超聲波考試工藝題答案

工藝題1

對(duì)一在制高壓容器機(jī)加工鍛件造封頭

進(jìn)行超聲波檢測(cè)，具體尺寸見工藝卡中圖，

鍛件材料牌號(hào)：20MnMo；超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)為:

JB/T4730.3-2005；鍛件合格等級(jí)按H級(jí)驗(yàn)

收。

超聲波檢測(cè)工藝卡

令號(hào)RD2005-試件名封頭

06稱

規(guī)格4)1200厚度350

(mm)(mm)

材質(zhì)20MnMo檢測(cè)比100%

例

檢測(cè)時(shí)機(jī)械加工檢測(cè)標(biāo)JB/T4730.3

機(jī)前準(zhǔn)-2005

合格級(jí)n儀器型CTS-22

別號(hào)

探頭型2.5P25Z試塊種大平底

號(hào)類

耦合方直接接觸耦合劑漿糊

式法

表面狀Ra<6.3U表面補(bǔ)OdB

態(tài)m償

檢測(cè)面應(yīng)檢測(cè)方向1、2應(yīng)（參考）

檢測(cè)方向3

?★）

掃描線按深度21：4調(diào)節(jié)掃按深度

調(diào)節(jié)描線6調(diào)節(jié)掃描

線

檢測(cè)靈350/62600/62

敏度

靈敏度350mm處大平底與350mm處大

調(diào)節(jié)說62坪工底五，的分貝差平底與600/

明為42,1B,：將350mm4>2平底孔

處大平底的回波調(diào)的分貝差為

整至1h基準(zhǔn)52dB,將

波高,再好亙益42dB。350mm處大

平底的回波

調(diào)整到基波

高，再增益

52dBo

編制XX審XXX日X年X

X核期月義日

1、探頭型號(hào)：4.2.2條規(guī)定：單晶直探頭公

稱頻率應(yīng)選用2MHz?5MHz,探頭晶片一

般為：。14?<t>25mm。

2、檢測(cè)時(shí)機(jī)與表面狀態(tài)見：4.2.4條規(guī)定：

檢測(cè)原則上應(yīng)安排在熱處理后，孔、臺(tái)等結(jié)

構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行，檢測(cè)面的表面粗糙度Ra

/6.3Um。

3、檢測(cè)方法見4.2.5.1規(guī)定：一般原則：鍛

件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)，對(duì)筒型和環(huán)形鍛件還應(yīng)

增加橫波檢測(cè)，由于本題鍛件不屬于筒型和

環(huán)形鍛件，故僅作縱波檢測(cè)。

4、檢測(cè)面（檢測(cè)方向）見4.2.5.2-a）b）

圖7之d）。

5、靈敏度調(diào)節(jié)：見P76?77—4.2.6

試塊；若壁厚3V45mm；用CSII型試塊,

若6245mm時(shí)則用CSI型試塊，本題鍛

件厚度為350mm>45mm,故可用CSI型

試塊或用大平底調(diào)節(jié)靈敏度，但大平底調(diào)節(jié)

靈敏度的前提是檢測(cè)部位的厚度大于或等

于3倍近場區(qū)長度且檢測(cè)面與底面平行。

計(jì)算近場區(qū)：N=D2/4X=252/4X2.36=

66.2mm,3N=198.6mmV350mm,故可用

大平底調(diào)節(jié)靈敏度。

(1)求350/。2大平底/平底孔分貝差：

2

△db=201ogP35o/P^2=201og2XX/n4>=2

X2.36X350/3.14X22=42.3(db)

(2)求600/。2平底孔/350大平底分貝差:

△db=201ogP35()/P。2+401og600/350=201og2

入X/冗62+9.36

=2X2.36X350/3.14X22+9.36=51.6

(db)

工藝題2

有一塊16MnR鋼板規(guī)格為4200X2700

X90mm,用于制作壓力容器筒節(jié)，下料尺

寸為：

4000X2700mm,要求進(jìn)行縱波和橫波超聲

波檢測(cè)，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)為：JB/T4730.3-2005,

II級(jí)合格?，F(xiàn)有設(shè)備如下：

(1)儀器：CTS—22型

(2)探頭：2.5P12Z、2.5P20Z、2.5P30Z、

5.0P12Z、5.0P20Z、5.0P30Z;

2.5P14X14K1>2.5P20X20K1、

2.5P25X25K1、

5.0P14X14Kl>5.0P20X20Kl>

5.0P25X25K1；

(3)試塊：CBII-1>CBII-2>CBII

一3、CBII—4、CBII-5>CBII—6、CB

I

(4)耦合劑：水、化學(xué)漿糊、機(jī)油

請(qǐng)對(duì)下列工藝卡進(jìn)行審核，發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的

地方請(qǐng)予以糾正并把正確的結(jié)果寫在相應(yīng)

的“訂正”空格里。

超聲波檢測(cè)工藝卡

令化600試件鋼板

號(hào)名稱

規(guī)4200X2700厚度90

格(mm

()

mm

)

材16MnR檢測(cè)下料前

質(zhì)時(shí)機(jī)

檢JB/T4730.3-合格II級(jí)

測(cè)2005級(jí)別

標(biāo)

準(zhǔn)

儀CTS-22表面軋制面

器狀態(tài)

型

號(hào)

耦化學(xué)漿糊或機(jī)表面0

合油補(bǔ)償訂正：4或?qū)?/p>

劑(dB)測(cè)

探2.5P30Z試塊CBII-4

波頭訂正：訂正：CBH一

檢2.5P20Z3

測(cè)靈深度90mm65平底孔反射波調(diào)至

敏80%

度訂正：深度50mm。5平底孔第一

調(diào)次反射波調(diào)至50%

節(jié)

掃75mm間距掃查坡口線兩側(cè)

查平行線掃泰2各50mm內(nèi)作

方查100%掃查

式訂正：/訂正：/

1

探5.0P20X試塊U型槽試塊

波頭20K1

檢訂正：訂正：V型槽

測(cè)2.5P20X試塊

20K1

槽1mm校驗(yàn)1/2跨距、全

深跨距跨距

訂正：訂正：1/2跨

2.7mm距、全跨距、

3/2跨距

掃200mm間掃查坡口線兩側(cè)

查距平行線出250mm內(nèi)

方掃查100%掃查

式訂正：訂正：無此項(xiàng)要求

1200mm間

距格子線

掃查

坡口預(yù)定線檢測(cè)位置

訂正:

說明：采用液浸法檢

測(cè)時(shí)，應(yīng)選擇水層厚

度和重合次數(shù)

編制XX審核XX日期X年X

XX月義日

訂正依據(jù):

縱波檢測(cè)：

1）表面補(bǔ)償：336靈敏度補(bǔ)償條;

2）探頭:見4.121表1第3行規(guī)定：＞40?

250mm,單晶直探頭，2.5MHz,4）20m

m?625mm。

3）試塊：見表2鋼板厚度＞60?100mm,

使用CBII-3型試塊，本題鋼板厚度為

90mm,故適用本條規(guī)定。

4）靈敏度調(diào)節(jié)與上條規(guī)定相同，CBII-3

型試塊孔深為50mmo

5）掃查方式1、2見4.L5.3條a）b）條規(guī)

定，工藝卡內(nèi)容與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定相符，故無須

訂正。

橫波檢測(cè)：見附錄B

1）探頭：見附錄B之B2.1、B2.2條規(guī)定。

2）試塊：見附錄B之B3.2條規(guī)定。

3）槽深：見附錄B之B3.2條規(guī)定，槽深

為板厚的3%（本題板厚為90mm,故槽

深為2.7mm）。

4）校驗(yàn)跨距：：見附錄B之B4.2之B4.2.1

5）掃查方式1：見附錄B之B5.1規(guī)定。

6）因?yàn)殇摪鍨閴毫θ萜鞯耐补?jié)制作用板

材，故四周均需掃查。

工藝題3

某鍛件如圖所示，材質(zhì)SA387Gr22cl3（低

合金鋼），機(jī)加工后要求進(jìn)行超聲檢測(cè)，執(zhí)

行標(biāo)準(zhǔn)：JB/T4730.3—2005,驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：底

波降低量I級(jí)，其他缺陷n級(jí)。請(qǐng)?zhí)顚懸韵?/p>

工藝卡：

超聲波檢測(cè)工藝卡

試鍛件規(guī)格見圖

件(mm)

名

稱

材SA387Gr22C表面狀機(jī)加工

質(zhì)13態(tài)

檢100%檢測(cè)時(shí)機(jī)加工前

測(cè)機(jī)

比

例

檢JB/T4730.3合格級(jí)底波降低量I

測(cè)-2005別級(jí)，其他缺陷n

標(biāo)級(jí)

準(zhǔn)

儀CTS-22耦合劑漿糊、機(jī)油

器

型

號(hào)

掃1234,5

查

面

探2.5P14Z2.5P145P14FG102.5P1

頭ZZ4X

16K1

試CSI或大平CSICSIIV型

塊底或大平槽試

底塊

耦試塊4dB,試塊4dBOdB

合大平底OdB4dB,

補(bǔ)大平底

償OdB

靈用CSI試塊用cs用csn一在試

敏制作DAC曲I試塊2試塊制塊外

度線,提高4dB制作作DAC曲圓面

調(diào)掃查；或用大DAC線，提高用內(nèi)

節(jié)平底校驗(yàn)，提曲線，4dB掃查外壁

、乂

說高28dBo提高V型

明4dB掃槽制

查；或作

用大平DAC

底校曲

驗(yàn)，提線。

高

33dBo

掃624>24>2DAC

查

靈6dB

敏

度

掃查示意圖：

注:如果使用2.5P20Z探頭,則3N=127mm,

方向1、2必須使用CSI試塊校驗(yàn)。

編XXX審核XXX日期：X

制年X月X

日

(1)掃查面：見圖7之f),縱波檢測(cè)方

向1、2、3,橫波檢測(cè)方向?yàn)?、5(本

題工件為環(huán)形鍛件，故需作橫波檢測(cè),

見P75之4.251規(guī)定)；

(2)探頭：位置1、2使用探頭參數(shù)見

P73-4.2.2,其中位置1的壁厚為

65mm>45mm,故用單直探頭，又考

慮到若使用2.5P20Z探頭，則3N=

127mm,方向1、2必須使用CSI試

塊校驗(yàn)，而用2.5P14Z探頭時(shí)，3N=

62.3mm<65mm,則既可用CSI試

塊，又可用大平底調(diào)節(jié)靈敏度，故采

用2.5P14Z；同理，位置2的壁厚(515

—298)/2=108.5mm>45mm，亦用

2.5P14Z探頭，此時(shí)既可用CSI試塊,

又可用大平底調(diào)節(jié)靈敏度；位置3的

壁厚為(360-298)/