超聲波探傷操作工藝規(guī)程

1、超聲波探傷操作工藝規(guī)程1 .主題內(nèi)容與適用范圍1.1 本規(guī)程規(guī)定了檢測(cè)人員資格、儀器探頭試塊、檢測(cè)范圍、方法和質(zhì)量分級(jí)等。1. 2本規(guī)程采用A型脈沖反射型超聲探傷儀器對(duì)鋼板、鍛件和焊縫進(jìn)行檢測(cè)。1. 3本規(guī)程按JB4730.3-2005編制，符合容規(guī)和GB150-1998的要求。1.4檢測(cè)工藝卡是本規(guī)程的補(bǔ)充，必要時(shí)由III級(jí)人員按合同要求編制，其檢測(cè)參數(shù)規(guī)定的更具體。2引用標(biāo)準(zhǔn)JB4730-2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)JB/T7913-1995超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法JB/T9214-1999A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T10061-1999A型脈沖反射式超

2、聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB/T10062-1999超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法JB/T10063-1999超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件GB150-1998剛制壓力容器3檢測(cè)人員3.1從事承壓設(shè)備的原材料、零部件和焊接接頭無(wú)損檢測(cè)的人員，應(yīng)按照特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求取得相應(yīng)無(wú)損檢測(cè)資格。3.2無(wú)損檢測(cè)人員資格級(jí)別分為川（高）級(jí)、U（中）級(jí)和1（初）級(jí)。取得不同無(wú)損檢測(cè)方法各資格級(jí)別的人員，只能從事與該方法和該資格級(jí)別相應(yīng)的無(wú)損檢測(cè)工作，并負(fù)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任。1.4儀器、探頭和試塊1.4.1儀器和探頭現(xiàn)使用儀器為汕頭超聲儀器廠生產(chǎn)的CTS-22和CTS-26型儀器以及CTS-2

3、000數(shù)字超聲探傷儀和武漢科聲超聲儀器廠生產(chǎn)KS-1030數(shù)字超聲探傷儀及探頭。a儀器和探頭的組合靈敏度：在達(dá)到所檢工件最大聲程時(shí)，其靈敏度余量應(yīng)10dBb衰減器精度：80dB以上連續(xù)可調(diào)，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB精度為任意相鄰12dB誤差在土IdB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不大于IdB。c水平線性：水平線性誤差不大于1%。d垂直線性：在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示，垂直線性誤差不大于5%oe探頭(1) 晶片面積一般不應(yīng)大于5002mm且任一邊長(zhǎng)原則上不大于25mm。(2) 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2o,主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。f超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能(1) 在達(dá)到所探工件

4、的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB(2) 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。(3) 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準(zhǔn)靈敏度下)對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。(4)直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于30dB斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dBo1.4.2試塊a試塊應(yīng)采用與被檢工件相同或近似聲學(xué)性能的材料制成，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于©2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。b標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合JB/T10063和JB/T7913-1995的規(guī)定。c現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)，也可采用其他形式的等效

5、試塊。1.5檢測(cè)的一般方法1.5.1檢測(cè)復(fù)蓋率檢測(cè)時(shí)，探頭的每次掃查復(fù)蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15虬1.5.2探頭的移動(dòng)速度探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。1.5.3掃查靈敏度掃查靈敏度通常不低于基準(zhǔn)靈敏度。1.5.4耦合劑采用機(jī)油、漿糊、甘油和水等透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑。1. 5.5檢測(cè)面a檢測(cè)面和檢測(cè)范圍的確定原則上應(yīng)保證檢查到工件被檢部分的整個(gè)體積。對(duì)于鋼板和鍛件應(yīng)檢查到整個(gè)工件；而對(duì)熔接焊縫則應(yīng)檢查到整條焊縫。b檢測(cè)面應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格，所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。1.6 校準(zhǔn)校準(zhǔn)應(yīng)在基準(zhǔn)試

6、塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使超聲主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的軸線,以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。1.7 .1儀器校準(zhǔn)在儀器開(kāi)始使用時(shí)，應(yīng)對(duì)儀器的水平線進(jìn)行測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T10061的規(guī)定進(jìn)行。在使用過(guò)程中，每隔三個(gè)月至少應(yīng)對(duì)儀器的水平線和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定。1. 6.2探頭校準(zhǔn)在探頭開(kāi)始使用時(shí)，應(yīng)對(duì)探頭進(jìn)行一次全面的校準(zhǔn)。測(cè)定方法按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。a斜探頭校準(zhǔn)使用前，斜探頭至少應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分和辨力等的校準(zhǔn)。使用過(guò)程中，每個(gè)工作日應(yīng)校準(zhǔn)前沿距離、K值和主聲束偏離。b直探頭校準(zhǔn)直探頭的靈敏度余量和分辨力應(yīng)每隔一個(gè)月檢查一次。1.6.3儀器和探頭系統(tǒng)的

7、復(fù)核a復(fù)核時(shí)機(jī)每次檢測(cè)前均應(yīng)對(duì)掃描線，靈敏度進(jìn)行復(fù)核，遇有下述情況應(yīng)隨時(shí)對(duì)其進(jìn)行重新核查：(1) 校準(zhǔn)后的探頭，耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時(shí)：(2) 開(kāi)路電壓波動(dòng)或者檢測(cè)者懷疑靈敏度有變化時(shí)；(3)連續(xù)工作4h以上時(shí)；(4)工作結(jié)束時(shí)；如果距離一波幅曲線上任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描讀數(shù)的10%,則掃描量程應(yīng)予以修正，并在檢測(cè)記錄中加以說(shuō)明。c距離一波幅曲線的復(fù)核復(fù)核時(shí)，校核應(yīng)不少于3點(diǎn)。女口曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB則應(yīng)對(duì)上一次以來(lái)所有的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行復(fù)驗(yàn)；如幅度上升2dB,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。1. 7報(bào)告存檔按統(tǒng)一表樣由U級(jí)以上人員填寫(xiě)報(bào)告，經(jīng)責(zé)任工程師認(rèn)可。鋼板，鍛件

8、報(bào)告送委托人轉(zhuǎn)技術(shù)質(zhì)量部存檔；壓力容器焊縫檢測(cè)報(bào)告，與其它檢測(cè)報(bào)告一起交技術(shù)質(zhì)量部存檔。資料存檔不少于七年。2壓力容器鋼板超聲檢測(cè)2. 1檢測(cè)范圍和一般要求本條適用于板厚為6s250mm的鋼制壓力容器用板的超聲檢測(cè)和缺陷等級(jí)評(píng)定。奧氏體鋼板材的超聲檢測(cè)也可以參照本條執(zhí)行。2. 2探頭選用探頭的選用應(yīng)按JB4730-2005表1的規(guī)定執(zhí)行。2. 3標(biāo)準(zhǔn)試塊2.3.1用雙晶直探頭檢測(cè)壁厚小于或等于20mm的鋼板時(shí)，采用標(biāo)準(zhǔn)試塊如JB4730-2005圖1所示CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊。2.3.2用單直探頭檢測(cè)板厚大與20mm的鋼板時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合JB4730-2005圖2和表2規(guī)定的CBII試塊。試塊厚度應(yīng)

9、與被檢鋼板厚度相近。2.4檢測(cè)靈敏度2.4.1板厚小于或等于20mm時(shí)，用CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB作為檢測(cè)靈敏度。2.4.2板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CBII試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為檢測(cè)靈敏度。2.4.3板厚不小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取鋼板無(wú)缺陷的完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度。其結(jié)果應(yīng)與2.4.2條的要求一致。2.5檢測(cè)方法2.5.1檢測(cè)面JB4730-2005表2試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面平底孔的距離S試塊厚度TCBII-1CBII-2CBII-3CBII-4CBII-5CBII-6>20-40>4

10、0-60>60-100>100-160>160-200>200-25015305090140190>20> 40> 65> 110> 170> 220可選鋼板的任一扎制平面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可對(duì)鋼板的上下兩扎制平面分別進(jìn)行檢測(cè)。2. 5.2掃查方式a探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距為100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm(當(dāng)板厚超過(guò)100mm,以板厚的一半為準(zhǔn))內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意圖如JB4730-2005圖3所示。b根據(jù)合同，技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可進(jìn)行其它形式的掃查。3.

11、 6缺陷記錄4. 6.1在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即作為缺陷：a缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于波刻度的50%,即Fl>503者。b當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波(F1)波高與底面第一次反射波(B1)波高之比大于或等于50%,即B1V100%,而Fl/B1>50%c當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高低于滿刻度的5波,即BlV50%者。2. 6.2缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法a檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的延伸。b用雙晶直探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的聲波分割面相垂直，并使缺陷波下降到檢測(cè)

12、靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%o此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。C用單直探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度，移動(dòng)探頭，使缺陷波第一次反射波高下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50%o此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)，兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。d確定2.6.1c條缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%o止匕時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示

13、長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。e當(dāng)采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，檢測(cè)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。2.7缺陷的評(píng)定方法2. 7.1缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定方法-個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。2.7.2單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則a一個(gè)缺陷按其指示的最大面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積，當(dāng)其小于JB4730-2005表3的規(guī)定時(shí)，可不作記錄。b多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，其各塊缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。2.7.3缺陷面積占有率的評(píng)定規(guī)則在任一ImK1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來(lái)確定。2.8鋼板缺陷等級(jí)

14、評(píng)定2.8.1鋼板缺陷等級(jí)劃分見(jiàn)JB4730-2005表3。2.8.2在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，則應(yīng)評(píng)為V級(jí)。2.9.3在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。JB4730-2005表3等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度mm單個(gè)缺陷指示面積cm2在任一ImXlm檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比%以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)cm2IIIIIIIV <80<100<120<150<25<50<100<100<3< 5< 10<

15、10<9<15<25<25V超過(guò)IV級(jí)者3.壓力容器鍛件超聲檢測(cè)本條適用于壓力容器用碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和缺陷等級(jí)評(píng)定。本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)外半徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。3.2試塊應(yīng)符合1.4.2.條的規(guī)定。1.1.1 2.1縱橫直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊試塊應(yīng)采用CS1試塊,也可自行加工，其形狀和尺寸應(yīng)按JB4730-2005表4和JB4730-2005圖4的規(guī)定。JB4730-2005表4縱橫直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸L56100150200D506080801.1.2 縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊a.工件檢測(cè)距離小于4

16、5niin時(shí)，應(yīng)米用縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊。b.縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸按JB4730-2005圖5和表5的規(guī)定。1.1.3 檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)米用CSIII對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失,其形狀和尺寸按JB4730-2005圖6所示。3.3檢測(cè)時(shí)機(jī)原則上應(yīng)安排在熱處理后，槽、孔、臺(tái)階加工前進(jìn)行。若熱處理后鍛件形狀不適合超聲檢測(cè)時(shí)，也可在熱處理前進(jìn)行，但在熱處理后仍應(yīng)對(duì)鍛件進(jìn)行盡可能完全的檢測(cè)。檢測(cè)面的表面粗糙度Ra為6.3Pm=3.4檢測(cè)方法鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)。對(duì)筒形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測(cè)，但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定。3.4.1橫波檢測(cè)應(yīng)按JB4730-20

17、05附錄I(補(bǔ)充件)的要求進(jìn)行。3.4.2縱波檢測(cè)a.原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，盡可能地檢測(cè)到鍛件的全體積。主要檢測(cè)方向如JB4730-2005圖7所示。其它形狀的鍛件也可參照進(jìn)行。b.鍛件厚度超過(guò)400nlm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100%的掃查。3.5檢測(cè)靈敏度的確定3.5.1縱波直探頭檢測(cè)靈敏度的確定當(dāng)被檢測(cè)部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，原則上可選用底波計(jì)算法確定檢測(cè)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。3.5.2縱波雙晶直探頭檢測(cè)靈敏度的確定根據(jù)需要選擇CSH試塊，并依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的3

18、mm平底孔(至少三個(gè))。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%o不改變儀器的參數(shù)，測(cè)出其它平底孔回波的最高點(diǎn)，將其標(biāo)在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即是對(duì)應(yīng)于不同直徑平底孔的縱波雙晶直探頭的距離一波幅曲線，并以此作為檢測(cè)靈敏度。3.5.3檢測(cè)靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的©2mm平底孔當(dāng)量直徑.3.6工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定3. 6.1在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度(B1)為滿刻度的50%,記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度(B2)為滿刻度的50%,兩次衰減器讀數(shù)之差即為(B1-B2)的dB差值

19、。4. 6.2衰減系數(shù)的計(jì)算公式為；(1) 衰減系數(shù)計(jì)算公式(Tv3N,且滿足n>3N/T,m=2n)a=(Bn-Bm)-6/2(m-n)T(2) 衰減系數(shù)計(jì)算公式(T>3N)a=(B1-B2)-6/2T式中：a衰減系數(shù),dB/m(單程);(Bn-Bm)、(B1-B2)兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB；T工件檢測(cè)厚度，mmN單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，mmmn底波反射次數(shù)。3. 6.3工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。3.7缺陷當(dāng)量的確定3. 7.1采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于三倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來(lái)確定缺陷當(dāng)量。也可采用其它等

20、效方法來(lái)確定。計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m,應(yīng)考慮修正。4. 8缺陷記錄5. 8.1記錄當(dāng)量直徑超過(guò)©4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。6. 8.2密集性缺陷：記錄密集性缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于©4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于©3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以50m材50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。應(yīng)按JB4730-2005表6要求記錄底波降低量。3.8.3衰減系數(shù)：若供需雙方有規(guī)定時(shí)，應(yīng)記錄衰減系數(shù)。3.9缺陷等級(jí)評(píng)定3.9.1單個(gè)缺陷的等級(jí)評(píng)定見(jiàn)JB4730-

21、2005表7。3.9.2底波降低量的等級(jí)評(píng)定見(jiàn)JB4730-2005表6。3.9.3密集區(qū)缺陷等級(jí)評(píng)定見(jiàn)JB4730-2005表8。3. 9.4JB4730-2008表6、表7和表8的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。4. 9.5如果被檢測(cè)人員判定為危險(xiǎn)性缺陷時(shí)，鍛件質(zhì)量等級(jí)應(yīng)評(píng)定為V級(jí)。5. 9.7鍛件修補(bǔ)后，應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)定。6. 鋼制壓力容器焊縫超聲檢測(cè)1 .1檢測(cè)范圍和一般要求本條規(guī)定了焊縫缺陷的超聲檢測(cè)方法及檢驗(yàn)結(jié)果的等級(jí)評(píng)定。本條適用于母材厚度為8-400mm全焊透熔化焊對(duì)接焊縫和管座角焊縫的超聲檢測(cè)。本條不適用于鑄鋼及奧氏體鋼焊縫，外徑小于159nlm的鋼管對(duì)接焊縫，內(nèi)

22、徑小于或等于200mm的管座角焊縫，也不適用于外徑小于250mni或內(nèi)外徑之比小于80%的縱向焊縫檢測(cè)。2 .2超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為A、B、C三個(gè)檢測(cè)級(jí)別。根據(jù)壓力容器產(chǎn)品的重要程度進(jìn)行選用。(1)原則上A級(jí)檢測(cè)適用于承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件焊縫檢測(cè);A級(jí)用1種K值探頭；A級(jí)適用于母材厚度8mnr46mmA級(jí)為單面單側(cè)；對(duì)橫向缺陷的檢測(cè)，A級(jí)一般不需檢測(cè)橫向缺陷；3 2)B級(jí)檢測(cè)適用于一般承壓設(shè)備對(duì)接焊縫檢測(cè)；B級(jí)用1種或2種K值探頭；B級(jí)適用于母材厚度8mnrr400mm；B級(jí)為單面雙側(cè)或雙面雙側(cè)；B級(jí)應(yīng)檢測(cè)橫向缺陷。4 3)C級(jí)檢測(cè)適用于重要承壓設(shè)備對(duì)接焊縫檢測(cè)；C級(jí)用

23、2種K值探頭；C級(jí)適用于母材厚度8mmr400mm；C級(jí)為單面雙側(cè)或雙面雙側(cè)；C級(jí)應(yīng)檢測(cè)橫向缺陷(4)對(duì)焊接接頭余高的要求，A級(jí)、B級(jí)不要求將焊接接頭的余高磨平，而C級(jí)要求磨平。(5)對(duì)掃查區(qū)母材的檢測(cè)，C級(jí)要求用直探頭對(duì)斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。A級(jí)和B級(jí)則不需要。4. 3試塊4.3. 1應(yīng)符合1.4.2條的規(guī)定。4.3.2 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-IA,CSK-nA、CSK-川A和CSK-IVA。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合JB4730-2005圖14'圖15、圖16、圖17和表17的規(guī)定。4.3.3 3.3CSK-IA,CSK-nA和CSK-mA試塊適用壁厚范圍為6T20mm的

24、焊縫，CSK-IA和CSK-IVA系列試塊適用于壁厚范圍大于120-400mm的焊縫。在滿足靈敏度要求時(shí)，也可采用其它形式的等效試塊。4.3.4 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑R小于等于W2/4(W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度)，應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊。4.4檢測(cè)準(zhǔn)備4.4.1檢測(cè)面a壓力容器檢測(cè)一般采用K值探頭，利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)對(duì)整個(gè)焊接接頭進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)母材厚度大于46mm時(shí)，采用雙面雙側(cè)直射波檢測(cè)。對(duì)于要求比較高的焊縫，根據(jù)實(shí)際需要也可將焊縫余高磨平，直接在焊縫上進(jìn)行檢測(cè)。b檢測(cè)區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度3

25、0%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小5mm最大為10mm,見(jiàn)JB4730-2005圖18。c探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整光滑，便于探頭的自由掃查，起表面粗糙度Ra應(yīng)為6.3u叫一般應(yīng)進(jìn)行打磨。（1）采用一次反射法或串列式掃查檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于1.25P：P=2TK或P=2TtgB式中：P跨距，mmT母材厚度，mmK探頭K值（2）采用直射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于0.75P。d去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊，較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓滑過(guò)渡，以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定.442探頭K值（角度）斜探頭

26、的K值（角度）選取可參照J(rèn)B4730-2005表18的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。4. 4.3母材的效驗(yàn)a方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2-5MHz的直探頭，晶片直徑10-25mm；b靈敏度：將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。c記錄：凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面上作出標(biāo)記，并予以記錄。4.5距離-波幅曲線的繪制4.5.1 距離一波幅曲線按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成，評(píng)定線和定量線之間（包括評(píng)定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為II區(qū)，判廢線及其以上為III區(qū)。如JB473

27、0-2005圖19所示。4.5.2距離-波幅曲線的靈敏度選擇a壁厚為6-120mm的焊縫，其距離-波幅曲線的靈敏度按JB4730-2005表19的規(guī)定。b壁厚大于120-400mm的焊縫，其距離一波幅曲線靈敏度按JB4730-2005表20的規(guī)定。C檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB.d檢測(cè)面曲率半徑R小于或等于W2/4時(shí)、距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試塊上進(jìn)行。e工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同。f掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度。4.6檢測(cè)方法4.6.1平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)a為檢測(cè)縱向缺陷，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上，做鋸齒型掃查，見(jiàn)JB4730-20

28、05圖20。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面，在保持探頭垂直焊縫做前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10°-15°的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)對(duì)縱向缺陷檢測(cè)技術(shù)的要求見(jiàn)4.2。b不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)對(duì)橫向缺陷檢測(cè)技術(shù)的要求見(jiàn)4.2oc對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線成45°的斜向掃查。d為確定缺陷的位置、方向和形狀，觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見(jiàn)JB4730-2005圖21o4.6.2曲面工件對(duì)接焊縫的檢測(cè)a檢測(cè)面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)于受幾何形狀限制，無(wú)法檢測(cè)部分應(yīng)予以記錄

29、。b縱縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差小于10%。根據(jù)工件的曲率和材料的厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫。(2)探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化，并用曲率試塊做實(shí)際測(cè)定。當(dāng)檢測(cè)面曲率半徑R大于W2/4且采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí)，應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度和水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。c環(huán)縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的0.9-1.5倍。4.6.3管座角焊縫的檢測(cè)a一般原則在選擇檢測(cè)面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于焊縫結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。b檢測(cè)方式根據(jù)焊縫結(jié)構(gòu)形式，管座焊縫的檢測(cè)有如下五種探測(cè)方式，可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢測(cè)。檢測(cè)方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定，并考慮主要檢測(cè)對(duì)象和幾何條件的限制。(JB4730-2005圖22、圖23)(1)在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè)，見(jiàn)JB4730-2005圖22位置1。(2)在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè)，見(jiàn)JB4730-2005圖23位置1。在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測(cè)，見(jiàn)JB4730-2005圖22位置4。(3)在接管外壁采用斜探頭檢測(cè)，見(jiàn)JB4730-2005圖23位置2。(4)在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測(cè)，見(jiàn)JB4730-2005圖22位置3和JB4730-2005圖23位置3。(5)在容器外