電子元器件有效貯存期、超期復(fù)驗及裝機前的篩選要求

11/11電子元器件有效貯存期、超期復(fù)驗及裝機前篩選要求范圍本要求規(guī)定了XXX有限公司型號產(chǎn)品用電氣、電子、機電元器件（以下簡稱元器件）在規(guī)定環(huán)境條件下的貯存期限（有效貯存期）及超過有效貯存期的復(fù)驗方法和條件，并在裝機前應(yīng)通過篩選試驗。本要求適用于XXX有限公司型號產(chǎn)品用元器件，對于未列入本要求的元器件可參照與該類元器件有相同或相似特征（如制造工藝、結(jié)構(gòu)特點等）的列入要求準(zhǔn)元器件執(zhí)行。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本要求的引用而成為本要求的條款。凡是注明日期的的引用文件，其隨后所有的修改單（不包含勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本要求，然而，鼓勵根據(jù)本要求達(dá)成協(xié)議的各方面研究是否可使用這些文件最新版本。凡是注明日期的引用文件，其最新版本適用于要求。GJB128A─1997半導(dǎo)體分立器件試驗方法GJB360A─1996電子及電氣元件試驗方法GJB548A─1996微電子器件件試驗方法和程序QJ1693─1989電子元器件防靜電要求Q/N446─2008電子元器件有效貯存期和超期復(fù)驗要求Q/N465元器件外觀檢驗要求Q/N466型號產(chǎn)品電子元器件篩選通用規(guī)范術(shù)語和定義3．1貯存期元器件從生產(chǎn)完成并在生產(chǎn)廠檢驗合格后至裝機前在一定的環(huán)境條件下存放的時間。貯存期的計算按4.2的規(guī)定。注：本要求中的貯存期，均以月計算。3．2有效貯存期一定質(zhì)量等級的元器件在規(guī)定的貯存環(huán)境下存放，裝機前其批質(zhì)量能滿足要求的期限。3．3基本有效貯存期未考慮元器件質(zhì)量等級的有效貯存期。3．4貯存質(zhì)量等級根據(jù)元器件在制造、檢驗過程中質(zhì)量控制嚴(yán)格程度，對元器件貯存后性能的影響而確定的等級。在本要求中規(guī)定了四個貯存質(zhì)量等級，分別以Q1、Q2、Q3、Q4表示。3．5貯存期調(diào)整系數(shù)根據(jù)元器件不同的質(zhì)量等級和用途，對基本有效貯存期調(diào)整的系數(shù)。3．6超期復(fù)驗超過有效貯存期的元器件，應(yīng)進(jìn)行的一系列檢驗。3．7繼續(xù)有效期超期復(fù)驗合格的元器件在規(guī)定的貯存環(huán)境條件下存放，其批質(zhì)量能滿足規(guī)定要求的期限。3．8篩選在有效貯存期及繼續(xù)有效期的元器件，在裝機前應(yīng)進(jìn)行的檢驗。一般要求4．1貯存環(huán)境條件4．1．1通用貯存環(huán)境條件元器件應(yīng)貯存在清潔、通風(fēng)、無腐蝕性氣體并有溫度和相對濕度控制的場所。通用貯存環(huán)境條件的分類見表1。表1通用貯存環(huán)境條件的分類分類代號溫度（℃）相對濕度（%）Ⅰ10~2525~70Ⅱ-5~3020~75注：中心庫須滿足Ⅰ類存儲環(huán)境條件，各使用單位庫房須滿足Ⅱ貯存環(huán)境條件。4．1．2特殊貯存環(huán)境條件某些元器件的存放應(yīng)滿足以下特殊要求：對靜電放電敏感的元器件（如MOS器件、微波器件等），應(yīng)按QJ1693的規(guī)定，采取靜電放電防護(hù)措施；非密封片狀元器件應(yīng)存放在充有惰性氣體的密封容器內(nèi)，或存放在采取有效防氧化措施（如加稀釋劑、防氧化劑等）的密封容器內(nèi)；微電機等機電元器件的油封及單元包裝應(yīng)保持完整。4．2貯存期的計算從貯存起始日期至預(yù)定裝機日期之間的時間為元器件的貯存期。貯存期的起始日期按下列優(yōu)先順序確定：按照元器件生產(chǎn)日期進(jìn)行計算。若元器件的生產(chǎn)日期為日期或星期代碼，則凡僅有年月無日期的均按該月15日計算；若元器件的生產(chǎn)日期為星期代號，則按該星期的星期四計算；按產(chǎn)品合格證上的檢驗日期計算；按包裝容器上的包裝日期提前一個月計算；按到貨日期提前一個月計算。4．3超過有效貯存期元器件的復(fù)驗4．3．1復(fù)驗批凡在相同類別的貯存環(huán)境條件下存放的元器件，同生產(chǎn)廠家、同型號、同批次，且復(fù)驗類別相同，構(gòu)成同一復(fù)驗批。除非另有說明，以下的批均為復(fù)驗批。4．3．2復(fù)驗元器件的失效分析在復(fù)驗過程中發(fā)現(xiàn)致命缺陷（功能失效）或嚴(yán)重缺陷的元器件，應(yīng)進(jìn)行失效分析，如果分析結(jié)果表明失效或缺陷為批次性的，則該批的元器件不得用于型號產(chǎn)品試（正）樣上；如果分析結(jié)果表明失效或缺陷為個別缺陷，復(fù)驗合格率符合要求，則復(fù)驗后合格產(chǎn)品允許使用于型號產(chǎn)品試（正）樣上。4．3．3復(fù)驗報告和復(fù)驗合格的標(biāo)志可委托復(fù)驗，但應(yīng)提供復(fù)驗報告，對元器件復(fù)驗的結(jié)果做出結(jié)論。對復(fù)驗合格的元器件應(yīng)開具合格證，作為允許裝機的憑證。復(fù)驗報告、合格證上應(yīng)注明質(zhì)量等級、復(fù)驗類型、有效貯存期的起止時間、繼續(xù)有效期。4．4第一次超期復(fù)驗的分類貯存期超過有效期貯存期的元器件應(yīng)按本要求的規(guī)定進(jìn)行復(fù)驗，復(fù)驗通過的元器件，才能作為合格品用于型號產(chǎn)品試（正）樣上。元器件的超期復(fù)驗按超過有效貯存期時間的長短分為A1、B1、C1三類：貯存期已超過有效貯存期，但未超過1.3倍的為A1類；貯存期已超過有效貯存期1.3倍，但未超過1.7倍的為B1類；貯存期已超過有效貯存期1.7倍，但未超過2.0倍的為C1類。4．5第二次超期復(fù)驗的分類通過第一次超期復(fù)驗的合格元器件，如果其預(yù)定裝機的時間將超過繼續(xù)有效期，但不能超過繼續(xù)有效期的2.0倍，允許進(jìn)行第二次超期復(fù)驗。元器件第二次超期復(fù)驗按超過繼續(xù)有效期時間的長短分為A2、B2、C2三類：貯存期已超過繼續(xù)有效期，但未超過1.3倍的為A2類；貯存期已超過繼續(xù)有效期1.3倍，但未超過1.7倍的為B2類；貯存期已超過繼續(xù)有效期1.7倍，但未超過2.0倍的為C2類。第二次超期復(fù)驗元器件貯存期的起始日期為通過第一次超期復(fù)驗的日期（以月為日期計算單位）。第二次超期復(fù)驗的分類與第一次超期復(fù)驗的分類雖有差別，但規(guī)定的超期復(fù)驗要求和繼續(xù)有效期兩者是一致的，所以統(tǒng)稱為A、B、C類。除非另有規(guī)定，通過第二次超期復(fù)驗合格的元器件應(yīng)在規(guī)定的繼續(xù)有效期內(nèi)使用，貯存期超過繼續(xù)有效期的元器件不允許在型號產(chǎn)品試（正）樣上使用。詳細(xì)要求5．1基本有效貯存期元器件的基本有效貯存期與元器件的品種、材料、結(jié)構(gòu)和貯存的環(huán)境有關(guān)。根據(jù)表1對貯存條件的分類，分別規(guī)定不同種類元器件的基本有效貯存期，如表2規(guī)定。表2國產(chǎn)元器件基本有效貯存期單位：月元器件類別貯存環(huán)境類別說明ⅠⅡ塑料封裝半導(dǎo)體分立器件1812可變電阻器（電位器）、電容器、電感器2420非固體電解質(zhì)鉭電容（銀外殼）呂電解質(zhì)電容器金屬或陶瓷封裝半導(dǎo)體分立器件3024金屬或陶瓷封裝半導(dǎo)體集成電路金屬氣密封裝混合集成電路全密封固體電解質(zhì)鉭電容非固體電解質(zhì)鉭電容（鉭外殼）密封石英振蕩器開關(guān)固定電阻器、固定電感器3630電連接器5．2貯存期調(diào)整系數(shù)元器件的有效貯存期是在基本有效貯存期的基礎(chǔ)上，根據(jù)元器件不同的質(zhì)量等級，按照一定的調(diào)整系數(shù)計算得出。有效貯存期調(diào)整系數(shù)CSA如表3所示。表3有效貯存器調(diào)整系數(shù)貯存質(zhì)量等級質(zhì)量保證要求及補充說明CSAQ1已通過元器件產(chǎn)品國家軍用標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量認(rèn)證，并列入合格產(chǎn)品目錄（QPL）或合格制造廠目錄（QML）的元器件；或已通過可靠性增長工程檢定合格的元器件。1.50Q2按元器件產(chǎn)品國家軍用標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行質(zhì)量控制，但未列入合格品目錄（QPL）或合格制造廠目錄（QML）的元器件；或已按“七?！奔夹g(shù)條件及航天用戶質(zhì)量控制補充協(xié)議組織生產(chǎn)的元器件。1.25Q3按國家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行質(zhì)量控制的元器件（或按照國軍標(biāo)制定并滿足型號產(chǎn)品的企業(yè)軍標(biāo)，并以此標(biāo)準(zhǔn)檢定、供貨，經(jīng)航天系統(tǒng)用戶多年使用證明質(zhì)量尚屬可靠地產(chǎn)品），或按“七?！奔夹g(shù)協(xié)議或技術(shù)條件組織生產(chǎn)的元器件。1.00Q4按其他標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行質(zhì)量控制或質(zhì)量控制情況不明的器件0.75注：貯存期調(diào)整系數(shù)僅適用于有效貯存期的調(diào)整，對于繼續(xù)有效期不再按調(diào)整系數(shù)調(diào)整（維持不變）。5．3有效貯存期的計算元器件的有效貯存期tVS按公式（1）計算：tVS=CSAxtbvs…………(1)試中：tVS──—元器件有效貯存期，單位為月；CSA──—元器件貯存期調(diào)整系數(shù)；tbvs──—元器件基本有效貯存期，單位為月。5．4元器件超期復(fù)驗要求5．4．1A類超期復(fù)驗要求5．4．1．1外觀質(zhì)量檢查5．4．1．1．1抽樣方案元器件應(yīng)100%進(jìn)行外觀質(zhì)量檢查。5．4．1．1．2檢查方法按Q/N465規(guī)定執(zhí)行。5．4．1．2電特性測試5．4．1．2．1抽樣方案元器件樣本大小應(yīng)不小于5個，有特殊要求時可100%進(jìn)行電特性測試。5．4．1．2．2檢查方法除非另有規(guī)定，元器件僅要求在室溫下按Q/N466要求進(jìn)行電特性測試。5．4．1．3高溫電老化或高溫負(fù)荷（適用于電容器）5．4．1．3．1抽樣方案元器件樣本大小應(yīng)不小于5個，有特殊要求時可100%進(jìn)行電特性測試。5．4．1．3．2檢查方法a）非電解電容器按照Q/N466.5中規(guī)定的高溫負(fù)荷應(yīng)力條件做12h的高溫負(fù)荷試驗。b）電解質(zhì)電容器按照Q/N466.4中規(guī)定的高溫電老化應(yīng)力條件做12h的電老化試驗，無極性電容器試驗6h后換向再做6h。試驗結(jié)束放置2h后測試產(chǎn)品的常溫電參數(shù)應(yīng)滿足產(chǎn)品規(guī)范要求。5．4．1．4密封性檢查5．4．1．4．1抽樣方案元器件樣本大小應(yīng)不小于5個，有特殊要求時可100%進(jìn)行電特性測試。5．4．1．4．2檢查方法按Q/N466中規(guī)定的密封性檢查要求進(jìn)行。5．4．1．5A類超期復(fù)驗的結(jié)論通過5．4．1．1~5．4．1．4檢驗的元器件，批次復(fù)驗淘汰率未超過拒收標(biāo)準(zhǔn)的，剔除不合格品后，合格品可用于型號產(chǎn)品試（正）樣上。5．4．2B類超期復(fù)驗要求5．4．2．1外觀質(zhì)量檢查按5．4．1．1的要求進(jìn)行外觀質(zhì)量檢查。5．4．2．2電特性測試按5．4．1．2要求在室溫下測試電特性。Q/N466中規(guī)定有高低溫測試要求的，還應(yīng)按產(chǎn)品規(guī)范要求在高、低溫下測試元器件的電特性。5．4．2．3高溫電老化或高溫負(fù)荷（適用于電容器）按照5．4．1．3規(guī)定執(zhí)行。5．4．2．4密封性檢查按照5．4．1．4規(guī)定執(zhí)行。5．4．2．5B類超期復(fù)驗的結(jié)論通過5．4．2．1~5．4．2．4檢驗的元器件，批次復(fù)驗淘汰率未超過拒收標(biāo)準(zhǔn)的，剔除不合格品后，合格品可用于型號產(chǎn)品試（正）樣上。5．4．3C類超期復(fù)驗要求5．4．3．1通則C類超期元器件除按5．4．2．1~5．4．2．4要求進(jìn)行各項檢驗外，對部分元器件還應(yīng)增加引出端可焊性試驗、引出端強度試驗、破壞性物理分析（DPA）檢驗項目。5．4．3．2引出端可焊性試驗引出端可焊性試驗的樣品應(yīng)從外觀檢查合格的元器件中抽取，若無其它規(guī)定允許抽取電參數(shù)不合格的元器件作為樣品。引出端可焊性試驗要求按表4的規(guī)定進(jìn)行。表4引出端可焊性試驗要求元器件類別試驗方法試驗條件樣本大小b/（合格判定數(shù)）小功率分立器件aGJB128A-1997方法2026245±5℃或按詳細(xì)規(guī)范規(guī)定15/（0）大功率分析器件a6/（0）集成電路GJB548-1996方法2003A245±5℃或按詳細(xì)規(guī)范規(guī)定15/（0）電位器、電容器、電感器GJB360A-1996方法208235±5℃或按詳細(xì)規(guī)范規(guī)定10/（0）石英諧振器、振蕩器6/（0）電連接器、微動開關(guān)15/（0）注：引出端數(shù)量不大于14的集成電路樣品至少為3個；引出端數(shù)量大于14但不大于48的集成電路樣品至少為2個；引出端數(shù)量大于48的集成電路樣品為1個。當(dāng)復(fù)驗批總數(shù)小于10時，可抽取1只樣品。a額定耗散功率不小于1W的為大功率分立器件；小于1W的為小功率分立器件；b樣本大小指引出端的數(shù)量。5．4．3．3引出端強度試驗引出端強度試驗的樣品應(yīng)從外觀檢查合格的元器件中抽取，若無其它規(guī)定允許抽取電參數(shù)不合格或已做過可焊性試驗的元器件作為樣品。引出端強度試驗要求按表5的規(guī)定進(jìn)行。表5引出端強度試驗要求元器件類別試驗方法試驗條件樣本大小b/（合格判定數(shù)）小功率分立器件aGJB128A-1997方法2036AE或按詳細(xì)規(guī)范規(guī)定15/（0）大功率分析器件a6/（0）集成電路GJB548-1996方法2004AAB2或按詳細(xì)規(guī)范規(guī)定15/（0）電位器、電容器、電感器GJB360A-1996方法211AC或按詳細(xì)規(guī)范規(guī)定10/（0）石英諧振器、振蕩器6/（0）電連接器、微動開關(guān)15/（0）注1：引出端強度試驗僅適用于線狀引出端，其它形狀的引出端不要求。注2：引出端數(shù)量不大于14的集成電路樣品至少為3個；引出端數(shù)量大于14但不大于48的集成電路樣品至少為2個；引出端數(shù)量大于48的集成電路樣品為1個。當(dāng)復(fù)驗批總數(shù)小于10時，可抽取1只樣品。a額定耗散功率不小于1W的為大功率分立器件；小于1W的為小功率分立器件；b樣本大小指引出端的數(shù)量。5．4．3．4．破壞性物理分析（DPA）5．4．3．4．1通則半導(dǎo)體器件進(jìn)行C類復(fù)驗時，應(yīng)抽樣做破壞性物理分析（DPA）。當(dāng)規(guī)定時其他元器件也應(yīng)做破壞性物理分析（DPA）。5．4．3．4．1樣本大小及合格判定數(shù)除非另有規(guī)定，抽樣做DPA試驗的樣本可從電特性不合格但未喪失功能的元器件中抽取。DPA的最小樣本數(shù)及合格判定數(shù)見表6。表6破壞性物理分析最小樣本數(shù)及合格判定數(shù)元器件類別最小樣本數(shù)/（合格判定數(shù)）說明小功率分立器件2（0）復(fù)驗批總數(shù)不超過10只時，抽樣1只。大功率分析器件2（0）集成電路(引出端數(shù)不大于48)2（0）集成電路(引出端數(shù)大于48)1（0）微電路模塊1（0）5．4．3．5C類超期復(fù)驗結(jié)論通過5．4．2．1~5．4．2．4和5．4．3．2、5．4．3．3檢驗的元器件，剔除不合格品后，合格的可用于型號產(chǎn)品試（正）樣上。5．5超期復(fù)驗后的繼續(xù)有效期通過一定有效貯存的元器件，經(jīng)超期復(fù)驗（包括第二次超期復(fù)驗）合格后，在規(guī)定貯存環(huán)境條件下存放，元器件的繼續(xù)有效期見表7。表7國產(chǎn)元器件的繼續(xù)有效期單位：月元器件類別繼續(xù)有效期ABCⅠⅡⅠⅡⅠⅡ塑料封裝半導(dǎo)體分立器件24181812126可變電阻器（電位器）、電容器、電感器非固體電解質(zhì)鉭電容（銀外殼）呂電解質(zhì)電容器全密封固體電解質(zhì)鉭電容金屬或陶瓷封裝半導(dǎo)體分立器件302424181812金屬或陶瓷封裝半導(dǎo)體集成電路金屬氣密封裝混合集成電路非固體電解質(zhì)鉭電容（鉭外殼）密封石英振蕩器開關(guān)固定電阻器、固定電感器363030242418電連接器人批不合格判據(jù)復(fù)驗結(jié)果出現(xiàn)下列情況之一的，則整批元器件不得用于型號產(chǎn)品試（正）樣上：批不合格元器件的比例>5%（或至少1個，取最大值），或功能失效元器件的比例超過3%（或至少1個，取最大值）；DPA試驗結(jié)果不合格；可焊性試驗結(jié)果不合格；引出端強度試驗不合格；失效分析為批次性質(zhì)量問題。進(jìn)口元器件有效貯存期及超期復(fù)驗要求7．1貯存環(huán)境條件下列進(jìn)口元器件按表1的Ⅰ類環(huán)境條件貯存。7．2質(zhì)量狀況進(jìn)口元器件應(yīng)通過正常渠道采購，并經(jīng)使用方驗收合格。7．2有效貯存期及超期復(fù)驗要求軍級以下質(zhì)量等級的進(jìn)口元器件其有效貯存期及超期復(fù)驗要求按表8規(guī)定。表8進(jìn)口元器件（軍級以下質(zhì)量等級）有效貯存期、超期復(fù)驗要求及繼續(xù)有效期單位：月元器件類別有效貯存期超期復(fù)驗項目繼續(xù)有效期備注金屬、陶瓷封裝集成電路54外部目檢；抽樣（或100%）測量電參數(shù)；抽樣做可焊性試驗；進(jìn)行破壞性物理分析。30表8進(jìn)口元器件（軍級以下質(zhì)量等級）有效貯存期、超期復(fù)驗要求及繼續(xù)有效期（續(xù)）單位：月元器件類別有效貯存期超期復(fù)驗項目繼續(xù)有效期備注塑料封裝集成電路48外部目檢；抽樣（或100%）測量電參數(shù)；抽樣做可焊性試驗；*4.進(jìn)行破壞性物理分析。24塑料封裝半導(dǎo)體分立器件48外部目檢；抽樣（或100%）測量電參數(shù)；抽樣做可焊性試驗；*4.進(jìn)行破壞性物理分析。24其它元件48外部目檢；抽樣（或100%）測量電參數(shù)；#3.抽樣做可焊性試驗；*4.引出端強度試驗；*5.進(jìn)行破壞性物理分析。24注1：外部目檢參照5．4．1．1進(jìn)行?？珊感詸z驗參照5．4．3．2要求進(jìn)行。破壞性物理分析參照5．4．3．4要求進(jìn)行。注2：如無特殊說明，電參數(shù)測量在常溫下進(jìn)行，參照5．4．1．2要求進(jìn)行。注3：*項目前不做，以后有要求再進(jìn)行。注3：#如無此檢測項要求的元器件不做。篩選8．1通則在有效貯存期（包括繼續(xù)有效期）的元器件在裝機前應(yīng)100%做篩選試驗。8．2篩選方法按Q/N466中的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行或參照相關(guān)元器件的篩選技術(shù)條件進(jìn)行。部分元器件有效貯存期、超期復(fù)驗要求及繼續(xù)有效貯存期明細(xì)表此明細(xì)表為本公司型號產(chǎn)品所需的部分元器件，在裝機前對其有效貯存期、超期復(fù)驗要求及繼續(xù)有效貯存期提出的具體要求。詳見附錄A、附錄B。注：如有增加元器件可參照附錄A、附錄B相關(guān)項執(zhí)行或新增附錄。附錄A表A進(jìn)口元器件（軍級以下質(zhì)量等級）有效貯存期、超期復(fù)驗要求及繼續(xù)有效期明細(xì)表名稱品牌規(guī)格有效貯存期繼續(xù)有效期備注集成電路NXP74HC4016D4824集成電路NXP74HC08D4824集成電路NXP74HC27D4824集成電路NXP74HC74D4824集成電路NXP74HC04D4824集成電路NXP74HC1G04GW4824集成電路NXPPCF8575TS4824集成電路NXPGTL2002D4824集成電路NXPPESD5V0L2BT4824集成電路ATMELATMEGA8A4824集成電路ATMELATMEGA16A4824集成電路TILM193D4824集成電路TILM139D4824集成電路TITL064ID4824集成電路TITMS320LF2407APGEA4824集成電路TILM158JG4824集成電路TITL062ID4824集成電路TITLV1117LV33DCY4824集成電路MAXMAX202ESE4824集成電路MICMIC4574BWM4824集成電路ADIADG3304BRUZ4824二極管TOSHIBAIN58194824二極管STIN41484824二極管VISHAYSMJA12CA4824二極管VISHAYSMJA5.0CA4824三極管NEC2SC16234824晶振KDS9S-8MEFA16-IND4824晶振KDSOCETHCKANF-10MZ4824貼片電容村田0.1u4824貼片電容村田30p4824貼片電容村田0.33u4824貼片電容村田330p4824貼片電容村田3300p4824貼片電容村田20p4824貼片電容村田1u4824貼片電容村田6800p4824貼片電容村田1u4824貼片電容村田0.1u4824貼片電容村田16pf4824貼片電容村田68p4824表A進(jìn)口元器件（軍級以下質(zhì)量等級）有效貯存期、超期復(fù)驗要求及繼續(xù)有效期明細(xì)表(續(xù))名稱品牌規(guī)格有效貯存期繼續(xù)有效期備注鉭電容AVXTAJB106K016RNJ4824鉭電容AVXTAJB226K016RNJ4824鉭電容AVXTAJB476K016RNJ4824鉭電容AVXT491D226K025AT4824鉭電容AVXTAJD106K035RNJ4824鉭電容AVXTAJD476K025RNJ4824鉭電容AVXTAJC476K016RNJ4824電感TDK47UH4824電解電容松下220uf/25v4824電解電容松下220uf/16v4824電位器BOURNS3296W-1-203LF4824電位器BOURNS3296W-1-103LF4824電位器BOURNS3266W-1-103LF4824集成電路ATMELATMEGA8L4824*集成電路ATMELATMEGA16L4824*CCD東芝TCD1500C**CCD東芝TCD1501C**注1：按表1的Ⅰ類環(huán)境條件貯存，有特殊