電子元器件可靠性試驗(yàn)、失效分析、故障復(fù)現(xiàn)及篩選技術(shù)培訓(xùn)

1、電子元器件可靠性試驗(yàn)、失效分析、故障復(fù)現(xiàn)及篩選技術(shù)培訓(xùn)講師介紹: 費(fèi)老師 男，原信息產(chǎn)業(yè)部電子五所高級(jí)工程師,理學(xué)碩士,“電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)”雜志編委，長期從事電子元器件的失效機(jī)理、失效分析技術(shù)和可靠性技術(shù)研究。分別于1989年、19921993年、2001年由聯(lián)合國、原國家教委和中國國家留學(xué)基金管理委員會(huì)資助赴聯(lián)邦德國、加拿大和美國作訪問學(xué)者。曾在國內(nèi)外刊物和學(xué)術(shù)會(huì)議上發(fā)表論文三十余篇。他領(lǐng)導(dǎo)的“VLSI失效分析技術(shù)”課題組榮獲2003年度“國防科技二等獎(jiǎng)”。他領(lǐng)導(dǎo)的“VLSI失效分析與可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)”課題組榮獲2006年度“國防科技二等獎(jiǎng)”。2001年起多次應(yīng)邀外出講學(xué),獲得廣大學(xué)員

2、的一致好評(píng)?！九嘤?xùn)對(duì)象】系統(tǒng)總質(zhì)量師、產(chǎn)品質(zhì)量師、設(shè)計(jì)師、工藝師、研究員，質(zhì)量可靠性管理和從事電子元器件（包括集成電路）失效分析工程師 【主辦單位】中 國 電 子 標(biāo) 準(zhǔn) 協(xié) 會(huì) 培 訓(xùn) 中 心【協(xié)辦單位】深 圳 市 威 碩 企 業(yè) 管 理 咨 詢 有 限 公 司為了滿足廣大元器件生產(chǎn)企業(yè)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量及可靠性方面的要求，我司決定在全國組織召開“電子元器件可靠性試驗(yàn)、失效分析、故障復(fù)現(xiàn)及篩選技術(shù)”高級(jí)研修班。研修班將由具有工程實(shí)踐和教學(xué)豐富經(jīng)驗(yàn)的教師主講，通過講解大量實(shí)例,幫助學(xué)員了解各種主要電子元器件的可靠性試驗(yàn)方法和試驗(yàn)結(jié)果的分析方法課程提綱：第一部分 電子元器件的可靠性試驗(yàn)1 可靠性試驗(yàn)的基

3、本概念 11 概率論基礎(chǔ) 12 可靠性特征量 13 壽命分布函數(shù) 14 可靠性試驗(yàn)的目的和分類 15 可靠性試驗(yàn)設(shè)計(jì)的關(guān)鍵問題 2 壽命試驗(yàn)技術(shù) 21 加速壽命試驗(yàn) 22 定性壽命保證試驗(yàn) 23 截尾壽命試驗(yàn) 24 抽樣壽命試驗(yàn) 3 試驗(yàn)結(jié)果的分析方法：威布爾分布的圖估法 4 可靠性測(cè)定試驗(yàn) 41 點(diǎn)估計(jì)法 42 置信區(qū)間 5 可靠性驗(yàn)證試驗(yàn) 51 失效率等級(jí)和置信度 52 試驗(yàn)程序和抽樣表53 標(biāo)準(zhǔn)和應(yīng)用 6 電子元器件可靠性培訓(xùn)試驗(yàn)案例案例1已知置信度和MTBF時(shí)的實(shí)驗(yàn)測(cè)定案例2已知置信度和可靠度時(shí)的實(shí)驗(yàn)測(cè)定案例3案例加速壽命實(shí)驗(yàn)測(cè)定法 第二部分 電子元器件的失效分析、故障復(fù)現(xiàn)和篩選技術(shù)1

4、 失效的概念和種類2 失效物理模型和應(yīng)用2.1 應(yīng)力-強(qiáng)度模型2.2 應(yīng)力-時(shí)間模型3 失效模式, 失效機(jī)理, 失效分析和故障復(fù)現(xiàn)的概念和作用4 各種失效模式與失效機(jī)理的關(guān)系5 各種環(huán)境應(yīng)力與失效機(jī)理的關(guān)系6 各種失效機(jī)理及其失效分析和故障復(fù)現(xiàn)技術(shù)6.1 變形6.2 變質(zhì)6.3 外來異物6.4 質(zhì)量遷移7 基于失效機(jī)理的篩選技術(shù)7.1電子元器件篩選原理7.2傳統(tǒng)篩選試驗(yàn)的種類、方法、作用和存在的問題7.3基于失效機(jī)理的篩選技術(shù)7.4 篩選應(yīng)力和篩選時(shí)間的確定7.5篩選效果的評(píng)估8 失效分析技術(shù)延伸：電子元器件進(jìn)貨分析9 印刷電路板焊接和導(dǎo)電膠粘接的失效分析和故障復(fù)現(xiàn)10 超大規(guī)模集成電路和微波

5、單片集成電路失效分析案例several group number, then with b ± a, =c,c is is methyl b two vertical box between of accurate size. Per-23 measurement, such as proceeds of c values are equal and equal to the design value, then the vertical installation accurate. For example a, b, and c valueswhile on horizontal vertical errors for measurement, General in iron angle code bit at measurement level points grid errors, specific method is from baseline to methyl verti