標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 13694-1992 α-,β-平板標(biāo)準(zhǔn)源通用技術(shù)條件》是一項由中國發(fā)布的國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)定α和β輻射平板型標(biāo)準(zhǔn)源的技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運輸和儲存要求，以確保這些標(biāo)準(zhǔn)源的可靠性和一致性，適用于核儀表校準(zhǔn)、輻射防護監(jiān)測及放射性測量領(lǐng)域的質(zhì)量控制。

該標(biāo)準(zhǔn)具體內(nèi)容涵蓋以下幾個方面：

  1. 定義與分類：明確了α、β平板標(biāo)準(zhǔn)源的基本概念，以及按照放射性核素種類、活度范圍、材質(zhì)等進行的分類方法。

  2. 技術(shù)要求：

    • 放射性核素：規(guī)定了可使用的放射性核素種類及其純度要求，確保標(biāo)準(zhǔn)源的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
    • 活度：詳細(xì)說明了活度的測量方法、允許的誤差范圍以及活度均勻性的要求。
    • 物理形態(tài)與結(jié)構(gòu)：包括平板的標(biāo)準(zhǔn)尺寸、表面處理、封裝材料的選擇及其應(yīng)滿足的物理化學(xué)性能指標(biāo)，確保安全使用和長期穩(wěn)定性。
    • 輻射特性：規(guī)定了α、β粒子的能量分布、發(fā)射率及輻射防護要求。

  3. 試驗方法：介紹了如何對標(biāo)準(zhǔn)源進行活度測定、均勻性檢查、輻射特性測試等關(guān)鍵性能指標(biāo)的檢測方法，確保各項指標(biāo)符合規(guī)定要求。

  4. 檢驗規(guī)則：制定了產(chǎn)品出廠前的檢驗程序，包括抽樣檢驗、型式試驗和例行試驗的具體要求，以及不合格品的處理辦法。

  5. 標(biāo)志、包裝、運輸和儲存：規(guī)定了標(biāo)準(zhǔn)源的標(biāo)識內(nèi)容、包裝材料與方式、運輸過程中的安全防護措施，以及適宜的儲存條件，以防止污染、損傷或活度衰變影響其使用性能。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 13694-2008
  • 1992-09-29 頒布
  • 1993-08-01 實施
?正版授權(quán)
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文檔簡介

UDC621.039.564：389.14F51中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB13694-92a-,B-平板標(biāo)準(zhǔn)源通用技術(shù)條件Generalspecificationsofa-.B-planarstandardsources1992-09-29發(fā)布1993-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB13694-92-,B-平板標(biāo)準(zhǔn)源通用技術(shù)條件Generalspecificationsofa-,B-planarstandardsources1主題內(nèi)客與適用范甲本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了-,B-平板標(biāo)準(zhǔn)源(以下簡稱標(biāo)準(zhǔn)源)分級和通用技術(shù)條件。本標(biāo)準(zhǔn)適用于刻度核儀器和表面治污測量儀探測效率用的各類。,B-平板標(biāo)準(zhǔn)源.2引用標(biāo)準(zhǔn)非密封放射性物質(zhì)GB7161識別和證書GB11806放射性物質(zhì)安全運輸規(guī)定3術(shù)語3.1固體標(biāo)準(zhǔn)源放射性物質(zhì)牢固固定在源托上，其表面粒子發(fā)射率是由國家基準(zhǔn)或國家法定計量部門認(rèn)定的標(biāo)準(zhǔn)裝置、傳遞儀器測出的固體放射源。3.2表面粒子發(fā)射率單位時間內(nèi)，自源面或源窗發(fā)出的一定類型和能量的粒子數(shù)、3.3不均勾度將標(biāo)準(zhǔn)源活性面分成若干相等面積，分別測出各個面積的表面粒子發(fā)射率，不均勾度以各個面積表面粒子發(fā)射率的平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差來表示(通常以百分?jǐn)?shù)表示)。3.4湖源性指標(biāo)準(zhǔn)源的表面粒子發(fā)射率的總不確定度可以逐級追湖到更高一級標(biāo)準(zhǔn)，直至國家基準(zhǔn).分級“B標(biāo)準(zhǔn)源均可分為一級標(biāo)準(zhǔn)源，二級標(biāo)準(zhǔn)源和工作源。4.1一級標(biāo)準(zhǔn)源;表面粒子發(fā)射率系由國家基準(zhǔn)或法定計量部門認(rèn)定的一級標(biāo)準(zhǔn)裝置測量給出的源4.2二級標(biāo)準(zhǔn)源：表面粒子發(fā)射率系由法定計量部門認(rèn)定的裝置測量給出的源。4.3工作源：表面粒子發(fā)射率系由法定計量部門認(rèn)可的實驗室用傳遞儀器測量給出的源5技術(shù)條件5-1一般要求5.1.1標(biāo)準(zhǔn)源的源托應(yīng)采用平板狀導(dǎo)電材料，需光潔、平直。推薦下述尺寸：表面沽污測量儀刻度用標(biāo)準(zhǔn)源：80mmX80mm，120mmX170mm;核探測儀器刻度用標(biāo)準(zhǔn)源：外直徑20,35,60mm.5.1.2源活性層厚度應(yīng)盡量薄。根據(jù)源

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