超聲檢測(cè)第五章2014陸志春

1、超聲檢測(cè)方法超聲檢測(cè)方法分類與特點(diǎn)分類與特點(diǎn)2015年年4月月 南京南京陸陸 志志 春春江蘇省特檢院江蘇省特檢院 常州分院常州分院 總師辦總師辦 地址：江蘇省常州市龍江中路地址：江蘇省常州市龍江中路51號(hào)號(hào) 電話：電話手機(jī)：手機(jī)郵箱：郵箱：JSLZC126.COM主要內(nèi)容主要內(nèi)容n按檢測(cè)原理分類按檢測(cè)原理分類n按顯示方式分類按顯示方式分類n按波型分類按波型分類n按探頭數(shù)量分類按探頭數(shù)量分類n按接觸方式分類按接觸方式分類超聲檢測(cè)方法分類超聲檢測(cè)方法分類 按探頭數(shù)量分類按探頭數(shù)量分類單探頭法單探頭法雙探頭法雙探頭法多探頭法多探頭法按顯示方式分

2、類按顯示方式分類A型顯示型顯示超聲成像顯示超聲成像顯示按檢測(cè)原理分類按檢測(cè)原理分類脈沖反射法脈沖反射法衍射時(shí)差法（衍射時(shí)差法（TOFD）穿透法穿透法共振法共振法按接觸方式分類按接觸方式分類直接接觸法直接接觸法液浸法液浸法電磁耦合法電磁耦合法按波型分類按波型分類縱波法縱波法橫波法橫波法表面波法表面波法板波法板波法爬波法爬波法5.1 按檢測(cè)原理分類按檢測(cè)原理分類5.1.1 脈沖反射脈沖反射 超聲探頭發(fā)射的超聲脈沖波進(jìn)入工件遇到工件內(nèi)超聲探頭發(fā)射的超聲脈沖波進(jìn)入工件遇到工件內(nèi)部不連續(xù)或工件邊界產(chǎn)生反射聲波，再由探頭接收，部不連續(xù)或工件邊界產(chǎn)生反射聲波，再由探頭接收，由此判別工件中是否存在缺陷，稱為脈

3、沖反射。由此判別工件中是否存在缺陷，稱為脈沖反射。 通過超聲波在工件中傳播的時(shí)間計(jì)算出缺陷深度，通過超聲波在工件中傳播的時(shí)間計(jì)算出缺陷深度，反射波的高低判斷出缺陷相對(duì)大小，按反射反射波的高低判斷出缺陷相對(duì)大小，按反射 波的形波的形狀大致判斷出缺陷性質(zhì)。狀大致判斷出缺陷性質(zhì)。 方法包括缺陷回波法，底波高度法和多次底波法。方法包括缺陷回波法，底波高度法和多次底波法。脈沖反射式探傷示意脈沖反射式探傷示意5.1.1 脈沖反射脈沖反射底波高度法底波高度法FBF法法FBG法法BGBF法法5.1.2 衍射時(shí)差法（衍射時(shí)差法（TOFD） n原理TOFD(Time of Flight Diffraction)，

4、利用缺陷部，利用缺陷部位的衍射波來檢測(cè)缺陷，根據(jù)衍射波的傳播時(shí)間差位的衍射波來檢測(cè)缺陷，根據(jù)衍射波的傳播時(shí)間差來確定缺陷自身高度高度。來確定缺陷自身高度高度。n特點(diǎn)縱波斜探頭、一發(fā)一收兩個(gè)探頭、探頭對(duì)稱分布于縱波斜探頭、一發(fā)一收兩個(gè)探頭、探頭對(duì)稱分布于焊縫兩側(cè)。焊縫兩側(cè)。原理圖原理圖發(fā)射探頭發(fā)射探頭接收探頭接收探頭橫向波上端點(diǎn)上端點(diǎn)下端點(diǎn)內(nèi)壁反射信號(hào)探頭布置探頭布置掃查方式掃查方式幾種掃查掃查方式特點(diǎn)：幾種掃查掃查方式特點(diǎn)：n非平行掃查：快速檢測(cè)和測(cè)定缺陷長(zhǎng)度；可大非平行掃查：快速檢測(cè)和測(cè)定缺陷長(zhǎng)度；可大致測(cè)定缺陷的深度；無法測(cè)定缺陷距焊縫中心致測(cè)定缺陷的深度；無法測(cè)定缺陷距焊縫中心線的偏移量

5、。線的偏移量。n偏置非平行掃查：增大檢測(cè)范圍；提高缺陷深偏置非平行掃查：增大檢測(cè)范圍；提高缺陷深度的測(cè)量精度；改進(jìn)缺陷定位，并有助于降低度的測(cè)量精度；改進(jìn)缺陷定位，并有助于降低下表面盲區(qū)。下表面盲區(qū)。n平行掃查：改進(jìn)缺陷定位和缺陷深度（高度）平行掃查：改進(jìn)缺陷定位和缺陷深度（高度）測(cè)定的準(zhǔn)確性。測(cè)定的準(zhǔn)確性。5.1.2 衍射時(shí)差法（衍射時(shí)差法（TOFD）n直通波、缺陷上下端點(diǎn)衍射波、底面反射波。直通波、缺陷上下端點(diǎn)衍射波、底面反射波。接收探頭直通波直通波LW上端點(diǎn)上端點(diǎn)下端點(diǎn)下端點(diǎn)底面反射波底面反射波BW5.1.2 衍射時(shí)差法（衍射時(shí)差法（TOFD）n變形波。一般會(huì)遲于底面反射波到達(dá)接收探頭。

6、變形波。一般會(huì)遲于底面反射波到達(dá)接收探頭。底面反射波底面反射波直通波直通波縱波縱波變形波變形波TxRx橫波橫波5.1.2 衍射時(shí)差法（衍射時(shí)差法（TOFD）缺陷深度計(jì)算：以直通波為參考起點(diǎn)。t:缺陷上端點(diǎn)衍射波與直通波的傳播時(shí)間差。L：缺陷上端點(diǎn)聲程的一半。cSLt22接收探頭SSdt0t02-ctSL22SLd2122)4(21tcSctd5.1.2 衍射時(shí)差法（衍射時(shí)差法（TOFD）缺陷自身高度缺陷自身高度發(fā)射探頭接收探頭2Sd1d212ddh波幅灰級(jí)處理波幅灰級(jí)處理5.1.2 衍射時(shí)差法（衍射時(shí)差法（TOFD）nTOFD顯示包括顯示包括A掃信號(hào)和掃信號(hào)和TOFD圖像。圖像。D掃掃上表面上

7、表面內(nèi)壁內(nèi)壁A掃掃LWBW向外表面延伸的裂紋發(fā)射探頭接收探頭裂紋尖端裂紋尖端內(nèi)壁反射波內(nèi)壁反射波BW橫向波被隔開了橫向波被隔開了沒有橫向波沒有橫向波向內(nèi)表面延伸的裂紋發(fā)射探頭接收探頭橫向波橫向波LW尖端信號(hào)尖端信號(hào)內(nèi)壁反射信號(hào)被隔開了內(nèi)壁反射信號(hào)被隔開了沒有內(nèi)壁沒有內(nèi)壁反射波反射波水平方向的平面形缺陷發(fā)射探頭接收探頭橫向波橫向波LW內(nèi)壁反射波內(nèi)壁反射波BW反射回波反射回波反射信號(hào)近表面裂紋裂紋阻擋了直通波，下尖端衍射信號(hào)顯示在A-掃描中。2112未焊透注意上下尖端的兩個(gè)信號(hào)12341234根部未熔合注意直通波和缺陷信號(hào)之間的波形相位轉(zhuǎn)換123123根部未焊透根部未焊透?jìng)?cè)壁未熔合注意上下尖端的兩

8、個(gè)信號(hào)12341234氣孔密集型氣孔12312橫向裂紋在直通波上我們可以看到寬波束在缺陷上的反映。1234123123根部?jī)?nèi)凹 底面回波產(chǎn)生變形123123層間未熔合123層間未熔合層間未熔合5.1.2 衍射時(shí)差法（衍射時(shí)差法（TOFD）n典型典型TOFD圖像圖像nTOFD法優(yōu)缺點(diǎn)法優(yōu)缺點(diǎn)5.1.2 衍射時(shí)差法（衍射時(shí)差法（TOFD）缺缺 點(diǎn)點(diǎn) 掃查面和底面之間存在掃查面和底面之間存在幾毫米表面盲區(qū)幾毫米表面盲區(qū) 易受噪聲影響易受噪聲影響 對(duì)中下部缺陷和部分良對(duì)中下部缺陷和部分良性缺陷（如氣孔、夾層性缺陷（如氣孔、夾層）測(cè)大）測(cè)大 容易漏掉橫向裂紋容易漏掉橫向裂紋 采用數(shù)據(jù)分析，對(duì)檢測(cè)采用數(shù)據(jù)

9、分析，對(duì)檢測(cè)人員要求高人員要求高優(yōu)優(yōu) 點(diǎn)點(diǎn) 檢出率高檢出率高 超聲波束覆蓋區(qū)大超聲波束覆蓋區(qū)大 缺陷高度測(cè)量準(zhǔn)確缺陷高度測(cè)量準(zhǔn)確 實(shí)時(shí)成像，快速分析實(shí)時(shí)成像，快速分析 不依回波高度定量不依回波高度定量 快速安全，方便快速安全，方便 n采用一發(fā)一收雙探頭在工件相對(duì)兩端面檢測(cè)采用一發(fā)一收雙探頭在工件相對(duì)兩端面檢測(cè)聲波穿透工件后的能量變化來判斷工件中缺聲波穿透工件后的能量變化來判斷工件中缺陷的方法。陷的方法。 5.1.3穿透法穿透法.4共振法共振法n 利用入射波和反射波互相疊加形成駐波，產(chǎn)生共振利用入射波和反射波互相疊加形成駐波，產(chǎn)生共振的特性里判斷工件中缺陷和厚度的方法。的特性里判

10、斷工件中缺陷和厚度的方法。 共振產(chǎn)生的條件是聲程是共振產(chǎn)生的條件是聲程是1/21/2波長(zhǎng)的整數(shù)倍，根波長(zhǎng)的整數(shù)倍，根據(jù)產(chǎn)生不同的波節(jié)數(shù)得到兩相鄰共振頻率，通過計(jì)算據(jù)產(chǎn)生不同的波節(jié)數(shù)得到兩相鄰共振頻率，通過計(jì)算得到工件厚度。得到工件厚度。A型顯示橫坐標(biāo)表示時(shí)間，縱坐標(biāo)表示信型顯示橫坐標(biāo)表示時(shí)間，縱坐標(biāo)表示信號(hào)幅度；號(hào)幅度； B型顯示（正視圖）與聲束傳播方向平行型顯示（正視圖）與聲束傳播方向平行且與工件測(cè)量表面垂直的剖面；且與工件測(cè)量表面垂直的剖面；C型顯示（俯視圖）工件橫斷面；二維掃型顯示（俯視圖）工件橫斷面；二維掃描；較窄的電子閘門。描；較窄的電子閘門。 D型顯示（側(cè)視圖）與聲束平面及測(cè)量表型

11、顯示（側(cè)視圖）與聲束平面及測(cè)量表面垂直的剖面。面垂直的剖面。5.2 按顯示方式分類按顯示方式分類A、B 、C、D顯示顯示X XY YY YX XA掃描掃描B掃描掃描B型顯示型顯示-圖像顯示圖像顯示C掃描掃描5.2 按顯示方式分類按顯示方式分類P型顯示投影成像掃描，顯示型顯示投影成像掃描，顯示C掃描圖像（俯視）掃描圖像（俯視）和和D掃描圖像（側(cè)視）；專為檢測(cè)焊縫而開發(fā)的。掃描圖像（側(cè)視）；專為檢測(cè)焊縫而開發(fā)的。 大致估計(jì)焊縫中缺陷形狀和空間位置。大致估計(jì)焊縫中缺陷形狀和空間位置。5.2 按顯示方式分類按顯示方式分類nALOK成像振幅傳播時(shí)間位置曲線；成像振幅傳播時(shí)間位置曲線；5.2 按顯示方式分

12、類按顯示方式分類n相控陣?yán)酶骶?lì)或接收聲脈沖的先后相控陣?yán)酶骶?lì)或接收聲脈沖的先后順序，控制脈沖的時(shí)間延遲與聲波到達(dá)缺陷各順序，控制脈沖的時(shí)間延遲與聲波到達(dá)缺陷各點(diǎn)的相位關(guān)系，實(shí)現(xiàn)聚焦點(diǎn)和聲束方向的變化點(diǎn)的相位關(guān)系，實(shí)現(xiàn)聚焦點(diǎn)和聲束方向的變化對(duì)缺陷進(jìn)行掃描成像。對(duì)缺陷進(jìn)行掃描成像。n特點(diǎn)：多晶片、多通道（一個(gè)通道接一個(gè)陣特點(diǎn)：多晶片、多通道（一個(gè)通道接一個(gè)陣元）、每個(gè)陣元有各自的接頭延時(shí)電路、每個(gè)元）、每個(gè)陣元有各自的接頭延時(shí)電路、每個(gè)晶片之間聲絕緣。晶片之間聲絕緣。n線陣、環(huán)形面陣、線陣、環(huán)形面陣、5.2 按顯示方式分類按顯示方式分類n相控陣聲束偏轉(zhuǎn)相控陣聲束偏轉(zhuǎn)各單元的激勵(lì)脈沖

13、從左各單元的激勵(lì)脈沖從左到右等間隔增加延遲時(shí)到右等間隔增加延遲時(shí)間。間。改變延時(shí)間隔，調(diào)整聲改變延時(shí)間隔，調(diào)整聲束角度。束角度。Direction of energy5.2 按顯示方式分類按顯示方式分類n相控陣聲束聚焦相控陣聲束聚焦兩端陣元先激勵(lì)，逐漸向中間加大延時(shí)。兩端陣元先激勵(lì)，逐漸向中間加大延時(shí)。改變延時(shí)間隔，調(diào)整聚焦深度。改變延時(shí)間隔，調(diào)整聚焦深度。Focussed to cross at this point聲束偏轉(zhuǎn)聚焦聲束偏轉(zhuǎn)聚焦5.2 按顯示方式分類按顯示方式分類n相控陣扇形掃查（相控陣扇形掃查（S掃描成像）掃描成像）在入射點(diǎn)形成一定角度的扇形掃查范圍。在入射點(diǎn)形成一定角度的扇形

14、掃查范圍。5.2 按顯示方式分類按顯示方式分類n相控陣的優(yōu)點(diǎn)：相控陣的優(yōu)點(diǎn)：不移動(dòng)或少移動(dòng)探頭，進(jìn)行快速線掃或扇掃，不移動(dòng)或少移動(dòng)探頭，進(jìn)行快速線掃或扇掃，檢測(cè)效率高；檢測(cè)效率高；可改變聲束角度，具有良好的聲束可達(dá)性，進(jìn)可改變聲束角度，具有良好的聲束可達(dá)性，進(jìn)行復(fù)雜形狀工件的檢測(cè)；行復(fù)雜形狀工件的檢測(cè)；控制聲束偏轉(zhuǎn)和聚焦深度，實(shí)現(xiàn)全深度聚焦檢控制聲束偏轉(zhuǎn)和聚焦深度，實(shí)現(xiàn)全深度聚焦檢測(cè)。測(cè)。5.3 按波型分類按波型分類5.3.1縱波縱波 直探頭、斜探頭、聚焦探頭直探頭、斜探頭、聚焦探頭 5.3 按波型分類按波型分類有齒根裂紋時(shí)的波形有齒根裂紋時(shí)的波形正常無齒根裂紋波形正常無齒根裂紋波形5.3 按

15、波型分類按波型分類5.3 按波型分類按波型分類5.3.2橫波橫波 特點(diǎn)：波長(zhǎng)小，衰減快、穿透能力差、不適用粗晶材料。產(chǎn)生方法： II入射角LI a)直接接觸法：入射角L應(yīng)在57.70 27.60之間b)水浸法：入射角L應(yīng)在14.50 27.270之間應(yīng)用：斜入射，檢測(cè)與表面有一定傾角方向的缺陷。用于焊縫和鋼管的檢測(cè)，以及厚的鋼板和鍛件的輔助檢測(cè)。5.3 按波型分類按波型分類5.3 按波型分類按波型分類n5.3.3表面波表面波特點(diǎn)：在表面特點(diǎn)：在表面2 2 內(nèi)傳播，內(nèi)傳播，遇到表面遇到表面不連續(xù)的部位（開口裂紋、棱邊）不連續(xù)的部位（開口裂紋、棱邊）會(huì)產(chǎn)生反射、波形轉(zhuǎn)換會(huì)產(chǎn)生反射、波形轉(zhuǎn)換等等。產(chǎn)

16、生方法：產(chǎn)生方法：a)Ya)Y切石英法：可以兩個(gè)方向發(fā)射切石英法：可以兩個(gè)方向發(fā)射, ,通常用阻尼材料通常用阻尼材料衰減其中一個(gè)方向。衰減其中一個(gè)方向。b)b)縱波折射法縱波折射法：1siniCCr楔塊縱波聲速工件表面波聲速有機(jī)玻璃有機(jī)玻璃/ /鋼鋼 i i=62=620 064640 0 ( (由于由于近場(chǎng)長(zhǎng)度不超出楔塊長(zhǎng)度，不影響檢近場(chǎng)長(zhǎng)度不超出楔塊長(zhǎng)度，不影響檢測(cè)測(cè)) )應(yīng)用：表面開口裂紋高度測(cè)定應(yīng)用：表面開口裂紋高度測(cè)定a)強(qiáng)度法：強(qiáng)度法： 反射回波隨深度增加而升高，只適用裂紋深度小于反射回波隨深度增加而升高，只適用裂紋深度小于2的情況。的情況。5.3.3 表面波檢測(cè)表面波檢測(cè)n人工反

17、射體的反射強(qiáng)度人工反射體的反射強(qiáng)度1、柱孔：垂直于檢測(cè)面，反射率隨孔徑和頻率的增加而升高。、柱孔：垂直于檢測(cè)面，反射率隨孔徑和頻率的增加而升高。2、橫孔：平行于檢測(cè)面，垂直于檢測(cè)方向，反射率隨孔的深度、橫孔：平行于檢測(cè)面，垂直于檢測(cè)方向，反射率隨孔的深度和頻率的增加而降低。和頻率的增加而降低。5.3.3 表面波檢測(cè)表面波檢測(cè)3、溝槽：垂直于檢測(cè)方向，反射率隨溝槽深度的增加而升高，、溝槽：垂直于檢測(cè)方向，反射率隨溝槽深度的增加而升高，深度相同，反射率隨頻率增加而升高深度相同，反射率隨頻率增加而升高 。4、棱邊：、棱邊：1）棱邊角度對(duì)回波的影響：）棱邊角度對(duì)回波的影響：2.55MHz的的 反射信號(hào)

18、棱角反射信號(hào)棱角90之后降低；之后降低； 170 降為零。降為零。2）棱邊出的波型轉(zhuǎn)換：）棱邊出的波型轉(zhuǎn)換：3）棱邊曲率對(duì)回波的影響：）棱邊曲率對(duì)回波的影響：5.3.3 表面波檢測(cè)表面波檢測(cè)b)時(shí)延法時(shí)延法:單探頭法：?jiǎn)翁筋^法：雙探頭法雙探頭法應(yīng)用中的有關(guān)問題：a)掃描比例1：1 調(diào)試方法：b)頻率選用5MHz；耦合劑多采用甘油或較粘的機(jī)油。c)檢測(cè)靈敏度調(diào)節(jié)：將距40mm棱邊波調(diào)到基準(zhǔn)波高21dB相當(dāng)于長(zhǎng)6.5mm、高0.1mm平面裂紋。 d)表面較厚的油層、污物 、鐵銹、水垢、以及 粗糙的表面均會(huì)造成表面波的嚴(yán)重衰減。因此表面光潔度比一般的檢測(cè)方法要高一些，露出金屬光澤，并用有機(jī)溶劑擦干凈

19、。5.3.4 板波檢測(cè)板波檢測(cè)1、特點(diǎn)：在薄板、薄管內(nèi)傳播。充塞整個(gè)工件，可以發(fā)現(xiàn)內(nèi)、特點(diǎn)：在薄板、薄管內(nèi)傳播。充塞整個(gè)工件，可以發(fā)現(xiàn)內(nèi)部和表面缺陷。撿出靈敏度取決于儀器工作條件和板波的部和表面缺陷。撿出靈敏度取決于儀器工作條件和板波的形式。形式。2、產(chǎn)生方法：、產(chǎn)生方法：pLLccBAsin5.3.4 板波檢測(cè)板波檢測(cè)3、應(yīng)用：主要用于薄板（、應(yīng)用：主要用于薄板（6mm），薄壁管等形狀簡(jiǎn)），薄壁管等形狀簡(jiǎn)單的工件撿測(cè)。單的工件撿測(cè)。4、應(yīng)用中的有關(guān)問題：、應(yīng)用中的有關(guān)問題：檢測(cè)距離大時(shí)，應(yīng)選擇以縱波成分為主的板波型；檢測(cè)距離大時(shí)，應(yīng)選擇以縱波成分為主的板波型；撿測(cè)復(fù)合板粘結(jié)不良時(shí)，應(yīng)選擇以橫

20、波成分為主的板撿測(cè)復(fù)合板粘結(jié)不良時(shí)，應(yīng)選擇以橫波成分為主的板波波型；波波型；板上油、水使板波衰減增大，因此水浸法撿測(cè)時(shí)應(yīng)選板上油、水使板波衰減增大，因此水浸法撿測(cè)時(shí)應(yīng)選擇以縱波成分為主的板波波型（群速接近縱波的波型）擇以縱波成分為主的板波波型（群速接近縱波的波型）5.3.5 爬波法爬波法n1、特點(diǎn)：爬波又稱為表面下縱波，是縱波從第一介質(zhì)以第一臨界角附近的角度入射到第二介質(zhì)時(shí)，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生的一種非均勻波。簡(jiǎn)單說，叫表面下縱波（且有一定的橫波分量）。波速在圓弧面上0.96縱波速度。n由于這種波傳播時(shí)，大部分能量主要集中在表面下某個(gè)范圍內(nèi)，且不同于表面波，受工件表面的刻痕、不平整、凹陷，以及油滴

21、干擾較小，對(duì)工件表面粗糙不敏感，因此適用于檢測(cè)粗糙表面下的缺陷。n2、產(chǎn)生：當(dāng)縱波以第一臨界角27.60附近，30以內(nèi)入射，即可獲得爬波。5.3.5 爬波法爬波法n一次爬波的角度在一次爬波的角度在7583之間，工件內(nèi)部的之間，工件內(nèi)部的3035橫波橫波在工件底部產(chǎn)生縱波和二次爬波。在工件底部產(chǎn)生縱波和二次爬波。n爬波衰減很快，回波聲壓與距離爬波衰減很快，回波聲壓與距離4次方成反比，檢測(cè)距離約幾次方成反比，檢測(cè)距離約幾十毫米。檢測(cè)深度十毫米。檢測(cè)深度0.59mm。3、應(yīng)用：主要用于鑄件、堆焊層等的表面下裂紋，以及螺栓柱根部裂紋檢測(cè)。4、應(yīng)用中的有關(guān)問題：通過選擇探頭的f.D值可以改變對(duì)表面附件缺

22、陷的敏感程度， f.D大，探測(cè)深度小。爬波離開探頭后衰減很快，P1/X4，檢測(cè)距離只有幾十毫米，通常采用雙探頭布置。n單探頭法單探頭法 n雙探頭法雙探頭法 n多探頭法多探頭法 5.4 按探頭數(shù)量分類按探頭數(shù)量分類n接觸法接觸法 n液浸法液浸法 n電磁耦合法電磁耦合法 利用磁致伸縮原理激發(fā)電磁超聲并接收返回聲波。利用磁致伸縮原理激發(fā)電磁超聲并接收返回聲波。 可用于電磁超聲測(cè)厚和檢測(cè)，不需耦合劑?？捎糜陔姶懦暅y(cè)厚和檢測(cè)，不需耦合劑。 5.5 按接觸方式分類按接觸方式分類.1直接接觸法直接接觸法n探頭與工件之間有一層薄薄的耦合劑（d/4），最佳壓力為1020N時(shí)耦合穩(wěn)定，效果好。n

23、特點(diǎn)操作簡(jiǎn)便、靈敏度高、適用于手工操作。n缺點(diǎn)探頭易磨損，工件表面粗糙度應(yīng)控制在6.3m 以內(nèi)。 5.5.2液浸法液浸法特點(diǎn)耦合穩(wěn)定（不受工件表面粗糙度的影響）、特點(diǎn)耦合穩(wěn)定（不受工件表面粗糙度的影響）、 探頭不會(huì)磨損，探頭不會(huì)磨損， 盲區(qū)?。ㄋ摻缑娌ǖ膶挾刃∮谑济}沖寬度）盲區(qū)?。ㄋ摻缑娌ǖ膶挾刃∮谑济}沖寬度） 聲能損失較大、水鋼界面聲壓透過率只有聲能損失較大、水鋼界面聲壓透過率只有20，水浸檢測(cè)時(shí)必須提高檢測(cè)靈敏度約水浸檢測(cè)時(shí)必須提高檢測(cè)靈敏度約10dB。 調(diào)整探頭的入射角，可獲得任意角度的橫波，調(diào)整探頭的入射角，可獲得任意角度的橫波，由于聲束擴(kuò)散，常使用水浸聚焦探頭。由于聲束擴(kuò)散，常使用水浸聚焦探頭。 加表面活性劑潤(rùn)濕工件，必要時(shí)，適當(dāng)對(duì)水加熱，加表面活性劑潤(rùn)濕工件，必要時(shí)，適當(dāng)對(duì)水加熱，去除水中的氣泡，防止雜波。去除水中的氣泡，防止雜波。5.5.3電磁耦合法電磁耦合法nEMAT的物理結(jié)構(gòu)由三部分組成：的物理結(jié)構(gòu)由三部分組成：1、高頻線圈：用于產(chǎn)生高頻激發(fā)磁場(chǎng)。高頻線圈：用于產(chǎn)生高頻激發(fā)磁場(chǎng)。2、磁鐵：用來提供外加磁場(chǎng)，它可以是永久磁鐵或直流電磁鐵