（新版）無損探傷工技師技能考試題庫（附答案）

(新版)無損探傷工技師技能考試題庫(附答案)1.斜探頭的斜楔一般采用有機(jī)玻璃材料制成，它的主要功能是將(),并按給定的折射角將波透入試件。A、縱波轉(zhuǎn)換為橫波B、橫波轉(zhuǎn)換為縱波C、聲波轉(zhuǎn)換為電磁波D、電磁波轉(zhuǎn)換為聲波2.選擇滲透檢測(cè)方法依據(jù)不包括檢測(cè)()。B、工件的表面粗糙度C、批量的大小D、工件內(nèi)部缺陷性質(zhì)3.接觸法檢測(cè)薄壁小徑管采用()。C、斜探頭8.金屬磁記憶檢測(cè)法，金屬材料在受到內(nèi)部應(yīng)力作用時(shí)會(huì)先在自身中產(chǎn)生磁場(chǎng)而被記錄于本體，不同的金屬材料，()。A、產(chǎn)生磁場(chǎng)程度和記憶磁場(chǎng)程度一樣B、產(chǎn)生磁場(chǎng)程度不一樣，記憶磁場(chǎng)程度一樣C、產(chǎn)生磁場(chǎng)程度和記憶磁場(chǎng)程度不一樣D、產(chǎn)生磁場(chǎng)程度一樣，記憶磁場(chǎng)程度不一樣9.在整個(gè)焊接過程中，影響焊接的穩(wěn)定性參數(shù)是()。A、空氣流動(dòng)速度B、環(huán)境溫度C、空氣濕度10.對(duì)液體附加壓強(qiáng)為零的是()。A、平面液面C、凸液面D、球液面11.不只適用于X射線或γ射線，適用于任何類型和任何能量的電離輻射，也適用于任何被照物質(zhì)的物理量是()。A、比釋動(dòng)能B、吸收劑量C、照射量D、照射量率12.滲透檢測(cè)過程中，滲透液在表面開口缺陷內(nèi)截留，滲透液必須有(),在目視檢驗(yàn)中能觀察到。A、暗的熒光亮度B、很少一部分截留C、100%的缺陷截留13.避免側(cè)壁干涉的最小距離dmin與波長λ及缺陷到檢測(cè)面距離a有關(guān)，其關(guān)系是()。A、λ減少、a增加、dmin減少B、λ減少、a減少、dmin增加C、λ增加、a增加、dmin增加D、λ增加、a增加、dmin減少14.鍛件探傷時(shí)調(diào)節(jié)靈敏度的方式是()。A、CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊方式B、大平底方式C、槽形反射孔方式D、ZGZ系列試塊方式15.軸類鍛件的鍛造工藝主要以拔長為主，因而大部分缺陷的取向與軸線平行，此類缺陷的檢測(cè)以縱波直探頭從()檢測(cè)效果最佳。A、周向B、徑向C、軸向16.液體和氣體只能承受()。A、應(yīng)力C、剪切應(yīng)力D、壓應(yīng)力17.磁感應(yīng)強(qiáng)度變化滯后于()變化的現(xiàn)象叫作磁滯現(xiàn)象。D、磁通密度18.表面粗糙度對(duì)耦合效果有明顯的影響，對(duì)同一耦合劑()。19.為了使某種中碳鋼獲得良好的綜合機(jī)械性能，在淬火后進(jìn)行500~600℃的高溫回火，這種熱處理方法叫作()。A、正火D、調(diào)質(zhì)20.表示駐波的波動(dòng)方程是()。23.實(shí)際聲場(chǎng)非均勻激發(fā)的實(shí)際波源產(chǎn)生的()要小于均勻激發(fā)的理想D、干涉B、磁感應(yīng)線D、磁化電流25.磁粉探傷時(shí)，被檢工件中的磁場(chǎng)在()的情況下最強(qiáng)。A、切斷交流電電流反向以前B、通電過程中C、磁化電流切斷以后26.無損檢測(cè)通用工藝規(guī)程是指導(dǎo)檢測(cè)人員進(jìn)行實(shí)際檢測(cè)工作的技術(shù)B、主要內(nèi)容D、基本原則27.半波高法就是由于()波高降低6dB正好為原來的一半。A、底面回波B、缺陷回波D、二次回波28.物體由于受到外力的作用，在單位面積上出現(xiàn)的內(nèi)力稱為()。A、張力B、應(yīng)力C、壓力D、拉力29.次聲波的頻率為()。A、低于20HZB、低于20000HZ30.來自暗盒背面的散射稱為()。A、亂散射B、背散射C、前散射D、集中散射31.X射線管的陽極罩一般選用金屬()來制造，用來吸收陽極靶產(chǎn)生的二次電子。32.無損檢測(cè)通用工藝規(guī)程也稱()。A、工藝卡C、技術(shù)文件D、工藝規(guī)程或規(guī)程33.由膠片特性曲線某一點(diǎn)切線的斜率可以得到的技術(shù)參數(shù)是膠片的A、反差系數(shù)B、清晰度D、解像力34.檢測(cè)T形焊接接頭，直探頭檢測(cè)用試塊是()。A、V型槽試塊B、平底孔試塊C、短橫孔試塊D、長橫孔試塊35.鍛件熱處理時(shí)產(chǎn)生的缺陷是()。C、白點(diǎn)B、氣保護(hù)C、焊劑保護(hù)39.磁性檢測(cè)方法主要是對(duì)()進(jìn)行檢測(cè)、測(cè)量或評(píng)估的一類方法。B、磁致熱效應(yīng)C、磁路磁特性D、磁感應(yīng)聲速變化40.超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)熒光屏上不會(huì)出現(xiàn)的是()。B、61°反射波C、外輪廓反射回波D、遲到回波41.滲透檢測(cè)的局限性體現(xiàn)在()。A、不能用于鐵磁性材料B、不能發(fā)現(xiàn)近表面開口缺陷C、不能用于非金屬表面D、不能發(fā)現(xiàn)淺的表面開口缺陷42.γ射線探傷設(shè)備的屏蔽體采用()材料制作而成。B、貧化鈾43.ASME規(guī)范V卷第六章《液體滲透檢驗(yàn)》屬于()。A、美國機(jī)械工程師協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)B、國際標(biāo)準(zhǔn)化組織標(biāo)準(zhǔn)C、美國材料及試驗(yàn)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)D、美國宇航材料規(guī)范44.著色法檢測(cè)塑料工件，懸浮溶劑最好選()溶劑。A、含氯化物的有機(jī)溶劑B、水基C、油基45.Y射線探傷設(shè)備出現(xiàn)故障，后果比較嚴(yán)重的是()。A、Y源卡堵B、控制纜導(dǎo)管變形C、輸源管被砸扁D、γ源掉出46.對(duì)臨界厚度的敘述正確的是()。A、臨界厚度小，著色強(qiáng)度大，利于發(fā)現(xiàn)缺陷B、臨界厚度小，著色強(qiáng)度小，利于發(fā)現(xiàn)缺陷C、臨界厚度大，著色強(qiáng)度大，利于發(fā)現(xiàn)缺陷D、臨界厚度大，著色強(qiáng)度小，利于發(fā)現(xiàn)缺陷47.磁粉檢測(cè)使用水磁懸液時(shí)，工件表面要嚴(yán)格()。C、除氧化皮D、除涂層48.常用于重要工件檢測(cè)的耦合劑是()。A、甘油B、化學(xué)襁糊C、機(jī)油49.超聲波波源輻射的超深波是以特定的角度向外擴(kuò)散出去的，但并不是從波源開始擴(kuò)散的，而是在波源附近存在一個(gè)()。50.半波高度法是指波高降低()后正好為原來的一半。51.通常用()判斷機(jī)械加工性的好壞。A、抗氧化B、耐沖擊C、耐蝕52.Ⅱ級(jí)無損檢測(cè)人員具備的能力是()。A、按照工藝文件調(diào)試校準(zhǔn)儀器B、負(fù)責(zé)無損檢測(cè)技術(shù)管理工作C、編制審核無損檢測(cè)工藝規(guī)程D、對(duì)無損檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行分析、評(píng)定或解釋53.用噴涂法施加顯像劑，噴涂裝置與被檢表面保持的距離是(),使顯像劑到達(dá)工件表面幾乎是干的。54.縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí)，探頭與柱面接觸面積小，波束擴(kuò)散角增加，擴(kuò)散波束就會(huì)在圓柱面上形成()。A、三角反射C、工件輪廓回波55.鐵磁性物質(zhì)加熱，鐵磁性消失而變?yōu)轫槾判晕镔|(zhì)的溫度點(diǎn)叫作()。A、轉(zhuǎn)向點(diǎn)B、熔點(diǎn)C、飽和點(diǎn)56.有機(jī)溶劑揮發(fā)較快，顯像時(shí)間很短的是()。B、水懸浮濕式顯像C、非水基濕式顯像D、水溶解濕式顯像57.晶體中某處有一列或若干列原子發(fā)生有規(guī)律的錯(cuò)排現(xiàn)象叫作()。A、空位C、位錯(cuò)D、空洞58.爬波對(duì)于檢測(cè)()表面裂紋，靈敏度和分辨力均比表面波高。A、焊件C、管件D、鋼板59.在波束未擴(kuò)散區(qū)內(nèi)，對(duì)于薄板前幾次的()相差無幾。C、底波60.蘭姆波是指介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)產(chǎn)生相應(yīng)的橫向和縱向兩種振動(dòng)的合成，使質(zhì)點(diǎn)做()的振動(dòng)和傳播。61.管座角焊縫超聲檢測(cè)以()探測(cè)為主。A、縱波直探頭C、表面波探頭D、聚焦探頭62.急性放射損傷是由于()所致。A、一次長時(shí)間小劑量照射B、一次短時(shí)間大劑量照射C、慢性小劑量連續(xù)照射D、慢性大劑量連續(xù)照射A、物體的勢(shì)能不會(huì)改變B、物體的內(nèi)能也隨著改變C、物體的平均動(dòng)能減小D、物體的內(nèi)能不會(huì)改變66.在數(shù)字射線檢測(cè)技術(shù)中，僅適用于測(cè)定不存在被檢測(cè)工件時(shí)的空68.現(xiàn)場(chǎng)無水源、無電源時(shí)，滲透檢測(cè)宜采用()。A、水洗型著色法B、溶劑去除型著色法C、水洗型熒光法D、溶劑去除型熒光法69.斜探頭的斜楔一般采用有機(jī)玻璃材料制成，它的主要功能是將(),并按給定的折射角將波透入試件。A、縱波轉(zhuǎn)換為橫波B、橫波轉(zhuǎn)換為縱波C、聲波轉(zhuǎn)換為電磁波D、電磁波轉(zhuǎn)換為聲波70.選擇滲透檢測(cè)方法依據(jù)不包括檢測(cè)()。B、工件的表面粗糙度C、批量的大小A、質(zhì)量檢查人員B、無損檢測(cè)技術(shù)人員D、技術(shù)負(fù)責(zé)人75.在液體中唯一能傳播的聲波波形是()。D、蘭姆波76.金屬磁記憶檢測(cè)法，金屬材料在受到內(nèi)部應(yīng)力作用時(shí)會(huì)先在自身A、產(chǎn)生磁場(chǎng)程度和記憶磁場(chǎng)程度一樣C、產(chǎn)生磁場(chǎng)程度和記憶磁場(chǎng)程度不一樣77.在整個(gè)焊接過程中，影響焊接的穩(wěn)定性參數(shù)是()。A、空氣流動(dòng)速度B、環(huán)境溫度C、空氣濕度78.對(duì)液體附加壓強(qiáng)為零的是()。B、凹液面79.不只適用于X射線或γ射線，適用于任何類型和任何能量的電離輻射，也適用于任何被照物質(zhì)的物理量是()。A、比釋動(dòng)能B、吸收劑量C、照射量80.滲透檢測(cè)過程中，滲透液在表面開口缺陷內(nèi)截留，滲透液必須有(),在目視檢驗(yàn)中能觀察到。A、暗的熒光亮度B、很少一部分截留81.避免側(cè)壁干涉的最小距離dmin與波長λ及缺陷到檢測(cè)面距離a有A、λ減少、a增加、dmin減少B、λ減少、a減少、dmin增加C、λ增加、a增加、dmin增加D、λ增加、a增加、dmin減少82.鍛件探傷時(shí)調(diào)節(jié)靈敏度的方式是()。A、CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊方式B、大平底方式C、槽形反射孔方式D、ZGZ系列試塊方式83.選用較大的焊接電流可以焊接()位置的焊縫。A、立焊C、仰焊D、平焊84.自動(dòng)洗片機(jī)能在()提供干燥好的可供評(píng)定的底片。B、8~12min以內(nèi)85.化合物質(zhì)不包括()。86.在高溫情況下，磁體中的分子熱運(yùn)動(dòng)會(huì)破壞磁疇的有規(guī)則排列，磁體的磁性出現(xiàn)()現(xiàn)象。B、順磁性87.常用于重要工件檢測(cè)的耦合劑是()。A、甘油B、化學(xué)糨糊88.超聲波波源輻射的超深波是以特定的角度向外擴(kuò)散出去的，但并不是從波源開始擴(kuò)散的，而是在波源附近存在一個(gè)()。A、未擴(kuò)散區(qū)89.側(cè)壁反射波束與直接傳播的波束聲程差()時(shí)可以避免側(cè)壁干涉。A、小于4倍波長B、大于4倍波長C、小于1/4倍波長D、大于1/4倍波長90.兩種材料的界面上磁感應(yīng)線的方向會(huì)突變，這種突變稱作磁感應(yīng)B、繞射C、折射D、干涉91.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)，若介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)聲阻抗相等，則薄層厚度為()時(shí)，將有最大的聲壓透過率。A、1/2波長的整數(shù)倍B、1/2波長的奇數(shù)倍C、1/4波長的整數(shù)倍D、1/4波長的奇數(shù)倍92.淬火配以不同溫度的()可大幅度提高鋼的綜合力學(xué)性能。B、回火93.磁粉檢測(cè)靈敏度和磁化方向有很大關(guān)系，檢測(cè)時(shí)缺陷方向與磁化方向(),易于發(fā)現(xiàn)缺陷。B、夾角小于20°C、近似平行正確說法是()。B、透照質(zhì)量A級(jí)，合格級(jí)別Ⅱ級(jí)95.制作對(duì)比試塊時(shí)，不銹鋼材料應(yīng)選用()材料來制作。A、低合金鋼D、工具鋼96.在不同類型超聲波中，()的傳播速度隨頻率的不同而改變。A、表面波B、板波97.采用溶劑去除零件表面多余滲透劑時(shí)，滲透檢測(cè)工藝卡選項(xiàng)最好98.液滴在固體表面接近于薄膜的形態(tài)，()這種情況稱為完全潤濕。A、接觸角等于0°B、接觸角大于90°C、接觸角等于90°D、接觸角小于90°99.不是由漏磁場(chǎng)吸附磁粉形成的磁痕顯示稱為()。A、非相關(guān)顯示B、偽顯示D、缺陷顯示100.使聲束呈線狀聚焦的聲透鏡是一個(gè)()。C、正方形曲面D、菱形曲面101.不適宜采用水洗型滲透探傷法檢測(cè)的缺陷是()。C、氣孔D、夾渣103.由于滲透材料的材質(zhì)特性，對(duì)操作者產(chǎn)生的影響是()。A、由于滲透劑是無機(jī)的，所以是危險(xiǎn)的104.從事放射工作人員每()體檢一次。105.磁粉探傷中，發(fā)現(xiàn)有疑問磁痕，應(yīng)該()。A、全部重新檢驗(yàn)B、提高標(biāo)準(zhǔn)重新檢驗(yàn)107.在背散射檢查中，在暗盒背面貼附一個(gè)"B"鉛字，觀片時(shí)發(fā)現(xiàn)()109.鍵盤中可使光標(biāo)移到本行最右邊文字結(jié)束的位置的鍵是()鍵。110.現(xiàn)場(chǎng)無水源、無電源時(shí)，滲透檢測(cè)宜采用()。A、水洗型著色法B、溶劑去除型著色法C、水洗型熒光法D、溶劑去除型熒光法111.在不同磁導(dǎo)率的兩種材料的界面上磁感應(yīng)線的方向會(huì)突然改變，這種突變稱作磁感應(yīng)線的(),與光波和聲波極其相似。A、散射B、折射C、反射D、衍射112.碳素鋼是以()為基體，含碳量低于2%的鐵碳合金。A、普通滲透探傷法B、后乳化型熒光法C、水洗型熒光法D、溶劑去除型熒光法A、紅燈B、綠燈C、白熾燈D、熒光燈115.交流電在一個(gè)周期內(nèi)的電流()叫峰值Im。A、有效值C、最大值D、最小值116.檢測(cè)T形焊接接頭，直探頭檢測(cè)用試塊是()。A、V型槽試塊B、平底孔試塊C、短橫孔試塊D、長橫孔試塊117.鍛件熱處理時(shí)產(chǎn)生的缺陷是()。B、淬火裂紋D、折疊118.對(duì)過濾性微粒滲透劑描述中，正確的是()。A、染料微粒比裂紋寬度小一點(diǎn)B、需要顯像劑C、可毛刷刷涂滲透劑D、微粒是著色或是熒光染料119.假定同位素放射源發(fā)射單一波長的γ射線，某時(shí)在離放射源2m處測(cè)得其γ射線照射率，14天后同一時(shí)刻，在離該源92m處測(cè)出其照C、75天123.超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)熒光屏上不會(huì)出現(xiàn)的是()。B、61°反射波C、外輪廓反射回波D、遲到回波124.滲透檢測(cè)的局限性體現(xiàn)在()。A、不能用于鐵磁性材料B、不能發(fā)現(xiàn)近表面開口缺陷C、不能用于非金屬表面D、不能發(fā)現(xiàn)淺的表面開口缺陷125.磁粉檢測(cè)使用水磁懸液時(shí)，工件表面要嚴(yán)格()。A、除灰塵B、除油C、除氧化皮126.透照厚度差別較大的工件時(shí)，為了增大寬容度，可以采用的方法B、提高管電流C、降低管電壓D、選用微粒膠片127.有機(jī)溶劑揮發(fā)較快，顯像時(shí)間很短的是()。A、水基濕式顯像B、水懸浮濕式顯像C、非水基濕式顯像D、水溶解濕式顯像128.晶體中某處有一列或若干列原子發(fā)生有規(guī)律的錯(cuò)排現(xiàn)象叫作()。C、位錯(cuò)D、空洞129.爬波對(duì)于檢測(cè)()表面裂紋，靈敏度和分辨力均比表面波高。A、焊件B、堆焊層C、管件D、鋼板130.在波束未擴(kuò)散區(qū)內(nèi)，對(duì)于薄板前幾次的()相差無幾。A、一次波B、提高標(biāo)準(zhǔn)重新檢驗(yàn)C、超標(biāo)磁痕重新檢驗(yàn)D、用其他方法重新檢驗(yàn)132.滲透液滲入表面開口缺陷的影響因素不包括()。B、滲透液表面張力C、工件表面粗糙度二.多項(xiàng)選擇題A、磁矩的矢量和為零B、磁介質(zhì)對(duì)外顯示出一定的磁性C、磁矩指向各向的概率相等D、磁矩的矢量和不為零2.輻射防護(hù)的基本要求包括()。A、實(shí)踐的正當(dāng)性B、劑量限制C、潛在照射危險(xiǎn)限制D、防護(hù)與安全最優(yōu)化3.關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有()。A、化學(xué)結(jié)構(gòu)相似的物質(zhì)彼此容易相互溶解B、極性相似的物質(zhì)彼此不容易相互溶解C、化學(xué)結(jié)構(gòu)相似，分子種類不同的物質(zhì)不能相互溶解D、極性物質(zhì)容易溶解于極性溶劑中4.球罐γ射線全景曝光時(shí)，安全距離的計(jì)算需要考慮的是()。B、球罐壁厚C、安全劑量限值D、半價(jià)層5.自動(dòng)洗片機(jī)正式洗片前，輸入清洗片的目的包括()。A、清洗滾軸上被氧化的顯影液B、清洗滾軸上被氧化的定影液C、確定洗片機(jī)工作是否異常D、提高顯影液的溫度6.工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。A、外觀檢查B、無損探傷C、力學(xué)性能7.用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭()。A、隔聲層與缺陷延伸方向平行B、隔聲層與缺陷延伸方向垂直C、垂直與缺陷延伸方向移動(dòng)D、平行與缺陷延伸方向移動(dòng)8.球罐γ射線全景曝光，曝光時(shí)間的計(jì)算方法有()。A、估算法B、計(jì)算尺法C、經(jīng)驗(yàn)公式法D、公式計(jì)算法9.搭接接頭根據(jù)其結(jié)構(gòu)形式和對(duì)強(qiáng)度的要求可分為()。B、圓孔內(nèi)塞焊C、長孔內(nèi)角焊10.對(duì)比試塊用于()。A、評(píng)價(jià)檢測(cè)工藝B、評(píng)估缺陷當(dāng)量尺寸C、與已知信號(hào)相比較D、檢測(cè)方法的研究11.冷裂紋常見的有()。B、焊趾裂紋C、焊道下裂紋12.雙晶探頭主要用于檢測(cè)()。B、外部缺陷C、已知缺陷定點(diǎn)測(cè)量14.滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免()。C、干燥D、陽光直射15.對(duì)隨機(jī)效應(yīng)描述正確的有()。A、效應(yīng)的發(fā)生幾率與劑量有關(guān)B、嚴(yán)重程度與劑量大小無關(guān)C、效應(yīng)存在劑量的閥值D、效應(yīng)不存在劑量的閥值16.珠光體是()的機(jī)械混合物，性能介于兩者之B、日光燈照明20.滲透檢測(cè)時(shí)需要使用黑光燈的是()。A、后乳化熒光滲透法B、著色滲透法C、非熒光滲透法D、熒光滲透法21.對(duì)滲透探傷無影響的是()。A、噴丸后的工件表面B、光滑的焊縫表面C、油污的工件表面D、浸泡干燥后的工件表面22.利用鋼材磁特性曲線制定周向磁化規(guī)范時(shí)，連續(xù)法周向磁場(chǎng)的選擇一般應(yīng)在()之間為宜。A、激烈磁化區(qū)B、近飽和區(qū)C、基本飽和區(qū)D、大于飽和區(qū)23.不影響工件的使用性能出現(xiàn)的磁痕是()。A、缺陷顯示B、非相關(guān)顯示D、相關(guān)顯示24.底片質(zhì)量檢查應(yīng)包括()。A、靈敏度檢查C、偽缺陷檢查D、背散射檢查25.滲透液滲入表面開口缺陷的限制因素有()。A、缺陷的形狀B、滲透液表面張力C、滲透液的溫度D、裂紋缺陷內(nèi)壁粗糙度26.板波的類型有()。B、非對(duì)稱型C、散射型27.如果X射線管的真空度降低，會(huì)出現(xiàn)()現(xiàn)象。A、氣體放電B、靶材料被氧化C、管電流提高D、管電流減少28.對(duì)要求不是很高的鋼板探傷時(shí)，一般采用的B、格子掃查C、平行掃查D、邊緣掃查29.工件表面形狀對(duì)耦合效果有影響，正確的說法有()。A、凸曲面耦合效果比凹曲面好B、耦合效果最差的是凸曲面C、耦合效果最好的是平面D、耦合效果最差的是凹曲面30.要想獲得擺動(dòng)磁場(chǎng)需要同時(shí)用()對(duì)工件進(jìn)行磁化。B、直流電C、交流電A、原子序數(shù)小B、原子序數(shù)大C、耐高溫D、不耐高溫32.壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。A、多變壓電效應(yīng)B、恒定壓電效應(yīng)33.波的衍射與下列因素中的()有關(guān)。A、介質(zhì)材料B、波長C、缺陷大小34.探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有()。A、抑制旋鈕B、深度粗調(diào)旋鈕C、深度微調(diào)旋鈕35.在大自然的許多活動(dòng)中，次聲波一般發(fā)生在()現(xiàn)象中。B、火山爆發(fā)C、火箭起飛D、導(dǎo)彈發(fā)射36.鋼材的正火是將鋼材或鋼件加熱到()以上30~50℃,保溫適當(dāng)?shù)臅r(shí)B、核共振反應(yīng)C、瑞利散射D、光電效應(yīng)38.磁性成像可分為磁場(chǎng)成像和磁性成像，對(duì)其描述正確的有()。39.直探頭檢測(cè)缺陷定量的方法包括()。A、多次底波反射法B、缺陷回波高度法C、當(dāng)量評(píng)定法D、底面回波高度法A、顯影C、底片干燥D、裁切底片41.安放式管座角焊縫超聲檢測(cè)采用的方式是()探測(cè)。A、斜探頭接管內(nèi)壁一次波B、直探頭接管內(nèi)壁C、直探頭容器筒體內(nèi)壁D、斜探頭接管外壁二次波42.圓柱曲面會(huì)影響表面波的傳播，柱面曲率與表面波波長之比較大B、凸柱面衰減大C、凹柱面衰減小D、發(fā)生波形轉(zhuǎn)換44.普通壓力容器使用材料要求包括()。A、足夠的強(qiáng)度B、較高的屈服極限C、良好的韌性D、低溫沖擊性45.對(duì)膠片梯度產(chǎn)生影響的因素包括()。B、膠片類型C、增感屏類型D、顯影條件46.高壓發(fā)生電路的全波整流電路包括()。A、倍壓恒直流電路B、雙管全波整流電路C、四管橋式整流電路47.超聲波檢測(cè)晶粒粗大金屬材料，使用高頻率探頭時(shí)會(huì)出現(xiàn)()現(xiàn)象。A、衰減顯著B、缺陷檢出率提高C、草狀回波A、位置D、取向49.γ射線探傷設(shè)備機(jī)械零件損壞包括()。B、安全聯(lián)鎖失靈C、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)失靈D、源外包殼與源座脫開50.在完全黑暗的暗室中，對(duì)磁粉檢測(cè)環(huán)境描述正確的有()。A、平均照度11xB、平均照度10lxC、眼睛的靈敏度提高80倍D、眼睛的靈敏度提高800倍51.單晶體金屬特點(diǎn)有()。A、物理性能是各向異性B、物理性能是各向同性C、力學(xué)性能是各向同性D、力學(xué)性能是各向異性52.常用的人工反射體有()。A、球孔A、能量增大B、能量減小54.影響耦合的因素包括()。A、耦合層的厚度B、探頭的種類C、耦合劑的聲阻抗D、工件表面粗糙度55.γ射線探傷設(shè)備的缺點(diǎn)包括()。A、固有不清晰度大B、輻射能量固定無法調(diào)節(jié)C、曝光時(shí)間受到限制D、固有不清晰度小56.反差增強(qiáng)劑噴灌的優(yōu)點(diǎn)包括()。A、涂層成膜慢且均勻B、涂層成膜快且均勻C、附著力弱D、附著力強(qiáng)57.顯像劑吸附滲透劑，吸附上來同樣數(shù)量的滲透劑，有的看得見，有B、黏度C、著色強(qiáng)度58.滲透檢測(cè)虛假顯示是由()引起的。A、滲透劑污染B、操作不當(dāng)C、工件結(jié)構(gòu)外形D、工件表面外觀缺陷59.數(shù)字式超聲儀器的顯示是()完成的。A、二維點(diǎn)陣式B、逐行掃描C、單行掃描60.磁粉檢測(cè)工件表面有覆蓋層，對(duì)磁粉檢測(cè)有不良影響。用()方法磁B、通電法C、觸頭法D、中心導(dǎo)體法61.非相關(guān)顯示產(chǎn)生的原因包括()。B、局部冷作硬化C、金相組織不均勻D、工件表面粗糙62.在磁性無損檢測(cè)新技術(shù)的分類方法中，按磁場(chǎng)信號(hào)形成分類的是()A、剩余磁場(chǎng)檢測(cè)B、有原磁場(chǎng)檢測(cè)C、磁記憶檢測(cè)D、漏磁場(chǎng)檢測(cè)63.防止產(chǎn)生未焊透的措施有()。A、使用較小電流B、合理設(shè)計(jì)坡口C、加強(qiáng)焊道清理64.著色熒光滲透劑的特性包括()。A、在白光下呈鮮艷的暗紅色B、著色檢測(cè)靈敏度高于熒光檢測(cè)靈敏度C、在紫外線下發(fā)出明亮的熒光D、著色熒光滲透劑也稱雙重靈敏度滲透劑65.鍋爐本體要裝有集箱，在()部件上也裝有相應(yīng)的集箱。C、空氣預(yù)熱器D、火管66.日本JISZ2343標(biāo)準(zhǔn)《液體滲透檢測(cè)方法及缺陷指示等級(jí)分類》將發(fā)現(xiàn)的缺陷指示分為()。B、線狀顯示跡痕C、圓形顯示跡痕D、針狀顯示跡痕67.關(guān)于手工鎢極氬弧焊的特點(diǎn)說法，正確的有()。A、電弧穩(wěn)定68.輻射防護(hù)的目的是()。A、防止有害的確定性效應(yīng)B、防止隨機(jī)性效應(yīng)的發(fā)生率C、限制隨機(jī)性效應(yīng)的發(fā)生率D、限制有害的確定性效應(yīng)69.采用偏置芯棒法磁粉檢測(cè)空心大直徑工件時(shí)，()。A、工件不動(dòng)B、工件轉(zhuǎn)動(dòng)D、芯棒緊靠工件內(nèi)壁70.X射線管中的陰極形狀包括()。B、雙線焦點(diǎn)陰極C、圓焦點(diǎn)陰極71.工藝評(píng)定試件的焊接及熱處理時(shí)記錄的參數(shù)包括()。A、焊接工藝?yán)碚搮?shù)B、試件熱處理保溫時(shí)間C、焊接工藝實(shí)測(cè)參數(shù)D、試件熱處理實(shí)際溫度72.磁粉檢測(cè)不適用于()。B、奧氏體不銹鋼材料C、奧氏體不銹鋼焊縫D、非鐵磁性材料73.縱向磁化不能用()獲得。A、軸向通電法B、觸頭法D、中心導(dǎo)體法74.環(huán)形件繞電纜由于磁路是閉合的，下列說法錯(cuò)誤的有()。A、檢測(cè)效率高B、不易磁化C、無退磁場(chǎng)產(chǎn)生D、形成縱向磁場(chǎng)75.計(jì)算機(jī)系統(tǒng)軟件包括()。A、應(yīng)用軟件B、操作系統(tǒng)C、程序設(shè)計(jì)語言D、數(shù)據(jù)庫管理系統(tǒng)76.鋼材的熱處理的一般過程中會(huì)出現(xiàn)()。B、成分的變化C、結(jié)構(gòu)的變化77.焊接煙塵是明弧焊的有害因素，尤其是黑色金屬涂料焊條的手工A、焊工塵肺B、焊工金屬熱C、CO氣體中毒78.對(duì)于工業(yè)射線檢測(cè)而言，主要考慮的是外照射的防護(hù)，外照射防護(hù)A、控制射線對(duì)人體的曝光時(shí)間B、控制射線源到人體之間的距離C、在射線源與工件之間增加一層物質(zhì)D、在人體和射線源之間隔一層吸收物質(zhì)79.不影響工件的使用性能的顯示有()。B、相關(guān)顯示C、非相關(guān)顯示80.表面活性劑分子在水或水溶液表面的吸附近于飽和時(shí)，水或水溶液的極性表面在很大程度上就被表面活性劑分子覆蓋，這時(shí)水或水溶A、表面張力減低B、潤濕性能提高C、表面張力提高D、潤濕性能減低81.對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí)，首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查，不滿足要求的底片B、靈敏度檢查C、背散射檢查D、搭接情況檢查82.確定滲透劑是否具有高的滲透能力的主要參數(shù)有()。B、表面張力C、接觸角83.下列關(guān)于無限大固體介質(zhì)中聲速的說法錯(cuò)誤的有()。A、橫波聲速大于表面波聲速B、縱波聲速大于橫波聲速C、表面波聲速大于縱波聲速D、縱波聲速小于橫波聲速84.軸類鍛件在鍛造過程中出現(xiàn)的缺陷，分布和取向不好預(yù)估，所以檢測(cè)這類鍛件一般采用()等檢測(cè)方法。A、直探頭徑向檢測(cè)B、直探頭軸向檢測(cè)C、斜探頭周向檢測(cè)D、斜探頭軸向檢測(cè)85.磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾A、可見光B、長波紫外線C、中波紫外線D、短波紫外線86.膠片的選用應(yīng)根據(jù)射線照相技術(shù)要求及()等條件綜合考慮。A、工件厚度B、材料種類C、周圍環(huán)境D、射線的線質(zhì)B、不存在擴(kuò)散衰減C、存在擴(kuò)散衰減88.熒光滲透檢測(cè)時(shí)，冷裂紋的顯示特征有()。A、明亮黃綠色細(xì)線條B、網(wǎng)狀線條A、化學(xué)能激發(fā)的光源B、熱能激發(fā)的光源C、電能激發(fā)的光源D、光能激發(fā)的光源90.超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。C、電源波動(dòng)大91.磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。A、單元件多點(diǎn)測(cè)量B、多原件陣列多點(diǎn)測(cè)量C、聚磁檢測(cè)技術(shù)92.阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有()。A、鐵銹B、涂層C、燃燒積炭D、油脂93.使用射線裝置的單位，()需辦理申請(qǐng)?jiān)S可證。A、新建射線裝置場(chǎng)所單位B、購置新的射線裝置單位C、改建射線裝置場(chǎng)所單位D、射線裝置轉(zhuǎn)讓其他單位94.小直徑薄壁管一般為無縫管，其內(nèi)部缺陷有()。A、平行管軸的縱向缺陷B、垂直管軸的縱向缺陷C、平行管軸的橫向缺陷D、垂直管軸的橫向缺陷B、DR運(yùn)行成本低D、屏蔽方式96.TOFD檢測(cè)方法的局限性不包括()。B、TOFD圖像判別比較難C、點(diǎn)狀缺陷測(cè)量準(zhǔn)確D、復(fù)雜工件檢測(cè)困難97.采用橫波斜探頭檢測(cè)平面工件時(shí)，工件中缺陷的位置由()來確定。A、探頭折射角和聲程B、探頭反射角和聲程C、缺陷水平方向投影D、缺陷垂直方向投影98.超聲波探頭發(fā)射的超聲脈沖頻率有一定帶寬，窄帶探頭對(duì)應(yīng)的()。A、脈沖寬度較寬B、脈沖寬度較小C、深度分辨力差A(yù)、水射束與被檢面夾角以30°為宜B、水溫以10°~40°為宜C、水溫40°以上為宜D、噴嘴與工件表面的距離約為100mm為宜三.判斷題1.()無損檢測(cè)操作人員應(yīng)遵循工藝卡規(guī)定的條件參數(shù)進(jìn)行透照，但必要時(shí)應(yīng)對(duì)有關(guān)參數(shù)做適當(dāng)?shù)恼{(diào)整。2.()數(shù)字射線檢測(cè)時(shí)在時(shí)間上和幅值上連續(xù)變化的信號(hào)是脈沖信號(hào)。3.()鍋爐受壓元件集箱是用較大直徑焊接管加焊兩個(gè)端蓋制成的。B、錯(cuò)誤4.()低分辨率工具上漏磁探測(cè)器的數(shù)量要比高分辨率工具上的多。5.()儀器工作頻率的好壞影響對(duì)缺陷位置的判斷。A、正確B、錯(cuò)誤6.()可以用小磁針來描述條形磁鐵的磁感應(yīng)線分布。B、錯(cuò)誤A、正確B、錯(cuò)誤8.()滲透液在受檢工件表面的潤濕類型必須是黏附潤濕時(shí)，滲透液才能滲入工件表面開口缺陷中。A、正確B、錯(cuò)誤B、錯(cuò)誤B、錯(cuò)誤11.()評(píng)片人員在評(píng)片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)，從陽光下進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)不超過5min。B、錯(cuò)誤檢測(cè)的所有試件檢驗(yàn)效果無效。B、錯(cuò)誤A、正確B、錯(cuò)誤14.()缺陷波形分為靜態(tài)波形和動(dòng)態(tài)波形兩大類。B、錯(cuò)誤A、正確B、錯(cuò)誤16.()順磁性材料和抗磁性材料都可以進(jìn)行磁粉檢測(cè)。B、錯(cuò)誤17.()聚焦探頭的通用性較好，適用于檢測(cè)某一深度范圍內(nèi)的缺陷。A、正確B、錯(cuò)誤A、正確B、錯(cuò)誤20.()半波高度法和端點(diǎn)6dB法測(cè)長都屬于絕對(duì)靈敏度法測(cè)長。B、錯(cuò)誤21.()通常所用的光源，如白熾燈、日光燈等都是自發(fā)輻射光源。B、錯(cuò)誤22.()橫波探頭入射角大于第三臨界角時(shí)B、錯(cuò)誤23.()磁粉檢測(cè)不僅可以檢測(cè)鐵磁性材料表面開口的缺陷，還可以檢測(cè)表面閉口缺陷。B、錯(cuò)誤25.()個(gè)人劑量監(jiān)測(cè)是測(cè)量射線照射個(gè)人所接受的劑量，它不是一種控制性的測(cè)量。27.()滲透檢測(cè)虛假顯示是由工件結(jié)構(gòu)或外形等原因引起的。B、錯(cuò)誤28.()磁場(chǎng)測(cè)量探頭實(shí)現(xiàn)磁場(chǎng)信號(hào)的轉(zhuǎn)換。A、正確B、錯(cuò)誤29.()普通的滲透劑不能用于高溫工件的滲透檢測(cè)。B、錯(cuò)誤30.()配備的無損檢測(cè)設(shè)備應(yīng)能滿足產(chǎn)品檢測(cè)的需要。B、錯(cuò)誤31.()數(shù)字超聲波探傷儀連接交流電源時(shí)，應(yīng)仔細(xì)核對(duì)儀器額定電源B、錯(cuò)誤B、錯(cuò)誤33.()與常規(guī)膠片射線照相檢測(cè)技術(shù)比較，數(shù)字檢測(cè)技術(shù)不需要膠片。A、正確B、錯(cuò)誤34.()自動(dòng)洗片機(jī)每處理1m2的膠片約需補(bǔ)充100mL的顯影液和100mLB、錯(cuò)誤35.()大厚度比試件射線照相，底片黑度過高或過低都會(huì)影響射線照A、正確B、錯(cuò)誤36.()橫波掃描速度的調(diào)節(jié)方法有三種，聲37.()對(duì)圓棒用軸向通電法磁化時(shí)，其電流按公式I=5rH求出。(式38.()顯像劑中含有常溫下易揮發(fā)的溶劑，溶劑在顯像表面迅速揮發(fā)A、正確B、錯(cuò)誤40.()靈敏度余量是探頭和儀器的綜合性能。41.()計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件是指用于計(jì)算機(jī)的管理、控制、維護(hù)和運(yùn)行的42.()高矯頑力材料制成的零件可以用剩磁法探傷。43.()干式顯像也稱干粉顯像，主要用于熒光滲透B、錯(cuò)誤45.()在蘭姆波的作用下，板的振動(dòng)又分為兩種，A型是對(duì)稱型蘭姆46.()20g中的"20"表示此鋼中的平均含碳量約為20%。47.()鍛件探傷靈敏度的校準(zhǔn)方法一般采用底波法和試塊法。B、錯(cuò)誤48.()鑄件中一般允許存在的缺陷尺寸較大，數(shù)量A、正確B、錯(cuò)誤49.()半波透聲層是指使耦合層厚度為其半波長的奇數(shù)倍。B、錯(cuò)誤50.()X射線管陰極由鎢制作的陰極頭和由銅制作的燈絲組成。B、錯(cuò)誤51.()數(shù)字超聲波探傷儀的顯示器不需要傳統(tǒng)的示波管。B、錯(cuò)誤52.()超聲波自動(dòng)探傷中常用絕對(duì)靈敏度法測(cè)長。53.()《蒸汽鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定封頭、下腳圈的拼接焊縫的無損檢測(cè)應(yīng)在加工成型后進(jìn)行。B、錯(cuò)誤55.()檢測(cè)時(shí)使用的反差增強(qiáng)劑噴灌性能好，可以不經(jīng)過質(zhì)量認(rèn)證。B、錯(cuò)誤56.()計(jì)算機(jī)工具軟件是軟件開發(fā)、實(shí)施和維護(hù)過程中須使用的程序，如系統(tǒng)檢測(cè)軟件、病毒防治軟件等。57.()磁粉探傷-橡膠鑄型法只適用于連續(xù)法。A、正確B、錯(cuò)誤58.()觀察缺陷磁痕，當(dāng)辨認(rèn)細(xì)小缺陷時(shí)，應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀A、正確59.()V型槽和其他切割槽具有表面開口的線性缺陷的特點(diǎn)，不適用于鋼管的橫波檢驗(yàn)。B、錯(cuò)誤B、錯(cuò)誤61.()滲透液與受檢材料表面的接觸角影響滲透液的缺陷截留。B、錯(cuò)誤63.()檢測(cè)T形焊接接頭時(shí)，可利用腹板底波或試塊調(diào)節(jié)直探頭掃描64.()超聲波探頭石英晶片不易磨損?？刹患颖Ｗo(hù)膜。65.()透照工件時(shí)，一般在暗盒后面放張薄鉛B、錯(cuò)誤66.()采用聚焦探頭利用端點(diǎn)衍射回波法測(cè)定裂紋的高度，可獲得較B、錯(cuò)誤A、正確B、錯(cuò)誤A、正確B、錯(cuò)誤69.()焊條電弧焊橫焊時(shí)，采用多層多道焊能比較容易地防止液態(tài)金70.()觀察底片時(shí)的評(píng)定區(qū)域就是焊縫。A、正確B、錯(cuò)誤71.()任何材料對(duì)射線強(qiáng)度都有程度不同的削弱，原子序數(shù)低或密度72.()滲透檢測(cè)通用工藝規(guī)程應(yīng)涵蓋所有產(chǎn)品的檢測(cè)范圍。B、錯(cuò)誤73.()鍛件中非金屬夾雜物的取向一般是垂直于鍛造時(shí)的變形方向。A、正確B、錯(cuò)誤74.()非相關(guān)顯示和偽顯示不影響工件的使用性能。B、錯(cuò)誤A、正確B、錯(cuò)誤76.()產(chǎn)生的三角反射波會(huì)干擾缺陷波的判別。B、錯(cuò)誤77.()到波源的距離x>b的區(qū)域稱為未擴(kuò)散區(qū)。A、正確B、錯(cuò)誤78.()ASTME1417《滲透檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)方法》是美國機(jī)械工程師協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)。A、正確B、錯(cuò)誤B、錯(cuò)誤81.()X射線管管電流的調(diào)節(jié)是通過調(diào)節(jié)燈絲加熱電流來實(shí)現(xiàn)的。A、正確B、錯(cuò)誤82.()吸收劑量的大小取決于電離輻射的能量，與被照射物質(zhì)本身的B、錯(cuò)誤83.()存儲(chǔ)深度與采樣頻率決定數(shù)字超聲波的檢測(cè)范圍大小，在一定84.()無損檢測(cè)委托單是檢測(cè)、評(píng)定和出具報(bào)告的依據(jù)。B、錯(cuò)誤85.()超聲波的頻率取決于晶片振動(dòng)的頻率。B、錯(cuò)誤87.()鐵碳合金發(fā)生共析反應(yīng)時(shí)，從奧氏體中析出鐵素體和滲碳體。89.()強(qiáng)度是表示金屬在受外力作用下抵抗變形和破壞的能力。B、錯(cuò)誤90.()檢測(cè)安全防護(hù)作業(yè)場(chǎng)所分為專用探傷室和現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)兩大類。91.()超聲波探頭內(nèi)吸收塊的主要作用是使盲區(qū)變小。B、錯(cuò)誤92.()熒光滲透檢測(cè)使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊可以用于著色滲透檢測(cè)，反之亦B、錯(cuò)誤93.()滲透檢測(cè)工藝卡對(duì)應(yīng)本單位產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和檢測(cè)能力進(jìn)行編94.()低碳鋼焊縫金屬的二次結(jié)晶組織為鐵素體加大量珠光體。B、錯(cuò)誤95.()溶劑去除型滲透劑用清洗劑去除，可用清洗劑直接在被檢面上A、正確B、錯(cuò)誤97.()小徑管接觸法檢測(cè)適用于單件小批量及規(guī)格多的情況。98.()對(duì)于不能放進(jìn)螺管線圈的大型工件，不能采用繞電纜法進(jìn)行磁99.()將退磁的工件從通電的磁化線圈中緩慢抽出，直至工件離開線A、正確100.()被顯像劑吸附上來的滲透劑，厚度達(dá)到某一值時(shí)，再增加其厚B、錯(cuò)誤101.()缺陷定量方法中的當(dāng)量法用于缺陷尺寸大于聲束截面的情況。A、正確B、錯(cuò)誤102.()焊接工藝評(píng)定應(yīng)以可靠的鋼材焊接性能為依據(jù)，并在產(chǎn)品施焊顏色潔白等特點(diǎn)。B、錯(cuò)誤105.直探頭的吸收快可以吸收晶片背面的雜波，降低信噪比。106.我們目前常用的黑度計(jì)是數(shù)顯式黑白密度計(jì)。B、錯(cuò)誤108.弧光中的紅外線可引起電光性眼炎，俗稱"打眼"。B、錯(cuò)誤110.應(yīng)用水浸多次重合法探傷可以減少近場(chǎng)區(qū)影響，還可以根據(jù)多次111.用承壓設(shè)備進(jìn)行滲透檢測(cè)的目的主要是檢查疲勞裂紋和應(yīng)力腐B、錯(cuò)誤114.壓電晶片的作用只是發(fā)射超聲波。B、錯(cuò)誤115.射線膠片不受硫化氫、煤氣和乙炔等任何有害氣體的影響。116.測(cè)出的傳輸修正值就是表面耦合損失。A、正確B、錯(cuò)誤117.金屬材料的含碳量越高，它的可焊性越好，焊縫越不容易產(chǎn)生裂118.X射線管的強(qiáng)度與陽極靶材料的厚度有關(guān)。B、錯(cuò)誤119.目前數(shù)字智能化探傷儀通過示波管顯示模擬波形，可進(jìn)行數(shù)字調(diào)節(jié)與處理，兼有模擬與數(shù)字儀器的特點(diǎn)，但不能利用錄像設(shè)備記錄動(dòng)A、正確B、錯(cuò)誤120.珠光體是由鐵素體和滲碳體組成的機(jī)械混合物。B、錯(cuò)誤121.使用過濾性微粒滲透液對(duì)石墨制品進(jìn)行滲透檢測(cè)時(shí)，可不用顯像劑而實(shí)現(xiàn)自顯像。B、錯(cuò)誤122.數(shù)字智能化探傷儀一般要經(jīng)過檢測(cè)、計(jì)算、記錄等過程，檢測(cè)效B、錯(cuò)誤123.在實(shí)際檢測(cè)中，隨著有機(jī)玻璃斜楔磨損會(huì)引起入射角變化，使檢測(cè)靈敏度提高。B、錯(cuò)誤124.溶劑懸浮濕式顯像劑的顯像靈敏度最高。125.在磁性檢測(cè)中，被測(cè)磁場(chǎng)中的磁噪聲屬于無用信號(hào)。B、錯(cuò)誤126.靜態(tài)滲透參量就是接觸角大于等于5°時(shí)滲透劑的表面張力。A、正確B、錯(cuò)誤128.接觸法檢測(cè)小口徑管時(shí)，為了提高檢測(cè)靈敏度，可以采用接觸聚129.高速運(yùn)動(dòng)的電子同靶原子的軌道電子碰撞時(shí)，有可能將原子內(nèi)層的一個(gè)電子擊到未被電子填滿的外層軌道上，其外層的電子向內(nèi)層躍B、錯(cuò)誤130.管電壓的高壓波形越接近恒壓，X射線產(chǎn)生效率也就越接近穩(wěn)定A、正確B、錯(cuò)誤131.磁粉探傷-橡膠鑄型法使用油基載液。B、錯(cuò)誤132.射線通過物質(zhì)時(shí)的強(qiáng)度衰減無規(guī)律性。A、正確B、錯(cuò)誤133.選擇滲透檢測(cè)劑系統(tǒng)時(shí)，首先要求滿足檢測(cè)需要的靈敏度。134.1Bq(貝可)是表示在1秒的時(shí)間內(nèi)一個(gè)原子核發(fā)生的衰變。135.滲透檢測(cè)中顯示是缺陷存在的反映，所有的顯示都是由缺陷引起B(yǎng)、錯(cuò)誤136.磁性CT檢測(cè)技術(shù)與射線、紅外、超聲波CT不同。B、錯(cuò)誤137."非離子型"乳化劑的黏度隨含水量的增加而降低。138.為減小超聲波通過介質(zhì)的衰減，宜采用高頻率探頭進(jìn)行探傷。A、正確140.石墨類制品經(jīng)過浸銅等工藝處理后，制品中的細(xì)微孔洞被填充，可以用常規(guī)的滲透檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。B、錯(cuò)誤141.堿性焊劑的堿度越高，所形成的焊縫質(zhì)量越好。A、正確B、錯(cuò)誤142.變頻X射線機(jī)比工頻X射線機(jī)的功耗大、效率高。143.磁路的磁阻與磁路的橫截面積及其磁路的磁性材料的磁導(dǎo)率成144.電磁波和機(jī)械波的傳播波源不同。A、正確B、錯(cuò)誤146.對(duì)于環(huán)焊縫，知道了一次透照長度可以推算出一周的至少曝光次A、正確B、錯(cuò)誤B、錯(cuò)誤148.壓電晶體質(zhì)量的好壞會(huì)關(guān)系到探頭聲場(chǎng)對(duì)稱性型、分辨力、信噪149.來自暗盒正面的散射稱為前散射。A、正確150.采用雙壁單影法透照時(shí)，像質(zhì)計(jì)如不能放在近射線源側(cè)，就放在B、錯(cuò)誤151.時(shí)間繼電器的指針正常行走，在其零點(diǎn)位置安裝一個(gè)時(shí)鐘零位開B、錯(cuò)誤152.1Cr18Ni9Ti是奧氏體不銹鋼。153.對(duì)比試塊材料的透聲性、聲速、聲衰減等應(yīng)盡可能與被檢工件相154.缺陷長軸方向與工件軸線或母線的夾角大于或等于30°角時(shí)，按縱向缺陷處理。155.反射波超過評(píng)定線，檢驗(yàn)人員判為裂紋等危險(xiǎn)性缺陷的工件為不A、正確B、錯(cuò)誤答案：A156.遲到波總是出現(xiàn)在特定的位置，因此可作為遲到波的判別依據(jù)。A、正確答案：A157.超聲波儀器的動(dòng)態(tài)范圍是指儀器示波屏容納信號(hào)大小的能力。A、正確答案：A底面回波達(dá)到最高時(shí)斜楔底面與試塊圓心的重合點(diǎn)就是該探頭的入A、正確B、錯(cuò)誤159.陽極罩的另一作用主要是吸收一部分散亂射線。160.所謂紫外線是一種波長比可見紫光更長的不可見光。B、錯(cuò)誤161.滲透檢測(cè)按溶解染料的基本溶劑分類可分為水基滲透法與油基滲透法兩類。B、錯(cuò)誤162.探傷掃描速度的深度調(diào)節(jié)法是指示波屏上的水平刻度值與反射體深度成正比。163.探頭的折射角是通過在標(biāo)準(zhǔn)試塊上測(cè)定探頭的K值獲得的。B、錯(cuò)誤164.滲透劑中熒光染料濃度越高，熒光強(qiáng)度越高，滲透劑價(jià)格也越低。A、正確B、錯(cuò)誤166.定位標(biāo)記包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記。B、錯(cuò)誤167.普通X射線管的有效焦點(diǎn)只有實(shí)際焦點(diǎn)的1/3。A、正確B、錯(cuò)誤168.管材水浸法探傷要求管材中聲束入射角在第二臨界角之外。169.磁粉探傷能直觀地顯示缺陷的位置、形狀、大小和嚴(yán)重程度。170.鍛件檢測(cè)靈敏度的校準(zhǔn)方法一般采用底波法和試塊法。B、錯(cuò)誤171.焊縫引弧處和熄弧處易產(chǎn)生細(xì)微的火口裂紋，應(yīng)特別注意觀察。A、正確B、錯(cuò)誤172.X射線的產(chǎn)生效率等于連續(xù)X射線的總強(qiáng)度IT與管電壓U和管電流I的乘積之比。174.無損檢測(cè)通用工藝規(guī)程就是工藝卡。A、正確B、錯(cuò)誤175.不完全退火是將鐵碳合金加熱到Acl以下的溫度，達(dá)到不完全奧大反射波為基準(zhǔn)。B、錯(cuò)誤177.高溫探頭可在800℃以上的高溫條件下進(jìn)行探傷。178.光電效應(yīng)中，光子以全部能量轉(zhuǎn)換成電子動(dòng)能。179.目前配制磁懸液使用高黏度、高閃點(diǎn)的無臭味煤油做載液。B、錯(cuò)誤180.某些晶體材料在交變電場(chǎng)作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應(yīng)稱為正壓181.當(dāng)磁感應(yīng)線通過空氣和鋼兩種介質(zhì)時(shí)，在空氣中磁感應(yīng)線實(shí)際上是與界面平行的。B、錯(cuò)誤182.在給定管電壓的條件下，射線強(qiáng)度僅與管電流成正比。183.熒光滲透液中的乳化劑含量越高，越容易清洗，檢驗(yàn)靈敏度越高。184.γ射線探傷設(shè)備不受溫度、壓力、磁場(chǎng)等外界條件影響，可連續(xù)A、正確185.在磁粉探傷中，無論用觸頭法還是磁軛法都能有效地發(fā)現(xiàn)對(duì)接焊縫表面的縱向裂紋。B、錯(cuò)誤186.退磁的零件應(yīng)從磁場(chǎng)中沿著直線退出1m。A、正確B、錯(cuò)誤187.原子是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小顆粒，它的質(zhì)量極其微小。189.可以采用噴丸處理被檢工件表面，銹蝕等污物清理徹底，容易檢190.弧坑裂紋有時(shí)呈放射形。B、錯(cuò)誤191.低溫回火可降低淬火鋼的脆性，消除部分淬火內(nèi)應(yīng)力，得到回火B(yǎng)、錯(cuò)誤192.單探頭探傷法雖然只用一個(gè)探頭，卻起到兩個(gè)探頭的作用。193.聲音能反映物體內(nèi)部某些性質(zhì)。194.線圈法適用于短工件的磁粉探傷。B、錯(cuò)誤195.波的干涉就是兩列相同的波在介質(zhì)中相遇，互相疊加，導(dǎo)致介質(zhì)振動(dòng)只加強(qiáng)不減弱。196.擴(kuò)散角度與探頭的直徑有關(guān)。A、正確B、錯(cuò)誤197.降低溫度有利于增強(qiáng)物理吸附作用。198.加工好的對(duì)比試塊應(yīng)測(cè)試其外形尺寸公差，并采用硅橡膠覆型的方法觀察孔底形狀和尺寸誤差。B、錯(cuò)誤199.袖珍式磁強(qiáng)計(jì)是利用力矩原理做成的簡易測(cè)磁儀，是用來測(cè)量磁場(chǎng)強(qiáng)度的儀器。200.缺陷的容積越大，容納的滲透液越多，留在缺陷中輸送