實(shí)驗(yàn)四 觸發(fā)器參數(shù)與功能測(cè)試.doc

實(shí)驗(yàn)四 觸發(fā)器參數(shù)與功能測(cè)試班級(jí)： 姓名： 學(xué)號(hào)： 實(shí)驗(yàn)臺(tái)： 實(shí)驗(yàn)日期： -1、 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?.熟悉基本R-S觸發(fā)器、D觸發(fā)器、J-K觸發(fā)器的邏輯功能和測(cè)試方法。2.學(xué)會(huì)正確使用觸發(fā)器集成芯片。3.掌握觸發(fā)器邏輯功能的轉(zhuǎn)換。2、 實(shí)驗(yàn)儀器及器件1.儀器：數(shù)字電路學(xué)習(xí)機(jī)，雙蹤示波器2.器件：74LS00 二輸入端四與非門(mén) 1片 74LS74 雙D觸發(fā)器 1片 74LS112 雙J-K觸發(fā)器 1片3、 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1.基本R-S觸發(fā)器邏輯功能測(cè)試： 用兩個(gè)TTL與非門(mén)首尾相接構(gòu)成基本R-SR-S觸發(fā)器的電路如圖4.1所示。操作順序Q邏輯功能101211310411(1) 根據(jù)表4.1的要求，在、端加信號(hào)（必須嚴(yán)格按順序執(zhí)行），觀察并記錄R-S觸發(fā)器的Q、端的狀態(tài)。（2）當(dāng)、都接低電平時(shí)，觀察Q、非端的狀態(tài)。當(dāng)、同時(shí)由低電平跳為高電平時(shí)，注意觀察Q、端的狀態(tài)。重復(fù)35次，看Q、端的狀態(tài)是否相同，以正確理解“不定”狀態(tài)的含義。2.JK觸發(fā)器功能測(cè)試：74LS112是一個(gè)雙JK型下降沿觸發(fā)器，每個(gè)器件包含兩個(gè)相同的、相互獨(dú)立的JK觸發(fā)器。（1）異步置位端和異步復(fù)位端的功能測(cè)試。J、K、分別接邏輯開(kāi)關(guān)，CP接單脈沖，Q和分別接發(fā)光二極管。按表格的要求給出輸入信號(hào)，觀察輸出端的狀態(tài)Qn+1，并將結(jié)果記錄于表4.2a中。CPJKQnQn+1XXX00110101實(shí)驗(yàn)時(shí), 先將、端都放在高電平的位置上，通過(guò)J、K、CP將Q置為初態(tài)Qn，再使、為表格要求的數(shù)值，觀察Q的次態(tài)Qn+1，并記錄在表格中。然后任意改變J、K、CP端狀態(tài)，觀察輸出端狀態(tài)是否改變？（2）邏輯功能測(cè)試。J、K、分別接邏輯開(kāi)關(guān)，CP接單脈沖，Q和分別接發(fā)光二極管。按表格的要求給出輸入信號(hào)，觀察輸出端的狀態(tài)Qn+1，并將結(jié)果記錄于表4.2b 中。JKQnCPQn+1110X01X011實(shí)驗(yàn)時(shí), 先通過(guò)、端將Q置為初態(tài)Qn， 然后將、置“1”，然后再按表格給出J、K的狀態(tài)，最后給出單脈沖，觀察Q的次態(tài)Qn+1，并記錄在表格中。3.D觸發(fā)器功能測(cè)試：74LS74是一個(gè)雙D型上升沿觸發(fā)器，每個(gè)器件包含兩個(gè)相同的、相互獨(dú)立的D觸發(fā)器。 （1）異步置位端和異步復(fù)位端的功能測(cè)試。D、分別接邏輯開(kāi)關(guān)，CP接單脈沖，Q和分別接發(fā)光二極管。按表格的要求給出輸入信號(hào)，觀察輸出端的狀態(tài)Qn+1，并將結(jié)果記錄于表4.3b 中。CPDQnQn+101XX011001 測(cè)量方法與JK觸發(fā)器相同。 (2).邏輯功能測(cè)試。D、分別接邏輯開(kāi)關(guān)，CP接單脈沖，Q和分別接發(fā)光二極管。按表格的要求給出輸入信號(hào)，觀察輸出端的狀態(tài)Qn+1，并將結(jié)果記錄于表4.3b 中。DQnCPQn+111001101 測(cè)量方法與JK觸發(fā)器相同。 4.觸發(fā)器功能轉(zhuǎn)換（答案可寫(xiě)在報(bào)告的背面，畫(huà)出電路圖即可。） (1).將JK觸發(fā)器轉(zhuǎn)換成D觸發(fā)器、T觸發(fā)器和T觸發(fā)器，測(cè)試方法自定。 (2).將D觸發(fā)器轉(zhuǎn)換成JK觸發(fā)器、T觸發(fā)器和T觸發(fā)器，測(cè)試方法自定。4、 實(shí)驗(yàn)報(bào)告 1.整理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)并填表