《CF1101型硅基電容器技術規(guī)范》

ICS31.060.99

CCSL11

T/GDEIIA

團體標準

T/GDEIIAXXXX—2023

CF1101型硅基電容器技術規(guī)范

TechnicalSpecificationforCF1101SiliconBasedCapacitor

點擊此處添加與國際標準一致性程度的標識

（征求意見稿）

2023-XX-XX發(fā)布2023-XX-XX實施

廣東省電子信息行業(yè)協會發(fā)布

T/GDEIIAXXXXX—2023

CF1101型硅基電容器技術規(guī)范

1范圍

本文件規(guī)定了CF1101型硅基電容器的技術要求、質量保證規(guī)定、包裝、運輸和貯存

本文件適用于CF1101型硅基電容器產品的質量控制。

注：在不引起混淆的情況下，本文件以下將“CF1101型硅基電容器”簡稱為“電容器”。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中注日期的引用文件，

僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

GB/T191-2008包裝儲運圖示標志

GB/T2828.1-2012計數抽樣檢驗程序第1部分：按接收質量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計劃

GB/T2693-2001電子設備用固定電容器第1部分：總規(guī)范

GB/T2900.16-1996電工術語電力電容器

GJB150.10A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第10部分：霉菌試驗

GJB2442A-2021有失效率等級的單層片式瓷介電容器通用規(guī)范

GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法

GJB548C-2021微電子器件試驗方法和程序

GJB4152A-2014多層瓷介電容器及其類似元器件剖面制備及檢驗方法

3術語和定義

GJB360B-2009和GJB548C-2021界定的以及下列術語和定義適用于本文件。

3.1電容量Capacitance

在其他導體的影響可以忽略時，電容器的一個電極上貯積的電荷量與兩電極之間的電壓的比值。

[來源：GB/T2900.16-1996]

3.2損耗角正切Tangentofthelossangle

在規(guī)定頻率的正弦電壓下，電容器的損耗功率除以電容器的無功功率。

[來源：GB/T2693-2001]

3.3額定電壓Ratedvoltage

設計電容器時所規(guī)定的電壓（交流時為方均根值）。

[來源：GB/T2900-1996]

3.4壽命（試驗）Life（test）

1

T/GDEIIAXXXXX—2023

為確定電容器失效前的工作時間而進行的試驗。

3.5霉菌（試驗）Fungus（test）

為確定電容器上長霉程度和長霉對產品性能及其他相關特性影響而進行的試驗。

4技術要求

4.1總則

電容器應符合本文件和GJB2442A-2021規(guī)定的所有適用要求。當本文件的要求與GJB2442A-2021

不一致時，應以本文件為準。

4.2產品鑒定

電容器應按照本文件的規(guī)定進行鑒定。

4.3質量保證

按本文件供貨的電容器，承制方應按程序要求進行鑒定和維持。

4.4材料

電容器采用表面有絕緣層的重摻硅基片進行表面金屬化處理形成電極，引出端電極表面為金層。

4.5設計結構和外形尺寸

4.5.1電容器本體設計

電容器本體結構是介質薄膜層，由物理或者化學沉積的方法在重摻硅襯底上制得，再在硅襯底和介

質薄膜層的表面金屬化處理形成電極，最后通過切割而成的。

4.5.2型號規(guī)格

“CF1101”型硅基電容器命名規(guī)則如下：

CF1101SG—N—30—50V—470—M—S—T—W

①②③④⑤⑥⑦⑧⑨

1“CF1101”表示硅基電容器類型,后兩位字母表示產品外形：“SG”表示正方形結構；“SL”表示長

方形結構；“SP”表示多電極結構。

2“N”表示容量溫度系數，容量溫度系數為±100ppm/℃。

3表示尺寸寬度，例如，“30”表示尺寸寬度為30mil。

4表示額定電壓，采用直標法，以伏特（V）為單位，例如，“50V”表示額定電壓為50V。

5表示標稱電容量，以皮法拉（pF）為單位，用三個數字或數字加字母R表示。用三個數字時，

前兩個數字為有效數字，最后一個數字表示零的個數，例如，“470”表示47pF；當標稱電容

量小于10pF時，用字母R表示小數點，字母前的數字為個位數，字母后的數字為小數位，

例如，“4R7”表示4.7pF，“R75”表示0.75pF。

6表示電容量允許偏差，用大寫字母表示，具體代碼見4.7。

7表示電極外形。對產品外形代碼為SG及SL的產品，“S”表示單留邊，“D”表示雙留邊；對產

品外形代碼為SP的產品，電極外形代碼為1～10數字序號，表示電極塊的數量，例如，“3”

表示3電極塊。

2

T/GDEIIAXXXXX—2023

8表示金屬膜層材料?！癟”表示Ti/Au，“N”表示TiW/Au，“P”表示TiW/Ni/Au，“S”表示特殊要求

材料。

9表示包裝方式。“W”表示普通包裝，“C”表示特殊包裝。

4.5.3引出端

電容器引出端為適合于導電樹脂粘接、金錫合金焊接及金絲引線鍵合的引出端。端電極材料為

TiW/Ni/Au、TiW/Au、Ti/Au。

4.5.4結構和外形尺寸

SG型正方形結構電容器設計、外形尺寸見表1。

表1SG型硅基電容器尺寸

尺寸代碼10121830405068

0.2540.3050.4570.7621.0161.2701.727

長L（mm）

±0.025±0.025±0.025±0.025±0.025±0.025±0.025

0.2540.3050.4570.7621.0161.2701.727

寬W（mm）

±0.025±0.025±0.025±0.025±0.025±0.025±0.025

留邊T

0.050±0.0250.100±0.025

（mm）

厚T（mm）0.100～0.254

SL型長方形結構電容器設計、外形尺寸見表2。

表2SL型硅基電容器尺寸

尺寸代碼寬W(mm)長L(mm)

350.889±0.0253.048±0.025

留邊B(mm)0.100～0.390

厚T(mm)0.100～0.254

SP型多電極形結構電容器設計，外形尺寸見表3。

表3SP型硅基電容器尺寸

尺寸代碼寬W(mm)長L(mm)

200.508±0.0251.270±0.025

451.143±0.0251.143±0.025

留邊B(mm)0.050～0.194

厚T(mm)0.100～0.254

4.5.5尺寸要求

3

T/GDEIIAXXXXX—2023

產品外形代碼為SG的產品尺寸應符合表1規(guī)定，產品外形代碼為SL的產品尺寸應符合表2規(guī)定，產

品外形代碼為SP的產品尺寸應符合表3規(guī)定。

4.6溫度沖擊和電壓處理

電容器按5.5.3規(guī)定試驗時，溫度沖擊試驗后電容器應無可見損傷，電壓處理后，在25℃下電容

器應符合下列要求：

a)電容量：應在規(guī)定的允許偏差范圍內；

b)損耗角正切：應不超過初始要求值（見4.8）；

c)絕緣電阻：應不低于初始要求值（見4.9）；

d)介質耐電壓：應無擊穿、飛弧或可見損傷。

4.7電容量及允許偏差

電容器按5.5.4規(guī)定測量時，電容量應符合按4.5.2表示的標稱電容量及允許偏差。

電容器容量的允許偏差有：“A”表示±0.05pF；“B”表示±0.10pF；“C”表示±0.25pF；“D”表示±0.50pF；

“F”表示±1.0%；“G”表示±2.0%；“J”表示±5.0%；“K”=表示±10%；“L”表示±15%；“M”表示±20%；“O”

表示±40%；“Z”表示-20%～+80%。

4.8損耗角正切

電容器按5.5.5規(guī)定測量時，電容器的損耗角正切應不超過0.0015。

注：電容量小于4.7pF的電容器損耗角正切不考核。

4.9絕緣電阻

電容器按5.5.6規(guī)定測量時，絕緣電阻應不小于以下規(guī)定：

a)在25℃下：10GΩ；

b)在125℃下：1GΩ。

4.10介質耐電壓

電容器按5.5.7規(guī)定試驗時，電容器應無擊穿、飛弧或可見損傷。

4.11破壞性物理分析

按5.5.8規(guī)定進行試驗時，電容器應無附錄C中的缺陷。

4.12鍵合強度

電容器按5.5.9規(guī)定試驗時，至少應施加30mN鍵合強度拉力，導線與電極交界面結合處應無裂縫或

介質與電極分離。

4.13剪切強度

電容器按5.5.10規(guī)定試驗時，達到以下任一條判據均應視為合格。

a)在規(guī)定施加力下，電容器在其安裝部位不應發(fā)生斷裂（單層片式基體邊緣的壓傷不

應視為斷裂失效判據）。

b)施加力大于1倍規(guī)定力且小于等于1.25倍規(guī)定力，底座上保留有硅附著材料痕跡的區(qū)域大于

或等于附著區(qū)面積的50%。

c)施加大于1.25倍規(guī)定力且小于等于2.0倍規(guī)定力，底座上保留有硅附著材料痕跡的區(qū)域大于或

4

T/GDEIIAXXXXX—2023

等于附著區(qū)面積的10%。

d)施加大于2.0倍規(guī)定力，電容器在其安裝部位才發(fā)生斷裂。

注：1)若抗剪強度設備無“設定推力測試功能”，僅在其安裝部位發(fā)生斷裂或部分斷裂等情況下才顯示抗剪強度推力

大小，所以參照GJB548C-2021方法2019.3設定了b、c、d試驗判據。

2)對共晶焊料的電容器,殘留在電容器附著區(qū)域的不連續(xù)碎產品應看作此種附著材料；對粘接劑粘接的電容器，

在基座上的電容器附著材料應作為可接收的附著材料。

4.14電壓-溫度特性

電容器按5.5.11規(guī)定試驗時，溫度系數應符合不超過表4規(guī)定的相應范圍。

表4電壓-溫度特性說明

介質代碼溫度特性溫度范圍

N±100ppm/℃-55℃～+125℃

4.15浸漬

電容器按5.5.12規(guī)定試驗時，電容器應符合下列要求：

a)外觀檢查：應無機械損傷；

b)介質耐電壓：應無擊穿、飛弧或可見損傷；

c)絕緣電阻(25℃)：應不小于初始要求值的30%；

d)電容量變化：變化量應不大于試驗前測量值的±0.5%或±0.5pF，取較大者；

e)損耗角正切：應符合4.8規(guī)定。

4.16耐焊接熱

電容器按5.5.13規(guī)定試驗時，電容器應符合下列要求：

a)外觀檢查：應無機械損傷；

b)電容量變化：變化量應不大于初始測量值的-1%～+2%或±0.5pF，取較大者。

4.17穩(wěn)態(tài)濕熱（低電壓）

電容器按5.5.14規(guī)定試驗時，電容器應符合下列要求：

a)外觀檢查：應無機械損傷；

b)絕緣電阻(25℃)：應不小于25℃的初始要求值的30%；

c)電容量變化：變化量應不大于初始測量值的±0.5%或±0.5pF，取較大者。

4.18壽命

電容器按5.5.15規(guī)定試驗時，電容器應符合下列要求：

a)外觀檢查：應無機械損傷；

b)絕緣電阻(25℃)：應不小于初始要求值的30%；

c)絕緣電阻(125℃)：應不小于初始要求值的30%；

d)電容量變化：變化量應不大于試驗前測量值的±2%或±0.5pF，取較大者；

e)損耗角正切（安裝狀態(tài)）：應不大于4.8規(guī)定值的2倍。

4.19霉菌

5

T/GDEIIAXXXXX—2023

可證實所有材料都是防霉的或按5.5.16規(guī)定試驗時，產品表面檢查應無霉菌生長或損壞。同類產品

或同類介質有相應霉菌合格證書，則可以不進行本條款試驗。

4.20標志

電容器本體上不打標志。電容器的包裝盒上應標出型號規(guī)格、標稱電容量、電容量允許偏差、額定

電壓、批號和日期。

4.21加工質量

電容器應采用能保證質量一致性的加工工藝，外觀應滿足附錄B的規(guī)定。

4.22替代要求

4.22.1失效率等級的替代

已鑒定合格較高失效率等級的電容器，可替代較低失效率等級的電容器。

4.22.2電容量允許偏差和額定電壓的替代

除非在合同或采購文件中另有規(guī)定，已鑒定合格并標有較小容量允許偏差或較高額定電壓的電容器，

只要所有其它值，如外形尺寸和引出端等相同，可替代電容量允許偏差較大或額定電壓較低的電容器。

5質量保證規(guī)定

5.1檢驗分類

本規(guī)范規(guī)定的檢驗分類如下：

a)鑒定檢驗；

b)質量一致性檢驗。

5.2檢驗條件和基準測量

5.2.1檢驗的環(huán)境條件

除另有規(guī)定外，所有檢驗均應在GJB360B-2009第4章規(guī)定的試驗標準大氣條件下進行，但相對濕

度不得超過75%。

5.2.2檢驗條件

a)產品在安裝、檢驗及包裝過程中，操作人員要佩戴防靜電手環(huán)；

b)產品試驗、檢驗設備及輔件應保持干凈，不得用手接觸產品；試驗后測試耐電壓、絕緣電阻、

電容量和損耗角正切等電性能時，如果檢測結果不符合規(guī)定，應滴加適量的丙酮（分析純）和

酒精（分析純）使其浸泡5min～10min，然后用濾紙或者無塵紙吸干殘留物，靜置揮發(fā)2h～

3h后再檢測。

c)產品在鍵合金絲后應重新測試產品電容量、損耗角正切、常溫絕緣電阻，常溫絕緣電阻應符合

初始要求，電容量不小于基準電容量的99%，損耗角正切不超過第4.8條規(guī)定值的1.5倍，進

行外觀檢查應無機械損傷，并更換其中的不合格品；

d)對采用粘接或焊接的方式進行安裝的試驗項目，只是考核電容量的相對變化量，試驗后應在已

剪斷金絲狀態(tài)下測量電容量、損耗角正切。

6

T/GDEIIAXXXXX—2023

5.2.3基準測量

如果各項要求是基于條件試驗前后的測量值進行比較，應以（25±3）℃的測量值為基準測量值，

基準測量按下列要求進行：

a)對采用粘接或焊接的方式進行安裝的試驗項目，以產品安裝后（未鍵合金絲前），恢復至少4

h～24h后，測試的產品電容量值為基準測量值。若基準測量完成后的30天內未進行試驗，應

在產品試驗前重新測試電容量值為基準測量值。

b)其它基于條件試驗項目，在試驗前測試的產品電容量值為基準測量值。若基準測量完成后的

30天內未進行試驗，應在產品試驗前重新測試電容量值為基準測量值。

5.2.4電源

壽命試驗所使用的電源應是穩(wěn)壓電源，其電壓穩(wěn)定度應不超過規(guī)定試驗電壓的±2%。測量絕緣電阻

所用的電源至少應穩(wěn)定到±0.01%。在測量期間，測量電壓的幅值波動不應導致電流測量讀數產生偏差。

5.3鑒定檢驗

5.3.1鑒定批準

鑒定檢驗應在鑒定機構認可的試驗室進行，試驗的樣品應是用正常生產中所用的設備和工藝生產的。

鑒定批準以表5規(guī)定的試驗全部合格為依據。

5.3.2樣本大小

鑒定樣品應為每種溫度系數，每種額定電壓中最大外形尺寸的最大電容量產品，提交鑒定檢驗的電

容器樣本大小應符合表5規(guī)定。

表5鑒定檢驗

組別檢驗項目要求條款試驗方法條款被試樣品數允許不合格品數

溫度沖擊和電壓處理4.65.5.3

絕緣電阻（125℃）1）4.95.5.6

電容量1）4.75.5.4

1組損耗角正切1）4.85.5.5792）

介質耐電壓1）4.105.5.7

絕緣電阻（25℃）4.95.5.6

外觀和機械檢查4.5.4、4.5.5、4.215.5.2

鍵合強度4.125.5.9

2組60

剪切強度4.135.5.10

電壓-溫度特性4.145.5.11

3組18

浸漬4.155.5.12

1

4組耐焊接熱4.165.5.136

5組穩(wěn)態(tài)濕熱（低電壓）4.175.5.14120

6組壽命4.185.5.15251

7組霉菌3）4.195.5.1660

7

T/GDEIIAXXXXX—2023

8組破壞性物理分析4.115.5.860

注：1）作為電壓處理的一部分。

2）允許備份30只樣品，用于替換由于操作問題導致的樣品丟失或損壞。

3）如果能提供霉菌合格證書，則鑒定試驗只需73只樣品。

5.3.3檢驗程序

樣品應按表5規(guī)定的項目和順序進行鑒定檢驗。全部樣品均應承受1組的檢驗，然后再將樣品按表

5規(guī)定分配到2組至8組進行試驗。

5.3.4允許不合格數

當超過表5允許的不合格品數時，應拒絕給予鑒定批準。

5.4質量一致性檢驗

5.4.1產品交貨檢驗

產品交貨檢驗由A組檢驗和B組檢驗組成。

5.4.2生產批和檢驗批

5.4.2.1生產批

生產批應由同一型號、額定電壓、標稱電容量、電壓-溫度特性和引出端型式相同的所有電容器組

成，并在生產開始、過程、裝配和檢驗中作為同一組。整個生產過程中應有批號標識。

5.4.2.2檢驗批

檢驗批應由在同樣的條件下，用相同的材料生產的，同一種電壓-溫度特性的，并且同一次提交檢

驗的所有電容器組成。檢驗批中的樣品應按近似的比例代表生產批中的電容量和額定電壓。

5.4.3A組檢驗

5.4.3.1通則

A組檢驗按表6規(guī)定的所有項目和順序進行。

5.4.3.2A1分組

按本規(guī)范提交的電容器，每個生產批應按表6規(guī)定抽樣方案進行A1分組檢驗。在A1分組檢驗中

不合格的產品數量應滿足表6的規(guī)定，否則該批應拒收。

表6A組檢驗

允許不合格樣品

序號檢驗項目要求條款試驗方法條款被試樣品數

數

電容量4.75.5.4AQL：0.25

A1分損耗角正切4.85.5.5AQL：0.25

GB/T2828.1-2012標準一次抽樣方

組介質耐電壓4.105.5.7AQL：0.25

案：一般檢驗水平Ⅱ及S-3

絕緣電阻（25℃）4.95.5.6AQL：0.25

A2分外觀和機械檢查4.5.4、4.5.5、5.5.2AQL：0.40

8

T/GDEIIAXXXXX—2023

組4.21AQL：0.65

5.4.3.3A2分組

5.4.3.3.1抽樣方案

A2分組檢驗應在檢驗批的基礎上進行。承受A2分組檢驗的樣品應按照表6規(guī)定進行抽取。

拒收批次應與新提交批次和已通過檢驗的批次分開。承制方應針對拒收批樣品中發(fā)現不合格的質量

特性進行100%的檢驗，并從其中剔除所有不合格的電容器，然后按表6的規(guī)定隨機抽取新的樣本。如

果第二次提交的樣本不滿足表6的AQL值要求，該批次應被拒收并不得按本規(guī)范供貨。

5.4.4B組檢驗

5.4.4.1通則

B組檢驗由表7規(guī)定的所有項目和順序進行，并從通過A組檢驗的檢驗批中抽取樣品進行試驗。

5.4.4.2拒收批

如果出現1個或多個不合格項，該檢驗批應拒收并不得按本規(guī)范供貨。

5.4.4.3樣品的處理

經受過B組檢驗的樣品不應按合同或訂單交貨。

表7B組檢驗

序號檢驗項目要求條款試驗方法條款被試樣品數允許不合格樣品數

鍵合強度1）4.125.5.9

B1分組130

剪切強度1）4.135.5.10

B2分組電壓-溫度特性2）4.145.5.11130

注：1）承制方可利用A1分組的電性能不合格品作為B分組鍵合強度、剪切強度試驗的全部或部分樣品。

2）如果介質材料的每一生產批進行過相應的試驗并有合格證明，則該分組可免做檢驗。

5.4.5C組檢驗

5.4.5.1通則

C組檢驗應按表8規(guī)定的所有項目和順序組成。C組檢驗應在已通過A組、B組檢驗的檢驗批中隨

機抽樣進行。除檢驗結果表明不符合本規(guī)范的要求外，已通過A組檢驗和B組檢驗的產品，不必為等

待周期檢驗的結果而延期交貨。

5.4.5.2抽樣方案

5.4.5.2.1C1分組至C4分組

每6個月從生產的電容器中每種電壓-溫度特性抽取41只樣品，經受各自分組的試驗。允許的不合

格品數按表8規(guī)定。

5.4.5.2.2C5分組

每6個月從生產的電容器中，隨機抽取25只樣品，按表8試驗。允許的不合格品數按表8規(guī)定。

5.4.5.3樣品的處理

9

T/GDEIIAXXXXX—2023

C組檢驗應按表8規(guī)定的所有項目和順序組成。C組檢驗應在已通過A組、B組檢驗的檢驗批中隨

機抽樣進行。

表8C組檢驗

組別檢驗項目要求條款試驗方法條款被試樣品數允許不合格品數

C1組浸漬4.155.5.12181

C2組耐焊接熱4.165.5.1361

C3組穩(wěn)態(tài)濕熱（低電壓）4.175.5.14120

C4組破壞性物理分析4.115.5.850

C5組壽命4.185.5.15251

5.4.5.4樣品的處理

經受過C組檢驗的樣品不應按合同或訂單交貨。

除檢驗結果表明不符合本規(guī)范的要求外，已通過A組檢驗和B組檢驗的產品，不必為等待周期檢

驗的結果而延期交貨。

5.4.5.5不合格

如果樣品未能通過C組檢驗，則周期檢驗代表組范圍內的產品應停止發(fā)貨。必須分析原因并在生

產中采用相應改進措施，直至新的周期檢驗合格后才能恢復生產和發(fā)貨。

5.5檢驗方法

5.5.1樣品安裝

電容器應按下列規(guī)定進行安裝：

a）方法一：當在實驗程序中規(guī)定電容器需要安裝時，電容器應安裝在適當的基板上（例如99%

的氧化鋁基板）?；宀牧蠎强梢杂脕磉M行任何試驗而不會引起也不會促使任何試驗失效。

電容器應按下列規(guī)定安裝在基板上：

1.基板上應有金屬化焊接區(qū)；

2.應用任何簡便的方法，將被試電容器焊接到每一個獨立焊接區(qū)上（如圖1所示）；方法提

供以下兩種：一是在試驗基板上使用與被試電容器尺寸相似的金錫焊片/鉛錫焊料進行貼

片，二是在試驗基板上的獨立焊接區(qū)上電鍍與與被試電容器尺寸相似的金錫，再進行貼片。

需要注意的是，硅基電容器老化試驗板的貼片，焊料必須使用AuSn焊料，且焊料盡可能

少，應避免焊料溢出至電容器邊緣；

3.而公共焊接區(qū)的高度應大于等于電容器高度，方法提供如下，可使用與公共焊接區(qū)尺寸一

致的短路片進行貼片，對公共焊接區(qū)進行墊高；

4.與公共焊接區(qū)的連接應采用超聲加熱楔形焊法將金絲（金絲直徑為25μm、32μm或38μm，

按客戶需求選擇合適直徑金絲）點焊接在電容器的暴露引出端上，然后再點焊在基板的公

共焊接區(qū)上。另外需要注意的是，不同尺寸電容器可使用的金絲數量不同。

10

T/GDEIIAXXXXX—2023

圖1試驗基板樣品安裝和接線示意圖

b）方法二：采用彈性夾具固定產品兩個端電極上，通過彈性夾具對產品進行加電等試驗；

c）產品按方法一安裝在后應在20倍顯微鏡下檢查產品側面、鍵合點、金絲引線，當發(fā)現因安裝

導致產品貫穿性裂紋、焊接短路、鍵合點脫落、引線損傷等現象時，需更換樣品重新安裝；

d）在安裝過程中損壞的產品可由同批次產品替代；

e）為避免附著灰塵造成產品兩電極間的放電距離縮小而出現短路、飛弧等問題，壽命試驗產品安

裝及完成產品外觀檢查后，可在產品側面涂覆絕緣材料，防止產品側面附著灰塵；

f）通過每只電容器的電流不超過50mA。

5.5.2外觀和機械檢查

采用具有測量功能且能滿足精度要求的顯微鏡、千分尺檢查電容器的結構和尺寸。

采用7~45倍的顯微鏡對電容器進行外觀檢驗，必要時，應采用具備測量功能的顯微鏡。

外觀應符合電容外觀檢驗標準要求。

5.5.3溫度沖擊和電壓處理

5.5.3.1溫度沖擊

應按GJB360B-2009方法107規(guī)定的空氣介質法進行試驗，并應采用下列細則：

a)試驗條件：見表9；

表9溫度沖擊試驗條件

負極限溫度/℃正極限溫度/℃循環(huán)時間/min循環(huán)次數/次

0+4

-55-31250155

b）試驗方法：產品放在玻璃燒杯、表面皿或封有錫箔紙的陶瓷杯中，在負極限溫度下試驗15min，

正極限溫度下試驗15min，轉換時間≤5min，循環(huán)次數5次；

c)循環(huán)前和循環(huán)后的測量：不適用，只進行外觀檢查。

5.5.3.2電壓處理

按照GJB2442A-2021中4.5.3.2.2條款進行電壓處理試驗，并采用以下細則：

+4+25

a)標準電壓處理：電容器在1250℃下，施加1倍額定直流電壓，保持100-4h；

b)完成電壓處理后，電容器應在室溫下，24h內達到穩(wěn)定后，應按5.5.4、5.5.5、5.5.7、5.5.6進

行損耗角正切、電容量測試、介質耐電壓和絕緣電阻測量。

注：1)電源應能提供需要的試驗電壓。

2)限流裝置為電阻器或熔斷器，電流應限制30mA～50mA。

3)應接入電壓監(jiān)視器監(jiān)視電壓波動，若電壓降低或升高超過5%則斷開試驗電路。

4)熔斷器和電阻器任選。其阻值應不影響電源提供滿足規(guī)定的試驗電壓（±5%）。

11

T/GDEIIAXXXXX—2023

5.5.4電容量

電容器應按GJB2442A-2021中4.5.4進行，并采用如下細則：

a)數字式LCR電橋，測試頻率：(1±0.1)MHz；

b)測試電壓：交流有效值為(1.0±0.2)V。

5.5.5損耗角正切

電容器在非安裝狀態(tài)下，應在5.5.4中規(guī)定的頻率和電壓下測量損耗角正切。

5.5.6絕緣電阻

應按GJB360B-2009方法302的規(guī)定進行測試，測試時電容器應仔細清洗，以清除污染。進行測量

時必須注意保持清潔。并應采用下列細則：

a)試驗條件：通過一個足以將充電電流限制在最大為50mA的串聯電阻，施加額定電壓；

b)特殊條件：如果在高于50%的相對濕度下測量結果不合格，可在低于50%的任意相對濕度下再

次測量絕緣電阻；

c)測量點：引出端之間。

注：如果檢測結果不符合規(guī)定，電容器應用丙酮（分析純）和酒精（分析純）仔細進行清洗，以清

除污染，包括手指的沾染，清洗后自然涼干或吹干。試驗箱內和進行測量時必需注意保持清潔。

5.5.7介質耐電壓

應按GJB360B-2009方法301的規(guī)定進行試驗，并應采用下列細則：

a)試驗電壓的大小和性質：1.5倍額定直流電壓；

b)施加試驗電壓的持續(xù)時間：（5±1）s；

c)試驗電壓施加點：引出端之間；

d)浪涌電流的極限值：應不超過50mA；

e)試驗后檢查：目視檢查電容器外觀有無可見損傷或擊穿。

5.5.8破壞性物理分析

按GJB4152A-2014中5.5的相關規(guī)定進行剖面制樣。剖面應為與端電極和介質平面垂直的兩個方

向，并按附錄C中規(guī)定的要求和程序進行檢查。

5.5.9鍵合強度

電容器應按GJB548C-2021中方法2011.2實驗條件D進行試驗，并采用以下細則：

a)電容器應按楔形鍵合進行安裝；

b)試驗條件：在有介質層面電極的中間位置選一處進行鍵合強度拉力試驗；

c)金屬絲類型：直徑25μm的金絲；

d)鍵合強度拉力：30mN。

注：1）若因金絲鍵合質量(虛焊、金絲受到損傷等)不合格引起的結果失效，允許重新判定。

2）小尺寸產品若鍵合面積不夠，可用已制備端電極的同批次較大尺寸產品替代做試驗。

5.5.10剪切強度

電容器應按GJB2442A-2021中4.5.10及GJB548C-2021方法2019.3進行試驗，并采用如下細則：

a)電容器應按5.5.1安裝方法一進行安裝，但不進行公共焊接區(qū)墊高和金絲鍵合；

b)對SL、SG和SP型電容器，根據電容器的面積參照GJB548C-2021方法2019.3計算1倍剪切力

的大小。

12

T/GDEIIAXXXXX—2023

5.5.11電壓-溫度特性

電容器應按5.5.1方法二進行安裝。按GJB2442A-2021中4.5.11進行，并采用以下細則：

a）測試過程中不施加電壓；

b）電容器應在表11規(guī)定的每個溫度下保持到熱穩(wěn)定之后，在該溫度下測量，實測容量相對于基

準點的容量變化百分數ΔC/C與實測溫度點和基準溫度點之差ΔT的比值即為溫度系數。

表11電壓-溫度系數測試條件

步驟直流電壓溫度℃

A25±2

B-55±2

無

C（基準點）25±2

+4

D1250

c）電容器溫度系數TCC按公式（1）計算：

?1

???6………(1)

TCC=?1×(??25℃)×10???/℃

式中：

Ct—測試溫度下的電容量（pF）；

C1—第二次常溫（基準點C）25℃下的電容量（pF）；

T—測試點溫度(℃)。

注：1）只有對于電容量等于或大于10pF的電容器才需要進行這種測量。

2）小尺寸產品試驗時若安裝面積不夠，可用同批次介質層的較大尺寸產品替代做試驗。

3）當電容量小于等于100pF時，若其測試結果有異議，可用同批次介質基片電容量大于100pF的產品替代做

試驗。

4）對于同一批次介質生產的產品，其任一型號規(guī)格產品試驗合格，其它型號規(guī)格產品視為合格。

5.5.12浸漬

電容器應按GJB360B-2009方法104的條件A規(guī)定進行試驗，并應采用下列細則：

a)試驗前測量：測量電性能（電容量、損耗角正切、介質耐電壓、絕緣電阻）、外觀；

+5+10+5+10

b)試驗條件：650℃清水25-5℃清水，分別在650℃清水和25-5℃清水中浸泡15min，循環(huán)

2次；

c)恢復：在最后一次循環(huán)結束時，用清水將試驗樣品很快徹底清洗干凈，并將所有表面吸干凈或

用試驗空氣吹干；

d)最后檢測：完成后恢復4h～24h，目視檢查電容器外觀，并按按5.5.4、5.5.5、5.5.7和5.5.6的

規(guī)定測試電容量、損耗角正切、介質耐電壓、絕緣電阻。

5.5.13耐焊接熱

按GJB2442A-2021中4.5.13規(guī)定，電容器應按下列步驟進行試驗：

a)樣品安裝：電容器應水平放置在加熱板上；

+4

b)試驗：將放置有樣品的熱板加熱至3100℃，保持5s±1s；

c)試驗后測量前的恢復時間：最少10min，最多24h；

d)試驗后檢查和測量：目視檢查電容器外觀，并按5.5.4規(guī)定測量電容量。

5.5.14穩(wěn)態(tài)濕熱（低電壓）

13

T/GDEIIAXXXXX—2023

電容器應按GJB360B-2009方法103的規(guī)定進行試驗，并應采用下列細則：

a)預處理：試驗樣品應在40℃±5℃的干燥箱（室）內放置24h；

b)試驗前測量：按5.5.4規(guī)定測量電容量；

+24

c)試驗條件：溫度為85℃±2℃，相對濕度為85%±5%，時間2400h。應通過100kΩ的電阻器持

續(xù)施加1.3V±0.25V的直流電壓；

d)試驗后檢查和測量：從試驗箱中取出電容器，電容器應返回到5.2規(guī)定的檢驗條件下恢復24h～

48h，并檢查電容器有無機械損傷；試驗后剪斷金絲，按照5.5.6和5.5.4規(guī)定分別測量絕緣電

阻（測試電壓為1.3V±0.25V）和電容量；

e)試驗過程中，加在任何被測電容器上的電壓都不得大于1.55V。

注：產品安裝方法應確保試驗期間，產品表面上不會沉積水滴。

5.5.15壽命

按GJB2442A-2021中4.5.15及GJB360B-2009方法108進行。

a)電容器應按5.5.1安裝方法一進行安裝；

+4

b)試驗溫度和允許偏差：1250℃；

c)工作條件：電容器承受100%額定電壓，浪涌電流應不超過50mA。必要時，應在電流中接入

一個適當的限流電阻器；

d)試驗條件：D(1000h)；

e)試驗后的測量：在本試驗結束時，電容器仍應保持在125℃，按5.5.6規(guī)定測量絕緣電阻，然

后電容器應返回到5.2規(guī)定的檢驗條件下恢復24h～48h，并應進行外觀檢查有無機械損傷；

然后應分別按5.5.4，5.5.5和5.5.6規(guī)定測量電容量、損耗角正切和絕緣電阻；

f)最后測量結果應滿足4.18求。

5.5.16霉菌

電容器應按GJB150.10A-2009進行試驗，持續(xù)時間為28d，并采用如下細則：

菌種選擇：GJB150.10A-2009表1第2組。

6包裝、運輸和貯存

交貨準備按GJB2442A-2021中第5章規(guī)定及下列要求：

6.1包裝和標識

電容器包裝和儲運標識應符合GB/T191-2008的相關要求。

6.1.1包裝

電容器應裝入相適用的產品包裝盒內，內裝同一型號、同一批號、同一規(guī)格、同一引出端形式的產

品。

6.1.2標識

6.1.2.1內包裝標識

電容器應裝入芯片柵格盒內，然后將芯片盒放入入防靜電屏蔽袋內密封。

芯片柵格盒表面及合格證上應標識生產日期（批次）、型號規(guī)格、生產廠標志。合格證上應標明：

14

T/GDEIIAXXXXX—2023

a)制造廠名稱；

b)產品型號、額定電壓、標稱電容量及允許偏差；

c)產品批號；

d)電容器數量；

e)執(zhí)行詳細規(guī)范編號。

6.1.2.2外包裝標識（運輸包裝）

包裝箱上除應在明顯位置標識防潮防雨、防倒置、易碎等標識外，還應注明：

a)承制方名稱；

b)承制方通信地址；

c)使用方收件人姓名和聯系電話；

d)使用方通信地址。

6.2運輸和貯存

6.2.1運輸

在避免雨、雪直接影響的條件下，裝有產品的包裝箱可以用任何運輸工具運輸。但不能和帶有酸性、

堿性和其它腐蝕性物體堆放在一起。

承制方應及時將元件和需提交的全部報告發(fā)往指定地點。

6.2.2貯存

包裝盒應放入防靜電屏蔽袋密封。包裝好的產品應貯存在環(huán)境溫度為-30℃～40℃，相對濕度為不

大于80%，周圍環(huán)境無酸性、堿性或其它腐蝕性氣體且通風良好的庫房里。

6.3發(fā)貨時應提供的文件

a)產品合格證；

b)質量一致性報告；

c)驗收方和用戶要求的其他文件資料。

15

T/GDEIIAXXXXX—2023

附錄A

（規(guī)范性）

說明事項

A.1使用注意事項

電容器在使用過程中應注意以下事項：

a)電容器在使用過程中操作人員需佩戴防靜電手環(huán)；

b)應在額定電壓值內使用產品，注意關鍵參數的降額使用；

c)電容器在搬運、移動時應避免激烈碰撞，禁止使用墜落的電容器；

d)產品應避免接觸氯氣、酸性或硫化氣體等化學氣體；

e)產品可用無水乙醇等非導電非腐蝕性溶劑進行清洗。待用的產品、引線絲、外殼和基板應存放

在充氮氣的氣柜中儲存；

f)安裝產品使用的工具和設備應無污染、無夾傷或擦傷產品的尖銳棱角，滿足產品安裝要求；存

取產品應采用真空吸筆或鑷子等工具，并防止產品受損傷，嚴禁裸手觸摸；

g)產品底面安裝：應采用導電膠或焊料與電路板線路連接；最高焊接溫度不超過320℃；

h)產品表面安裝：應采用引線鍵合工藝進行安裝，鍵合方法推薦采用熱超聲楔形焊接法；

i)為保證電容器性能，留邊型產品在安裝時，電極留邊面應朝上安裝。

A.2訂購文件

采購合同中應明確以下要求：

a)本規(guī)范的編號；

b)產品名稱，規(guī)格型號；

c)訂貨數量；

d)驗收單位；

e)用戶特殊要求（若有）。

16

T/GDEIIAXXXXX—2023

附錄B

（規(guī)范性）

硅基電容器外觀典型缺陷判斷

B.1電極上的缺陷

B.1.1電極劃傷

電極表面由于運輸及操作不當等原因造成的損傷劃痕。定義：由于工裝夾具如鑷子、探針等在外力

的作用下在金屬化區(qū)域留下的痕跡。

金屬化刮傷分為輕微刮傷、中刮傷和重刮傷：

①輕微刮傷：刮傷只存在于上層材料(對于公司產品而言，上層材料為金)、40倍顯微鏡下無明顯深

度為輕微刮傷；

②中刮傷：在40倍顯微鏡觀察，具有明顯深度，但是沒有刮穿上層金層(在顯微鏡下以適當的傾角

對刮傷的痕跡觀察，需在所有刮痕跡上都能觀察到金)；

③重刮傷：若刮傷穿透了上層材料(對于公司產品而言，上層材料為金)則為重刮傷。

放大倍數：20～45倍。

正面不合格判據：

輕刮傷（正面）：輕刮傷的長度或長度之和超過電容器的50%為不合格。

中刮傷（正面）：中刮傷的長度或長度之和大于等于0.050mm為不合格。

重刮傷（正面）：重刮傷為露出下層金屬的情況為不合格。

背面要求：背面的輕刮傷和中刮傷為合格；背面重刮傷面積或面積之和超過背面電極的25%為不合

格。

正面不合格舉例：

1）電極表面出現劃痕或刮花且已看到下層金屬為不合格（從任何角度觀劃痕區(qū)域，均無金的光澤）；

電極劃痕或刮花的長度或長度之和大于所在電極邊長的50％則不合格；對于電極表面出現劃痕或刮花

連通到電極邊緣也為不合格；劃痕或刮花較深至周邊金層有明顯翻起情況為不合格；參考圖例見圖B.1；

圖B.1電極表面劃痕或刮花圖

2）電極磨損露出下層金屬的情況為不合格（從任何角度觀察磨損區(qū)域，均無金的光澤）；磨損的

面積或面積之和大于所在電極面積的10%則為不合格；對于出現在電極邊緣的刮花和磨損也為不合格；

參考圖例見圖B.2；

17

T/GDEIIAXXXXX—2023

圖B.2電極磨損圖

3）電極表面因為測試時出現的點式劃痕露出下層金屬的情況為不合格（從任何角度觀察刮花或磨

損區(qū)域，均無金的光澤）；點式壓痕較深至周邊金層有翻起現象為不合格；參考圖例見圖B.3。

圖B.3電極點式劃痕圖

背面不合格判據：

1)電極表面出現劃痕或刮花且已看到下層金屬為不合格（從任何角度觀劃痕區(qū)域，均無金的光澤）。

電極劃痕或刮花區(qū)域的長度或長度之和大于所在電極邊長的50％則不合格；劃痕較深至周邊金層有明

顯翻起情況為不合格；

2)電極磨損露出下層金屬的情況為不合格（從任何角度觀察刮花或磨損區(qū)域，均無金的光澤），

磨損面積或面積之和大于所在電極面積的20%則為不合格。

B.1.2電極凹陷

電極上局部區(qū)域的電極低于整個電極表面而形成的缺陷。參考圖例見圖