質(zhì)量一致性檢驗

1、摘要：產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各種試驗項目和所采用的試驗方法及檢測技術(shù)， 從而為產(chǎn)品質(zhì)量一致性和穩(wěn) 定性提供保證。逐批檢驗的抽樣檢驗方式在電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)檢驗中廣泛采用， 正確掌握和使用 抽樣檢驗技術(shù)，對生產(chǎn)實際過程的產(chǎn)品質(zhì)量控制有很直接明顯的作用。0引言電子元器件質(zhì)量一致性檢驗是指我國按國際電工委員會電子元器件質(zhì)量評定體系（簡稱IECQ ）適用標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，開展對電子元器件產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證所進行的鑒定批準(zhǔn)程序中的一種檢驗方式。電子元器件質(zhì)量一致性檢驗包括：對每個檢驗批進行A組（包括元器件的目檢和尺寸檢驗以及 元器件的主要特性試驗）和B組（包括其他重要特性試驗）以及在固定的時間間隔內(nèi)從已通過逐批 檢驗的諸批

2、中抽取樣品進行周期檢驗。周期檢驗通常為 C組檢驗，有時也分出一個D組進行檢驗。本文根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，結(jié)合檢驗工作的實際情況，對元器件一致性檢驗技術(shù)及有關(guān)事項綜 述如下：一、電子元器件逐批檢驗技術(shù)逐批檢驗是對每個提交的檢驗批的產(chǎn)品批質(zhì)量， 通過全檢或抽檢，判斷其生產(chǎn)批是否符合規(guī)定 要求而進行的一種檢驗。其主要內(nèi)容包括：檢驗批的構(gòu)成與抽樣要求；逐批檢驗項目和方法方式； 抽樣檢驗方案的選擇和確定；逐批檢驗結(jié)果判定及處置。1. 檢驗批的構(gòu)成與抽樣要求（1）批的構(gòu)成：在逐批檢驗中，檢驗批是一組依據(jù)一個或多個樣本而確定是否接收的單位產(chǎn)品的集合。它不一定等丁生產(chǎn)批、購置批或者為其它目的而組成的批。 通常每

3、個檢驗批應(yīng)由同型號、 同等級、同種類、同尺寸、同結(jié)構(gòu)且生產(chǎn)時間和生產(chǎn)條件大體相同的產(chǎn)品組成。（2）抽樣的隨機性和代表性：從提交檢驗批的產(chǎn)品中，抽樣應(yīng)是隨機的，應(yīng)使提交檢驗批中 每單位產(chǎn)品被抽到的可能性都相等。且應(yīng)注意樣本的代表性，當(dāng)提交檢驗批分若干層（或分裝丁若 干箱等）時，就應(yīng)分層（或分箱、分袋）抽取樣本。2. 逐批檢驗項目和方法方式(1) 逐批檢驗主要項目：(A) 外觀檢驗；(B) 尺寸檢驗；(C) 電特性檢驗；(D) 可焊性；(E) 其他檢驗。(2) 檢驗方法方式：對具體元器件產(chǎn)品，按照其詳細(xì)規(guī)范，分規(guī)范，總規(guī)范，基礎(chǔ)規(guī)范及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的檢查方法進行檢驗。逐批檢驗按檢驗方式可分為全數(shù)檢

4、驗和抽樣檢驗，全數(shù)檢驗即對一批待檢產(chǎn)品進行100%的檢驗，抽樣檢驗是根據(jù)預(yù)先確定的抽樣方案， 從一批產(chǎn)品中隨機抽取 一部分樣品進行檢驗。在電子元器件產(chǎn)品逐批檢驗過程中，廣泛使用的常為抽樣檢驗。3. 抽樣檢驗方案的選擇和確定逐批檢驗分A組和B組。電子器件的抽樣檢驗方案，A組選擇AQL方案或LTPD方案，B組 選擇LTPD方案。電子元件(電阻器、電容器、電感器)的抽樣檢驗方案， A組、B組均選擇AQL 方案。其中AQL為接收質(zhì)量限，LTPD為批允許不合格品率。(1) AQL抽樣方案的確定方法：根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢查水平IL GB/T 2828.1-2003 給出了三個一般檢驗水平，分別是水平I、U

5、、川；還有四個特殊檢驗水平，分別是 S-1、S-2、S-3、S-4。檢驗水平規(guī)定了批量與樣本量之間的關(guān)系。 相同N下分別采用I、U、m水平，n (樣本量)的大致比例關(guān)系：一般檢查水平>特殊檢查水平；IVUVIH ;S-1 < S-2 < S-3 < S4搜索QI怖接收質(zhì)量限AQL值，由GB/T2828.1-2012計數(shù)抽樣檢驗程序第一部分：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣計劃中規(guī)定的檢索方法，對逐批檢驗的批量數(shù) N,查出A組和B組逐批檢驗項目的合格判定數(shù) Ac、不合格判定數(shù)Re和檢驗樣品量n.簡言之，根據(jù)給出檢查水平IL和AQL值，和批量數(shù)N,就可確定一個抽樣方

6、案，以正常檢查一次抽樣為例，可得出抽樣方案(n,Ac,Re )。(2) LTPD抽樣方案的確定方法：根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的LTPD值，每個分組的樣品量，由GB/T4589.1-2006 半導(dǎo)體器件第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范附錄 A的表中查得，可 以根據(jù)規(guī)定或?qū)嶋H需要選取多個規(guī)定數(shù)量的樣品量，但允許的不合格品數(shù)，不得超過表A.1或表A.2所規(guī)定的樣品量相應(yīng)的合格判定數(shù)。表A.2中確定樣品量的LTPD列，應(yīng)是最接近實際提交批量欄中的那一列， 如果實際批量是介 丁表中兩欄之間，可根據(jù)需要在兩欄中選一欄。如果在表A.2相應(yīng)的批量欄中，找不到等丁或小丁 規(guī)定的LTPD值時，應(yīng)用表A.2中相應(yīng)批量欄中

7、最接近的LTPD值確定樣品量。4. 逐批檢驗結(jié)果判定及處理(1) 對AQL抽樣方案，以一次抽樣正常檢查水平'II級為例，根據(jù)對樣本實施的檢驗結(jié)果，若 樣本n中的不合格品數(shù)d小丁或等丁合格判定數(shù) Ac,即：d< Ac時，判該檢驗批合格，若d> Re 時，則判該檢驗批不合格。在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢驗周期內(nèi)，周期檢驗合格的情況下，經(jīng)逐批檢驗合格的產(chǎn)品，可作為合格 產(chǎn)品交付給訂貨方；對初次檢驗不合格的批，一般退回制造部門進行全數(shù)檢查，剔除不合格品后， 再重新提交逐批檢驗，對再次提交檢驗的批，使用的抽樣方案的嚴(yán)酷度和檢驗項目，應(yīng)在產(chǎn)品技術(shù) 標(biāo)準(zhǔn)中或合同中明確規(guī)定，對再次提交檢驗仍不合格的

8、批，除非有特別規(guī)定，一般不允許再次提交 檢驗。(2) 對LTPD抽樣方案，第一次抽樣時選定一個合格判定數(shù)，并根據(jù)規(guī)定的LTPD值確定相 應(yīng)的樣品量n進行檢驗，如果樣品中出現(xiàn)的不合格品數(shù) d不超過預(yù)先選定的合格判定數(shù) C,即:d<C 則判該批產(chǎn)品檢驗合格；如果出現(xiàn)的不合格品數(shù)超過預(yù)選的合格判定數(shù)，即： d>C時可確定一個 追加樣品量，即在原有的樣品的基礎(chǔ)上追加一定的樣品量，但每一檢驗分組只能追加一次，且追加 的樣品應(yīng)經(jīng)受該分組所包括的全部試驗?？偟臉悠妨?最初的加上追加的樣品量)應(yīng)根據(jù) GB4589.1-2006 標(biāo)準(zhǔn)表A.1和A.2中新選定的合格判定數(shù)確定，如果總的不合格數(shù)(最初樣

9、品加上追加樣品中的不合格數(shù))不超過新確定的合格判定數(shù)，則判該檢驗批合格，否則判該檢驗批不 合格。不符合A組和B組檢驗要求的檢驗批，不得作為合格批。如果對此不合格批未被重新提交檢 驗，則該批判為拒收批。、電子元器件周期檢驗技術(shù)周期檢驗是在規(guī)定的周期內(nèi)，從逐批檢驗合格的某個批或若干批中抽取樣本，并施加各種應(yīng)力 的各項試驗，然后檢測產(chǎn)品判斷其是否符合規(guī)定要求的一種檢驗。其主要內(nèi)容包括:周期規(guī)定、檢驗分組和樣品；檢驗項目和程序；周期檢驗缺陷分類和失效判據(jù)；周期檢驗結(jié)果 判定和處置。1. 周期規(guī)定、檢驗分組和樣品(1)檢驗周期規(guī)定：根據(jù)產(chǎn)品的特性及生產(chǎn)過程質(zhì)量穩(wěn)定的情況，再綜合考慮其他的因素,適當(dāng)?shù)匾?guī)定

10、檢驗周期。產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中一般都給出了該產(chǎn)品在正常穩(wěn)定生產(chǎn)情況下進行周期檢驗的時間 間隔(如三個月，六個月，一年等)，但對不同的檢驗組，規(guī)定不同的檢驗周期。(2)檢驗分組與樣品：電子元器件周期檢驗分為 C組和D組，C組為環(huán)境試驗，D組為耐久性壽命試驗。周期檢驗的樣品，應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的抽樣方案和檢查水平及規(guī)定的樣品數(shù)，從 本周期內(nèi)經(jīng)逐批檢驗合格的一個批或幾個批中隨機抽取，加倍或二次試驗的樣品在抽樣時一次取 足。2. 檢驗項目(1)常溫性能檢查：試驗前在正常工作的條件下，對被試樣品進行定性和定量檢查，判斷產(chǎn)品質(zhì)量是否全面符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)要求， 或符合訂貨合同的規(guī)定。由丁電子產(chǎn)品種類多,

11、用途廣，表征產(chǎn)品特性的技術(shù)參數(shù)很多，常溫性能檢測時，應(yīng)嚴(yán)格按照技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，進行全部指0（2）環(huán)境試驗：為了評價在規(guī)定周期生產(chǎn)批的產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力，將經(jīng)過性能檢測合格的 產(chǎn)品，在人工模擬的環(huán)境條件下試驗，以此評價產(chǎn)品在實際使用、運輸和貯存環(huán)境條件下的性能是 否滿足產(chǎn)品定型鑒定檢驗時達到的環(huán)境適應(yīng)能力。環(huán)境試驗包括高溫負(fù)荷貯存試驗、低溫負(fù)荷貯存試驗、高低溫變化試驗、交變濕熱和包定濕熱 試驗、低氣壓試驗、振動試驗、沖擊碰撞、跌落、加速度試驗、鹽霧試驗等。由丁電子產(chǎn)品使用環(huán) 境不一樣，在周期環(huán)境試驗中，規(guī)定的環(huán)境試驗項目可能是單項試驗，也可能是組合或綜合試驗。3. 周期檢驗結(jié)果判定和處置（1）在一

12、個周期試驗組中發(fā)現(xiàn)一個致命缺陷，則判該試驗組不合格。（2）若在試驗樣品中發(fā)現(xiàn)的不合格品數(shù)小丁或等丁合格判定數(shù)， 則判該試驗組合格。若試驗中的不合格判定數(shù)大丁或等 丁不合格判定數(shù)，則判該試驗組不合格。（3）本周期內(nèi)，所有試驗分組都合格，則本周期檢驗合 格。否則就判該周期檢驗不合格。（4）周期檢驗不合格，該產(chǎn)品暫停逐批檢驗。已生產(chǎn)的產(chǎn)品和 已交付的產(chǎn)品由供需雙方協(xié)商解決，并將處理經(jīng)過記錄在案。（5）周期檢驗不合格，供方應(yīng)立即查明原因，采取措施。需方在供方采取改進措施后，在重新提交的產(chǎn)品中抽樣，對不合格試驗項目 或試驗分組重新試驗，直至試驗合格后，供方才能恢復(fù)正常生產(chǎn)和逐批試驗。電子元器件質(zhì)量一致性檢驗結(jié)果是通過逐批檢驗結(jié)果和周期檢驗結(jié)果是否合格來判定的。逐批與周期檢驗結(jié)果合格，可認(rèn)為該元器件的鑒定批準(zhǔn)得以維持。但如果檢驗不合格，即沒有通過質(zhì)量 一致性檢驗，或沒有正確地執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求和IECQ的程序規(guī)則時，則鑒定批準(zhǔn)應(yīng)予暫?；虺废??？偠灾?，逐批檢驗的抽樣檢驗方式在電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)檢驗中廣泛采用，正確掌握和使用抽樣檢驗技術(shù)，對生產(chǎn)實際過程的產(chǎn)品質(zhì)