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文檔簡(jiǎn)介
1、實(shí)驗(yàn)一、室溫固相反應(yīng)合成硫化鎘半導(dǎo)體材料及差熱分析 5一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、學(xué)習(xí)室溫固相反應(yīng)法合成半導(dǎo)體材料的方法;2、了解用熱分析方法研究化合物的熱穩(wěn)定性;3、練習(xí)固液分離操作和加熱設(shè)備的使用。二、實(shí)驗(yàn)原理室溫固相反應(yīng)是近幾年發(fā)展起來(lái)的一種新的研究領(lǐng)域。利用固相反應(yīng)可以合成液相中不易合成的金屬配合物、原子簇化合物、金屬配合物的順?lè)磶缀萎悩?gòu)體,以及不能在液相中穩(wěn)定存在的固相配合物等。同時(shí),由于固、液相反應(yīng)過(guò)程中的反應(yīng)機(jī)理不同,有時(shí)還可能產(chǎn)生不同的反應(yīng)產(chǎn)物,因而有可能制得一些特殊的材料。利用室溫固相反應(yīng)法合成精細(xì)陶瓷材料的研究剛剛興起。與常用的氣相法、液相法及固相粉碎法相比,它具有明顯的優(yōu)點(diǎn),如合成工
2、藝大大簡(jiǎn)化、原料的用量及副產(chǎn)物的排放量都顯著減少;同時(shí)由于減少了中間步驟并且是低溫反應(yīng),還可以避免粒子團(tuán)聚,有利于產(chǎn)物純度提高。CdS是典型的-族化合物半導(dǎo)體材料,在顏料、光電池和敏感材料領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。其常用的合成方法是鎘鹽沉淀法和氣相反應(yīng)法。本實(shí)驗(yàn)用鎘鹽與硫化鈉在室溫一步反應(yīng)法制備CdS,現(xiàn)象明顯,反應(yīng)速度快。合成產(chǎn)物的結(jié)構(gòu)經(jīng)X射線衍射分折符合JCPDS卡片100454,分別在26.5°、44°、52°處出現(xiàn)最強(qiáng)的衍射峰(見(jiàn)圖1)。CdS的熱穩(wěn)定性可用差熱分析(DTA)和熱重分析(TG)同時(shí)分析。圖2是CdS在空氣氣氛中的DTA-TG曲線,555.7的放熱
3、峰及伴隨的增重現(xiàn)象可認(rèn)為是CdS被氧化生成了CdSO4,382.3的微弱吸熱峰和伴隨的輕微的失重現(xiàn)象可以為是CdS表面吸附物的脫去或少量CdS被氧化成了CdO。由此表明CdS在500以下是穩(wěn)定的,超過(guò)500即明顯被氧化。圖1 合成樣品的XRD圖圖2 合成樣品的DTA-TG圖三、儀器與試劑儀器 小研缽,離心試管,小坩堝,多用滴管,烘箱,馬弗爐,離心機(jī),差熱分析儀或X射線衍射儀(或紅外光譜儀)。藥品 CdSO4(s)或CdCl2(s),Cd(NO3)2(s),Na2S(s),1.0mo1·L-1BaCl2溶液,pH試紙。四、固相反應(yīng)原理固相反應(yīng)可分為4 個(gè)階段:擴(kuò)散- 反應(yīng)- 成核- 生
4、長(zhǎng),即在熱力學(xué)可行的條件下,固相反應(yīng)的發(fā)生起始于兩個(gè)反應(yīng)物分子的擴(kuò)散接觸,接著發(fā)生化學(xué)作用,生成產(chǎn)物分子;當(dāng)產(chǎn)物分子集積到一定大小,才能出現(xiàn)產(chǎn)物的晶核,從而完成成核過(guò)程;隨著晶核的長(zhǎng)大,達(dá)到一定的大小后便出現(xiàn)產(chǎn)物的獨(dú)立晶相6 。本文通過(guò)充分混合研磨,反應(yīng)物ZnSO4·7H2O 與Na3PO4·12H2O 中的結(jié)晶水釋放出來(lái),在反應(yīng)物表面形成液膜,使部分反應(yīng)物溶解,溶解的反應(yīng)物在液膜中有較快的傳質(zhì)速度,增大了反應(yīng)物分子間的擴(kuò)散接觸,因而能加快固相反應(yīng)的進(jìn)行。另外,反應(yīng)物在充分混合研磨過(guò)程中,反應(yīng)微粒間互相碰撞,迅速成核,由于固相反應(yīng)中離子通過(guò)各物相的擴(kuò)散速度相對(duì)于溶液中要慢得
5、多,結(jié)果晶核不能迅速生長(zhǎng),根據(jù)結(jié)晶學(xué)原理,若成核速度快而生長(zhǎng)速度慢,易生成粒徑小的產(chǎn)物。本文在室溫固相法合成磷酸鋅中引入表面活性劑,適量的表面活性劑能有效地降低小粒子的表面能,抑制粒子的團(tuán)聚現(xiàn)象,有利于得到尺寸較小的粒子。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),加入適量的表面活性劑,可改善產(chǎn)物的分離,烘干后所得到的磷酸鋅粉末比較蓬松。五、實(shí)驗(yàn)步驟1按0.5gCdS的產(chǎn)量設(shè)計(jì)應(yīng)加入CdSO4·8H2O和Na2S·9H2O的量,用臺(tái)秤稱(chēng)量后置于小研缽中研磨10-20min,即生成橙紅色的CdS。2將產(chǎn)物用去離子水洗滌五遍以上,上層清液用多用滴管吸出,用pH試紙檢驗(yàn)清液的pH值6,且用BaCl2檢驗(yàn)無(wú)沉淀生成
6、為止。得到純凈的CdS沉淀。3洗凈的沉淀轉(zhuǎn)移至離心試管離心分離(或用砂芯漏斗減壓過(guò)濾)。吸凈上層清液后稱(chēng)重,計(jì)算產(chǎn)率。4在自己的離心試管上貼上標(biāo)簽,放入105的烘箱中烘干樣品(一般需0.5h以上)。此烘干樣品可用于進(jìn)行熱分析。如做XRD分析,為了使X射線衍射(XRD)圖效果更明顯,可將該樣品于馬弗爐中400煅燒1-2h,使晶形趨于完整。5在差熱分析儀上測(cè)繪DTATG曲線。確定合成產(chǎn)物的熱穩(wěn)定性變化;(1)打開(kāi)儀器電源,預(yù)熱20分鐘。先在兩個(gè)小坩鍋內(nèi)分別準(zhǔn)確稱(chēng)取CdS和a-Al2O3各5mg。升起加熱爐,逆時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)到左側(cè)。用熱源靠近差熱電偶的任意一熱偶板,若差熱筆向右移動(dòng),則該端為參比熱電偶
7、板,反之,為試樣板。用鑷子小心將樣品放在樣品托盤(pán)上,參比放在參比托盤(pán)上,降下加熱爐(注意在欲放下加熱爐的時(shí)候,務(wù)必先把爐體轉(zhuǎn)回原處,然后才能放下?tīng)t子,否則會(huì)弄斷樣品架)。(2)打開(kāi)差熱儀主機(jī)開(kāi)關(guān),接通冷卻水,控制水的流量約在300 ml/min左右。(3)打開(kāi)平衡記錄儀開(kāi)關(guān),分別將差熱筆和溫度筆量程置于20 mV和10 mV上,走紙速率置于30 mm/min量程。 調(diào)節(jié)差熱儀主機(jī)上差熱量程為250ºC。(4)將升溫速率旋在0刻度,用調(diào)零旋紐將溫度筆置于差熱圖紙的最右端,差熱筆置于中間,將升溫速率旋至10ºC /min,放下繪圖筆轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)。(5)按下加熱開(kāi)關(guān),同時(shí)注意升溫速率
8、指零旋紐左偏(不左偏時(shí)不能進(jìn)行升溫,需停機(jī)檢查)。按下電爐開(kāi)關(guān),進(jìn)行加熱,儀器自動(dòng)記錄。(6)等到繪圖紙上出現(xiàn)一個(gè)完整的差熱峰時(shí),關(guān)閉電爐開(kāi)關(guān)。按下程序零旋紐和電位差計(jì)的開(kāi)關(guān),旋起加熱爐,用鑷子取下坩鍋。將加熱爐冷卻降溫至70ºC以下,將預(yù)先稱(chēng)好的a-Al2O3和KNO3試樣分別放在樣品保持架的兩個(gè)小托盤(pán)上,在與錫相同的條件下升溫加熱,直至出現(xiàn)兩個(gè)差熱峰為止。(7)按照上述步驟,每個(gè)樣品測(cè)定差熱曲線兩次。(8)實(shí)驗(yàn)結(jié)束后,抬起記錄筆,關(guān)閉記錄儀電源開(kāi)關(guān)、加熱開(kāi)關(guān),按下程序功能“0”鍵,關(guān)閉電源開(kāi)關(guān),升起爐子,取出樣品,關(guān)閉水源和電源。六、數(shù)據(jù)處理或圖譜分析(選做)納米粒子的粒徑可由S
9、cherrer(謝樂(lè))公式求出根據(jù)PDF卡片,查出主要峰對(duì)應(yīng)的h,k,l值,并利用Scherrer方程求出硫化鎘半導(dǎo)體材料對(duì)應(yīng)一次粒子的粒徑,然后求平均值?;?qū)ζ浼t外光譜進(jìn)行表征。為衍射峰的半高寬,用弧度表示;為衍射峰對(duì)應(yīng)的角度值;為0.15406;0.89(或取0.9)為Scherrer常數(shù);D的單位為nm。對(duì)差熱實(shí)驗(yàn)圖譜進(jìn)行解析。在本實(shí)驗(yàn)條件下,差熱測(cè)量溫度范圍為0280.5 °C(實(shí)驗(yàn)所用為鎳鎘熱電偶),根據(jù)差熱曲線,定性說(shuō)明CdS的差熱圖,指出峰的位置、數(shù)目、指示溫度及所表示的意義。七、思考題1常用的化合物半導(dǎo)體有哪些?它們各有什么用途?2在空氣中測(cè)得CdS的穩(wěn)定溫度在500
10、以下,氧化產(chǎn)物為CdSO4,若在N2中進(jìn)行DTATG分析,結(jié)果會(huì)如何?試推測(cè)一下。3. 影響本實(shí)驗(yàn)差熱分析的主要因素有哪些?4. 為什么差熱峰的指示溫度往往不恰巧等于物質(zhì)能發(fā)生相變的溫度?5下面三個(gè)圖是CdS差熱-熱重實(shí)驗(yàn)結(jié)果圖,試進(jìn)行分析之。差熱分析儀(恒久差熱分析儀)的原理及使用方法儀器指標(biāo): 溫度范圍:HCT1為室溫-1150、HCT2為室溫1450溫度準(zhǔn)確度:±0.1升溫速率:0.315min80min 測(cè)量范圍:±10UV±1000uv DTA解析讀:0.005DSC方式數(shù)據(jù)采集分析 DSC測(cè)量范圍:1mw±100Mw DSC解析
11、度:10Uw 真空度(儀器本身有真空密封措施)選配真空機(jī)組后可達(dá)2.66-2Pa 兩路穩(wěn)壓、穩(wěn)流氣氛控制系統(tǒng),可以在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中變換氣體種類(lèi) 具備差熱基線校正功能。坩堝容積:約為0.06ml差熱分析原理:在物質(zhì)勻速加熱或冷卻的過(guò)程中,當(dāng)達(dá)到特定溫度時(shí)會(huì)發(fā)生物理或化學(xué)變化。在變化過(guò)程中,往往伴隨有吸熱或放熱現(xiàn)象,這樣就改變了物質(zhì)原有的升溫或降溫速率。差熱分析就是利用這一特點(diǎn),通過(guò)測(cè)定樣品與一對(duì)熱穩(wěn)定的參比物之間的溫度差與時(shí)間的關(guān)系,來(lái)獲得有關(guān)熱力學(xué)或熱動(dòng)力學(xué)的信息。目前常用的差熱分析儀一般是將試樣與具有較高熱穩(wěn)定性的差比物(如a-Al2O3)分別放入兩個(gè)小的坩堝,置于加熱爐中升溫。如在升溫過(guò)程中試
12、樣沒(méi)有熱效應(yīng),則試樣與差比物之間的溫度差DT為零;而如果試樣在某溫度下有熱效應(yīng),則試樣溫度上升的速率會(huì)發(fā)生變化,與參比物相比會(huì)產(chǎn)生溫度差DT。把T和DT轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào),放大后用雙筆記錄儀記錄下來(lái),分別對(duì)時(shí)間作圖,得DTt和Tt兩條曲線。圖III-8-1所示的是理想狀況下的差熱曲線。圖中ab、 de、 gh分別對(duì)應(yīng)于試樣與參比物沒(méi)有溫度差時(shí)的情況,稱(chēng)為基線,而bcd和efg分別為差熱峰。差熱曲線中峰的數(shù)目、位置、方向、高度、寬度和面積等均具有一定的意義。比如,峰的數(shù)目表示在測(cè)溫范圍內(nèi)試樣發(fā)生變化的次數(shù);峰的位置對(duì)應(yīng)于試樣發(fā)生變化的溫度;峰的方向則指示變化是吸熱還是放熱;峰的面積表示熱效應(yīng)的大小等等
13、。因此,根據(jù)差熱曲線的情況就可以對(duì)試樣進(jìn)行具體分析,得出有關(guān)信息。在峰面積的測(cè)量中,峰前后基線在一條直線上時(shí),可以按照三角形的方法求算面積。但是更多的時(shí)候,基線并不一定和時(shí)間軸平行,峰前后的基線也不一定在同一直線上(如圖III-8-2上所示)。此時(shí)可以按照作切線的方法確定峰的起點(diǎn)、終點(diǎn)和峰面積。另外,還可以采取剪下峰稱(chēng)重,以重量代替面積(即剪紙稱(chēng)量法)。2. 影響差熱分析的因素差熱分析是一種動(dòng)態(tài)分析技術(shù),影響差熱分析結(jié)果的因素較多。主要有:(1) 升溫速率升溫速率對(duì)差熱曲線有重大影響,常常影響峰的形狀、分辨率和峰所對(duì)應(yīng)的溫度值。比如當(dāng)升溫速率較低時(shí)基線漂移較小,分辨率較高,可分辨距離很近的峰,
14、但測(cè)定時(shí)間相對(duì)較長(zhǎng);而升溫速率高時(shí),基線漂移嚴(yán)重,分辨率較低,但測(cè)試時(shí)間較短。圖III-8-2 測(cè)定面積的方法(2) 試樣樣品的顆粒一般大約在200目左右,用量則與熱效應(yīng)和峰間距有關(guān)。樣品粒度的大小,用量的多少都對(duì)分析有著很大的影響,甚至連裝樣的均勻性也會(huì)影響到實(shí)驗(yàn)的結(jié)果。(3) 稀釋劑的影響稀釋劑是指在試樣中加入一種與試樣不發(fā)生任何反應(yīng)的惰性物質(zhì),常常是參比物質(zhì)。稀釋劑的加入使樣品與參比物的熱容相近,能有助于改善基線的穩(wěn)定性,提高檢出靈敏度,但同時(shí)也會(huì)降低峰的面積。(4) 氣氛與壓力許多測(cè)定受加熱爐中氣氛及壓力的影響較大,如CaC2O4·H2O在氮?dú)夂涂諝鈿夥障路纸鈺r(shí)曲線是不同的。
15、在氮?dú)鈿夥障翪aC2O4·H2O第二步熱解時(shí)會(huì)分解出CO氣體,產(chǎn)生吸熱峰,而在空氣氣氛下熱解時(shí)放出的CO會(huì)被氧化,同時(shí)放出熱量呈現(xiàn)放熱峰。除了以上因素外,走紙速率、差熱量程等均對(duì)差熱曲線有一定的影響。因此在運(yùn)用差熱分析方法研究體系時(shí),必須認(rèn)真查閱文獻(xiàn),審閱體系,找出合適的實(shí)驗(yàn)條件方可進(jìn)行測(cè)試。本實(shí)驗(yàn)使用的PCR-1型差熱儀屬于中溫、微量型差熱儀。其主要有溫控系統(tǒng)、差熱系統(tǒng)、試樣測(cè)溫系統(tǒng)和記錄系統(tǒng)四部分,其控制面板如圖III-8-3所示。圖III-8-3 PCR-1型差熱儀面板圖1.調(diào)零旋鈕; 2. 量程開(kāi)關(guān); 3. 差熱指示表頭; 4. 偏差調(diào)零旋鈕; 5.升溫選擇開(kāi)關(guān); 6.快速微
16、動(dòng)開(kāi)關(guān); 7. 偏差指示表頭; 8. 加熱指示燈; 9. 輸出電壓表頭; 10. 電源指示燈; 11.加熱開(kāi)關(guān); 12.電源開(kāi)關(guān); 13.程序功能開(kāi)關(guān);實(shí)驗(yàn)二、微波輻射合成防銹涂料磷酸鋅及紅外光譜表征 4一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、了解磷酸鋅的微波合成原理和方法;2、掌握微型吸濾的基本操作;3、掌握紅外光譜的原理及Nicolet4700型紅外光譜儀的使用方法。二、實(shí)驗(yàn)原理磷酸鋅(Zn3(PO4)2·2H2O)是一種新型防銹顏料,利用它可配制各種防銹涂料,后者可代替氧化鉛作為底漆。它的合成通常是用硫酸鋅、磷酸和尿素在水浴加熱下反應(yīng),反應(yīng)過(guò)程中尿素分解放出氨氣并生成銨鹽,過(guò)去反應(yīng)需4h才完成。本實(shí)驗(yàn)
17、采用微波加熱條件下進(jìn)行反應(yīng),反應(yīng)時(shí)間縮短為10min。反應(yīng)式為:所得的四水合晶體在110烘箱中脫水即得二水合晶體Zn3(PO4)2·2H2O。三、儀器與試劑 儀器 微波爐,臺(tái)秤,微型吸濾裝置,燒杯,表面皿。 藥品 ZnSO4·7H2O,尿素,磷酸,無(wú)水乙醇。四、實(shí)驗(yàn)步驟稱(chēng)取2.0g硫酸鋅于50mL燒杯中,加1.0g尿素和1.0mLH3PO4,再加20mL水?dāng)嚢枞芙猓褵糜?00mL燒杯水浴中,蓋上表面皿,放進(jìn)微波爐里,以大火檔(約600W)輻射10min,燒杯內(nèi)隆起白色沫狀物,停止輻射加熱后,取出燒杯,用蒸餾水浸取、洗滌數(shù)次,吸濾。晶體用水洗滌至濾液無(wú)SO42-(如何檢
18、驗(yàn)?)。產(chǎn)品在110烘箱中脫水得到Zn3(PO4)2·2H2O,稱(chēng)量計(jì)算產(chǎn)率。紅外光譜分析(南樓109紅外光譜室)。并解析實(shí)驗(yàn)圖譜。五、注意(1)合成反應(yīng)完成時(shí),溶液的pH=5-6左右;加尿素的目的是調(diào)節(jié)反應(yīng)體系的酸堿性。(2)晶體最好洗滌至近中性再吸濾。(3)微波輻射對(duì)人體會(huì)造成損害。市售微波爐在防止微波泄漏上有嚴(yán)格的措施,使用時(shí)要遵照有關(guān)操作程序與要求進(jìn)行,以免造成損害。操作要領(lǐng)參見(jiàn)實(shí)驗(yàn)附錄。六、思考題1還有哪些制備磷酸鋅的方法?2如何對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行定性檢驗(yàn)?請(qǐng)擬出實(shí)驗(yàn)方案。3為什么微波輻射加熱能顯著縮短反應(yīng)時(shí)間,使用微波爐要注意哪些事項(xiàng)?4. 某位同學(xué)的實(shí)驗(yàn)圖譜如下,試解釋譜峰的歸
19、屬。附錄:微波輻射及微波爐的使用1微波輻射簡(jiǎn)介微波屬于電磁波的一種,頻率范圍0.330GHz,介于高頻波與遠(yuǎn)紅外波之間,微波同其他電磁波一樣,具有電場(chǎng)與磁場(chǎng)雙重性質(zhì)。自從1986年Gedye發(fā)現(xiàn)微波可以顯著加快有機(jī)化合物合成以來(lái),微波技術(shù)在化學(xué)中的應(yīng)用日益受到重視。1988年Baghurst首次采用微波技術(shù)合成了KVO3、BaWO4、YBa2Cu2O7-x等無(wú)機(jī)化合物。微波輻射是通過(guò)偶極分子旋轉(zhuǎn)(主要原因)和離子傳導(dǎo)耗散微波能而實(shí)現(xiàn)加熱目的。在微波輻射作用下,極性分子為響應(yīng)磁場(chǎng)方向變化,通過(guò)分子偶極以每秒數(shù)十億次的高速旋轉(zhuǎn),使分子間不斷碰撞和磨擦而產(chǎn)生熱,這種加熱方式較傳統(tǒng)的熱傳導(dǎo)和熱對(duì)流加熱
20、更迅速,而且是空間輻射加熱,體系受熱均勻。微波輻射有三個(gè)特點(diǎn):一是在大量離子存在時(shí)能快速加熱;二是快速達(dá)到反應(yīng)溫度;三是分子水平意義上的攪拌。從而實(shí)現(xiàn)了微波輻射加熱的方便、高效、低能耗及省時(shí)的優(yōu)點(diǎn)。2微波爐的使用(1)微波爐的構(gòu)造(略)(2)使用方法插上電源;將待加熱樣品置于微波爐中央位置,關(guān)緊爐門(mén);將“功率”選擇開(kāi)關(guān)旋至所需加熱功率的位置;將“時(shí)間”選擇開(kāi)關(guān)旋至所需加熱的時(shí)間位置,微波爐即開(kāi)始工作;加熱結(jié)束后,才能打開(kāi)爐門(mén),取出物體,拔掉電源插頭。(3)注意事項(xiàng)微波對(duì)人體有危害,必須正確使用微波儀器,以防微波泄漏;微波爐內(nèi)不能使用金屬,以免產(chǎn)生火花;爐門(mén)一定要關(guān)緊后方能開(kāi)始加熱,以免微波能量
21、外泄;發(fā)現(xiàn)爐門(mén)變形或其他故障,切勿繼續(xù)使用,需由專(zhuān)業(yè)維修人員進(jìn)行檢查修理紅外光譜儀的使用:開(kāi),關(guān)機(jī) 檢查各設(shè)備電源線安全插入電源插座。打開(kāi)空氣開(kāi)關(guān),開(kāi)啟精密電源。在精密電源工作正常的狀態(tài)下,啟動(dòng)光譜儀。開(kāi)機(jī): 接通(電源開(kāi)關(guān)在光學(xué)臺(tái)后面左下側(cè))面板右上方激光燈(LASER)點(diǎn)亮呈橘黃色,狀態(tài)燈(STATUS)點(diǎn)亮呈黃色閃亮。啟動(dòng)計(jì)算機(jī)(先開(kāi)顯示器,接著開(kāi)主機(jī),最后開(kāi)打印機(jī))鼠標(biāo)指定Omico軟件圖形符號(hào),擊左鍵啟動(dòng),進(jìn)入Omico信息窗口,鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)擊OK按鈕。關(guān)機(jī): 點(diǎn)擊關(guān)閉計(jì)算機(jī)圖形
22、,待出現(xiàn)對(duì)話框提示能安全關(guān)閉計(jì)算機(jī)時(shí),按主機(jī)電源鍵關(guān)閉主機(jī),接著關(guān)閉顯示器,打印機(jī),最后關(guān)閉光學(xué)臺(tái)。 紅外樣品的制備液體樣品: 以試樣易溶有機(jī)溶劑,制成110%濃度的溶液,注入適宜厚度的液體池中測(cè)定。常用溶劑有二氯乙烷、四氯化碳、三氯甲烷、二硫化碳、己烷及環(huán)己烷等。 注:不可用水做試樣溶劑。使用完后,用相應(yīng)溶劑立即將液體池清洗干凈。固體樣品: 取樣品11.5mg與KBr200300mg(樣品與KBr的比約為1:100-200左右)于瑪瑙研缽中研磨成混合均勻的粉末,用小藥匙轉(zhuǎn)入
23、制片模具中于油壓機(jī)10噸壓力下保持2分鐘,撤去壓力后取處制成的供試片,目視檢測(cè),片子應(yīng)呈透明狀,然后取出樣品片裝入樣品架。測(cè)試光譜: 選定主菜單Measure項(xiàng)中Measurement進(jìn)入測(cè)試窗口。選定Align,Mode.檢查光通量值是否正常。 選定Start Background Measurement掃描空白吸收。選定光通量窗口EXIT鍵退出。 編輯樣品信息,儲(chǔ)存路徑。 將樣品架或液體池放入樣品室中樣品固定座。 選定Start Sample Measurem
24、ent按鍵進(jìn)行樣品測(cè)試。 選定測(cè)試所得文件號(hào)位于圖譜框與主菜單之間,通常樣品編號(hào)為100雙擊鼠標(biāo)左鍵。 調(diào)整X,Y坐標(biāo)。 主菜單Display項(xiàng)下hanger x/y values. y或(x-y成手動(dòng)輸入x,y坐標(biāo)值。)標(biāo)峰值: 主菜單 Evaluatepeak pick 輸入文件號(hào) Peak picks 左雙敲標(biāo)峰數(shù)據(jù)塊(位于文件號(hào)后面)操作注意事項(xiàng) 1、 保持實(shí)驗(yàn)室
25、安靜和整潔,干燥;不得在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行樣品化學(xué)處理,實(shí)驗(yàn)完畢即取出樣品室內(nèi)的樣品。 2、光學(xué)臺(tái)不要受振動(dòng),取樣,放樣時(shí),樣品蓋應(yīng)輕開(kāi)輕閉。 3 眼睛不要注視氦-氖激光,以免受傷害 4、經(jīng)常檢查干燥劑顏色,如果蘭色變淺,立即更換。干燥劑再生:將干燥劑在烘箱內(nèi)105烘干至蘭色(約3小時(shí))即可。不要做與紅外無(wú)關(guān)的操作 5、不得自帶軟盤(pán)進(jìn)行拷貝;實(shí)驗(yàn)完畢后在記錄本上記錄使用情況。 6、根據(jù)樣品特性以及狀態(tài),制定相應(yīng)的制樣方法并制樣,不得隨意改變參數(shù) 7、使用的紅外樣品制備組件立即以甲醇或乙醇洗干凈,注:窗片不得用水清
26、洗,各組件用后歸還原位,保持室內(nèi)干燥,空調(diào)和除濕機(jī)必須全天開(kāi)機(jī)(保持環(huán)境條件2±左右,濕度);8、測(cè)試紅外光譜圖時(shí),掃描空光路背景信號(hào)和樣品文件信號(hào),經(jīng)傅立葉變換得到樣品紅外光譜圖。根據(jù)需要,打印或者保存紅外光譜圖。設(shè)備停止使用時(shí),樣品室內(nèi)應(yīng)放置盛滿干燥劑的培養(yǎng)皿。9、將壓片模具、KBr晶體、液體池及其窗片放在干燥器內(nèi)備用。10、液體池使用NaCl、CaF2、BaF2等晶體很脆易碎,應(yīng)小心保存。11、液體池使用的KRS-5晶體劇毒,使用時(shí)避免直接接觸(戴手套),打磨KRS-5晶體時(shí)避免接觸或吸入KRS-5粉末,打磨的廢棄物必須妥善處理。實(shí)驗(yàn)三、掃描電鏡與能量色散譜實(shí)驗(yàn)5 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/p>
27、、了解掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)和原理;、掌握掃描電鏡試樣的制備方法;、了解二次電子像觀察記錄操作的全過(guò)程及其在形貌組織結(jié)構(gòu)觀察中的應(yīng)用;4、了解能量色散譜實(shí)驗(yàn)的原理與應(yīng)用;5、進(jìn)行材料的組分的測(cè)定;二、實(shí)驗(yàn)原理1、掃描電鏡工作原理、構(gòu)造和性能基本原理圖1是掃描電鏡的原理示意圖。由最上邊電子槍發(fā)射出來(lái)的電子束,經(jīng)柵極聚焦后,在加速電壓作用下,經(jīng)過(guò)二至三個(gè)電磁透鏡所組成的電子光學(xué)系統(tǒng),電子束會(huì)聚成一個(gè)細(xì)的電子束聚焦在樣品表面。在末級(jí)透鏡上邊裝有掃描線圈,在它的作用下使電子束在樣品表面掃描。由于高能電子束與樣品物質(zhì)的交互作用,結(jié)果產(chǎn)生了各種信息:二次電子、背反射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光和
28、透射電子等。這些信號(hào)被相應(yīng)的接收器接收,經(jīng)放大后送到顯像管的柵極上,調(diào)制顯像管的亮度。由于經(jīng)過(guò)掃描線圈上的電流是與顯像管相應(yīng)的亮度一一對(duì)應(yīng),圖 掃描電鏡原理示意圖也就是說(shuō),電子束打到樣品上一點(diǎn)時(shí),在顯像管熒光屏上就出現(xiàn)一個(gè)亮點(diǎn)。掃描電鏡就是這樣采用逐點(diǎn)成像的方法,把樣品表面不同的特征,按順序,成比例地轉(zhuǎn)換為視頻信號(hào),完成一幀圖像,從而使我們?cè)跓晒馄辽嫌^察到樣品表面的各種特征圖像。2、掃描電鏡的結(jié)構(gòu)掃描電鏡包括以下幾部分:(1)電子光學(xué)系統(tǒng)該系統(tǒng)由電子槍、電磁透鏡、光闌、樣品室等部件組成(如圖)。它的作用與透射電鏡不同,僅僅用來(lái)獲得掃描電子束。顯然,掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑
29、。目前使用中的掃描電鏡大多為普通熱陰極電子槍?zhuān)捎谑艿芥u絲陰極發(fā)射率較低的限制,需要較大的發(fā)射截面,才能獲得足夠的電子束強(qiáng)度。采用鎢絲陰極發(fā)射的電子光源掃描電子束直徑一般可達(dá)20-50m,六硼化鑭陰極發(fā)射率比較高,有效發(fā)射截面可以做到直徑為20m左右,比鎢絲陰極要小得多,因此無(wú)論是亮度還是電子源直徑都比鎢絲陰極多。以上兩種電子槍都屬于熱發(fā)射電子槍?zhuān)鴪?chǎng)發(fā)射電子槍分為冷場(chǎng)和熱場(chǎng)發(fā)射兩種,一般在掃描電鏡中采用冷場(chǎng)發(fā)射。如圖3所示,它是利用靠近曲率半徑很小的陰極尖端附近的強(qiáng)電場(chǎng)使陰極尖端發(fā)射電子的,所以叫做場(chǎng)致發(fā)射(簡(jiǎn)稱(chēng)場(chǎng)發(fā)射)。如果陰極尖端半徑為100500nm,若在尖端與第一陽(yáng)極之間加3-5kV
30、的電位差,那么在陰極尖端附近建立的強(qiáng)電場(chǎng)就足以使它發(fā)射電圖掃描電鏡光學(xué)系統(tǒng)示意圖子。在第二陽(yáng)極幾十千伏甚至幾百千伏正電位作用下,陰極尖端發(fā)射的電子會(huì)聚在第二陽(yáng)極孔的下方(即場(chǎng)發(fā)射電子槍第一交叉點(diǎn)位置上),電子束直徑小至20nm(甚至lnm)。可見(jiàn)場(chǎng)發(fā)射電子槍是掃描電鏡獲得高分辨率,高質(zhì)量圖像較為理想的電子源。此外,場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在低電壓下仍保持高的分辨率和電子槍壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。在光學(xué)系統(tǒng)中,掃描電鏡的最后一個(gè)透鏡的結(jié)圖場(chǎng)發(fā)射電子槍原理示意圖構(gòu)有別于透射電鏡,它是采用上下極靴不同孔徑不對(duì)稱(chēng)的磁透鏡,這樣可以大大減小下極靴的圓孔直徑,從而減少樣品表面的磁場(chǎng),避免磁場(chǎng)對(duì)二次電子軌跡的干擾,不影響對(duì)二次
31、電子的收集。另外,未級(jí)透鏡中要有一定的空間,用來(lái)容納掃描線圈和消像散器。掃描線圈是掃描電鏡的一個(gè)十分重要的部件,它使電子作光柵掃描,與顯示系統(tǒng)的C掃描線圈由同一鋸齒波發(fā)生器控制,以保證鏡筒中的電子束與顯示系統(tǒng)CRT中的電子束偏轉(zhuǎn)嚴(yán)格同步。掃描電鏡的樣品室要比透射電鏡復(fù)雜,它能容納大的試樣,并在三維空間進(jìn)行移動(dòng)、傾斜和旋轉(zhuǎn)。目前的掃描電鏡樣品室在空間設(shè)計(jì)上都考慮了多種信號(hào)收集器安裝的幾何尺寸,以使用戶根據(jù)自己的意愿選擇不同的信息方式。 (2)信號(hào)收集和顯示系統(tǒng) ()二次電子和背反射電子收集器圖4是這種收集器的示意圖,它是由閃爍體,光電倍增管和前置放大器組成,這是掃描電鏡中最主要的信號(hào)檢測(cè)器。從試
32、樣出來(lái)的電子,撞擊并進(jìn)入閃爍體,當(dāng)金屬圓筒加+250V電壓時(shí),能接受低能二次電子;當(dāng)加250V電壓時(shí),能接受背反射電子。在閃爍體表面噴涂一層40-80nm的鋁膜作為導(dǎo)電層,在這導(dǎo)電層上加有10-12kY的高壓。試樣產(chǎn)生的二次電子(或背反射電子)被這高壓加速,并 圖二次電子和背反射電子收集器示意圖被收集到閃爍體上。當(dāng)電子打到閃爍體上,產(chǎn)生出光子,而光子通過(guò)光導(dǎo)管傳送到光電倍增管的陰極上。通過(guò)光電倍增管,信號(hào)被放大為微安數(shù)量級(jí),再送至前置放大器放大成足夠功率的輸出信號(hào),送至視頻放大器,而后可直接調(diào)制CRT的柵極電位,這樣即可得到一幅供觀察和照相的圖像。()顯示系統(tǒng)顯示裝置一般有兩個(gè)顯示通道:一個(gè)用
33、來(lái)觀察,另一個(gè)供記錄用(照相)。觀察用的顯像管采用長(zhǎng)余輝顯像管,掃描一幀有02,05,1s。最快可以達(dá)到電視速度。對(duì)于記錄用的管子要求有較高的分辨率,通常10×的熒光屏要求有800-1000條線并且只能用短余輝的管子。在觀察時(shí)為了便于調(diào)焦,采用盡可能快的掃描速度,而拍照時(shí)為了得 到分辨率高的圖像,要盡可能采用慢的掃描速度(多用50-100s)。()吸收電子檢測(cè)器試樣不直接接地,而與一個(gè)試樣電流放大器相接,可檢出被測(cè)試樣吸收的電子。它是 一個(gè)高靈敏度的微電流放大器,能檢測(cè)到10-610-12A這樣小的電流。吸收電流信號(hào)一般在10-10-9A,在較好的信噪此下,可得到所需要吸收電流圖像。
34、吸收電子圖像是掃描電鏡分析中一個(gè)很重要的手段。(C)X射線檢測(cè)器它是檢測(cè)試樣發(fā)出的元素特征x射線波長(zhǎng)和光子能量,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)試樣微區(qū)進(jìn)行成 分分析。此外,掃描電鏡也像透射電一樣,需配備真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)。3 掃描電鏡的主要性能(1)放大倍數(shù)掃描電鏡的放大倍數(shù)M定義為:在顯像管中電子束在熒光屏上最大掃描距離和在鏡 筒中電子束針在試樣上最大掃描距離的比值 M=l/L式中,l熒光屏長(zhǎng)度; L電子束在試樣上掃過(guò)的長(zhǎng)度。這個(gè)比值是通過(guò)調(diào)節(jié)掃描線圈上的電流來(lái)改變的。觀察圖像的熒光屏長(zhǎng)度是固定的,如果減少掃描線圈的電流,電子束偏轉(zhuǎn)的角度小,在試樣上移動(dòng)的距離變小,使放大倍數(shù)增 大。反之,增大掃描線圈上的電流,
35、放大倍數(shù)就要變小??梢?jiàn)改變掃描電鏡放大倍數(shù)是十 分方便的。目前大多數(shù)商品掃描電鏡,放大倍數(shù)可從低倍連續(xù)調(diào)節(jié)到20萬(wàn)倍左右。 (2)景深掃描電鏡的景深比較大,成像富有立體感,所以它特別適用于粗糙樣品表面的觀察和 分析。(3)分辨率分辨本領(lǐng)是掃描電鏡的主要性能指標(biāo)之一。在理想情況下,二次電子像分辨率等于電子束斑直徑。正是由于這個(gè)緣故,我們總是以二次電子像的分辨率作為衡量掃描電鏡性能的主要指標(biāo)。目前高性能掃描電鏡普通鎢絲電子槍的二次成像分辨率已達(dá)35nm左右。此外,大的樣品室,各種不同性能的樣品臺(tái)等,使得掃描電鏡具有應(yīng)用更廣泛和更方便快捷的特點(diǎn)。4 樣品制備掃描電鏡樣品制備方法除了含水量較多的生物軟
36、組織樣品外,其它的固體材料樣品的制備方法都是非常簡(jiǎn)便的。對(duì)導(dǎo)電性材料來(lái)說(shuō),除了幾何尺寸和重量外幾乎沒(méi)有任何要求,尺寸和重量對(duì)不同型號(hào)的掃描電鏡的樣品室也有不同的要求。對(duì)于導(dǎo)電性較差或絕緣的樣品若采用常規(guī)掃描電鏡來(lái)觀察,則必須通過(guò)噴鍍金、銀等重金屬或碳真空蒸鍍等手段進(jìn)行導(dǎo)電性處理,否則將無(wú)法觀察。顯然,所有的樣品均必須無(wú)油污,無(wú)腐蝕等,以免對(duì)鏡筒和探測(cè)器的污染。三、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容與步驟實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:完成一個(gè)二次電子像的觀察全過(guò)程,包括試樣的制備、儀器的操作、圖像觀測(cè)和記錄。、實(shí)驗(yàn)樣品制備、掃描電鏡的操作3、能譜測(cè)定實(shí)驗(yàn)四 熱臺(tái)偏光顯微鏡觀察聚合物結(jié)晶形態(tài)一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?1了解偏光顯微鏡的結(jié)構(gòu)及使用方法。 2
37、觀察聚合物的結(jié)晶形態(tài),估算聚丙烯球晶大小。二、實(shí)驗(yàn)原理用偏光顯微鏡研究聚合物的結(jié)晶形態(tài)是目前在實(shí)驗(yàn)室中較為簡(jiǎn)便而實(shí)用的方法。眾所周知,隨著結(jié)晶條件的不同,聚合物的結(jié)晶可以具有不同的形態(tài),如單晶、樹(shù)枝晶、球晶、纖維晶及伸直鏈晶體等,其中球晶是聚合物結(jié)晶中最常見(jiàn)的晶體形式。從濃溶液析出或熔體冷卻結(jié)晶時(shí),聚合物傾向于生成這種比單晶更為復(fù)雜的多晶聚集體,通常呈球形,故稱(chēng)為“球晶”。球晶可以長(zhǎng)得很大,直徑甚至可達(dá)厘米數(shù)量級(jí)。對(duì)于幾微米以上的球晶,用普通的偏光顯微鏡就可以進(jìn)行觀察;對(duì)小于幾微米的球晶,則用電子顯微鏡或小角光散射法進(jìn)行研究。結(jié)晶聚合物材料的實(shí)際實(shí)用性能(如光學(xué)透明性、沖擊強(qiáng)度等)與材料內(nèi)部的
38、結(jié)晶形態(tài)、晶粒大小及完善程度有著密切的聯(lián)系,因此,對(duì)于聚合物結(jié)晶形態(tài)等的研究具有重要的理論和實(shí)際意義。球晶的基本結(jié)構(gòu)單元是具有折疊鏈結(jié)構(gòu)的片晶(晶片厚度在10nm左右)。許多這樣的晶片從一個(gè)中心(晶核)向四面八方生長(zhǎng),發(fā)展成為一個(gè)球狀聚集體。電子衍射實(shí)驗(yàn)證明了在球晶中分子鏈(c軸)往往垂直于球晶的半徑方向,而b軸總是沿著球晶半徑的方向(圖71)。圖71 聚乙烯球晶生長(zhǎng)示意圖(a)晶片的排列與分子量的取向(其中a,b,c軸表示單位晶胞在各方向上的取向);(b)球晶生長(zhǎng);(c)長(zhǎng)成的球晶分子鏈的取向排列使球晶在光學(xué)性質(zhì)上是各向異性的,即在不同的方向上有不同的折射率。在正交偏光顯微鏡下觀察時(shí),在分子
39、鏈平行于起偏器或檢偏器的方向上,將產(chǎn)生消光現(xiàn)象。因此可以看到球晶特有的黑十字消光圖案(稱(chēng)為Maltese十字),如圖72所示。(a)全同立構(gòu)聚苯乙烯 (b)聚戊二酸丙二醇酯圖72 聚合物球晶的偏光顯微鏡照片在某些情況下,晶片會(huì)周期性地扭轉(zhuǎn),從一個(gè)中心向四周生長(zhǎng)(如聚乙烯的球晶),這樣,在偏光顯微鏡中就會(huì)看到由此而產(chǎn)生的一系列消光同心圓環(huán)。三、儀器與試劑(1)原材料試樣 聚丙烯、聚乙烯樹(shù)脂顆粒料(2)儀器和試劑 偏光顯微鏡及附件、載玻片、蓋玻片、電爐、熱臺(tái)四、實(shí)驗(yàn)步驟(1)制備樣品將少許聚丙烯樹(shù)脂顆粒料放在已于260電爐上恒溫的載玻片上,待樹(shù)脂熔融后,加上蓋玻片,加壓成膜,然后迅速放人14015
40、0熱臺(tái)上,結(jié)晶1h后取下。將少量聚乙烯粉料同上用熔融加壓法制得薄膜,然后切斷電爐電源,使樣品緩慢冷卻到室溫。(2)熟悉偏光顯微鏡的結(jié)構(gòu)及使用方法(參閱本實(shí)驗(yàn)的附及儀器說(shuō)明書(shū))。(3)將制備好的樣品放在載物臺(tái)上,在正交偏振條件下觀察球晶形態(tài)。(4)記錄所觀察到的現(xiàn)象,并進(jìn)行討論。五、思考題用偏光顯微鏡能否觀測(cè)聚合物其他形態(tài)的結(jié)晶?聚合物球晶還可以用那些方法表征?附錄:偏光顯微鏡工作原理1偏振光與自然光光波是電磁波,因而是橫波。它的傳播方向與振動(dòng)方向垂直。如果我們定義由光的傳播方向和振動(dòng)方向所組成的平面叫振動(dòng)面,那么對(duì)于自然光,它的振動(dòng)方向雖然永遠(yuǎn)垂直于光的傳播方向,但振動(dòng)面卻時(shí)時(shí)刻刻在改變。在任
41、一瞬間,振動(dòng)方向在垂直于光的傳播方向的平面內(nèi)可以取所有可能的方向,沒(méi)有一個(gè)方向占優(yōu)勢(shì)圖73(a),箭頭代表振動(dòng)方向,傳播方向垂直于紙面。太陽(yáng)光及一般的光源發(fā)出的光都是自然光。自然光在通過(guò)尼科耳棱鏡或人造偏振片以后,光線的振動(dòng)被限制在某一個(gè)方向,這樣的光叫做線偏振光(或平面偏振光),可用圖73(b)表示。(a)自然光 (b)線偏振光圖73 自然光和線偏振光的振動(dòng)狀況2起偏器與檢偏器能將自然光變成線偏振光的儀器,叫做起偏振器,簡(jiǎn)稱(chēng)起偏器(polarizer)。通常用得較多的是尼科爾棱鏡和人造偏振片。尼科爾棱鏡是用方解石晶體按一定的工藝制成的,當(dāng)自然光以一定角度入射時(shí),由于晶體的雙折射效應(yīng),入射光被
42、分成振動(dòng)方向互相垂直的兩條線偏振光e光和o光,其中o光被全反射掉了,而e光出射。人造偏振片是利用某些有機(jī)化合物(如碘化硫酸奎寧)晶體的二向色性制成的。把這種晶體的粉末沉淀在硝酸纖維薄膜上,用電磁方法使晶體c軸指向一致,排成極細(xì)的晶線,只有振動(dòng)方向平行于晶線的光才能通過(guò),而成為線偏振光。起偏器既能夠用來(lái)使自然光變成線偏振光,反過(guò)來(lái),它又能被用來(lái)檢查線偏振光,這時(shí),它被稱(chēng)為檢偏器或分析器(analyser)。例如,兩個(gè)串聯(lián)放著的尼科爾棱鏡,靠近光源的一個(gè)是起偏器,另一個(gè)便是檢偏器。當(dāng)它們的振動(dòng)方向平行時(shí),透過(guò)的光強(qiáng)最大;而當(dāng)它們的振動(dòng)方向垂直時(shí),沒(méi)有光透過(guò)。這種情況,我們稱(chēng)為“正交偏振”。3偏光顯
43、微鏡偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對(duì)晶體、礦物、纖維等有雙折射的物質(zhì)進(jìn)行觀察研究的儀器。它的成像原理與生物顯微鏡相似,不同之處是在光路中加入兩組偏振器起偏器和檢偏器,以及用于觀察物鏡后焦面產(chǎn)生干涉像的勃氏透鏡組。儀器結(jié)構(gòu)如圖341所示。由光源發(fā)出的自然光經(jīng)起偏器變?yōu)榫€偏振光后,照射到置于工作臺(tái)上的聚合物晶體樣品上,由于晶體的雙折射現(xiàn)象,這束光被分解為振動(dòng)方向互相垂直的兩束線偏振光。這兩束光不能完全通過(guò)檢偏器,只有其中平行于檢偏器振動(dòng)方向的分量才能通過(guò)。通過(guò)檢偏器的這兩束光的分量具有相同的振動(dòng)方向與頻率而產(chǎn)生干涉效應(yīng)。由干涉的級(jí)序可以測(cè)定晶體薄片的厚度和雙折射率等參數(shù)。將帶有分度尺的目鏡插入鏡筒內(nèi)
44、,把載物臺(tái)顯微尺放在載物臺(tái)上,調(diào)節(jié)到兩尺基線重合。載物臺(tái)顯微尺長(zhǎng)1.00mm,等分為100格,每格為0.01mm。在顯微鏡內(nèi)觀察,若目鏡分度尺50格正好與顯微尺10格相等,則目鏡分度尺每格相當(dāng)于:0.01×10502×10-3 mm。在進(jìn)行測(cè)量時(shí)只要讀出被測(cè)物體所對(duì)應(yīng)的格數(shù),就能知道實(shí)物的大小。在偏振光條件下,還可以觀察晶體的形態(tài),測(cè)定晶粒大小和研究晶體的多色性等。圖341 偏光顯微鏡的結(jié)構(gòu)l一儀器底座,2一視場(chǎng)光闌(內(nèi)照明燈泡),3一粗動(dòng)調(diào)焦手輪;4一微動(dòng)調(diào)焦手輪,5一起偏器,6一聚光鏡;7一旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)(蓑物臺(tái)),8一物鏡;9一檢偏器;10一目鏡;1l一勃氏鏡調(diào)節(jié)手輪實(shí)驗(yàn)
45、五 高分子材料拉伸一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?熟悉高分子材料拉伸性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)條件、測(cè)試原理及其操作。2了解測(cè)試條件對(duì)測(cè)定結(jié)果的影響。二、實(shí)驗(yàn)原理 將試樣夾持在專(zhuān)用夾具上,對(duì)試樣施加靜態(tài)拉伸負(fù)荷,通過(guò)壓力傳感器、形變測(cè)量裝置以及計(jì)算機(jī)處理,測(cè)繪出試樣在拉伸變形過(guò)程中的拉伸應(yīng)力應(yīng)變曲線,計(jì)算出曲線上的特征點(diǎn)如試樣直至斷裂為止所承受的最大拉伸應(yīng)力(拉伸強(qiáng)度)、試樣斷裂時(shí)的拉伸應(yīng)力(拉伸斷裂應(yīng)力)、在拉伸應(yīng)力應(yīng)變曲線上屈服點(diǎn)處的應(yīng)力(拉伸屈服應(yīng)力)、應(yīng)力應(yīng)變曲線偏離直線性達(dá)規(guī)定應(yīng)變百分?jǐn)?shù)(偏置)時(shí)的應(yīng)力(偏置屈服應(yīng)力)和試樣斷裂時(shí)標(biāo)線間距離的增加量與初始標(biāo)距之比(斷裂伸長(zhǎng)率,以百分率表示)。(1)拉伸強(qiáng)度或拉伸斷裂
46、應(yīng)力或拉伸屈服應(yīng)力或偏置屈服應(yīng)力tt按下式計(jì)算:式中 t 抗拉伸強(qiáng)度或拉伸斷裂應(yīng)力或拉伸屈服應(yīng)力或偏置屈服應(yīng)力,MPa;P 最大負(fù)荷或斷裂負(fù)荷或屈服負(fù)荷或偏置屈服負(fù)荷,N;b 試樣寬度,mm;d 試樣厚度,mm。各應(yīng)力值在拉伸應(yīng)力應(yīng)變曲線上的位置見(jiàn)圖66。圖66 拉伸應(yīng)力應(yīng)變曲線t1一拉伸強(qiáng)度;t1一拉伸時(shí)的應(yīng)變;t2一拉伸斷裂應(yīng)力;t2一斷裂時(shí)的應(yīng)變;t3一拉伸屈服應(yīng)力;t3一屈服時(shí)的應(yīng)變,t4一偏置屈服應(yīng)力;t4一偏置屈服時(shí)的應(yīng)變X;A脆性材料;B具有屈服點(diǎn)的韌性材料,C無(wú)屈服點(diǎn)的韌性材料(2)斷裂伸長(zhǎng)率tt按下式計(jì)算:式中 t斷裂伸長(zhǎng)率,;G0試樣原始標(biāo)距,mm;G 試樣斷裂時(shí)標(biāo)線向距離
47、,mm。(3)標(biāo)準(zhǔn)偏差值S S按下式計(jì)算:式中 S標(biāo)準(zhǔn)偏差值;Xi單個(gè)測(cè)定值;X一組測(cè)定值的算數(shù)平均值;n測(cè)定個(gè)數(shù)。三、實(shí)驗(yàn)儀器與試樣1實(shí)驗(yàn)試樣 擠出實(shí)驗(yàn)中制備的PE、PP棒材2實(shí)驗(yàn)設(shè)備天辰萬(wàn)用試驗(yàn)機(jī)四、實(shí)驗(yàn)步驟1熟悉試驗(yàn)機(jī)的操作方法;2夾持試樣,夾具夾持試樣時(shí),要使試樣縱軸與上、下夾具中心連線相重合,并且要松緊適宜,以防止試樣滑脫或斷在夾具內(nèi);3選定實(shí)驗(yàn)速度,進(jìn)行實(shí)驗(yàn);4記錄屈服時(shí)的負(fù)荷,或斷裂負(fù)荷及標(biāo)距間伸長(zhǎng)。若試樣斷裂在中間平行部分之外時(shí),此試樣作廢,另取試樣補(bǔ)做。五、思考題1. 分析試樣斷裂在外的原因。2. 拉伸速度對(duì)測(cè)試結(jié)果有何影響?附錄 拉伸實(shí)驗(yàn)的試樣(1)試樣的類(lèi)型和尺寸 I型試
48、樣 I型試樣形狀及尺寸分別見(jiàn)圖61和表61。圖61 I型試樣表61 I型試樣的尺寸(mm)符號(hào)名稱(chēng)尺寸公差符號(hào)名稱(chēng)尺寸公差L總長(zhǎng)(最?。?50W端部寬度20±0.2H夾具間距離115±5.0d厚度C中間平行部分長(zhǎng)度60±0.5b中間平行部分寬度10±0.2G0標(biāo)距(或有效部分)50±0.5R半徑(最?。?0 II型試樣 II型試樣形狀及尺寸分別見(jiàn)圖62和表62。圖62 II型試樣表62 II型試樣的尺寸(mm)符號(hào)名稱(chēng)尺寸公差符號(hào)名稱(chēng)尺寸公差L總長(zhǎng)(最?。?15d厚度H夾具間距離80±5.0b中間平行部分寬度6±0.4C中間
49、平行部分長(zhǎng)度33±0.5R0小半徑14±1.0G0標(biāo)距(或有效部分)25±0.5R1大半徑25±2.0W端部寬度25±1.0 III型試樣 III型試樣形狀及尺寸分別見(jiàn)圖63和表63。圖63 III型試樣表63 III型試樣的尺寸(mm)符號(hào)名稱(chēng)尺寸公差符號(hào)名稱(chēng)尺寸公差L總長(zhǎng)(最小)110±5b中間平行部分寬度25±5C中間平行部分長(zhǎng)度9.5R0端部半徑6.5W端部寬度45R1表面半徑75d0中間平行部分厚度3.2R2側(cè)面半徑75d1端部厚度6.5 IV型試樣 IV型試樣形狀及尺寸分別見(jiàn)圖64和表64。圖64 IV型試樣表6
50、4 IV型試樣的尺寸(mm)符號(hào)名稱(chēng)尺寸公差符號(hào)名稱(chēng)尺寸公差L總長(zhǎng)(最?。?50L1加強(qiáng)片間長(zhǎng)度150±5.0H夾具間距離170±5.0D0厚度210W寬度25或50±0.5D1加強(qiáng)片厚度310G0標(biāo)距(或有效部分)100±0.5加強(qiáng)片角度5°30°L2加強(qiáng)片最小長(zhǎng)度50D2加強(qiáng)片-(2)試樣類(lèi)型的選擇 不同的材料由于尺寸效應(yīng)不同,故應(yīng)盡量減少缺陷和結(jié)構(gòu)不均勻性對(duì)測(cè)定結(jié)果的影響,按表65選用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的拉伸試樣類(lèi)型以及相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)速度。表65 拉伸試樣類(lèi)型以及相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)速度試樣材料試樣類(lèi)型試樣制備方法試樣最佳厚度(mm)試驗(yàn)速度硬質(zhì)熱
51、塑性塑料熱塑性增強(qiáng)塑料I型注塑成型壓制成型4B、C、D、E、F硬質(zhì)熱塑性塑料板、熱固性塑料板(包括層壓板)機(jī)械加工4A、B、C、D、E、F軟質(zhì)熱塑性塑料軟質(zhì)熱塑性塑料板II型注塑成型壓制成型板材機(jī)械加工板材沖切加工2F、G、H、I熱固性塑料包括經(jīng)填充和顯微增強(qiáng)的塑料III型*注塑成型壓制成型C熱固性增強(qiáng)塑料板IV型機(jī)械加工B、C、D * III型試樣僅用于測(cè)定拉伸強(qiáng)度。(3)試樣的制備及要求 試樣制備和外觀檢查,按GB 1039規(guī)定進(jìn)行。 試樣厚度除表中規(guī)定外,板材厚度d10mm時(shí),可用原厚為試樣厚度;當(dāng)厚度d>10mm時(shí),應(yīng)從兩面等量機(jī)械加工至10mm,或按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定加工。 每組試樣
52、不少于5個(gè)。對(duì)各向異性的板材應(yīng)分別從平行與主軸和垂直與主軸的方向各取一組試樣。實(shí)驗(yàn)六 擠出成型實(shí)驗(yàn)一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?了解普通聚乙烯管擠出成型原理、擠出機(jī)和擠管輔機(jī)工作特性、擠出成型工藝參數(shù)對(duì)制品質(zhì)量的影響;2掌握擠出成型操作過(guò)程。二、實(shí)驗(yàn)原理擠出成型是最重要的高分子材料成型方法之一。擠出成型塑料制品產(chǎn)量占所有塑料制 品總產(chǎn)量的一半以上。利用擠出成型方法生產(chǎn)的制品不僅有純塑料管材、棒材、板材、異型材、絲、網(wǎng)、膜、帶、繩等,而且還包括由塑料與其他非塑料共同組成的復(fù)合制品,如電線電纜、鋁塑復(fù)合管材及密封嵌條、增強(qiáng)輸送帶、鋼塑窗型材、輕質(zhì)隔墻板等。擠出成型是連續(xù)性生產(chǎn)過(guò)程,由擠出機(jī)(主機(jī))、機(jī)頭(口模)和
53、輔機(jī)協(xié)同作用完成。擠出機(jī)有單螺桿擠出機(jī)和多螺桿擠出機(jī)之分,后者是在前者基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的,目前兩者均較常用。擠出機(jī)在成型過(guò)程中的作用是熔融塑化和輸送原料。機(jī)頭構(gòu)成熔體流道,引導(dǎo)聚合物分子優(yōu)先排列,形成適當(dāng)?shù)慕Y(jié)構(gòu)分布,賦予熔體一定的幾何形狀和密實(shí)度。輔機(jī)包括定型裝置、冷卻裝置、牽引裝置、切割裝置、檢測(cè)儀器和堆放裝置等。定型裝置和冷卻裝置的作用在于將熔體結(jié)構(gòu)形態(tài)確定保留下來(lái)。牽引裝置除了引離擠出物,維持連續(xù)性生產(chǎn)外,還有調(diào)節(jié)聚合物熔體分子取向作用,控制制品尺寸和物理力學(xué)性能的作用。因此,決定擠出成型制品質(zhì)量的重要因素為塑料材質(zhì)、設(shè)備結(jié)構(gòu)和工藝控制參數(shù)。塑料材質(zhì)系指聚合物品種、分子量及其分布、大分子序
54、列結(jié)構(gòu)、支化結(jié)構(gòu)、改性聚合 物種類(lèi)及其用量、塑料添加劑種類(lèi)和用量,以及因生產(chǎn)聚合物合成方法導(dǎo)致樹(shù)脂聚集態(tài)結(jié)構(gòu)的差異等。選用不同樹(shù)脂或樹(shù)脂牌號(hào),或配用不同的改性塑料或塑料助劑,生產(chǎn)所得產(chǎn)品性能則相差很大。擠出成型不同截面幾何形狀的制品需要配用不同結(jié)構(gòu)的擠出機(jī)、機(jī)頭和輔機(jī)。不同原 材料的擠出成型的工藝控制參數(shù)不同;同一種原材料生產(chǎn)不同規(guī)格制品的工藝控制參數(shù)也 不盡相同。這里通過(guò)高分子材料管材、型材和單絲簡(jiǎn)單制品的成型實(shí)驗(yàn),加深大家對(duì)擠出成型及其相關(guān)制品生產(chǎn)的認(rèn)識(shí)。本實(shí)驗(yàn)中將高密度聚乙烯(HDPE)加入單螺桿擠出機(jī)中,經(jīng)加熱、剪切、混合及排氣作用,HDPE塑化成均勻熔體,在螺桿擠壓下,熔體通過(guò)圓環(huán)形
55、口模成型、真空冷卻定型,最終成為HDPE管材。擠出生產(chǎn)管材所用設(shè)備的結(jié)構(gòu)和工藝控制參數(shù)對(duì)制品質(zhì)量和生產(chǎn)效率的影響如下:擠出機(jī)螺桿和料筒結(jié)構(gòu)直接影響塑料原料的塑化效果、熔體質(zhì)量和生產(chǎn)效率。單螺桿 擠出機(jī)與雙螺桿擠出機(jī)相比,其塑化能力、混合作用和生產(chǎn)效率相對(duì)較低,但是投資少,維修方便。使用單螺桿擠出成型HDPE,尤其是熔體流動(dòng)速率很小的牌號(hào),應(yīng)選用新型螺桿;普通突變型單螺桿擠出成型適用于普通的有明顯熔點(diǎn)的結(jié)晶性塑料,如PA。雙螺桿擠出機(jī)主要用于高速擠出、高效塑化、大擠出量及復(fù)合材料管材成型。機(jī)頭典型結(jié)構(gòu)分三種:直通式、直角式和偏心式機(jī)頭。直通式機(jī)頭適用于普通小管成型,其他兩種適用于對(duì)內(nèi)在質(zhì)量要求較高的大中管材成型??谀:湍P臼欠謩e成型管材的外表面和內(nèi)表面的部件。為了獲得精確的幾何尺寸和優(yōu)良的外觀質(zhì)量,應(yīng)根據(jù)塑料性質(zhì)設(shè)計(jì)機(jī)頭結(jié)構(gòu),對(duì)于聚烯烴而言,口模直徑和芯模直徑為管徑的(0.92)倍;拉伸比:(口模和芯模所形成空間的截面積與擠出管材截面積之比)為11.5??谀:托灸5亩ㄐ烷L(zhǎng)度相同,一般為管材外徑的(0.53)倍,且與熔體接觸零
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