光測應(yīng)變測量

1、應(yīng)變測量是材料和結(jié)構(gòu)力學(xué)性能試驗(yàn)中的一項(xiàng)基本任務(wù)，是了解材料在力學(xué)載荷等因素作用下的變形、損傷和失效行為的基礎(chǔ)，對于確定結(jié)構(gòu)設(shè)計許用值、結(jié)構(gòu)壽命預(yù)測和評估等均有重要價值。其中光測力學(xué)是由光學(xué)和力學(xué)的交叉、結(jié)合而形成的一門實(shí)驗(yàn)科學(xué)，它采用現(xiàn)代光學(xué)測量技術(shù)和數(shù)字圖象處理技術(shù)對力學(xué)參數(shù)進(jìn)行測量。其主要的方法有： 云紋及云紋干涉法 光彈性法 散斑干涉及剪切散斑干涉法 數(shù)字圖象相關(guān)法 全息/數(shù)字全息干涉法 其它而光測力學(xué)的主要特點(diǎn)有以下幾點(diǎn)： 全場性 非接觸性 高精度、高分辨率 以（數(shù)字）圖像，特別是條紋圖像為信息載體 操作和信息的提取較為復(fù)雜一、幾何云紋法基本原理云紋源自法語，意思是從中國傳入的絲綢的

2、“耀眼的光澤”或“波形圖案”。在實(shí)驗(yàn)力學(xué)中，它指的是兩個空間頻率相差不大的振幅型光柵疊加在一起時所產(chǎn)生的明暗交錯的條紋圖案。通過分析云紋圖案和條紋間距，可以測量物體的面內(nèi)變形和應(yīng)變以及三維形貌，這種方法成為云紋法。如圖1.1所示，云紋實(shí)際上是兩個光柵間的互相遮擋與透過現(xiàn)象。云紋中的亮條紋是由兩個光柵的白線相交形成的（源于互不遮擋）。而暗條紋是由兩個光柵的白線與黑線相交形成的（源于互相遮擋）。由于人眼的分辯率或低通濾波性，白條紋中的黑線干擾被忽略了。圖1.1 云紋示意圖適用范圍云紋法是可以測定位移場及應(yīng)變場的實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析方法。用它來測量構(gòu)件的位移和應(yīng)變有很多優(yōu)點(diǎn)。可用于各種材料，包括常用工程材料

3、以及有特殊性能的材料，如低彈性模量的、各向異性的、復(fù)合或聚合材料等?？梢詰?yīng)用于靜荷與動荷，包括測定瞬時沖擊或長期蠕變等，可以用于測定較大量程的變形彈性、塑性直至破壞的大變形，還可以用于測定裂紋附近的彈塑性變形場，板、殼，以及二維和三維穩(wěn)定等問題。優(yōu)缺點(diǎn)用于測量構(gòu)件的位移和應(yīng)變有很多優(yōu)點(diǎn)。它測量時所使用的設(shè)備簡單，應(yīng)用范圍廣。云紋法的不足之處是在測量彈性范圍的微小應(yīng)變時，還缺乏足夠的靈敏度與準(zhǔn)確度，但是近年來在這方面已有不少進(jìn)展。分辨率云紋法測平面位移的分辨率為（參考柵的）一個柵距。一般為10-1000 微米二、云紋干涉法基本原理云紋干涉是近20年來產(chǎn)生的現(xiàn)代光測力學(xué)中的一部分。由D. Post

4、將高密度衍射光柵技術(shù)引入光測力學(xué)中，戴福隆利用波前理論科學(xué)解釋了云紋干涉法原理，進(jìn)一步完善了云紋干涉理論。云紋干涉具有高靈敏度、大量程、極好的條紋質(zhì)量、非接觸、實(shí)時全場觀測等優(yōu)點(diǎn)，從其誕生之日起就受到高度重視。目前云紋干涉的理論與方法研究已經(jīng)基本完善，并在材料科學(xué)、無損檢測、斷裂力學(xué)、細(xì)觀力學(xué)、微電子封裝等許多領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。D. Post最早提出云紋干涉的解釋，并概括為：云紋干涉發(fā)的本質(zhì)在于從試件柵衍射出的翹曲波前相互干涉，產(chǎn)生代表位移等值線的干涉條紋。當(dāng)試件受載變形時刻制在試件表面的試件柵也隨之變形，變形后的試件柵與作為基準(zhǔn)的空間虛柵相互作用形成云紋圖。適用范圍云紋干涉法可以測定全場面內(nèi)位移

5、。在斷裂力學(xué)中的應(yīng)用為裂尖位移場/應(yīng)變場的測量，塑性區(qū)的確定，斷裂力學(xué)理論的驗(yàn)證等方面。在電子器件熱，機(jī)械可靠性評價方面的應(yīng)用包括：焊球熱變形及疲勞壽命的確定，塑料封裝材料吸濕膨脹系數(shù)的測量等。優(yōu)缺點(diǎn)不僅克服了通常的全息干涉法不能直接獲取面內(nèi)位移場的困難，比較云紋法、散斑照相法更具有靈敏度，而且其量程也不像散斑干涉那樣受到極嚴(yán)格的限制。此外，這一方法還可以對面內(nèi)位移進(jìn)行全場實(shí)時觀測，這也是其他光學(xué)干涉方法是難以實(shí)現(xiàn)的。但是需要貼光柵，并且進(jìn)行條紋處理，過程較為繁瑣。分辨率測試分辨率都決定于光柵的空間頻率（兩入射光干涉形成的干涉條紋的空間頻率是物理光柵空間頻率的2 倍！），可以達(dá)到波長量級幾何云

6、紋法與云紋干涉法的異同 條紋形成機(jī)制不同，幾何光學(xué)干涉與物理光學(xué)干涉； 測試分辨率相差很大； 測試分辨率都決定于光柵的空間頻率； 云紋干涉法的條紋成因可借助云紋法的條紋成因理解（交叉入射光的干涉條紋可視為參考柵，但注意其頻率問題）； 變形的正負(fù)都可用相同方法判斷（轉(zhuǎn)動參考柵）； 條紋處理方法相同； 實(shí)現(xiàn)相移方法相同（試件柵與參考柵之間的相對移動）。三、光測彈性法基本原理應(yīng)用偏振光干涉原理對應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測試的儀器，簡稱光彈儀。應(yīng)用它可以通過模型在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行大型建筑構(gòu)件、水壩壩體、重型機(jī)械部件的應(yīng)力和應(yīng)力分布的測試，并可以在模型上直接看到被測件的全

7、部應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。分類光測彈性力學(xué)方法的發(fā)展，使該類儀器已有十余個品種，它們用于不同的范疇，可分靜態(tài)應(yīng)力分析儀及動態(tài)應(yīng)力分析儀兩大類。靜態(tài)應(yīng)力分析儀中包括上述經(jīng)典光彈性儀及其變形產(chǎn)品；如用于一般試驗(yàn)的簡單型漫射式光彈性儀；用于現(xiàn)場的反射式光彈性儀及多種光彈性儀附件，如石英補(bǔ)償器、條紋倍增器、斜射器等。在經(jīng)典方法之外，還發(fā)展了全息光彈性儀、云紋儀、激光散斑儀等。這一類儀器都可用于測量模型或物體的表面形變。在動態(tài)應(yīng)力分析儀器中，發(fā)展了如多火花動態(tài)光彈性儀、多脈沖激光全息照相機(jī)等，它們可用于拍攝高速動載荷作用下的模型光彈性條紋分布的變化過程。以上已形成儀器系列。正在發(fā)展中的尚有自動光彈性儀、

8、光彈性實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)自動采集及處理系統(tǒng)，它們進(jìn)一步簡化實(shí)驗(yàn)操作，縮短了實(shí)驗(yàn)周期和提高了實(shí)驗(yàn)精度，是今后發(fā)展的方向。適用范圍1、 彈性力學(xué)實(shí)驗(yàn)，單向受力試件中園孔的應(yīng)力集中系數(shù)測定2、 斷裂力學(xué)實(shí)驗(yàn)，裂紋在兩種材料界面附近的擴(kuò)展行為3、 細(xì)觀力學(xué)實(shí)驗(yàn)，位錯在晶界運(yùn)動、塞積造成的局部應(yīng)力場優(yōu)缺點(diǎn)光測彈性法的缺點(diǎn)是只能在模型材料上進(jìn)行試驗(yàn)，優(yōu)點(diǎn)可以測定主應(yīng)力方向，應(yīng)力場。四、散斑干涉法基本原理散斑干涉法是20世紀(jì)70年代發(fā)展起來的一種實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法，它是一種非接觸式的測量物體位移和應(yīng)變的技術(shù)。當(dāng)相干光照射到引起漫反射的物體表面時，物體各個部位所發(fā)出的次波在物體表面的前面相干而形成大量的明暗斑點(diǎn)，叫做散斑。這

9、種散斑是非定域的，在物體前方的各個位置都存在，也叫做客觀散斑。由于散斑和所照射的表面存在著固定的關(guān)系，我們在物體位移前和位移后分別將散斑記錄在一張照相底版上。底板上的復(fù)合散斑圖即反映了物體表面的各點(diǎn)位移的變化。通過適當(dāng)處理可以將這種位移信息顯露出來而加以測量。散斑計量中，由于散斑場與其所應(yīng)用的光學(xué)系統(tǒng)密切相關(guān)。因此，由光學(xué)系統(tǒng)的不同配置產(chǎn)生了所謂的客觀散斑與主觀散斑?？陀^散斑在其散射空間分布，而主觀散斑僅在像平面上分布。散斑計量的方法主要有基于散斑顆粒位置的變化所進(jìn)行的檢測的散斑照相術(shù)或單光束散斑干涉以及基于干涉散斑場相位變化而進(jìn)行的檢測的散斑相關(guān)干涉或雙光束散斑干涉。分類雙光束散斑干涉法在相

10、干光照明下，把待測表面漫反射所形成的散斑場，和固定且不變形的另一表面的漫反射所形成的散斑場疊加，構(gòu)成一個新的散斑場。在待測表面發(fā)生變形的過程中，這個疊加而成的散斑場將發(fā)生如下變化:變形體表面沿法線方向每移動1/2波長的距離，斑的明暗變化就形成一個循環(huán)。當(dāng)物體表面有不均勻的離面位移時，凡是位移為1/2波長及其整數(shù)倍的地方，散斑仍是原來的狀態(tài)。變形前后斑的亮度分布的細(xì)節(jié)完全相同的區(qū)域，稱為相關(guān)部分；反之，則稱為不相關(guān)部分。故可以采用適當(dāng)?shù)姆椒?，把相關(guān)部分的干涉條紋顯示出來，從而了解物體表面的全場變形狀況。雙光束散斑干涉法用于測量板的變形和振動，用于輪胎的無損檢驗(yàn)以及用于測量人的耳膜在各種聲響下的振

11、動等。單光束散斑干涉法在被激光照明的物體表面以外的空間，形成隨機(jī)分布的散斑場。分布在空間的散斑，稱為客觀散斑;通過透鏡成象而記錄在平面上的散斑，稱為主觀散斑。物體發(fā)生微小變形，散斑也隨之發(fā)生變化，它們之間有著確定的關(guān)系。把物體表面變形前后所形成的兩個散斑圖，記錄在同一張底片上。底片上的每個小區(qū)域，和物體表面的小區(qū)域一一對應(yīng)；當(dāng)此區(qū)域足夠小時，在底片上對應(yīng)的小區(qū)域內(nèi)的兩個散斑圖幾乎完全相同，只是錯動了一個與物體表面位移有關(guān)的小的距離。這時各個斑點(diǎn)都成對出現(xiàn)。其錯動的距離和方位，代表所對應(yīng)的物體表面小區(qū)域的移動。用光學(xué)信息處理的方法，對所記錄的底片進(jìn)行分析，就可以得到物體表面的位移或位移的微分的分

12、布。記錄的方法，既可以直接記錄客觀散斑，也可以通過透鏡記錄主觀散斑。通常采用的信息處理的方法，有逐點(diǎn)分析法和全場分析法兩種。單光束散斑照相已廣泛用來測量物體表面的平動、傾斜和應(yīng)變，如孔周的應(yīng)變集中，蜂窩夾層板的變形，平面問題的應(yīng)變和斷裂力學(xué)實(shí)驗(yàn)中的位移場等。利用側(cè)向散射光所形成的散斑，可以測量透明試件內(nèi)部任一截面的位移和變形。比較散斑干涉法對防振要求低。雙光束散斑干涉法的測量靈敏度和全息干涉法相當(dāng)，單光束散斑干涉法的測量靈敏度則較低一些。用散斑干涉法比較容易獲得分離的位移分量及其微分。此法的缺點(diǎn)是只能測量物體表面的平面部分。將全息干涉和散斑干涉兩種方法聯(lián)合起來，互相補(bǔ)充，可以通過一張雙曝光照片

13、獲得分離的三維位移分量的全場分布。在激光散斑干涉法的發(fā)展過程中，形成了一種非相干光散斑法，或稱白光散斑法。同激光散斑干涉法相比，非相干光散斑法有很多優(yōu)點(diǎn)。激光散斑干涉法只能測量物體的平面部分，而非相干光散斑法卻可以通過控制照相的景深，對三維物體表面進(jìn)行有層次的照相，可以逐次測量三維物體各截面的位移和變形；激光散斑干涉法不能測量熱變形，而且受激光器的能量限制，不便測量大面積的物體，而非相干光散斑法則沒有這些限制；單光束散斑干涉法的測量靈敏度和散斑的大小有關(guān)，非相干光散斑法可以人為地控制所制作斑點(diǎn)的大小，使得測量靈敏度可以在較大的范圍內(nèi)變化。非相干光散斑法已用于測量雷達(dá)天線的熱變形、大的混凝土構(gòu)件

14、的變形和裂紋尖端位移場等。用途激光散斑干涉法的用途很廣，除了測取物體的位移、應(yīng)變外，還可以用于無損探傷、物體表面粗糙度的測量、塑性區(qū)測量、振動測量、紋尖位移場測量等方面五、數(shù)字圖像相關(guān)法基本原理數(shù)字圖像相關(guān)法(Digital Image Correlation Method，簡稱DICM)，又稱為數(shù)字散斑相關(guān)法(Digital Speckle Correlation Method，簡稱DSCM)，是應(yīng)用于計算機(jī)視覺技術(shù)的一種圖像測量方法。數(shù)字圖像相關(guān)(Digital Image Correlation， i.e. DIC)測量技術(shù)是應(yīng)用計算機(jī)視覺技術(shù)的一種圖像測量方法，是一種非接觸的、用于全場

15、形狀、變形、運(yùn)動測量的方法。它是現(xiàn)代先進(jìn)光電技術(shù)、圖像處理與識別技術(shù)與計算機(jī)技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物，是現(xiàn)代光側(cè)力學(xué)領(lǐng)域的又一新進(jìn)展。它將物體表面隨機(jī)分布的斑點(diǎn)或偽隨機(jī)分布的人工散斑場作為變形信息載體，是一種對材料或者結(jié)構(gòu)表面在外載荷或其他因素作用下進(jìn)行全場位移和應(yīng)變分析的新的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法。在實(shí)驗(yàn)固體力學(xué)領(lǐng)域中，對于不同載荷下，材料和結(jié)構(gòu)表面的變形測量一直是一個較難的課題。一般包括接觸式和非接觸式兩種，對于一般使用的電阻應(yīng)變片接觸式測量方法，受其測量手段的限制，不能得到全場數(shù)據(jù)，且測量范圍有限，不能得到物體整體上的變形規(guī)律。而對于全場的非接觸式光學(xué)測量方法，包括干涉測量技術(shù)(例如全息照相干涉法，散斑千

16、涉法)和非干涉技術(shù)(例如網(wǎng)格法和數(shù)字圖像相關(guān)測量法)。由于干涉測量技術(shù)要求有相干光源，光路復(fù)雜，且測量結(jié)果易受外界震動的影響，多在具有隔振臺的實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行，應(yīng)用范圍受到了極大的限制。而非干涉測量技術(shù)是通過對比變形前后物體表面的灰度強(qiáng)度來決定表面變形量，對光源和測量環(huán)境要求較低。數(shù)字圖像相關(guān)測量技術(shù)可以直接采用自然光源或白光源，通過具有一定分辨率的CCD相機(jī)采集圖像，并利用相關(guān)算法進(jìn)行圖像處理得到變形信息，可以說，DIC是一種基于數(shù)字圖像處理和數(shù)值計算的光學(xué)測量方法。由于該技術(shù)的直接處理對象是數(shù)字圖像，而隨著科學(xué)技術(shù)和數(shù)字化技術(shù)的不斷發(fā)展與更新，數(shù)字圖像的分辨率和清晰程度不斷擴(kuò)大，因此，數(shù)字圖像

17、處理技術(shù)的測量精度也在不斷提升。由于數(shù)字圖像測量技術(shù)的上述優(yōu)點(diǎn)，使得DIC技術(shù)被廣泛接受，并被視為測量表面變形的一種有力而又靈活的工具。在材料科學(xué)領(lǐng)域，對于不同材料的應(yīng)變、變形的測量一直是一個較為重要的課題，對于研究材料的性能以及內(nèi)在的變形規(guī)律等具有重要的意義。而數(shù)字圖像相關(guān)測量技術(shù)具有測量應(yīng)變、變形顯著的優(yōu)點(diǎn)，因此，將數(shù)字圖像相關(guān)測量技術(shù)應(yīng)用在該領(lǐng)域具有很大的前景。目前，DIC技術(shù)已經(jīng)在材料的力學(xué)行為測試與分析上有著許多應(yīng)用。尤其是對于低維膜材料、生物材料、木材及巖石材料的變形場的定量測量。但是對于在金屬材料方面的運(yùn)用并不是很普遍，尤其是在國內(nèi)這方面的報道相對較少。在國外，Puerto Ri

18、co大學(xué)的Rommel等人米用DIC方法研究了鋁、磚塊等材料的變形行為，并與理論應(yīng)變值以及引伸計測量值進(jìn)行了對比，得出對于磚塊兩種方法測量應(yīng)變很準(zhǔn)確，對于3釆用DIC測得值要高于理論值。M.Rossi等人研究了數(shù)字圖像相關(guān)測量方法在板材平面各向異性方面的報道，測量了板材的塑性應(yīng)變比r值。此外，V.SavicL.G.Hector等人將DIC方法用在了馬氏體鋼的變形以及斷裂方面的研究工作上，給出了該鋼在拉伸過程中應(yīng)變場的分布。B.Ahn和S.R.Niitt等人利用數(shù)字圖像相關(guān)測量方法對紹鎂合金在微尺度下的變形行為及應(yīng)變值進(jìn)行了相關(guān)研究。在國內(nèi)，采用DIC方法來進(jìn)行金屬材料變形過程的研究較少。徐飛鴻

19、等人利用數(shù)字圖像相關(guān)測量方法的理論提出了一種金屬材料塑性變形過程中塑性變形區(qū)域的識別方法。桂良進(jìn)、高付海等人進(jìn)行了數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的試驗(yàn)，將DIC方法利用在雙相鋼的單向拉伸斷裂失效的研究上，詳細(xì)分析研究了試樣的拉伸斷裂過程，捕捉了其分散性失穩(wěn)和集中性失穩(wěn)的發(fā)生時刻，得到了頸縮時刻的橫向應(yīng)變分布。劉主琛等人利用數(shù)字散斑相關(guān)法研究了鉛和銅裂紋尖端損傷區(qū)內(nèi)應(yīng)變場的測量。DIC在變形及應(yīng)變方面的應(yīng)用與其它基于相干光波干涉原理的光測方法（如電子散斑干涉、云紋干涉法）相比，數(shù)字圖像相關(guān)方法具有其明顯和獨(dú)特的優(yōu)勢：1）僅需要一個（2D DIC）或兩個數(shù)字相機(jī)(3D DIC)拍攝變形前后被測物體表面的數(shù)字圖像

20、，其光路布置、測量過程和試樣準(zhǔn)備簡單；2）無需激光照明和隔振，對測量環(huán)境要求較低；3）可與不同時間分辨率和空間分辨率的數(shù)字成像設(shè)備（如高速攝像機(jī)、光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡）直接結(jié)合，因此適用測量范圍廣泛。適用范圍直接測量各種尺度物體表面(甚至物體內(nèi)部)在載荷作用下的位移/變形場；確定各種材料(復(fù)合材料、生物材料、低維材料)的力學(xué)常數(shù)(彈性模量、泊松比、殘余應(yīng)力、應(yīng)力強(qiáng)度因子、熱膨脹系數(shù))；驗(yàn)證有限元計算和力學(xué)理論分析的正確性。分辨率可以達(dá)到零點(diǎn)幾個像素。優(yōu)缺點(diǎn)1、數(shù)字圖像相關(guān)方法的優(yōu)勢非接觸、全場測量(與電阻應(yīng)變片相比)；測量設(shè)備、過程簡單，無需激光、隔振臺，適用于現(xiàn)場測量(與ESPI， M

21、I， DH 相比)；適用測量范圍廣泛，微納米尺度、高低溫環(huán)境、高速動態(tài)(與ESPI， MI， DH 相比)；測量過程自動化，直接獲得變形場(與ESPI， MI， DH 相比)。2、數(shù)字圖像相關(guān)方法的不足目前的技術(shù)不適合宏觀物體的非均勻小變形測量；計算較耗時，目前的計算不能實(shí)時顯示測量結(jié)果。六、全息/數(shù)字全息干涉法基本原理1、全息干涉計量技術(shù)全息干涉技術(shù)是指應(yīng)用全息攝影法進(jìn)行干涉計量的一種技術(shù)。它利用全息攝影法，將兩個或若干個狀態(tài)略有差異的、來自同一物體的光波，記錄在同一塊全息干版上。再現(xiàn)時，可以同時再現(xiàn)這兩個或若干個略有差異的物光波，各些物光波相互干涉、并形成干涉條紋。該干涉條紋反映了物體不同

22、狀態(tài)之間的差異，而這種差異正是干涉計量想得到的物理信息（如變形、折射率等等）。全息干涉計量術(shù)根據(jù)記錄方式的不同，可分為：雙曝光法、實(shí)時法、時間平均法和頻閃法等。其運(yùn)動形式如下表所示：2、雙曝光全息干涉計量技術(shù)所謂雙曝光全息干涉技術(shù)就是指，在物體變形前后對物體進(jìn)行雙曝光全息攝影，以獲取物體的變形信息。測量分兩步進(jìn)行：干涉記錄（曝光兩次）以及衍射再現(xiàn)。3、 數(shù)字全息干涉法隨著數(shù)字相機(jī)高空間分辨率的提高，通過數(shù)字記錄、數(shù)值再現(xiàn)的數(shù)字全息逐漸代替?zhèn)鹘y(tǒng)的全息方法。數(shù)字全息是用光電傳感器件（如CCD 或CMOS）代替干板記錄全息圖，然后將全息圖存入計算機(jī)，用計算機(jī)模擬光學(xué)衍射過程來實(shí)現(xiàn)被記錄物體的全息再現(xiàn)

23、和處理。其特點(diǎn)如下： 避免濕化學(xué)處理，制作成本低； 成像速度塊，結(jié)果的實(shí)時顯示； 記錄再現(xiàn)靈活，參數(shù)（焦距、圖像尺寸、分辨率等）可靈活控制。適用范圍 漫射固體表面三維位移場和振動振幅場的測量； 透明固體內(nèi)厚度變化和折射率變化的測量； 三維物表面的形狀測量； 氣體或液體內(nèi)密度、溫度和濃度變化的測量等等。優(yōu)缺點(diǎn)普通照相只能記錄物體的光強(qiáng)，也就是光的振幅，而不能記錄光的相位。而全息照相的干涉條紋不僅反映了參考光和物光的振幅，而且反映了參考光和物光的位相關(guān)系。附：光測儀器生產(chǎn)廠家美國英斯特朗集團(tuán)英斯特朗集團(tuán) (INSTRON CORPORATION )是1946年從美國著名的麻省理工學(xué)院 (MIT)

24、創(chuàng)辦、發(fā)展起來的一家國際性材料試驗(yàn)儀器生產(chǎn)公司。其總公司設(shè)于美國，生產(chǎn)工廠分別設(shè)在美國、英國和德國。在全球20個國家和地區(qū)分別設(shè)有37個分公司、辦事處、試驗(yàn)應(yīng)用中心和技術(shù)服務(wù)中心。目前，英斯特朗公司每年生產(chǎn)約2千臺(套)各種類型材料試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)機(jī)、硬度計和結(jié)構(gòu)試驗(yàn)系統(tǒng)?，F(xiàn)已有數(shù)萬臺英斯特朗試驗(yàn)設(shè)備在近百個國家和地區(qū)的眾多領(lǐng)域中發(fā)揮著作用。 自1946年英斯特朗公司研制了世界上第一臺閉環(huán)控制的電子萬能材料試驗(yàn)機(jī)和世界上第一個應(yīng)變片式載荷傳感器，六十多年來，英斯特朗公司始終致力于以最新的科學(xué)技術(shù)開發(fā)高精度材料試驗(yàn)儀器和系統(tǒng)及其應(yīng)用，在各時期均研制出代表當(dāng)時世界最先進(jìn)技術(shù)水平的材料試驗(yàn)機(jī)。自七十

25、年代中期，英斯特朗公司率先將全數(shù)字化控制技術(shù)應(yīng)用于材料試驗(yàn)機(jī)的控制系統(tǒng)，所有英斯特朗材料試驗(yàn)設(shè)備及結(jié)構(gòu)試驗(yàn)系統(tǒng)都符合國際通用試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)如 ISO、ASTM、EN等標(biāo)準(zhǔn)，并可按照這些標(biāo)準(zhǔn)中的有關(guān)規(guī)范對纖維、紡織品、金屬、陶瓷、橡膠、塑料、復(fù)合材料、木材、紙張、食品等各種材料進(jìn)行力學(xué)性能的試驗(yàn)和研究。英斯特朗材料試驗(yàn)機(jī)及結(jié)構(gòu)試驗(yàn)系統(tǒng)以其技術(shù)先進(jìn)、質(zhì)量優(yōu)良、可靠和完善的售后服務(wù)、具有極強(qiáng)的競爭力，其性能/價格比通常優(yōu)于其它公司的產(chǎn)品。卓力特光電儀器（蘇州）有限公司卓力特光電儀器（蘇州）有限公司是一家集研發(fā)、制造于一體的美資光電設(shè)備制造廠商。公司由五位力學(xué)、光學(xué)及電子專業(yè)的留美博士合作創(chuàng)立于1992年，產(chǎn)品涉及光電儀器、光測力學(xué)實(shí)驗(yàn)室、光彈性力學(xué)實(shí)驗(yàn)室、三維數(shù)字全場光測力學(xué)實(shí)驗(yàn)室等幾個部分，主要產(chǎn)品包括光學(xué)鏡頭、LED數(shù)碼光彈儀、多功能光測力學(xué)系統(tǒng)、一維面內(nèi)位移相移電子散斑干涉儀、一維離面位移相移電子散斑干涉儀、相移剪切電子散斑干涉儀、二維數(shù)字散斑相關(guān)測量儀、相移柵線投影測量儀、三維相移電子散斑干涉儀、三維形貌測量系統(tǒng)（宏觀/細(xì)觀）、三維數(shù)字圖像相關(guān)測量系統(tǒng)、三維云紋干涉儀、長距離顯微鏡以及各類光學(xué)位