半導體測試基礎(chǔ)-

1、第1章半導體測試基礎(chǔ)第1節(jié)基礎(chǔ)術(shù)語描述半導體測試的專業(yè)術(shù)語很多，這里只例舉部分基礎(chǔ)的：1. DUT需要被實施測試的半導體器件通常叫做DUT （Device Under Test,我們常簡 稱被測器件”），或者叫UUT （Unit Under Test）。首先我們來看看關(guān)于器件引腳的常識，數(shù)字電路期間的引腳分為“信號”、 “由漪”和“軸”二都分信號腳，包括話I、話出、三態(tài)和雙向四類，輸入：在外部信號和器件部邏輯之間起緩沖作用的信號輸入通道；輸入 管腳感應其上的電壓并將它轉(zhuǎn)化為部邏輯識別的“0和“1電 平。輸出：專芯片部邏輯和外部環(huán)境之間起緩沖作用的信號輸出通道；輸出 管腳提供正確的邏輯“0”或“

2、1”的電壓，并提供合適的驅(qū)動能 力（電流）。三態(tài)：輸出的一類，它有關(guān)閉的能力（達到髙電阻值的狀態(tài)）O雙向：擁有輸入、輸出功能并能達到髙阻態(tài)的管腳。電源腳，“電源”和“地”統(tǒng)稱為電源腳，因為它們組成供電回 路，有著與信號引腳不同的電路結(jié)構(gòu)。VCC： TTL器件的供電輸入引腳。VDD： CMOS器件的供電輸入引腳。VSS：為VCC或VDD提供電流回路的引腳。GND：地，連接到測試系統(tǒng)的參考電位節(jié)點或VSS,為信號引腳或其他電 路節(jié)點提供參考0電位；對于單一供電的器件，我們稱VSS為GNDo2. 測試程序半導體測試程序的目的是控制測試系統(tǒng)硬件以一定的方式保證被測器件達到 或超越它的那些被具體定義在器

3、件規(guī)格書里的設(shè)計指標。測試程序通常分為幾個部分，如DC測試、功能測試、AC測試等。DC測試驗 證電壓及電流參數(shù)；功能測試驗證芯片部一系列邏輯功能操作的正確性；AC測 試用以保證芯片能在特定的時間約束完成邏輯操作。程序控制測試系統(tǒng)的硬件進行測試，對每個測試項給岀pass或fail的結(jié)果。 Pass指器件達到或者超越了其設(shè)計規(guī)格；F“1則相反器件沒有達到設(shè)計要求, 不能用于最終應用。測試程序還會將器件按照它們在測試中表現(xiàn)岀的性能進行相 應的分類，這個過程叫做Binning” ,也稱為分Bin” .舉個例子，一個微 處理器，如果可以在150MHz下正確執(zhí)行指令，會被歸為最好的一類，稱之為“Bin 1

4、:而它的某個兄弟，只能在100MHz下做同樣的事情，性能比不上它，但是也 不是一無是處應該扔掉，還有可以應用的領(lǐng)域，則也許會被歸為Bin 2”，賣 給只要求100MHz的客戶。程序還要有控制外圍測試設(shè)備比如Handler和Probe的能力；還要搜集和 提供摘要性質(zhì)（或格式）的測試結(jié)果或數(shù)據(jù)，這些結(jié)果或數(shù)據(jù)提供有價值的信息 給測試或生產(chǎn)工程師，用于良率（Yield）分析和控制。第2節(jié)正確的測試方法經(jīng)常有人問道：“怎樣正確地創(chuàng)建測試程序？ ”這個問題不好回答，因為對 于什么是正確的或者說最好的測試方式，一直沒有一個單一明了的界定，某種情 形下正確的方式對另一種情況來說不見得最好。很多因素都在影響著

5、測試行為的 構(gòu)建方式，下面我們就來看一些影響力大的因素。測試程序的用途。下面的清單例舉了測試程序的常用之處，每一項都有其特殊要求也就需 要相應的測試程序：Wafer Test測試晶圓（wafer）每一個獨立的電路單元（Die）,這是半導體后段區(qū)分良品與不良品的第一道 工序,也被稱為“Wafer Sort、CP測試等.Package Test晶圓被切割成獨立的電路單元，且每個單元都被封裝出來后，需要經(jīng)歷此測試以驗證封裝過 程的正確性并保證器件仍然能達到它的設(shè)計指標，也稱為“Final Test、FT測試、成品測試等。Quality Assurance Test質(zhì)量保證測試，以抽樣檢測方式確保Pa

6、ckage Test執(zhí)行的正確性，即確保pass的中沒有不合格品。Device Characterization器件特性描述，決定器件工作參數(shù)圍的極限值。Pre/Post Burn-In在器件Burn-in” 之前和之后進行的測試，用于驗證老化過程有沒有引起一些參數(shù)的漂 移。這一過程有助于清除含有潛在失效（會在使用一段間后暴露出來）的芯片。軍品測試，執(zhí)行更為嚴格的老Miliary Test 化測試標準，如擴大溫度圍，并對測試結(jié)果進行歸檔。Incoming Inspection收貨檢驗，終端客戶為保證購買的芯片質(zhì)量在應用之前進行的檢查或測試。Assembly Verification封裝驗證，用

7、于檢驗芯片經(jīng)過了封裝過程是否仍然完好并驗證封裝過程本身的正確 性。這一過程通常在FT測試時一并實施。Fa訂ure Analysis失效分析，分析失效芯片的故障以確定失效原因，找到影響良率的關(guān)鍵因素，并提高芯片 的可靠性。測試系統(tǒng)的性能。測試程序要充分利用測試系統(tǒng)的性能以獲得良好的測試覆蓋率，一些測 試方法會受到測試系統(tǒng)硬件或軟件性能的限制。髙端測試機：髙度精確的時序一一精確的高速測試大的向量存儲器不需要去重新加載測試向復合 PMU (Parametric Measurement Unit)可進行并行測試，以減少測試時間活性可編程的電流加載簡化硬件電路，增加靈PerPin的時序和電平一一簡化測試

8、開發(fā)，減少測試時間低端測試機：低速、低精度一一也許不能充分滿足測試需求小的向量存儲器一一也許需要重新加載向量， 增加測試時間單個PMU 只能串行地進行DC測試，增加測 試時間均分資源(時序/電平)一一增加測試程序復雜 度和測試時間測試環(huán)節(jié)的成本。這也許是決定什么需要被測試以及以何種方式滿足這些測試的唯一的最 重要的因素，測試成本在器件總的制造成本中占了很大的比重，因此許多與測試 有關(guān)的決定也許僅僅取決于器件的售價與測試成本。例如，某個器件可應用于游 戲機，它賣15元；而同樣的器件用于人造衛(wèi)星，則會賣3500元。每種應用有其 獨特的技術(shù)規(guī)，要求兩種不同標準的測試程序o 3500元的器件能支持昂貴

9、的測 試費用，而15元的器件只能支付最低的測試成本。測試開發(fā)的理念。測試理念只一個公司部測試人員之間關(guān)于什么是最優(yōu)的測試方法的共同 的觀念，這卻決于他們特殊的要求.芯片產(chǎn)品的售價，并受他們以往經(jīng)驗的影響。 在測試程序開發(fā)項目啟動之前，測試工程師必須全面地上面提到的每一個環(huán)節(jié)以 決定最佳的解決方案。開發(fā)測試程序不是一件簡單的正確或者錯誤的事情，它是 一個在給定的狀況下尋找最佳解決方案的過程。第3節(jié)測試系統(tǒng)測試系統(tǒng)稱為ATE,由電子電路和機械硬件組成，是由同一個主控制器指揮 下的電源、計量儀器、信號發(fā)生器、模式(pattern)生成器和其他硬件項目的集合體，用于模仿被測器件將會在應用中體驗到的操作

10、條件，以發(fā)現(xiàn)不合格的產(chǎn) 口 口口 O測試系統(tǒng)硬件由運行一組指令（測試程序）的計算機控制，在測試時提 供合適的電壓、電流、時序和功能狀態(tài)給DLT并監(jiān)測DUT的響應，對比每次測試 的結(jié)果和預先設(shè)定的界限，做出pass或fail的判斷。測試系統(tǒng)的臟圖2-1顯示所有數(shù)字測試系統(tǒng)都含有的基本模塊，雖然很多 新的測試系統(tǒng)包含了更多的硬件，但這作為起點，我們還是拿它來介紹。“CPU”是系統(tǒng)的控制中心，這里的CPU不同于電腦中的中央處 理器，它由控制測試系統(tǒng)的計算機及數(shù)據(jù)輸入輸出通道組成。許多新的測試 系統(tǒng)提供一個網(wǎng)絡(luò)接口用以傳輸測試數(shù)據(jù)；計算機硬盤和Memory用來存儲 本地數(shù)據(jù)；顯示器及鍵盤提供了測試操作

11、員和系統(tǒng)的接口。Basic Test System ComponentsSystem Povei SuppliesTiming, Fo matting, Masking and Timeset MemorynetworkInterfaceSystem Clocks and CalibrationCircuitsPattanMemory foi Paiallel and ScanVectors PMUPrecision Measurement UnitSpecialTesterOptionsLOtidBoard withDUTDPS andReferenceSupplies (for VDD9

12、VIL VIH,VOL, VOH)CPU with HrdDisk. Tap e Drive, Keyboard t VideoBinBoxInternal ControllerCPUTest Head Pin Electronics Drivers, Comparators, Extetiul Cmreirt Loads, Instiumeiit etc.Interface圖2-1通用測試系統(tǒng)部結(jié)構(gòu)DC子系統(tǒng)包含有DPS （Device Power Supplies,器件供電單元）、RVS （Reference Voltage Supplies,參考電壓源）.PMU（Precision Me

13、asurement Unit,精密測量單元）。DPS為被測器件的電源管腳提供電壓和電流；RVS 為系統(tǒng)部管腳測試單元的驅(qū)動和比較電路提供邏輯0和邏輯1電平提供參考 電壓,這些電壓設(shè)置包括：VIL. VIH. VOL和VOH。性能稍遜的或者老一點 的測試系統(tǒng)只有有限的RVS,因而同一時間測試程序只能提供少量的輸入和 輸出電平。這里先提及一個概念,utester pin”,也叫做tester channel 它是一種探針，和Loadboard背面的Pad接觸為被測器件的管腳提供信號。 當測試機的pins共享某一資源，比如RS則此資源稱為uShared Resource”。 一些測試系統(tǒng)稱擁有per

14、 pin的結(jié)構(gòu)，就是說它們可以為每一個pin獨 立地設(shè)置輸入及輸出信號的電平和時序。DC子系統(tǒng)還包含PMU （精密測量單元,Precision Measurement Unit） 電路以進行精確的DC參數(shù)測試，一些系統(tǒng)的PMU也是per pin結(jié)構(gòu)，安裝 在測試頭（Test Head）中。（PMU我們將在后面進行單獨的講解）每個測試系統(tǒng)都有髙速的存儲器稱為pattern memoryn或vectormemoryM去存儲測試向量（vector 或 pattern）。Test pattern （注：本人弩鈍，一直不知道這個pattern的準確翻譯，很多譯者將其直譯為“模 式J我認為有點欠妥，實際上

15、它就是一個二維的真值表；將test pattern 翻譯成“測試向量”吧，那vector又如何區(qū)別？呵呵，還想聽聽大家意 見）描繪了器件設(shè)計所期望的一系列邏輯功能的輸入輸出的狀態(tài)，測試系統(tǒng) 從pattern memory中讀取輸入信號或者叫驅(qū)動信號（Drive）的pattern狀 態(tài)，通過tester pin輸送給待測器件的相應管腳；再從器件輸出管腳讀取 相應信號的狀態(tài)，與pattern中相應的輸出信號或者叫期望（Expect）信號 進行比較。進行功能測試時，pattern為待測器件提供激勵并監(jiān)測器件的輸 出，如果器件輸入與期望不相符，則一個功能失效產(chǎn)生了。有兩種類型的測 試向量一一并行向量和

16、掃描向量，大多數(shù)測試系統(tǒng)都支持以上兩種向量。Timing分區(qū)存儲有功能測試需要用到的格式、掩蓋（mask）和時序設(shè)置 等數(shù)據(jù)和信息，信號格式（波形）和時間沿標識定義了輸入信號的格式和對 輸出信號進行采樣的時間點。Timing分區(qū)從pattern memory那里接收激勵 狀態(tài)（“0”或者“廣）,結(jié)合時序及信號格式等信息，生成格式化的數(shù)據(jù) 送給電路的驅(qū)動部分，進而輸送給待測器件。Special Tester Options部分包含一些可配置的特殊功能，如向量生成 器、存儲器測試，或者模擬電路測試所需要的特殊的硬件結(jié)構(gòu)。The Systen Clocks為測試系統(tǒng)提供同步的時鐘信號，這些信號通常運

17、 行在比功能測試要高得多的頻率圍；這部分還包括許多測試系統(tǒng)都包含的時 鐘校驗電路。第4節(jié)PMUPMU （Precision Measurement Unit,精密測量單元）用于精確的DC參數(shù) 測量，它能驅(qū)動電流進入器件而去量測電壓或者為器件加上電壓而去量測產(chǎn)生的 電流。PMU的數(shù)量跟測試機的等級有關(guān)，低端的測試機往往只有一個PMU,同過 共享的方式被測試通道（test channel）逐次使用；中端的則有一組PMU,通常 為8個或16個，而一組通道往往也是8個或16個，這樣可以整組逐次使用；而 髙端的測試機則會采用per pin的結(jié)構(gòu)，每個channel配置一個PMU。Precision Me

18、asurementUnit(PMU)Dual LimitsUpper LimitFAIL GT/LT/DisableLower Limit圖2-2. PMU狀態(tài)模擬圖驅(qū)動模式和測量模式(Force and Measurement Modes)在ATE中，術(shù)語驅(qū)動(Force) ”描述了測試機應用于被測器 件的一定數(shù)值的電流或電壓，它的替代詞是Apply,在半導體測試專業(yè)術(shù)語 中，Apply和Force都表述同樣的意思。在對PMU進行編程時，驅(qū)動功能可選擇為電壓或電流：如果選 擇了電流，則測量模式自動被設(shè)置成電壓；反之，如果選擇了電壓，則測量 模式自動被設(shè)置成電流。一旦選擇了驅(qū)動功能，則相應的數(shù)

19、值必須同時被設(shè) 置。驅(qū)動線路和感知線路(Force and Sense Lines)為了提升PMU驅(qū)動電壓的精確度，常使用4條線路的結(jié)構(gòu)：兩 條驅(qū)動線路傳輸電流，另兩條感知線路監(jiān)測我們感興趣的點（通常是DUT） 的電壓。這緣于歐姆定律，大家知道，任何線路都有電阻，當電流流經(jīng)線路 會在其兩端產(chǎn)生壓降，這樣我們給到DUT端的電壓往往小于我們在程序中設(shè) 置的參數(shù)。設(shè)置兩根獨立的（不輸送電流）感知線路去檢測DUT端的電壓， 反饋給電壓源，電壓源再將其與理想值進行比較，并作相應的補償和修正， 以消除電流流經(jīng)線路產(chǎn)生的偏差。驅(qū)動線路和感知線路的連接點被稱作“開 爾文連接點”。量程設(shè)置（Range Sett

20、ings）PMU的驅(qū)動和測量圍在編程時必須被選定，合適的量程設(shè)定將 保證測試結(jié)果的準確性。需要提醒的是，PMU的驅(qū)動和測量本身就有就有圍 的限制，驅(qū)動的圍取決于PMU的最大驅(qū)動能力，如果程序中設(shè)定PHL輸出5V 的電壓而PMU本身設(shè)定為輸出4V電壓的話，最終只能輸出4V的電壓。同理, 如果電流測量的量程被設(shè)定為1mA,則無論實際電路中電流多大，能測到的 讀數(shù)不會超過1mA。值得注意的是，PMU上無論是驅(qū)動的圍還是測量的量程，在連 接到DUT的時候都不應該再發(fā)生變化。這種圍或量程的變化會引起噪聲脈沖 （浪涌），是一種信號電壓值短時間的急劇變化產(chǎn)生的瞬間髙壓，類似于ESD 的放電，會對DUT造成損

21、害。邊界設(shè)置（Limit Settings）PMU有上限和下限這兩個可編程的測量邊界，它們可以單獨使 用（如某個參數(shù)只需要小于或大于某個值）或者一起使用。實際測量值大于 上限或小于下限的器件，均會被系統(tǒng)判為不良品。鉗制設(shè)置（Clamp Settings）大多數(shù)PMU會被測試程序設(shè)置鉗制電壓和電流，鉗制裝置是在 測試期間控制PMU輸出電壓與電流的上限以保護測試操作人員、測試硬件及 被測器件的電路。Current ClampWhen forcing 5V ana current limit is 20mA, set Iclamp at 25.0mA:When Rl = 250Q, Iq(jj =

22、20mAWhen Rl = 200Q： Iut = 25mA (clamp current)圖2-2.電流鉗制電路模擬圖當PMU用于輸出電壓時，測試期間必須設(shè)定最大輸出電流鉗制。驅(qū)動電 壓時，PMU會給予足夠的必須的電流用以支持相應的電壓，對DUT的某個管腳， 測試機的驅(qū)動單元會不斷增加電流以驅(qū)動它達到程序中設(shè)定的電壓值。如果此管 腳對地短路（或者對其他源短路），而我們沒有設(shè)定電流鉗制，則通過它的電流 會一直加大，直到相關(guān)的電路如探針、ProbeCard、相鄰DUT甚至測試儀的通道 全部燒毀。圖2-3顯示PMU驅(qū)動5. 0V電壓施加到250ohm負載的情況，在實際的測 試中，DUT是阻抗性負載

23、，從歐姆定律I=U/R我們知道，其上將會通過20mA的 電流。器件的規(guī)格書可能定義可接受的最大電流為25mA.這就意味著我們程序 中此電流上限邊界將會被設(shè)置為25mA,而鉗制電流可以設(shè)置為30mA如果某一有缺陷的器件的阻抗性負載只有l(wèi)Oohm的話，在沒有設(shè)定電流 鉗制的情況下，通過的電流將達到500mA,這么大的電流已經(jīng)足以對測試系統(tǒng)、 硬件接口及器件本身造成損害；而如果電流鉗制設(shè)定在30mA,則電流會被鉗制 電路限定在安全的圍，不會超過30mA。電流鉗制邊界（Clamp）必須大于測試邊界（Limit）上限，這樣當遇到 缺陷器件才能出現(xiàn)fa訂；否則程序中會提示“邊界電流過大”，測試中也不會 出

24、現(xiàn)fail 了 oVoltage Clam|4.92 V附 Current VoltageRangeFORCESelectOO nAForceMEASURE仃Voltage ClampsRL一.For lforce = 10.0mA:When RL = 500QIVoUT = 5.0VWhen Ri = open, Vqut = COMPLIANCE or CLAMP voltage.圖2-4電壓鉗制電路模擬圖當PMU用于輸岀電流時，測試期間則相應地需要進行電壓鉗制。電壓鉗 制和電流鉗制在原理上小異，這里就不再贅述了。第5節(jié)管腳電路管腳電路(The Pin Electronics,也叫 Pin

25、Card. PE、PEC 或 I/O Card) 是測試系統(tǒng)資源部和待測期間之間的接口，它給待測器件提供輸入信號并接收待 測器件的輸出信號。每個測試系統(tǒng)都有自己獨特的設(shè)計但是通常其PE電路都會包括： 提供輸入信號的驅(qū)動電路驅(qū)動轉(zhuǎn)換及電流負載的輸入輸出切換開關(guān)電路檢驗輸岀電平的電壓比較電路與PMU的連接電路（點）可編程的電流負載還可能包括：用于高速電流測試的附加電路Per pin的PMU結(jié)構(gòu)盡管有著不同的變種，但PE的基本架構(gòu)還是一脈相承的，圖2-5顯示了數(shù)字測試系統(tǒng)的數(shù)字測試通道的典型PE卡的電路結(jié)構(gòu)。Pin ElectronicsFitted 91011 DHver詵呷仙 (Inputs)I

26、fVIL (Logic 0|D K1optionalCurrentLoad (Outputs)High SpeedVROII% F?PMU perpinHigh Speed ； |。廠(Current Comparators Comparators ;I/O Switch flOLforce圖2-5典型的PinElectronics1. 驅(qū)動單元(The Driver)驅(qū)動電路從測試系統(tǒng)的其他相應環(huán)節(jié)獲取格式化的信號，稱為FDATA, 當FDATA通過驅(qū)動電路，從參考電壓源(RVS)獲取的VIL/VIH參考電平被施加 到格式化的數(shù)據(jù)上。如果FDATA命令驅(qū)動單元去驅(qū)動邏輯0,則驅(qū)動單元會驅(qū)動

27、VIL參考電壓;VIL (Voltage In Low)指施加到DUT的input管腳仍能被DUT 部電路識別為邏輯0的最高保證電壓。如果FDATA命令驅(qū)動單元去驅(qū)動邏輯1,則驅(qū)動單元會驅(qū)動VIH參考電 壓；VIH (Voltage In High)指施加到DUT的input管腳仍能被DUT部電路識別 為邏輯1的最低保證電壓。F1場效應管用于隔離驅(qū)動電路和待測器件，在進行輸入-輸出切換時充 當快速開關(guān)角色。當測試通道被程序定義為輸入(Input),場效應管Fl導通， 開關(guān)(通常是繼電器)K1閉合，使信號由驅(qū)動單元(Driver)輸送至DUT；當測 試通道被程序定義為輸出(Output)或不關(guān)心

28、狀態(tài)(don t care) , Fl截止， KI斷開，則驅(qū)動單元上的信號無法傳送到DUT上。F1只可能處于其中的一種狀 態(tài)，這樣就保證了驅(qū)動單元和待測器件同時向同一個測試通道送出電壓信號的 I/O沖突狀態(tài)不會出現(xiàn)。2. 電流負載單元(Current Load)電流負載(也叫動態(tài)負載)在功能測試時連接到待測器件的輸出端充當 負載的角色，由程序控制，提供從測試系統(tǒng)到待測器件的正向電流或從待測器件 到測試系統(tǒng)的負向電流。電流負載提供 IOH (Current Output High)和 I0L(Current Output Low) IOH指當待測器件輸出邏輯1時其輸出管腳必須提供的電流總和；I0

29、L則相反， 指當待測器件輸岀邏輯0時其輸出管腳必須接納的電流總和。當測試程序設(shè)定了 I0H和I0L, VREF電壓就設(shè)置了它們的轉(zhuǎn)換點。轉(zhuǎn)換 點決定了 I0H起作用還是I0L起作用：當待測器件的輸出電壓髙于轉(zhuǎn)換點時，I()H 提供電流；當待測器件的輸出電壓低于轉(zhuǎn)換點時,I0L提供電流。F2和F1 樣，也是一個場效應管，在輸入-輸岀切換時充當髙速開關(guān)， 并隔離電流負載電路和待測器件。當程序定義測試通道為輸出，則F2導通，允 許輸岀正向電流或抽取反向電流；當定義測試通道為輸入，則F2截止，將負載 電路和待測器件隔離。電流負載在三態(tài)測試和開短路測試中也會用到。3. 電壓比較單元(Voltage Re

30、ceiver)電壓比較器用于功能測試時比較待測器件的輸岀電壓和RVS提供的參考 電壓。RVS為有效的邏輯1 (VOH)和邏輯0 (VOL)提供了參考：當器件的輸出 電壓等于或小于VOL,則認為它是邏輯0；當器件的輸岀電壓等于或大于VOH, 則認為它是邏輯1;當它大于VOL而小于VOH,則認為它是三態(tài)電平或無效輸出。4PMU 連接點(PMU Connection)當PMU連接到器件管腳，K1先斷開，然后K2閉合，用于將PMU和Pin Electrics卡的I/O電路隔離開來。5. 高速電流比較單元(High Speed Current Comparators)相對于為每個測試通道配置PMU,部分測試系統(tǒng)提供了快速測量小電流 的另一種方法，這就是可進行快速漏電流(Leakage)測試的電流比較