電力電子半導(dǎo)體器件(IGBT)_第1頁(yè)
電力電子半導(dǎo)體器件(IGBT)_第2頁(yè)
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1、第七章第七章 絕緣柵雙極晶體管絕緣柵雙極晶體管 (IGBT)IGBT)7.1 7.1 原理與特性原理與特性一、概述一、概述 IGBT Insulated Gate Bipolar Transistor 近年來(lái)出現(xiàn)了許多新型復(fù)合器件,它們將前述單極型和雙近年來(lái)出現(xiàn)了許多新型復(fù)合器件,它們將前述單極型和雙極性器件的各自優(yōu)點(diǎn)集于一身,揚(yáng)長(zhǎng)避短,使其特性更加優(yōu)越,極性器件的各自優(yōu)點(diǎn)集于一身,揚(yáng)長(zhǎng)避短,使其特性更加優(yōu)越,具有輸入阻抗高、工作速度快、通態(tài)電壓低、阻斷電壓高、承具有輸入阻抗高、工作速度快、通態(tài)電壓低、阻斷電壓高、承受電流大等優(yōu)點(diǎn),因而發(fā)展很快應(yīng)用很廣,已成為當(dāng)前電力受電流大等優(yōu)點(diǎn),因而發(fā)展很

2、快應(yīng)用很廣,已成為當(dāng)前電力半導(dǎo)體器件發(fā)展的重要方向。半導(dǎo)體器件發(fā)展的重要方向。 其中尤以絕緣柵雙極晶體管其中尤以絕緣柵雙極晶體管(1GBT)最為突出,在各個(gè)領(lǐng)域最為突出,在各個(gè)領(lǐng)域中有取代前述全控型器件的趨勢(shì)。中有取代前述全控型器件的趨勢(shì)。 IGBT(IGT),),1982年研制,第一代于年研制,第一代于1985年生產(chǎn),主要年生產(chǎn),主要特點(diǎn)是低損耗,導(dǎo)通壓降為特點(diǎn)是低損耗,導(dǎo)通壓降為3V,下降時(shí)間,下降時(shí)間0.5us,耐壓,耐壓500600V,電流,電流25A。 第二代于第二代于1989年生產(chǎn),有高速開(kāi)關(guān)型和低通態(tài)壓降型,容年生產(chǎn),有高速開(kāi)關(guān)型和低通態(tài)壓降型,容量為量為400A/5001400

3、V,工作頻率達(dá),工作頻率達(dá)20KHZ。目前第三代正在。目前第三代正在發(fā)展,仍然分為兩個(gè)方向,一是追求損耗更低和速度更高;另發(fā)展,仍然分為兩個(gè)方向,一是追求損耗更低和速度更高;另一方面是發(fā)展更大容量,采用平板壓接工藝,容量達(dá)一方面是發(fā)展更大容量,采用平板壓接工藝,容量達(dá)1000A,4500V;命名為;命名為IEGT(Injection Enhanced Gate Transistor)二二 、工作原理:、工作原理: IGBT是在功率是在功率MOSFET的基礎(chǔ)上發(fā)展起的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的,兩者結(jié)構(gòu)十分類(lèi)似,來(lái)的,兩者結(jié)構(gòu)十分類(lèi)似,不同之處是不同之處是IGBT多一個(gè)多一個(gè)P+層發(fā)射極,可形成層發(fā)射極,

4、可形成PN結(jié)結(jié)J1,并由此引出漏極;門(mén),并由此引出漏極;門(mén)極和源極與極和源極與MOSFET相類(lèi)相類(lèi)似。似。1分類(lèi):分類(lèi): 按緩沖區(qū)有無(wú)分為:按緩沖區(qū)有無(wú)分為:非對(duì)稱型非對(duì)稱型IGBTIGBT:有緩沖區(qū):有緩沖區(qū)N N+ +,穿通型,穿通型IGBTIGBT; 由于由于N N+ +區(qū)存在,反向阻斷能力弱,但正向壓降低,關(guān)斷時(shí)間區(qū)存在,反向阻斷能力弱,但正向壓降低,關(guān)斷時(shí)間短,關(guān)斷時(shí)尾部電流小。短,關(guān)斷時(shí)尾部電流小。對(duì)稱型對(duì)稱型IGBTIGBT:無(wú)緩沖區(qū):無(wú)緩沖區(qū)N N+ +,非穿通型,非穿通型IGBTIGBT; 具有正、反向阻斷能力,其他特性較非對(duì)稱型具有正、反向阻斷能力,其他特性較非對(duì)稱型IGB

5、TIGBT差。差。 按溝道類(lèi)型:按溝道類(lèi)型:N N溝道溝道IGBTIGBTP P溝道溝道IGBTIGBT2開(kāi)通和關(guān)斷原理:開(kāi)通和關(guān)斷原理: IGBT的開(kāi)通和關(guān)斷是由門(mén)極的開(kāi)通和關(guān)斷是由門(mén)極電壓來(lái)控制的。門(mén)極施以正電壓電壓來(lái)控制的。門(mén)極施以正電壓時(shí),時(shí),MOSFET內(nèi)形成溝道,并為內(nèi)形成溝道,并為PNP晶體管提供基極電流,從而晶體管提供基極電流,從而使使IGBT導(dǎo)通。在門(mén)極上施以負(fù)電導(dǎo)通。在門(mén)極上施以負(fù)電壓時(shí),壓時(shí),MOSFET內(nèi)的溝道消失,內(nèi)的溝道消失,PNP晶體管的基極電流被切斷,晶體管的基極電流被切斷,IGBT即為關(guān)斷。即為關(guān)斷。V VDSDS為負(fù)時(shí):為負(fù)時(shí):J3J3結(jié)處于反偏狀態(tài),器件呈

6、反向阻斷狀態(tài)。結(jié)處于反偏狀態(tài),器件呈反向阻斷狀態(tài)。V VDSDS為正時(shí):為正時(shí):V VG GVVVT T,絕緣門(mén)極下形成,絕緣門(mén)極下形成N N溝道,由于載流子的相互作用,溝道,由于載流子的相互作用, 在在N-N-區(qū)產(chǎn)生電導(dǎo)調(diào)制,使器件正向?qū)ā^(qū)產(chǎn)生電導(dǎo)調(diào)制,使器件正向?qū)?。關(guān)斷時(shí)拖尾時(shí)間:關(guān)斷時(shí)拖尾時(shí)間: 在器件導(dǎo)通之后,若將門(mén)極電壓突然減至在器件導(dǎo)通之后,若將門(mén)極電壓突然減至零,則溝道消失,通過(guò)溝道的電子電流為零,使漏極電流有所零,則溝道消失,通過(guò)溝道的電子電流為零,使漏極電流有所突降,但由于突降,但由于N N- -區(qū)中注入了大量的電子、空穴對(duì),因而漏極電區(qū)中注入了大量的電子、空穴對(duì),因而

7、漏極電流不會(huì)馬上為零,而出現(xiàn)一個(gè)拖尾時(shí)間。流不會(huì)馬上為零,而出現(xiàn)一個(gè)拖尾時(shí)間。鎖定現(xiàn)象:由于鎖定現(xiàn)象:由于IGBTIGBT結(jié)構(gòu)中寄生著結(jié)構(gòu)中寄生著PNPNPNPN四層結(jié)構(gòu),存在著由四層結(jié)構(gòu),存在著由于再生作用而將導(dǎo)通狀態(tài)鎖定起來(lái)的可能性,從而導(dǎo)致漏極電于再生作用而將導(dǎo)通狀態(tài)鎖定起來(lái)的可能性,從而導(dǎo)致漏極電流失控,進(jìn)而引起器件產(chǎn)生破壞性失效。出現(xiàn)鎖定現(xiàn)象的條件流失控,進(jìn)而引起器件產(chǎn)生破壞性失效。出現(xiàn)鎖定現(xiàn)象的條件就是晶閘管的觸發(fā)導(dǎo)通條件:就是晶閘管的觸發(fā)導(dǎo)通條件: 1 +2 =1a. 靜態(tài)鎖定:靜態(tài)鎖定: IGBT在穩(wěn)態(tài)電流導(dǎo)通時(shí)出現(xiàn)的鎖定,此時(shí)漏極電壓低,鎖定在穩(wěn)態(tài)電流導(dǎo)通時(shí)出現(xiàn)的鎖定,此時(shí)漏

8、極電壓低,鎖定發(fā)生在穩(wěn)態(tài)電流密度超過(guò)某一數(shù)值時(shí)。發(fā)生在穩(wěn)態(tài)電流密度超過(guò)某一數(shù)值時(shí)。b. 動(dòng)態(tài)鎖定:動(dòng)態(tài)鎖定發(fā)生在開(kāi)關(guān)過(guò)程中,在大電流、高電壓的情況下、動(dòng)態(tài)鎖定:動(dòng)態(tài)鎖定發(fā)生在開(kāi)關(guān)過(guò)程中,在大電流、高電壓的情況下、主要是因?yàn)樵陔娏鬏^大時(shí)引起主要是因?yàn)樵陔娏鬏^大時(shí)引起1和和2的增加,以及由過(guò)大的的增加,以及由過(guò)大的dv/dt引起的位移引起的位移電流造成的。電流造成的。c. 柵分布鎖定:是由于絕緣柵的電容效應(yīng),造成在開(kāi)關(guān)過(guò)程中個(gè)別先開(kāi)通或柵分布鎖定:是由于絕緣柵的電容效應(yīng),造成在開(kāi)關(guān)過(guò)程中個(gè)別先開(kāi)通或后關(guān)斷的后關(guān)斷的IGBT之中的電流密度過(guò)大而形成局部鎖定。之中的電流密度過(guò)大而形成局部鎖定。采取各種

9、工藝措施,可以提高鎖定電流,克服由于鎖定產(chǎn)生的失效。采取各種工藝措施,可以提高鎖定電流,克服由于鎖定產(chǎn)生的失效。三、基本特性:三、基本特性:(一)靜態(tài)特性(一)靜態(tài)特性1伏安特性:伏安特性:幾十伏,無(wú)反向阻斷能力幾十伏,無(wú)反向阻斷能力飽和區(qū)飽和區(qū)放大區(qū)放大區(qū)擊穿區(qū)擊穿區(qū)2飽和電壓特性:飽和電壓特性: IGBT的電流密度較大,的電流密度較大,通態(tài)電壓的溫度系數(shù)在小通態(tài)電壓的溫度系數(shù)在小電流范圍內(nèi)為負(fù)。大電流電流范圍內(nèi)為負(fù)。大電流范圍為正,其值大約為范圍為正,其值大約為1.4倍倍100。3轉(zhuǎn)移特性:轉(zhuǎn)移特性: 與功率與功率MOSFET的轉(zhuǎn)移特性的轉(zhuǎn)移特性相同。當(dāng)門(mén)源電壓相同。當(dāng)門(mén)源電壓VGS小于開(kāi)

10、啟小于開(kāi)啟電壓電壓VT時(shí),時(shí),IGBT處于關(guān)斷狀態(tài),處于關(guān)斷狀態(tài),加在門(mén)源間的最高電壓由流過(guò)漏加在門(mén)源間的最高電壓由流過(guò)漏極的最大電流所限定。一般門(mén)源極的最大電流所限定。一般門(mén)源電壓最佳值電壓最佳值15V。4開(kāi)關(guān)特性:開(kāi)關(guān)特性: 與功率與功率MOSFET相比,相比,IGBT通態(tài)壓降要小得多,通態(tài)壓降要小得多,1000V的的IGBT約有約有25的通態(tài)壓降。這的通態(tài)壓降。這是因?yàn)槭且驗(yàn)镮GBT中中N漂移區(qū)存在電漂移區(qū)存在電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng)的緣故。導(dǎo)調(diào)制效應(yīng)的緣故。(二)動(dòng)態(tài)特性(二)動(dòng)態(tài)特性1開(kāi)通過(guò)程:開(kāi)通過(guò)程:t d(on):開(kāi)通延遲時(shí)間:開(kāi)通延遲時(shí)間tri : 電流上升時(shí)間電流上升時(shí)間tfv1 ,t

11、fv2 :漏源電壓下降時(shí)間:漏源電壓下降時(shí)間tfv1 :MOSFET單獨(dú)工作時(shí)的單獨(dú)工作時(shí)的 電壓下降時(shí)間。電壓下降時(shí)間。tfv2 :MOSFET和和PNP管同時(shí)管同時(shí)工作時(shí)的電壓下降時(shí)間。隨漏工作時(shí)的電壓下降時(shí)間。隨漏源電壓下降而延長(zhǎng);受源電壓下降而延長(zhǎng);受PNP管管飽和過(guò)程影響。飽和過(guò)程影響。平臺(tái):由于門(mén)源間流過(guò)驅(qū)動(dòng)電流,門(mén)源平臺(tái):由于門(mén)源間流過(guò)驅(qū)動(dòng)電流,門(mén)源間呈二極管正向特性,間呈二極管正向特性,VGS維持不變。維持不變。2關(guān)斷過(guò)程:關(guān)斷過(guò)程:t d(off) :延遲時(shí)間:延遲時(shí)間t rv :VDS上升時(shí)間上升時(shí)間t fi2 :由:由PNP晶體管中晶體管中存儲(chǔ)電荷決定,此時(shí)存儲(chǔ)電荷決定,

12、此時(shí)MOSFET已關(guān)斷,已關(guān)斷,IGBT又無(wú)反向電壓,又無(wú)反向電壓,體內(nèi)存儲(chǔ)電荷很難迅體內(nèi)存儲(chǔ)電荷很難迅速消除,因此下降時(shí)速消除,因此下降時(shí)間較長(zhǎng),間較長(zhǎng),VDS較大,功較大,功耗較大。一般無(wú)緩沖耗較大。一般無(wú)緩沖區(qū)的,下降時(shí)間短。區(qū)的,下降時(shí)間短。由由MOSFET決定決定3開(kāi)關(guān)時(shí)間:用電流的動(dòng)態(tài)波形確定開(kāi)關(guān)時(shí)間。開(kāi)關(guān)時(shí)間:用電流的動(dòng)態(tài)波形確定開(kāi)關(guān)時(shí)間。漏極電流的開(kāi)通時(shí)間和上升時(shí)間:漏極電流的開(kāi)通時(shí)間和上升時(shí)間: 開(kāi)通時(shí)間:開(kāi)通時(shí)間:t tonon= = t d(on)+ tri 上升時(shí)間:上升時(shí)間: tr = tfv1 + tfv2 漏極電流的關(guān)斷時(shí)間和下降時(shí)間:漏極電流的關(guān)斷時(shí)間和下降時(shí)間

13、: 關(guān)斷時(shí)間:關(guān)斷時(shí)間:t toffoff = = t d(off) + t rv 下降時(shí)間:下降時(shí)間:t tf f = = t fi1+ t fi2 反向恢復(fù)時(shí)間:反向恢復(fù)時(shí)間:t trrrr 4開(kāi)關(guān)時(shí)間與漏極電流、門(mén)極電阻、結(jié)溫等參數(shù)的關(guān)系:開(kāi)關(guān)時(shí)間與漏極電流、門(mén)極電阻、結(jié)溫等參數(shù)的關(guān)系:5開(kāi)關(guān)損耗與溫度和漏極電流關(guān)系開(kāi)關(guān)損耗與溫度和漏極電流關(guān)系(三)擎住效應(yīng)(三)擎住效應(yīng) IGBT的鎖定現(xiàn)象又稱擎住效應(yīng)。的鎖定現(xiàn)象又稱擎住效應(yīng)。IGBT復(fù)合器件內(nèi)有一個(gè)復(fù)合器件內(nèi)有一個(gè)寄生晶閘管存在,它由寄生晶閘管存在,它由PNP利利NPN兩個(gè)晶體管組成。在兩個(gè)晶體管組成。在NPN晶晶體管的基極與發(fā)射極之

14、間并有一個(gè)體區(qū)電阻體管的基極與發(fā)射極之間并有一個(gè)體區(qū)電阻Rbr,在該電阻上,在該電阻上,P型體區(qū)的橫向空穴流會(huì)產(chǎn)生一定壓降。對(duì)型體區(qū)的橫向空穴流會(huì)產(chǎn)生一定壓降。對(duì)J3結(jié)來(lái)說(shuō)相當(dāng)于加結(jié)來(lái)說(shuō)相當(dāng)于加一個(gè)正偏置電壓。在規(guī)定的漏極電流范圍內(nèi),這個(gè)正偏壓不大,一個(gè)正偏置電壓。在規(guī)定的漏極電流范圍內(nèi),這個(gè)正偏壓不大,NPN晶體管不起作用。當(dāng)漏極電流人到晶體管不起作用。當(dāng)漏極電流人到定程度時(shí),這個(gè)正偏定程度時(shí),這個(gè)正偏量電壓足以使量電壓足以使NPN晶體管導(dǎo)通,進(jìn)而使寄生晶閘管開(kāi)通、門(mén)極晶體管導(dǎo)通,進(jìn)而使寄生晶閘管開(kāi)通、門(mén)極失去控制作用、這就是所謂的擎住效應(yīng)。失去控制作用、這就是所謂的擎住效應(yīng)。IGBT發(fā)生擎

15、住效應(yīng)后。發(fā)生擎住效應(yīng)后。漏極電流增大造成過(guò)高的功耗,最后導(dǎo)致器件損壞。漏極電流增大造成過(guò)高的功耗,最后導(dǎo)致器件損壞。 漏極通態(tài)電流的連續(xù)值超過(guò)臨界值漏極通態(tài)電流的連續(xù)值超過(guò)臨界值IDM時(shí)產(chǎn)生的擎住效應(yīng)稱時(shí)產(chǎn)生的擎住效應(yīng)稱為靜態(tài)擎住現(xiàn)象。為靜態(tài)擎住現(xiàn)象。 IGBT在關(guān)斷的過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生動(dòng)態(tài)的擎住效應(yīng)。動(dòng)態(tài)擎住在關(guān)斷的過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生動(dòng)態(tài)的擎住效應(yīng)。動(dòng)態(tài)擎住所允許的漏極電流比靜態(tài)擎住時(shí)還要小,因此,制造廠家所規(guī)所允許的漏極電流比靜態(tài)擎住時(shí)還要小,因此,制造廠家所規(guī)定的定的IDM值是按動(dòng)態(tài)擎住所允許的最大漏極電流而確定的。值是按動(dòng)態(tài)擎住所允許的最大漏極電流而確定的。 動(dòng)態(tài)過(guò)程中擎住現(xiàn)象的產(chǎn)生主要由重加動(dòng)

16、態(tài)過(guò)程中擎住現(xiàn)象的產(chǎn)生主要由重加dv/dt來(lái)決定,此外來(lái)決定,此外還受漏極電流還受漏極電流IDM以及結(jié)溫以及結(jié)溫Tj等因素的影響。等因素的影響。 在使用中為了避免在使用中為了避免IGBT發(fā)生擎住現(xiàn)象發(fā)生擎住現(xiàn)象:1設(shè)計(jì)電路時(shí)應(yīng)保證設(shè)計(jì)電路時(shí)應(yīng)保證IGBT中的電流不超過(guò)中的電流不超過(guò)IDM值;值;2用加大門(mén)極電阻用加大門(mén)極電阻RG的辦法延長(zhǎng)的辦法延長(zhǎng)IGBT的關(guān)斷時(shí)間,減小重加的關(guān)斷時(shí)間,減小重加 dVDS/d t。3器件制造廠家也在器件制造廠家也在IGBT的工藝與結(jié)構(gòu)上想方設(shè)法盡可能提的工藝與結(jié)構(gòu)上想方設(shè)法盡可能提 高高IDM值,盡量避免產(chǎn)生擎住效應(yīng)。值,盡量避免產(chǎn)生擎住效應(yīng)。(四)安全工作區(qū)

17、(四)安全工作區(qū)1FBSOA:IGBT開(kāi)通時(shí)正向偏置安全工作區(qū)。開(kāi)通時(shí)正向偏置安全工作區(qū)。 隨導(dǎo)通時(shí)間的增加,損耗增大,發(fā)熱嚴(yán)重,安全區(qū)逐步減小。隨導(dǎo)通時(shí)間的增加,損耗增大,發(fā)熱嚴(yán)重,安全區(qū)逐步減小。2RBSOA: IGBT關(guān)斷時(shí)反向偏置安全工作區(qū)。關(guān)斷時(shí)反向偏置安全工作區(qū)。 隨隨IGBT關(guān)斷時(shí)的重加關(guān)斷時(shí)的重加dVDS/dt改變,電壓上升率改變,電壓上升率dVDS/dt越大,越大,安全工作區(qū)越小。通過(guò)選擇門(mén)極電壓、門(mén)極驅(qū)動(dòng)電阻和吸收回路設(shè)安全工作區(qū)越小。通過(guò)選擇門(mén)極電壓、門(mén)極驅(qū)動(dòng)電阻和吸收回路設(shè)計(jì)可控制重加計(jì)可控制重加dVDS/dt,擴(kuò)大,擴(kuò)大RBSOA。最大漏極電流最大漏極電流最大漏源電壓

18、最大漏源電壓VDSM(五)具體參數(shù)和特性(五)具體參數(shù)和特性7.2 7.2 門(mén)極驅(qū)動(dòng)門(mén)極驅(qū)動(dòng)一、驅(qū)動(dòng)條件:一、驅(qū)動(dòng)條件: 門(mén)極驅(qū)動(dòng)電路的正偏壓門(mén)極驅(qū)動(dòng)電路的正偏壓VGS,負(fù)偏壓,負(fù)偏壓VGS,門(mén)極電阻,門(mén)極電阻RG的的大小,決定大小,決定IGBT的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特性,如:通態(tài)電壓、開(kāi)關(guān)時(shí)間、的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特性,如:通態(tài)電壓、開(kāi)關(guān)時(shí)間、開(kāi)關(guān)損耗、短路能力、電流開(kāi)關(guān)損耗、短路能力、電流di/dt及及dv/dt。1正偏電壓正偏電壓VGS的影響的影響 VGS增加時(shí),通態(tài)壓降下降,開(kāi)通時(shí)間縮短,開(kāi)通損耗減小,增加時(shí),通態(tài)壓降下降,開(kāi)通時(shí)間縮短,開(kāi)通損耗減小,但但VGS增加到一定程度后,對(duì)增加到一定程度后,對(duì)I

19、GBT的短路能力及電流的短路能力及電流di/dt不不利,一般利,一般VGS不超過(guò)不超過(guò)15V。(。(12V15V) 2負(fù)偏壓負(fù)偏壓VGS的影響:的影響: 門(mén)極負(fù)偏壓可以減小漏極浪涌電流,避免發(fā)生鎖定效應(yīng),門(mén)極負(fù)偏壓可以減小漏極浪涌電流,避免發(fā)生鎖定效應(yīng),但對(duì)關(guān)斷特性影響不大。如圖:但對(duì)關(guān)斷特性影響不大。如圖:3門(mén)極電阻門(mén)極電阻RG的影響:的影響: 當(dāng)門(mén)極電阻當(dāng)門(mén)極電阻RG增加時(shí),增加時(shí),IGBT的開(kāi)通與關(guān)斷時(shí)間增加,進(jìn)的開(kāi)通與關(guān)斷時(shí)間增加,進(jìn)而使每脈沖的開(kāi)通能耗和關(guān)斷能損也增加。而使每脈沖的開(kāi)通能耗和關(guān)斷能損也增加。 但但RG減小時(shí),減小時(shí), IGBT的電流上升率的電流上升率di/dt增大,會(huì)

20、引起增大,會(huì)引起IGBT的誤導(dǎo)通,同時(shí)的誤導(dǎo)通,同時(shí)RG電阻的損耗也增加。電阻的損耗也增加。 一般,在開(kāi)關(guān)損耗不太大的情況下,選較大的電阻一般,在開(kāi)關(guān)損耗不太大的情況下,選較大的電阻RG。4IGBT驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)要求:驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)要求:(1)由于是容性輸入阻抗,因此由于是容性輸入阻抗,因此IGBT對(duì)門(mén)極電荷集聚很敏感,驅(qū)動(dòng)對(duì)門(mén)極電荷集聚很敏感,驅(qū)動(dòng)電路必須很可靠,要保證有一條低阻抗值的放電回路。電路必須很可靠,要保證有一條低阻抗值的放電回路。(2)用低內(nèi)阻的驅(qū)動(dòng)源對(duì)門(mén)極電容充放電以保證門(mén)極控制電壓用低內(nèi)阻的驅(qū)動(dòng)源對(duì)門(mén)極電容充放電以保證門(mén)極控制電壓VGS有足夠陡峭的前后沿,使有足夠陡峭的前后沿,使

21、IGBT的開(kāi)關(guān)損耗盡量小。另外的開(kāi)關(guān)損耗盡量小。另外IGBT開(kāi)通開(kāi)通后,門(mén)極驅(qū)動(dòng)源應(yīng)提供足夠的功率使后,門(mén)極驅(qū)動(dòng)源應(yīng)提供足夠的功率使IGBT不致退出飽和而損壞。不致退出飽和而損壞。(3)門(mén)極電路中的正偏壓應(yīng)為門(mén)極電路中的正偏壓應(yīng)為+12+15V;負(fù)偏壓應(yīng)為;負(fù)偏壓應(yīng)為210V。 (4)IGBT多用于高壓場(chǎng)合,故驅(qū)動(dòng)電路應(yīng)與整個(gè)控制電路在電位上多用于高壓場(chǎng)合,故驅(qū)動(dòng)電路應(yīng)與整個(gè)控制電路在電位上嚴(yán)格隔離。嚴(yán)格隔離。(5)門(mén)極驅(qū)動(dòng)電路應(yīng)盡可能簡(jiǎn)單實(shí)用,具有對(duì)門(mén)極驅(qū)動(dòng)電路應(yīng)盡可能簡(jiǎn)單實(shí)用,具有對(duì)IGBT的自保護(hù)功能,的自保護(hù)功能,并有較強(qiáng)的抗于擾能力。并有較強(qiáng)的抗于擾能力。(6)若為大電感負(fù)載,若為大

22、電感負(fù)載,IGBT的關(guān)斷時(shí)間不宜過(guò)短,以限制的關(guān)斷時(shí)間不宜過(guò)短,以限制di/dt所形所形成的尖峰電壓,保證成的尖峰電壓,保證IGBT的安全。的安全。二、驅(qū)動(dòng)電路:二、驅(qū)動(dòng)電路: 在滿足上述驅(qū)動(dòng)條件下來(lái)設(shè)計(jì)門(mén)極驅(qū)動(dòng)電路,在滿足上述驅(qū)動(dòng)條件下來(lái)設(shè)計(jì)門(mén)極驅(qū)動(dòng)電路,IGBTIGBT的輸入的輸入特性與特性與MOSFETMOSFET幾乎相同,因此與幾乎相同,因此與MOSFETMOSFET的驅(qū)動(dòng)電路幾乎一樣。的驅(qū)動(dòng)電路幾乎一樣。注意:注意:1 1IGBTIGBT驅(qū)動(dòng)電路采用正負(fù)電壓雙電源工作方式。驅(qū)動(dòng)電路采用正負(fù)電壓雙電源工作方式。2 2信號(hào)電路和驅(qū)動(dòng)電路隔離時(shí),采用抗噪聲能力強(qiáng),信號(hào)信號(hào)電路和驅(qū)動(dòng)電路隔離

23、時(shí),采用抗噪聲能力強(qiáng),信號(hào) 傳輸時(shí)間短的快速光耦。傳輸時(shí)間短的快速光耦。3 3門(mén)極和發(fā)射極引線盡量短,采用雙絞線。門(mén)極和發(fā)射極引線盡量短,采用雙絞線。 4 4為抑制輸入信號(hào)振蕩,在門(mén)源間并聯(lián)阻尼網(wǎng)絡(luò)。為抑制輸入信號(hào)振蕩,在門(mén)源間并聯(lián)阻尼網(wǎng)絡(luò)。 三、常用三、常用PWM控制芯片:控制芯片: TL494,SG3524,SG1525,MC3520,MC34060, VC1840,SL-64等。等。四、四、IGBT專(zhuān)用驅(qū)動(dòng)模塊:專(zhuān)用驅(qū)動(dòng)模塊: 大多數(shù)大多數(shù)IGBT生產(chǎn)廠家為了解決生產(chǎn)廠家為了解決IGBT的可靠性問(wèn)題,都的可靠性問(wèn)題,都生產(chǎn)與其相配套的混合集成驅(qū)動(dòng)電路,如日本富士的生產(chǎn)與其相配套的混合集成

24、驅(qū)動(dòng)電路,如日本富士的EXB系系列、日本東芝的列、日本東芝的TK系列,美國(guó)庫(kù)托羅拉的系列,美國(guó)庫(kù)托羅拉的MPD系列等。這系列等。這些專(zhuān)用驅(qū)動(dòng)電路抗干擾能力強(qiáng),集成化程度高,速度快,保些專(zhuān)用驅(qū)動(dòng)電路抗干擾能力強(qiáng),集成化程度高,速度快,保護(hù)功能完善,可實(shí)現(xiàn)護(hù)功能完善,可實(shí)現(xiàn)IGBT的最優(yōu)驅(qū)動(dòng)。的最優(yōu)驅(qū)動(dòng)。富士的富士的EXB841快速驅(qū)動(dòng)電路快速驅(qū)動(dòng)電路由放大電路,過(guò)流保護(hù)電路,由放大電路,過(guò)流保護(hù)電路,5V基準(zhǔn)電壓源電路組成?;鶞?zhǔn)電壓源電路組成。具有過(guò)流緩關(guān)斷功能。具有過(guò)流緩關(guān)斷功能。7.3 IGBT7.3 IGBT的保護(hù)的保護(hù)一、常用的保護(hù)措施:一、常用的保護(hù)措施:(1)通過(guò)檢出的過(guò)電流信號(hào)切斷

25、門(mén)極控制信號(hào),實(shí)現(xiàn)過(guò)電流保護(hù)通過(guò)檢出的過(guò)電流信號(hào)切斷門(mén)極控制信號(hào),實(shí)現(xiàn)過(guò)電流保護(hù)(2)利用緩沖電路抑制過(guò)電壓并限制過(guò)量的利用緩沖電路抑制過(guò)電壓并限制過(guò)量的dv/dt。(3)利用溫度傳感器檢測(cè)利用溫度傳感器檢測(cè)IGBT的殼溫,當(dāng)超過(guò)允許溫度時(shí)主電的殼溫,當(dāng)超過(guò)允許溫度時(shí)主電路跳問(wèn),實(shí)現(xiàn)過(guò)熱保護(hù)。路跳問(wèn),實(shí)現(xiàn)過(guò)熱保護(hù)。二、過(guò)電流保護(hù)措施及注意問(wèn)題:二、過(guò)電流保護(hù)措施及注意問(wèn)題:1IGBT短路時(shí)間:短路時(shí)間:2過(guò)電流的識(shí)別:過(guò)電流的識(shí)別: 采用漏極電壓的識(shí)別方法,通過(guò)導(dǎo)通壓降判斷漏極電流大采用漏極電壓的識(shí)別方法,通過(guò)導(dǎo)通壓降判斷漏極電流大小。進(jìn)而切斷門(mén)極控制信號(hào)。小。進(jìn)而切斷門(mén)極控制信號(hào)。 注意:識(shí)

26、別時(shí)間和動(dòng)作時(shí)間應(yīng)小于注意:識(shí)別時(shí)間和動(dòng)作時(shí)間應(yīng)小于IGBTIGBT允許的短路過(guò)電流允許的短路過(guò)電流時(shí)間(幾個(gè)時(shí)間(幾個(gè)usus),同時(shí)判斷短路的真與假,常用方法是利用),同時(shí)判斷短路的真與假,常用方法是利用降低門(mén)極電壓使降低門(mén)極電壓使IGBTIGBT承受短路能力增加,保護(hù)電路動(dòng)作時(shí)間承受短路能力增加,保護(hù)電路動(dòng)作時(shí)間延長(zhǎng)來(lái)處理。延長(zhǎng)來(lái)處理。3 3保護(hù)時(shí)緩關(guān)斷:保護(hù)時(shí)緩關(guān)斷: 由于由于IGBTIGBT過(guò)電流時(shí)電流幅值很大,加之過(guò)電流時(shí)電流幅值很大,加之IGBTIGBT關(guān)斷速度快。關(guān)斷速度快。如果按正常時(shí)的關(guān)斷速度,就會(huì)造成如果按正常時(shí)的關(guān)斷速度,就會(huì)造成Ldi/dtLdi/dt過(guò)大形成很高的過(guò)

27、大形成很高的尖峰電壓,造成尖峰電壓,造成IGBTIGBT的鎖定或二次擊穿,極易損壞的鎖定或二次擊穿,極易損壞IGBTIGBT和設(shè)和設(shè)備中的其他元器件,因此有必要讓備中的其他元器件,因此有必要讓IGBTIGBT在允許的短路時(shí)間內(nèi)在允許的短路時(shí)間內(nèi)采取措施使采取措施使IGBTIGBT進(jìn)行進(jìn)行“慢速關(guān)斷慢速關(guān)斷”。采用電流互感器和霍爾元件進(jìn)行過(guò)流檢測(cè)及過(guò)流保護(hù):采用電流互感器和霍爾元件進(jìn)行過(guò)流檢測(cè)及過(guò)流保護(hù):三、緩沖電路三、緩沖電路 利用緩沖電路抑制過(guò)電壓,減小利用緩沖電路抑制過(guò)電壓,減小dv/dt。50A200A緩沖電路參數(shù)估算:緩沖電路參數(shù)估算: 緩沖電容:緩沖電容:220)(dCEPSEVLIC L主回路雜散電感(與配線長(zhǎng)度有關(guān))主回路雜散電感(與配線長(zhǎng)度有關(guān)) I0關(guān)斷時(shí)漏極電流關(guān)斷時(shí)漏極電流VCEP緩沖電容上電壓穩(wěn)態(tài)值(有安全區(qū)確定)緩沖電容上電壓穩(wěn)態(tài)值(有安全區(qū)確定) Ed直流電源電壓直流電源電壓 緩沖電阻:在關(guān)斷信號(hào)到來(lái)前,將緩沖電容上電荷放凈緩沖電阻:在關(guān)斷信號(hào)到來(lái)前,將緩沖電容上電荷放凈fCRSS321f :開(kāi)關(guān)頻率:開(kāi)關(guān)頻率緩沖電阻功率:緩沖電阻功率:220fILP

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