Zeeman Effect -F-P標(biāo)準(zhǔn)具的校準(zhǔn)原理

ZeemanEffect

——F-P標(biāo)準(zhǔn)具的校準(zhǔn)原理A10倪文鶯06300300092實(shí)驗(yàn)背景實(shí)驗(yàn)?zāi)康膶?shí)驗(yàn)內(nèi)容實(shí)驗(yàn)感想F-P標(biāo)準(zhǔn)具的介紹F-P標(biāo)準(zhǔn)具的校準(zhǔn)方法F-P標(biāo)準(zhǔn)具的校準(zhǔn)原理注意事項(xiàng)實(shí)驗(yàn)背景1896年，荷蘭著名的實(shí)驗(yàn)物理學(xué)家Zeeman，在研究磁場(chǎng)對(duì)譜線的影響，結(jié)果發(fā)現(xiàn)當(dāng)鈉雙線D1和D2都有增寬的現(xiàn)象。光源放在足夠強(qiáng)的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的鈉雙線分裂成幾條光譜線。實(shí)際上每一條光譜線都是由幾條單獨(dú)組成的，這一現(xiàn)象稱為塞曼效應(yīng)。塞曼效應(yīng)也有力地證明了能級(jí)的分裂是由于電子的軌道與磁矩與自旋磁矩互相作用的結(jié)果。實(shí)驗(yàn)內(nèi)容調(diào)節(jié)F-P標(biāo)準(zhǔn)具的平行度，掃描記錄不加磁場(chǎng)時(shí)的曲線——KEY加上磁場(chǎng)，掃描記錄汞5461?譜線的zeeman

分裂曲線（９條），測(cè)量zeeman分裂的波數(shù)差，計(jì)算電子荷質(zhì)比，與理論值比較．加上偏振片，掃描記錄zeeman分裂的π成分和σ成分F-P標(biāo)準(zhǔn)具的介紹法布里-珀羅干涉儀是一種應(yīng)用廣泛的高分辨率分光儀器,由兩塊鍍有高反射率的平行玻璃（或石英）板和端面相互平行的隔圈組成.它的應(yīng)用范圍大，在長(zhǎng)度計(jì)量中也被采用，成為長(zhǎng)度基準(zhǔn)傳遞的工具，因此又稱為法布里珀卜羅標(biāo)準(zhǔn)具（簡(jiǎn)稱F-P標(biāo)準(zhǔn)具）。本實(shí)驗(yàn)中,采用改變氣壓實(shí)現(xiàn)F-P干涉儀的掃描.

F-P標(biāo)準(zhǔn)具的校準(zhǔn)方法標(biāo)準(zhǔn)具靠三個(gè)壓緊的彈簧螺絲來(lái)調(diào)整兩個(gè)內(nèi)表面的平行度。在光具座上適當(dāng)調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)具、透鏡對(duì)光源的位置，使得在標(biāo)準(zhǔn)具反射片中心找到干涉環(huán)。如果標(biāo)準(zhǔn)具兩個(gè)內(nèi)表面嚴(yán)格平行，上下左右移動(dòng)眼睛觀察，花紋不隨眼睛移動(dòng)而變化。若眼睛移動(dòng)過(guò)程中有冒出環(huán)及吸入環(huán)現(xiàn)象，表示標(biāo)準(zhǔn)具兩內(nèi)表面不平行；眼睛如果沿d增大的方向移動(dòng)，則有干涉環(huán)冒出，那么便擰緊該方向的螺絲旋鈕，或旋松另一側(cè)的旋鈕。水平和豎直兩個(gè)方向反復(fù)調(diào)節(jié)后，即可看到細(xì)銳均勻的干涉環(huán)。

WHY？F-P標(biāo)準(zhǔn)具的校準(zhǔn)原理

設(shè)A、B兩平面間的距離為d，空氣折射率近似為n=1，則相鄰兩光束的光程差為

。產(chǎn)生干涉極大的條件為式中為整數(shù)，稱為干涉序,滿足角的光線，在幕上顯示的干涉條紋為一圓環(huán)

。注意事項(xiàng)F-P標(biāo)準(zhǔn)具調(diào)整時(shí)要注意，通過(guò)螺釘施加壓力只是微調(diào)，因此不能用力過(guò)猛，以免損害