SPC控制指標(biāo)解析課件

1第五講SPC控制指標(biāo)解析制程能力指標(biāo)解析XUCL：Xbar管制圖的管制上限Xbar：Xbar管制圖的中心值XLCL：Xbar管制圖的管制下限RUCL：R管制圖的管制上限RBar：R管制圖的中心值RLCL：R管制圖的管制下限Ca：制程準(zhǔn)確度Cp：制程精密度Cpu

：?jiǎn)芜吷舷捱^程能力Cpl

：?jiǎn)芜呄孪捱^程能力Cpk：短期制程能力Pp：初期制程潛力Ppu

：?jiǎn)芜吷舷扌阅苤笖?shù)Ppl

：?jiǎn)芜呄孪扌阅苤笖?shù)Ppk：長期制程能力指數(shù)質(zhì)量管制圖分析質(zhì)量九大特質(zhì)分析3制程能力指數(shù)(ProcessCapabilityIndexes)USL:規(guī)格上限(UpperSpecificationLimit)SL:規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)(SpecificationLevel)LSL:規(guī)格下限(LowerSpecificationLimit)制程能力指標(biāo)解析Xbar、Me、Mo、R的計(jì)算:平均數(shù)(Xbar)X=(X1+X2+……Xn)/Ns中位數(shù)(Me)將數(shù)據(jù)從小到大或大至小依次排列,位居中央的數(shù)稱為中位數(shù)；眾數(shù)(Mo)一群數(shù)據(jù)中,出現(xiàn)次數(shù)最多的數(shù),稱為眾數(shù)；全距(R)一組數(shù)值中最大值與最小值之差,稱為全距；R=Max-Min通常平均數(shù)的精度比原位數(shù)多取一位S、V(X)、σ的計(jì)算:平方和(S)

各數(shù)值與平均值之差之平方總和；S=Σ(X-X)2變異數(shù)[V(X)]平方和除以數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)n；V(X)=S/n標(biāo)準(zhǔn)差(σ)變異數(shù)之開方；σ=√V標(biāo)準(zhǔn)差之計(jì)算非常煩瑣,尤其樣本數(shù)據(jù)比較大之時(shí),早期統(tǒng)計(jì)學(xué)家為解決計(jì)算問題考慮用全距取代,在估計(jì)的精度上在樣本較小(n<10)時(shí)與標(biāo)準(zhǔn)差相差無幾希臘文字里的sigma小寫符號(hào)σ-是統(tǒng)計(jì)學(xué)符號(hào)。代表母體的“標(biāo)準(zhǔn)偏差”（StandardDeviation）統(tǒng)計(jì)學(xué)中,標(biāo)準(zhǔn)偏差意指任何一組事項(xiàng)或流程所產(chǎn)出的變異或不一致的度量值 例﹕熱漢堡、三件襯衫,超市感覺何謂標(biāo)準(zhǔn)差(σ)σs—規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)差讀做SigmaSpecUSLLSLUSLLSLσs---3σ=USL–LSL6σs---6σ=USL–LSL12制程能力指數(shù)之Ca—準(zhǔn)確度

CapacityofAccuracyCa=L1/L2L1=X－SLL2=(USL－LSL)/2Ｃa值等級(jí)判定對(duì)策｜Ｃa︱≦12.5%A過程能力充分繼續(xù)維持12.5%＜｜Ｃa︱≦25%B過程能力尚可有必要將其改善至A級(jí)25%＜｜Ｃa︱≦50%C過程能力不充分立即檢討，進(jìn)行改善50%＜｜Ｃa︱D過程能力不足停止生產(chǎn)，全面檢討準(zhǔn)確度Ca

評(píng)價(jià)表制程能力指數(shù)之Cp—精密度Cp

ProcesspotentialCp(精密度)是有關(guān)制程之能力指數(shù),把過程能力與公差表示的最大允許變差進(jìn)行比較,反映制程是否能夠很好的滿足變化要求當(dāng)未知時(shí)，可用=或=估計(jì)(雙邊規(guī)格)ss6)(6LSLUSLTCp-==USL與LSL分別代表「工程規(guī)格」的上限與下限。應(yīng)知此一公式會(huì)受到雙邊規(guī)格的限制:亦即，上下限都已經(jīng)被指定了。設(shè)若某一邊規(guī)格附加了某些特性，則能力指數(shù)或許應(yīng)改為:Cpu=

USL-μ3σa(無偏移單邊上限制短期程能力指數(shù))或＞當(dāng)

時(shí),記=0Cpl=

μ-LSL3σa(無偏移單邊下限制短期程能力指數(shù))

當(dāng)

時(shí),記=0≤σ

a＝Rd2上式中

估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差(SigmaActual)

LSLUSLSLXCplCpuX–LSLUSL

–

XActualSpread,3sActualSpread,3sCa過程能力計(jì)算示意圖精密度

Cp

評(píng)價(jià)表Ｃｐ值等級(jí)判定對(duì)策1.67≦ＣｐA過程能力過高可抽檢或免檢1.33≦Ｃｐ＜1.67B過程能力充分繼續(xù)維持1.00≦Ｃｐ＜1.33C過程能力尚可要加嚴(yán)檢查0.67≦Ｃｐ＜1.00D過程能力不足產(chǎn)品要全檢Ｃｐ＜0.67E過程能力嚴(yán)重不足停止生產(chǎn)或全檢不精密

精密準(zhǔn)確不準(zhǔn)確??????????????????????????????????ABCD制程能力Ca、Cp之關(guān)系Cpk–

制程能力(綜合制程能力指數(shù))=(1－)=(Minor)(表示有偏移短期過程能力指數(shù))當(dāng)數(shù)據(jù)均值與公差中心不重合，即有偏移時(shí)，不合格品率必然增大，值降低，上式所計(jì)算的過程能力指數(shù)不能反映有偏移的實(shí)際情況，需要加以修正，修正后的過程能力指數(shù)為Ｃｐk值等級(jí)判定適用范圍1.67≤CpkA工序能力過高適用于初始能力1.33≤Cpk＜1.67B工序能力可靠適用于特殊特性1.0≤Cpk＜1.33C工序能力好適用于一般特性Cpk＜1.0D工序能力不足過程能力指數(shù)當(dāng)平均值與公差中值不重合時(shí),Cp容易出現(xiàn)假象,須計(jì)算Cpk:?雙邊規(guī)格Cpk=(1-|Ca|)×Cp?單邊上限規(guī)格Cpk=Cpu=Cp?單邊下限規(guī)格Cpk=Cpl=Cp改進(jìn)過程能力,提高能力指數(shù)的途徑:1.使過程特性的均值與技術(shù)規(guī)范的中心值對(duì)齊,這時(shí):Cpk=Cp；Ppk=Pp2.改進(jìn)過程,減少變差的普通原因,減少變差；3.當(dāng)進(jìn)一步減少變差,會(huì)造成成本過高,或技術(shù)上實(shí)現(xiàn)困難情況下,考慮適當(dāng)放寬技術(shù)規(guī)范的可能性。過程能力表示Ca:過程準(zhǔn)確度，過程中心與規(guī)范中心的偏離程度；Cp:過程精密度，過程變異與規(guī)范寬度的比值；Cpu:單邊上限制程能力指數(shù)，過程中心到上規(guī)格的距離與過程組內(nèi)變異的比值；Cpl:單邊下限制程能力指數(shù)，過程中心到下規(guī)格的距離與過程組內(nèi)變異的比值；Cpk:短期過程能力指數(shù)，=MIN(Cpl,Cpu)；19制程標(biāo)準(zhǔn)差表示無偏移過程性能指數(shù)表示無偏移單邊上限過程性能指數(shù)表示無偏移單邊下限過程性能指數(shù)表示長期過程性能指數(shù)過程性能指數(shù)20Pp:無偏移過程性能指數(shù)，過程變異與規(guī)范寬度的比值；Ppu:無偏移單邊上限過