guī)型,用“C”表示常規(guī)功率系列,“S”表示提升功率系列。4.4.2對(duì)于抗硫化抗浪涌型、抗硫化高壓型、抗硫化功率型,如表2所示。表2功率代號(hào)ABCDEFGHJKLMNQRTXYW1234.5型號(hào)代號(hào)型號(hào)代號(hào)如表3所示:表3型號(hào)代號(hào)4.6電阻溫度系數(shù)代號(hào)電阻溫度系數(shù)(TCR)代號(hào)如表4所示:表4電阻溫度系數(shù)代號(hào)UBLWUBWK3T/ZEIIA05—2024表4電阻溫度系數(shù)代號(hào)(續(xù))MUWKTYSQMUBLWK抗硫化高壓型UBWKMUWKYSQMUBLWK4.7電阻值代號(hào)E24系列(0.01Ω≤R≤500MΩ)電阻值代號(hào)用三位數(shù)字(0.1Ω≤R≤500MΩ)或四位數(shù)字(0.01Ω≤R<0.1Ω)表示;E96系列(1Ω≤R≤500MΩ)電阻值代號(hào)用四位數(shù)字表示,非標(biāo)(非E24、非E96)阻值的電阻值代號(hào)表示參照E24、E96系列的表示方法,0Ω<R<1Ω電阻值代號(hào)用三位或四位數(shù)字表示,阻值單位為歐姆時(shí)用R表示小數(shù)點(diǎn),阻值單位為毫歐姆時(shí)用M表示小數(shù)點(diǎn)??缃与娮璧碾娮柚荡?hào)用000表示。4.8電阻值誤差精度代號(hào)電阻值誤差精度代號(hào)如表5所示:表5電阻值誤差精度代號(hào)%FGJDFGHJKM4T/ZEIIA05—20244.9包裝方式代號(hào)“T”表示編帶包裝,“C”表示塑料袋包裝。5技術(shù)要求5.1外觀要求無(wú)可見(jiàn)損傷,標(biāo)記清楚。5.2外形尺寸產(chǎn)品外形示意圖見(jiàn)圖1,外形尺寸應(yīng)符合表6的規(guī)定。表6外形尺寸LWtab5.3額定值5.3.1抗硫化常規(guī)型的額定值如表7和表8所示。表7額定值WVVA流A 1 1 1224 1336---24585T/ZEIIA05—2024表7額定值(續(xù))---255---265---2651---265表8電阻溫度系數(shù)----------------------------5.3.2抗硫化功率型、抗硫化抗浪涌型的額定值,如表9所示表9額定值WVV10-6/℃26T/ZEIIA05—20245.3.3抗硫化高壓型的額定值如表10所示表10高壓型產(chǎn)品的額定值WVV10-6/℃15.4降功耗曲線本標(biāo)準(zhǔn)中的抗硫化厚膜片式固定電阻器安裝在規(guī)定的基片(1.6mm厚環(huán)氧玻璃層壓印制電路板或0.6mm±0.1mm厚的96%氧化鋁陶瓷基板)上,當(dāng)環(huán)境溫度超過(guò)70℃時(shí),其額定負(fù)荷、額定功率、額定電流(跨接電阻)應(yīng)按圖2、圖3所示降功耗曲線。圖2降功耗曲線圖圖3降功耗曲線圖注:適用于抗硫化常規(guī)型、抗硫化抗浪涌型、抗硫化高壓型、抗硫化功率型的0201、0402、065.5電阻值阻值應(yīng)符合標(biāo)稱阻值,偏差應(yīng)符合表5的規(guī)定。5.6可焊性7T/ZEIIA05—2024上錫面積應(yīng)不小于95%。5.7耐焊接熱外觀無(wú)可見(jiàn)損傷且標(biāo)記清晰,試驗(yàn)后阻值要求如表11所示。表11試驗(yàn)后阻值要求5.8基板彎曲強(qiáng)度(端面鍍層結(jié)合強(qiáng)度)外觀無(wú)可見(jiàn)損傷,試驗(yàn)后阻值要求應(yīng)符合表11的規(guī)定。5.9過(guò)載外觀無(wú)可見(jiàn)損傷且標(biāo)記清晰,試驗(yàn)后阻值要求如表12所示。表12試驗(yàn)后阻值要求5.10剪切力(附著力)外觀無(wú)可見(jiàn)損傷。5.11溫度快速變化外觀無(wú)可見(jiàn)損傷,試驗(yàn)后阻值要求如表13所示。表13試驗(yàn)后阻值要求8T/ZEIIA05—2024表13試驗(yàn)后阻值要求(續(xù))):5.12氣候順序外觀無(wú)可見(jiàn)損傷且標(biāo)記清晰,試驗(yàn)后阻值要求如表14所示。表14試驗(yàn)后阻值要求5.1370℃耐久性外觀無(wú)可見(jiàn)損傷且標(biāo)記清晰,試驗(yàn)后阻值應(yīng)符合表14的要求。5.14阻值隨溫度變化電阻溫度系數(shù)應(yīng)符合表8、表9或表10的要求。5.15穩(wěn)態(tài)濕熱外觀無(wú)可見(jiàn)損傷且標(biāo)記清晰,試驗(yàn)后阻值要求如表15所示。表15試驗(yàn)后阻值要求):5.16上限類別溫度耐久性9T/ZEIIA05—2024外觀無(wú)可見(jiàn)損傷且標(biāo)記清晰,試驗(yàn)后阻值要求如表16所示。表16試驗(yàn)后阻值要求):5.17耐電壓無(wú)擊穿或飛弧。5.18耐溶劑外觀無(wú)可見(jiàn)損傷且標(biāo)記清晰,試驗(yàn)后阻值應(yīng)符合表17的要求。表17試驗(yàn)后阻值要求FGJ5.19硫化試驗(yàn)外觀無(wú)可見(jiàn)損傷,試驗(yàn)后阻值應(yīng)符合表18的要求。表18試驗(yàn)后阻值要求/FGJ方法一△R≤±(1.0%R+0.05Ω)5.20鹽霧外觀端面鍍層不出現(xiàn)氧化生銹、脫落,試驗(yàn)后阻值應(yīng)符合表19的要求。表19試驗(yàn)后阻值要求FGJT/ZEIIA05—20246試驗(yàn)方法6.1試驗(yàn)條件6.1.1試驗(yàn)環(huán)境條件試驗(yàn)環(huán)境條件為:a)溫度:15℃~35℃;b)相對(duì)濕度:25%RH~75%RH;c)氣壓:86kPa~106kPa。6.1.2恢復(fù)條件產(chǎn)品試驗(yàn)后,進(jìn)行阻值測(cè)量前應(yīng)放置在5.1.1條件下恢復(fù)1h~2h。6.2外觀用精度不低于30倍的顯微鏡進(jìn)行檢查。6.3外形尺寸按照GB/T5729-2003的4.4.2條的規(guī)定,用精度不低于0.02mm的游標(biāo)卡尺和0.025mm的顯微鏡測(cè)量。6.4電阻值按照GB/T5729-2003的4.5條的規(guī)定進(jìn)行,測(cè)量電壓應(yīng)符合表20的規(guī)定:表20測(cè)量電壓測(cè)量電壓U-0%,V131MΩ≤R注:標(biāo)稱阻值小于10Ω時(shí),選擇的測(cè)量電壓應(yīng)使電阻器的功耗小于其額定功耗的10%,但不6.5可焊性方法一:焊槽法,按照GB/T5729-2003的4.17條的規(guī)定進(jìn)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表21的規(guī)定:表21焊槽法試驗(yàn)條件注:用焊槽法進(jìn)行可焊性試驗(yàn),用Sn-Ag方法二:回流焊法,按照IEC60068-2-58:2015規(guī)定進(jìn)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表22的規(guī)定:表22回流焊試驗(yàn)條件150℃~180℃230℃~250℃--注:用回流焊法進(jìn)行可焊性試驗(yàn),用Sn96.5Ag3Cu0.T/ZEIIA05—20246.6耐焊接熱按照GB/T5729-2003的4.18條的規(guī)定進(jìn)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表23的規(guī)定:表23耐焊接熱試驗(yàn)條件注:用焊槽法進(jìn)行耐焊性試驗(yàn),用Sn-Ag6.7基板彎曲強(qiáng)度(端面鍍層結(jié)合強(qiáng)度)按照GB/T5729-2003的4.33條執(zhí)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表24的規(guī)定:表24基板彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)條件注:電阻器安裝在1.6mm厚環(huán)氧玻璃層6.8過(guò)載按照GB/T5729-2003的4.13條執(zhí)行,其中:跨接電阻施加最大過(guò)負(fù)荷電流,持續(xù)時(shí)間5s。其他電阻施加2.5倍額定電壓或最大過(guò)負(fù)荷電壓(取較小者),持續(xù)時(shí)間5s。6.9剪切力按照GB/T5729-2003的4.32條執(zhí)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表25的規(guī)定:表25剪切力試驗(yàn)條件T/ZEIIA05—2024表25剪切力試驗(yàn)條件(續(xù))注:電阻器安裝在1.6mm厚環(huán)氧玻璃層6.10溫度快速變化按照GB/T5729-2003的4.19條執(zhí)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表26的規(guī)定:表26溫度快速變化試驗(yàn)條件0201、0402、0603、0805、1注:每個(gè)極限溫度下的暴露時(shí)間為30min,轉(zhuǎn)移過(guò)程暴露于室溫下6.11氣候順序按照GB/T5729-2003的4.23條執(zhí)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表27的規(guī)定:表27氣候順序試驗(yàn)條件),6.1270℃耐久性按照GB/T5729-2003的4.25.1條執(zhí)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表28的規(guī)定:表2870℃耐久性試驗(yàn)條件②其他電阻:額定電壓或元6.13阻值隨溫度變化按照GB/T5729-2003的4.8條執(zhí)行,其中:T/ZEIIA05—2024依次在下列各溫度保持熱穩(wěn)定后進(jìn)行阻值測(cè)量:(20+-)℃、(-55±3)℃、(20+-)℃、(1256.14穩(wěn)態(tài)濕熱按照GB/T5729-2003的4.24條執(zhí)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表29的規(guī)定:表29穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)條件6.15上限類別溫度耐久性按照GB/T5729-2003的4.25.3條執(zhí)行,且試驗(yàn)條件應(yīng)符合表30的規(guī)定:表30上限類別溫度耐久性試驗(yàn)條件6.16耐電壓按照GB/T5729-2003的4.7條執(zhí)行,其中:在電極與基片間以大約100V/s的速率施加有效值為最大過(guò)負(fù)荷電壓(各型號(hào)產(chǎn)品試驗(yàn)電壓值參考表7中規(guī)定)的交流電壓,保持60s±5s。6.17耐溶劑按照GB/T5729-2003的4.29條執(zhí)行,其中:異丙醇(IPA),23℃±5℃,浸10h。6.18硫化試驗(yàn)試驗(yàn)條件應(yīng)符合表31的規(guī)定:表31硫化試驗(yàn)條件方法一按照ASTM-B-809-95規(guī)定進(jìn)行,把待6.19鹽霧試驗(yàn)按GB/T2423.17規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn),其中,溫度35℃±2℃、Nacl濃度5%、PH值6.5~7.2。試樣要求:試樣按正常使用狀態(tài)放置,試樣不能相互接觸,并確保其他試樣上的鹽溶液不滴落在試樣上。試驗(yàn)時(shí)間:48h。T/ZEIIA05—20247檢驗(yàn)規(guī)則7.1檢驗(yàn)分類分為逐批檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)兩種。7.2逐批檢驗(yàn)逐批檢驗(yàn)按GB/T2828.1-2012和GB/T9546.8-2015執(zhí)行,采用正常檢驗(yàn)一次抽樣方案,具體方案如表32所示。表32逐批檢驗(yàn)方案1II2////37.3周期檢驗(yàn)7.3.1樣品抽取按GB/T2829-2002和GB/T9546.8-2015執(zhí)行,具體抽樣方案、各試驗(yàn)項(xiàng)目性能判定要求符合表33的規(guī)定。表33周期檢驗(yàn)方案D或NDpncD30D30D30D30D0D0D0T/ZEIIA05—2024表33周期檢驗(yàn)方案(續(xù))D030DD30注:p:周期,月;n:樣本大小;c:合格判定數(shù)(允許不合格品);7.3.2應(yīng)進(jìn)行周期檢驗(yàn)的情況a)產(chǎn)品定型鑒定;b)停產(chǎn)半年以上重新生產(chǎn)或轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)時(shí);c)當(dāng)設(shè)計(jì)、工藝、材料有重大改變足以影響產(chǎn)品的質(zhì)量時(shí);d)當(dāng)出現(xiàn)質(zhì)量事故或重大質(zhì)量波動(dòng)時(shí);e)法定機(jī)構(gòu)或主管部門提出進(jìn)行周期檢驗(yàn)要求時(shí);f)每三個(gè)月進(jìn)行一次周期檢驗(yàn)。8標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存8.1標(biāo)志8.1.1標(biāo)簽每個(gè)包裝應(yīng)貼上標(biāo)簽,標(biāo)簽上應(yīng)標(biāo)明以下內(nèi)容:a)型號(hào)規(guī)格b)標(biāo)稱電阻值c)電阻值誤差精度d)額定功率e)包裝數(shù)量f)出廠日期g)商標(biāo)、制造者名稱8.1.2外包裝紙箱標(biāo)志外包裝紙箱應(yīng)標(biāo)明以下內(nèi)容:a)客戶名稱b)產(chǎn)品名稱c)型號(hào)規(guī)格d)數(shù)量e)出廠日期f)制造者名稱、地址和商標(biāo)g)執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)號(hào)8.1.3標(biāo)記8.1.3.11Ω≤R≤500MΩ的標(biāo)記方法8.1.3.1.1E24系列的標(biāo)記方法T/ZEIIA05—2024當(dāng)10Ω≤R≤500MΩ時(shí),電阻值標(biāo)記與電阻值代號(hào)相同:用三位數(shù)字表示,前兩位為E-24系列電阻值有效數(shù),最后一位為10的冪數(shù)N,阻值為:有效數(shù)×10NΩ。當(dāng)1Ω≤R<10Ω時(shí),電阻值標(biāo)記與電阻值代號(hào)相同:用三位數(shù)字表示,其中兩位為E-24系列電阻值有效數(shù),小數(shù)點(diǎn)用“R”表示。01005、0201、0402型號(hào)無(wú)標(biāo)記表示。E24系列見(jiàn)附錄A。8.1.3.1.2E96系列的標(biāo)記方法對(duì)于0805、1206、1210、1218、1812、2010、2512型號(hào),當(dāng)100Ω≤R≤500MΩ時(shí),標(biāo)記與電阻值代號(hào)相同:用四位數(shù)字表示,前三位為E96系列電阻值有效數(shù),最后一位為10的冪數(shù)N,阻值為:有效數(shù)×10N
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