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文檔簡介
1、假設所選探頭和試塊如下:1.雙晶探頭5P20,F(xiàn)102.試塊:階梯試塊DB-D1b操作步驟:1.按鍵,在通道選擇狀態(tài)下,轉動旋輪選擇某一通道,然后清空該通道。2.選擇探頭類型為雙晶探頭,分別設置探頭頻率為5MHz和探頭晶片尺寸為20mm3.將檢測范圍設置為50mm;將材料聲速設置為5920m/s。4.單擊進入探頭零偏校準界面,設置起始距離為12mm,終止距離為24mm,(或選擇與探頭焦點深度相近的試塊上兩處底波作為起始距離與終止距離);將探頭在階梯試塊上移動,找到12mm處的大平底回波,由于雙晶探頭零偏較大,目標回波可能不在閘門內(nèi),甚至不在屏幕顯示范圍內(nèi),此時可調(diào)節(jié)檢測范圍和閘門,使兩個閘門分
2、別鎖定一次回波和二次回波,并調(diào)節(jié)增益使一次回波到80%高度。最后,選擇零偏聲速并按鍵,完成探頭零偏和材料聲速的校準。5.存儲校準后的系統(tǒng)參數(shù)到當前參數(shù)通道文件。雙晶探頭DAC。如需制作DAC曲線,在探頭零偏聲速校準完成后,可以按照斜探頭DAC曲線的制作方法,制作雙晶探頭DAC曲線。注:雙晶探頭存在焦點深度,測零偏聲速時注意選取與焦點深度接近的試塊作為起始距離,否則測得的零偏聲速誤差可能較大。雙晶探頭的正確使用方法及射頻方式檢測表面缺陷來源:微波在線瀏覽:666次時間:2014-03-05近日,不少客戶在利用雙晶探頭對薄板母材探傷的過程中,打電話給我們咨詢?nèi)绾握_選擇和使用雙晶探頭探傷。本文分三
3、個部分和大家一起探討“雙晶探頭的結構和工作原理”、“如何正確選擇雙晶探頭”、“射頻檢波方式的表面探傷應用”。1、雙晶探頭的結構和工作原理一般來講,一個探頭殼體內(nèi)裝有兩個晶片的探頭我們稱之為雙晶探頭,又稱分割式探頭。由兩個縱波晶片組合成的雙晶探頭稱為縱波雙晶探頭,又稱雙晶直探頭;由兩個橫波晶片組成的雙晶探頭稱為橫波雙晶探頭,又稱雙晶斜探頭。這兩種雙晶探頭中,雙晶直探頭的應用較為廣泛,以下以雙晶直探頭為例重點探討雙晶直探頭的結構和工作原理:雙晶直探頭的兩個縱波晶片一個用于發(fā)射超聲,一個用于接收超聲(圖一)。發(fā)射壓電晶片大都采用發(fā)射性能好的鋯鈦酸鉛,接收壓電晶片大都采用接收性能好的硫酸鋰。區(qū)別于單晶
4、探頭而言,雙晶探頭的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度都更高。雙晶探頭的兩個晶片之間有一片吸聲性強、絕緣性好的隔聲層,它不僅用于克服發(fā)射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞,而且能使脈沖變窄、分辨率提高、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進入接收晶片,有效減少雜波。(圖一)由于雙晶探頭的發(fā)射部分和接收部分都帶有延遲塊,能使探傷盲區(qū)大幅減小,故雙晶探頭對表面缺陷的探傷十分有利。2、如何正確選擇雙晶探頭a、探頭頻率的選擇超聲的發(fā)射頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測能力。頻率高時,波長短,聲束指向性好,擴散角較小,能量集中,因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力則比較強、分辨力好、缺陷定位準確。但高頻率超聲在材料中衰減較大,穿透能
5、力較差,反之亦然。由于雙晶探頭適用于較薄工件的探傷,不需要較強的穿透力。因此可以采用較高頻率的探頭。對于鍛件,板材,棒材等晶粒細小的工件,可以采用5MHz的雙晶探頭(若被檢工件表面較粗糙,高頻超聲散射較大,不易射入,則容易出現(xiàn)林狀回波)。對于晶粒粗大,超聲散射嚴重的材料,如奧斯體不銹鋼和鑄造件等,頻率高時,也會出現(xiàn)晶界引起的林狀回波,致使無法探傷,對于這一類材料,建議選用1MHz2.5MHz的低頻率雙晶探頭。b、晶片尺寸的選擇從以上介紹的雙晶探頭的工作原理來看,雙晶探頭探傷主要取決于雙晶探頭的聲能集中區(qū),跟晶片的大小沒有直接的關系。雙晶探頭的晶片大小,只與工件探測面積的大小有關,當檢測面積大時
6、,為了提高探傷效率,宜采用晶片尺寸較大的探頭,如?14mm,?20mm等。當檢測面積較小,或者檢測面帶有一定曲率的情況下,為了減少耦合損失宜用晶片尺寸小的探頭。c、焦距的選擇雙晶探頭的兩個晶片都有一定的傾斜角度。發(fā)射聲束與接收聲束必然會產(chǎn)生相交,形成棱形的區(qū)域,此區(qū)域即為探傷區(qū)域(圖二)。(圖二)處于棱形區(qū)的缺陷,其反射信號強,同時對于同樣大小的缺陷,位于棱形區(qū)中心時,反射信號最強。因此在實際探傷過程中,要根據(jù)被檢工件的厚度選取適當?shù)慕咕?。焦距越小,則對薄工件的探傷越有利。一般來說,選擇雙晶探頭的焦距小于被檢工件厚度510mm左右。3、射頻檢波方法的表面探傷應用雙晶探頭的探傷方法與直探頭基本相同,這里著重介紹利用雙晶探頭和數(shù)字超聲探傷儀的射頻檢波方式檢測表面缺陷。傳統(tǒng)超聲探傷儀的檢波方式大都為正弦波檢波或者全波檢波,此兩種檢波方式在薄板探傷時,由于儀器設
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