南理工近代光學(xué)測試技術(shù)試題答案_第1頁
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1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上南京理工大學(xué)研究生考試試卷答案大綱編號： 0803（） 課程名稱： 近代光學(xué)測試技術(shù) 學(xué) 分： 3 試卷編號： A 考試方式： 筆試開卷 滿分分值：100分 組卷年月： 2013.01 組卷教師： 陳磊1.a)表示離焦，且與光瞳孔徑有關(guān)；表示傾斜；表示位置，為常數(shù)項；表示球差；表示彗差；表示像散；表示場曲；表示畸變。 b)已知，則邊緣像點與近軸像點間的距離為： （此時） （1）對上式做歸一化，即，則 （2）若將觀察面由高斯像面向邊緣像點移動，則波像差為： （3）令 （4）的取值由求得，取決于彌散圓半徑的極值點： （5）由（4）式得： （6） 所以：，即最小彌散圓位于近

2、軸像點距邊緣像點處。最小彌散圓半徑 （7）將（6）式帶入上式可得： 最小彌散圓的半徑為。c)初級彗差刀刃平行于y軸，對x求導(dǎo)簡化之后得：刀刃平行x于軸，對y求導(dǎo)簡化之后得：2.a)干涉條紋光強(qiáng)分布為： （1）其中分別為干涉圖光強(qiáng)，背景光強(qiáng)與調(diào)制度分布，為載頻，為待測相位。對（1）式做傅里葉變化得： （2）為了祛除干涉條紋對邊緣檢測的影響，我們選取合適的濾波器，取出干涉分布正一級譜或負(fù)一級譜，做逆FFT變換，即可得到:從而有計算流程b)載頻選取的要求（1）.條紋不能封閉（2）.任何平行于x軸的掃描線不能與條紋相交兩次 （3）.采樣定理-采樣頻率的要求 為采樣頻率，為信號的最大頻率。（4）.最佳載

3、頻的確定 每根條紋4個采樣點采樣時應(yīng)該注意的問題：采樣定理，奈奎斯特（Nyquist）頻率,欠采樣與過采樣。3.a)條紋發(fā)生平移，原理見（b）CDBA db)如下圖所示：其中從而， 由上式易得，隨著的增加，OPD值增加，從而視場內(nèi)條紋發(fā)生平移。c)若平板玻璃具有小楔角，如下圖所示：CDBA 則：又因為所以 此時條紋平移，且疏密發(fā)生變化。4.a)當(dāng)時 當(dāng)時 從而有： 即： b)經(jīng)過傅里葉變換易得，頻率為的振動產(chǎn)生的光強(qiáng)畸變 等幅振動的兩個頻率分量組成。在所有的頻率下， 有相同的依賴關(guān)系。因此在小幅振動導(dǎo)致的可預(yù)測的誤差，有著相同的周期行為，而不論噪聲的性質(zhì)如何，典型的，依賴相位的誤差要么是某個固定的常數(shù)，要么數(shù)據(jù)顯示：此波紋以兩倍正常干涉條紋頻率變化。 c)四步法：當(dāng)存在線性誤差

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