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文檔簡介
1、合肥工業(yè)大學(xué)電氣與自動化工程學(xué)院電 力 電 子 技 術(shù)Power Electronic Technology復(fù)習(xí) 1、什么是電力電子技術(shù),電力電子技術(shù)的特點有哪四點? 電力電子技術(shù):使用電力電子器件對電能進(jìn)行變換和控制的技術(shù)1)電力電子技術(shù)的發(fā)展集中體現(xiàn)在電力電子器件的發(fā)展上電力電子器件的發(fā)展上; 2)電力電子器件一般均工作在開關(guān)狀態(tài),這是重要特征; 3)電力電子裝置及系統(tǒng)主要完成各類電能形態(tài)間的變換; 4)電力電子技術(shù)涉及電氣工程學(xué)科諸多領(lǐng)域并且是該學(xué)科最為活躍的分支。復(fù)習(xí)2、 若流過晶閘管的波形如題2.8圖所示,電流峰值為Im,試求該電流波形的波形系數(shù),并選擇晶閘管(不考慮裕量)。有效值:
2、有效值:22/313sin()0.452238mTmmIIItdtI平均值:平均值: m/313sin24dmIIt dtI波形系數(shù)波形系數(shù)Kf:1.88TfdIKI所需晶閘管的通態(tài)平均電流,按有效值相等原則選取:所需晶閘管的通態(tài)平均電流,按有效值相等原則選取:()1.57TT avII復(fù)習(xí)3、維持晶閘管導(dǎo)通的條件是什么?怎樣能使晶閘管由導(dǎo)通變?yōu)殛P(guān)斷?1)流過晶閘管的電流應(yīng)大于維持電流;)流過晶閘管的電流應(yīng)大于維持電流;2)在外部電路作用下,使流過晶閘管的電流降低到)在外部電路作用下,使流過晶閘管的電流降低到維持電流以下維持電流以下2.5 2.5 門極可關(guān)斷晶閘管門極可關(guān)斷晶閘管2.5 2.5
3、 門極可關(guān)斷晶閘管(GTO) GTO的基本結(jié)構(gòu)和工作原理 GTO的動態(tài)特性 GTO的主要參數(shù) GTO的驅(qū)動 GTO的應(yīng)用特點門極可關(guān)斷晶閘管(門極可關(guān)斷晶閘管(Gate-Turn-Off Thyristor Gate-Turn-Off Thyristor GTOGTO) 晶閘管的一種晶閘管的一種派生器件派生器件,在晶閘管問世后不久出現(xiàn),在晶閘管問世后不久出現(xiàn) 可以通過在門極施加可以通過在門極施加負(fù)的脈沖電流使其關(guān)斷負(fù)的脈沖電流使其關(guān)斷 GTOGTO的電壓、電流容量較大,與普通晶閘管接近,因而的電壓、電流容量較大,與普通晶閘管接近,因而在兆瓦級以上的大功率場合仍有較多的應(yīng)用在兆瓦級以上的大功率場
4、合仍有較多的應(yīng)用2.5 門極可關(guān)斷晶閘管(GTO)結(jié)構(gòu):結(jié)構(gòu):與 普 通 晶 閘 管 的 相 同 點 :與 普 通 晶 閘 管 的 相 同 點 : PNPNPNPN四層半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),外部引四層半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),外部引出陽極、陰極和門極出陽極、陰極和門極和普通晶閘管的不同:和普通晶閘管的不同:GTOGTO是是一種一種多元的功率集成器件多元的功率集成器件,內(nèi),內(nèi)部包含數(shù)十個甚至數(shù)百個共陽部包含數(shù)十個甚至數(shù)百個共陽極的小極的小GTOGTO元,這些元,這些GTOGTO元的陰元的陰極和門極則在器件內(nèi)部并聯(lián)在極和門極則在器件內(nèi)部并聯(lián)在一起一起2.5.1 GTO的基本結(jié)構(gòu)和工作原理的基本結(jié)構(gòu)和工作原理c)圖1-13
5、AGKGGKN1P1N2N2P2b)a)AGKN1P1 P2AKGN2N2N2工作原理:工作原理: 與普通晶閘管一樣: 1 1)可以用下圖所示的雙晶體管模型來分析 2 2) 1 1+ + 2 2=1=1是器件臨界導(dǎo)通的條件。當(dāng)1+21時,兩個等效晶體管過飽和而使器件導(dǎo)通;當(dāng)1+21時,不能維持飽和導(dǎo)通而關(guān)斷RNPNPNPAGSKEGIGEAIKIc2Ic1IAV1V2P1AGKN1P2P2N1N2a)b)2.5.1 GTO的基本結(jié)構(gòu)和工作原理的基本結(jié)構(gòu)和工作原理 GTOGTO能夠通過門極關(guān)斷的原因是其能夠通過門極關(guān)斷的原因是其與普通晶閘管有如下區(qū)別:與普通晶閘管有如下區(qū)別: 1 1)設(shè)計)設(shè)計
6、 2 2較大較大,使晶體管,使晶體管V V2 2控制靈敏,易控制靈敏,易于于GTOGTO關(guān)斷關(guān)斷 2 2)導(dǎo)通時)導(dǎo)通時 1 1+ + 2 2更接近更接近1 1( 1.051.05,普通晶,普通晶閘管閘管 1 1+ + 2 2 1.151.15)導(dǎo)通時飽和不深,接近)導(dǎo)通時飽和不深,接近臨界飽和,有利門極控制關(guān)斷,但導(dǎo)通時臨界飽和,有利門極控制關(guān)斷,但導(dǎo)通時管壓降增大管壓降增大 3 3)多元集成結(jié)構(gòu)使多元集成結(jié)構(gòu)使GTOGTO元陰極面積很小,元陰極面積很小,門、陰極間距大為縮短,使得門、陰極間距大為縮短,使得P P2 2基區(qū)橫向基區(qū)橫向電阻很小電阻很小,能從門極抽出較大電流,能從門極抽出較大電
7、流c)圖1-13AGKGGKN1P1N2N2P2b)a)AGKRNPNPNPAGSKEGIGEAIKIc2Ic1IAV1V2P1AGKN1P2P2N1N2a)b)2.5.1 GTO的基本結(jié)構(gòu)和工作原理的基本結(jié)構(gòu)和工作原理 導(dǎo)通過程導(dǎo)通過程: :與普通晶閘管一樣,只是導(dǎo)與普通晶閘管一樣,只是導(dǎo)通時通時飽和程度較淺飽和程度較淺 關(guān)斷過程:關(guān)斷過程: 強烈正反饋強烈正反饋門極加負(fù)脈沖即從門極抽門極加負(fù)脈沖即從門極抽出電流,則出電流,則I Ib2b2減小,使減小,使I IK K和和I Ic2c2減小,減小,I Ic2c2的減小又使的減小又使I IA A和和I Ic1c1減小,又進(jìn)一步減小減小,又進(jìn)一步
8、減小V V2 2的基極電流的基極電流當(dāng)當(dāng)I IA A和和I IK K的減小使的減小使 1 1+ + 2 21 BUBUcexcex BUBUcesces BUBUcercer BUBUceoceo實際使用時,為確保安全,最高工作電壓要比BUBUceoceo低得多2.6.3 GTR主要參數(shù)主要參數(shù)2)2) 集電極最大允許電流集電極最大允許電流I IcMcM 通常規(guī)定為h hFEFE下降到規(guī)定值的1/2-1/31/2-1/3時所對應(yīng)的I Ic c 實際使用時要留有裕量,只能用到I IcMcM的一半或稍多一點3) 3) 集電極最大耗散功率集電極最大耗散功率P PcMcM 最高工作溫度下允許的耗散功率
9、 產(chǎn)品說明書中給P PcMcM時同時給出殼溫TC,間接表示了最高工作溫度 2.6.3 GTR主要參數(shù)主要參數(shù)一次擊穿一次擊穿 電壓承受能力是電力電子器件的重要工作特性之一。GTR在其開關(guān)應(yīng)用中的電壓承受能力主要由它的集電結(jié)擊穿(雪崩擊穿)特性決定的。集電極電壓升高至擊穿電壓時,Ic迅速增大,出現(xiàn)雪崩擊穿只要Ic不超過限度,GTR一般不會損壞,工作特性也不變2.6.4 GTR的擊穿和安全工作區(qū)的擊穿和安全工作區(qū)二次擊穿二次擊穿 一次擊穿發(fā)生時I Ic c增大到某個臨界點時會突然急劇上升,并伴隨電壓的陡然下降 常常立即導(dǎo)致器件的永久損壞,或者工作特性明顯衰變,再經(jīng)數(shù)次類似過程之后必永久損壞。 實際
10、應(yīng)用中,二次擊穿并不總是發(fā)生在一次擊穿之后。“熱電正反饋理論”“發(fā)射極電流夾緊效應(yīng)”2.6.4 GTR的擊穿和安全工作區(qū)的擊穿和安全工作區(qū)安全工作區(qū)(安全工作區(qū)(Safe Operating AreaSafe Operating AreaSOASOA) 最高電壓UceM、集電極最大電流IcM、最大耗散功率PcM、二次擊穿臨界線限定SOAOIcIcMPSBPcMUceUceM2.6.4 GTR的擊穿和安全工作區(qū)的擊穿和安全工作區(qū)2.6.6 GTR的應(yīng)用特點的應(yīng)用特點 曾經(jīng)是最主要的全控型電力電子器件,由于其屬于電流控制型器件,掌握合理的驅(qū)動方法較困難,合理利用安全工作區(qū)、避免二次擊穿也并不容易,
11、故電力晶體管在比較先進(jìn)的電力電子裝置和高功率、高速開關(guān)設(shè)計方面已逐步退出應(yīng)用。 由于其制造工藝簡單、價格低廉,控制線路較成熟,目前在一些傳統(tǒng)電力電子電路中還有一定的應(yīng)用。2.7 電力場效應(yīng)晶體管電力場效應(yīng)晶體管 (Power Field Effect Transistor)2.7 電力場效應(yīng)晶體管(電力場效應(yīng)晶體管(Power Field Effect Transistor) 電力MOSFET的結(jié)構(gòu)和工作原理 電力MOSFET的基本特性 電力MOSFET的主要參數(shù) 電力MOSFET的驅(qū)動 電力MOSFET的應(yīng)用特點2.7 電力場效應(yīng)晶體管(電力場效應(yīng)晶體管(Power Field Effect
12、 Transistor) 場效應(yīng)晶體管:有電壓信號控制電流的半導(dǎo)體器件。 場效應(yīng)晶體管分為結(jié)型結(jié)型和絕緣柵型絕緣柵型 結(jié)型:利用PN結(jié)的反向電壓對耗盡層厚度的控制來改變漏、源極之間導(dǎo)電溝道的寬度,從而控制漏、源極之間的等效電阻和電流的大小。2.7 電力場效應(yīng)晶體管(電力場效應(yīng)晶體管(Power Field Effect Transistor) 場效應(yīng)晶體管:有電壓信號控制電流的半導(dǎo)體器件。 場效應(yīng)晶體管分為結(jié)型結(jié)型和絕緣柵型絕緣柵型 絕緣柵型:利用柵極、源極之間電壓形成電場來改變半導(dǎo)體表面感生電荷的多少,改變導(dǎo)電溝道的導(dǎo)電能力,控制漏、源極之間的等效電阻和電流SiO2絕緣層 電力場效應(yīng)管也分為
13、結(jié)型結(jié)型和絕緣柵型絕緣柵型(類似小功率Field Effect TransistorFET) 但通常主要指絕緣柵型絕緣柵型中的MOSMOS型型(Metal Oxide Semiconductor FET) 簡稱 電力電力MOSFETMOSFET(Power MOSFET) 結(jié)型電力場效應(yīng)晶體管一般稱作靜電感應(yīng)晶體管(Static Induction TransistorSIT)2.7 電力場效應(yīng)晶體管(電力場效應(yīng)晶體管(Power Field Effect Transistor) 電力電力MOSFETMOSFET的種類的種類 按導(dǎo)電溝道可分為 P P溝道溝道 和N N溝道溝道 耗盡型耗盡型當(dāng)柵
14、極電壓為零時漏源極之間就存在導(dǎo)電溝道 增強型增強型對于N(P)溝道器件,柵極電壓大于(小于)零時才存在導(dǎo)電溝道 電力MOSFET主要是N N溝道增強型溝道增強型2.7.1 結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理電子載流子具有更高的遷電子載流子具有更高的遷移率,利于提高電流密度移率,利于提高電流密度2.7.1 結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理電力電力MOSFETMOSFET的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu) 非電力MOS管,即小功率MOS管采用的是平面水平溝道作用,電流方向與芯片表面平行。 電力MOSFET具有垂直于芯片表面的導(dǎo)電路徑,也稱VMOS。其源極和漏極分置于芯片兩個表面,具有較高的通流能力和耐壓能力。2.7.1 結(jié)構(gòu)和工
15、作原理結(jié)構(gòu)和工作原理 按垂直導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的差異,電力MOSFET又分為:利用V型槽實現(xiàn)垂直導(dǎo)電的VVMOSFET和具有垂直導(dǎo)電雙擴散結(jié)構(gòu)的VDMOSFET(Vertical Double-diffused MOSFET)電場集中2.7.1 結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理 由于電力MOS是多元集成結(jié)構(gòu),可按器件單元的平面布局特征取名。如 International Rectifier的HEXFET采用正六邊形結(jié)構(gòu) Siemens的SIPMOSFET采用了正方形結(jié)構(gòu) Motorola的TMOS采用矩形單元的“品”字形排列 2.7.1 結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理電力電力MOSFETMOSFET的結(jié)構(gòu)的結(jié)
16、構(gòu)2.7.1 結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理電力電力MOSFETMOSFET的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu) 截止:截止:漏源極間加正電源,柵源極間電壓為零nP基區(qū)與N區(qū)之間形成的PN結(jié)反偏,漏源極之間無電流流過2.7.1 結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理電力電力MOSFETMOSFET的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu) 導(dǎo)電:導(dǎo)電:在柵源極間加正電壓UGSn柵極是絕緣的,所以不會有柵極電流流過。但柵極的正電壓會將其下面P區(qū)中的空穴推開,而將P區(qū)中的少子電子吸引到柵極下面的P區(qū)表面2.7.1 結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理電力電力MOSFETMOSFET的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu) 導(dǎo)電:導(dǎo)電:在柵源極間加正電壓UGSn當(dāng)UGS大于UT(開啟電壓或閾值電壓)
17、時,柵極下P區(qū)表面的電子濃度將超過空穴濃度,使P型半導(dǎo)體反型成N型而成為反型層反型層,該反型層形成N溝道而使PN結(jié)消失,漏極和源極導(dǎo)電n電壓驅(qū)動型器件電壓驅(qū)動型器件2.7.1 結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理電力電力MOSFETMOSFET的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu) MOSFET是電壓控制型電壓控制型器件器件(場控器件),其輸入阻抗極高(1015),輸入電流非常小。驅(qū)動電路簡單,需要的驅(qū)動功率小 導(dǎo)通時只有一種極性的載流子(多子)參與導(dǎo)電,是單極型器件單極型器件;2.7.1 結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理1)1) 靜態(tài)特性靜態(tài)特性 可以用轉(zhuǎn)移特性和輸出特性表述01020305040圖1-202468a)10203
18、050400b)1020305040飽和區(qū)非飽和區(qū)截止區(qū)ID/AUTUGS/VUDS/VUGS=UT=3VUGS=4VUGS=5VUGS=6VUGS=7VUGS=8VID/A電力MOSFET的轉(zhuǎn)移特性和輸出特性 a) 轉(zhuǎn)移特性 b) 輸出特性2.7.2 電力電力MOSFET基本特性基本特性 漏極電流I ID D和柵源間電壓U UGSGS的關(guān)系稱為MOSFETMOSFET的轉(zhuǎn)移特性的轉(zhuǎn)移特性,表征MOSFET的放大能力。 曲線的斜率定義為 跨導(dǎo)跨導(dǎo)G GfsfsI ID D較大時,I ID D與與U UGSGS的關(guān)系近似線性,在一定范圍內(nèi)在一定范圍內(nèi)U UGSGS越高,通態(tài)時越高,通態(tài)時MOSF
19、ETMOSFET的等效電阻越小,管壓降的等效電阻越小,管壓降U UDSDS也小些,為保證通態(tài)時漏也小些,為保證通態(tài)時漏- -源極之間的等效電阻、管壓降盡可源極之間的等效電阻、管壓降盡可能小,能小, U UGSGS通常設(shè)計為大于通常設(shè)計為大于10V10V。2.7.2 電力電力MOSFET基本特性基本特性 MOSFETMOSFET漏極伏安特性(輸出特性)漏極伏安特性(輸出特性): 指在一定的UGS時,漏極電流ID與漏-源電壓UDS之間的關(guān)系曲線。 當(dāng)UGS20V將導(dǎo)致絕緣層擊穿 4) 極間電容極間電容 極間電容CGS、CGD和CDS2.7.3 電力電力MOSFET主要參數(shù)主要參數(shù) 漏源間的耐壓、漏
20、極最大允許電流和最大耗散功率決定了電力MOSFET的安全工作區(qū) 一般來說,電力MOSFET不存在二次擊穿問題,這是它的一大優(yōu)點不可能出現(xiàn)區(qū)域2.7.3 電力電力MOSFET主要參數(shù)主要參數(shù) 特點特點用柵極電壓來控制漏極電流 驅(qū)動電路簡單,需要的驅(qū)動功率小 開關(guān)速度快,開關(guān)時間短,一般為納秒級,工作頻率高 熱穩(wěn)定性優(yōu)于GTR(不存在熱電反饋二次擊穿) 電流容量小,耐壓低,一般只適用于功率不超過10kW的電力電子裝置(不存在電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng),體電阻較大) 2.7.3 電力電力MOSFET主要參數(shù)主要參數(shù)電力電力MOSFETMOSFET的薄弱之處是絕緣層易被擊穿損壞,柵源間的電壓的薄弱之處是絕緣層易被擊
21、穿損壞,柵源間的電壓不得超過不得超過20V20V,使用時必須采用相應(yīng)保護措施:,使用時必須采用相應(yīng)保護措施:2.7.5 電力電力MOSFET的應(yīng)用特點的應(yīng)用特點1、防止靜電擊穿(在靜電場較強的場合難于釋放電荷,容易引起、防止靜電擊穿(在靜電場較強的場合難于釋放電荷,容易引起靜電擊穿)靜電擊穿)2、防止柵源過電壓(柵極一般不容許開路或懸浮,防止靜電干擾、防止柵源過電壓(柵極一般不容許開路或懸浮,防止靜電干擾使輸入電容上的電壓上升到大于門限電壓而造成誤導(dǎo)通,甚至損使輸入電容上的電壓上升到大于門限電壓而造成誤導(dǎo)通,甚至損壞器件,為了保護器件,通常需要在柵源之間并接阻尼電阻或并壞器件,為了保護器件,通
22、常需要在柵源之間并接阻尼電阻或并接穩(wěn)壓管)接穩(wěn)壓管)電力電力MOSFET的通態(tài)電阻的通態(tài)電阻Ron具有正溫度系數(shù),易于并聯(lián)使用具有正溫度系數(shù),易于并聯(lián)使用電力電力MOSFET是多子導(dǎo)電的單極性器件,開關(guān)速度較快是多子導(dǎo)電的單極性器件,開關(guān)速度較快2.7.5 電力電力MOSFET的應(yīng)用特點的應(yīng)用特點電力電力MOSFET是通態(tài)壓降與電流成正比是通態(tài)壓降與電流成正比單極性器件使其耐壓難以較好地提高,限制了器件在大功率場合的單極性器件使其耐壓難以較好地提高,限制了器件在大功率場合的應(yīng)用應(yīng)用1 IGBT1 IGBT的結(jié)構(gòu)和工作原理的結(jié)構(gòu)和工作原理2 IGBT2 IGBT的基本特性的基本特性3 IGBT3
23、 IGBT的主要參數(shù)的主要參數(shù)4 4IGBTIGBT的擎住效應(yīng)和安全工作區(qū)的擎住效應(yīng)和安全工作區(qū)5 5IGBTIGBT的驅(qū)動的驅(qū)動6 6IGBTIGBT的應(yīng)用特點的應(yīng)用特點2.8 2.8 絕緣柵雙極型晶體管絕緣柵雙極型晶體管 GTRGTR和和GTOGTO的特點的特點雙極型,電流驅(qū)動,有電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng),電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng),通流能力很強通流能力很強,開關(guān)速度較低,所需驅(qū)動功率大,驅(qū)動電路復(fù)雜。 MOSFETMOSFET的優(yōu)點的優(yōu)點單極型,電壓驅(qū)動,開關(guān)速度快,輸入阻抗高,熱穩(wěn)定性好,所需驅(qū)動功率小而且驅(qū)動電路簡單。但是導(dǎo)通壓降大導(dǎo)通壓降大。 兩類器件取長補短結(jié)合而成的復(fù)合器件Bi-MOS器件2.8 絕緣柵
24、雙極型晶體管絕緣柵雙極型晶體管 根據(jù)開關(guān)狀態(tài)的控制方式的不同,有不同類型的Bi-MOS器件。 比如有將單、雙極器件按達(dá)林頓方式結(jié)合在一起的利用MOS器件的漏極電流控制雙極器件開關(guān)狀態(tài)的電流型控制方式(器件集成),也有直接利用MOS柵控制雙極器件導(dǎo)電溝道的電壓型控制方式。 電壓控制型:只能控制開通的MOS柵晶閘管(MGT),能控制通斷的絕緣柵晶體管IGBT,以及由IGBT引出的一些新型器件如MOS控制的晶閘管(MCT)。 2.8 絕緣柵雙極型晶體管絕緣柵雙極型晶體管 絕 緣 柵 雙 極 晶 體 管 (絕 緣 柵 雙 極 晶 體 管 ( I n s u l a t e d - g a t e B
25、i p o l a r I n s u l a t e d - g a t e B i p o l a r TransistorTransistorIGBTIGBT或或IGTIGT)GTR和MOSFET復(fù)合,結(jié)合二者的優(yōu)點,具有好的特性。1986年投入市場后,取代了GTR和一部分MOSFET的市場,中小功率電力電子設(shè)備的主導(dǎo)器件。繼續(xù)提高電壓和電流容量,以期再取代GTO的地位。2.8 絕緣柵雙極型晶體管絕緣柵雙極型晶體管IGBT的結(jié)構(gòu)和工作原理2.8 絕緣柵雙極型晶體管絕緣柵雙極型晶體管2.8.1 IGBT結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理IGBTIGBT的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu) N溝道VDMOSFET與GTR
26、組合N溝道IGBT(N-IGBT) P溝道VDMOSFET與GTR組合P溝道IGBT(P-IGBT) IGBT比VDMOSFET多一層P+注入?yún)^(qū),形成了一個大面積的P+N結(jié)J1,使得使得IGBTIGBT具有很強的通流能力具有很強的通流能力2.8.1 IGBT結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理 IGBTIGBT的原理的原理 驅(qū)動原理與電力MOSFET基本相同,通斷由柵射極電壓uGE決定導(dǎo)通導(dǎo)通:u uG EG E大于開啟電壓開啟電壓U UGE(th)GE(th)時,MOSFET內(nèi)形成溝道,為晶體管提供基極電流,IGBT導(dǎo)通,導(dǎo)通后的N飄逸區(qū)電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng),減小了電阻RN,使得高耐壓IGBT的通態(tài)壓降也較
27、低。EGCN+N-a)PN+N+PN+N+P+發(fā)射極柵極集電極注入?yún)^(qū)緩沖區(qū)漂移區(qū)J3J2J1GEC+-+-+-IDRNICVJ1IDRonb)GCc)2.8.1 IGBT結(jié)構(gòu)和工作原理結(jié)構(gòu)和工作原理 IGBTIGBT的原理的原理 驅(qū)動原理與電力MOSFET基本相同,通斷由柵射極電壓uGE決定關(guān)斷關(guān)斷:柵射極間施加反壓或撤除u uGEGE時,MOSFET內(nèi)的溝道消失,晶體管的基極電流被切斷,使得VJ1截止,IGBT關(guān)斷EGCN+N-a)PN+N+PN+N+P+發(fā)射極柵極集電極注入?yún)^(qū)緩沖區(qū)漂移區(qū)J3J2J1GEC+-+-+-IDRNICVJ1IDRonb)GCc)2.8.1 IGBT結(jié)構(gòu)和工作原理
28、結(jié)構(gòu)和工作原理2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性1 1)IGBTIGBT的靜態(tài)特性的靜態(tài)特性同樣可以用轉(zhuǎn)移特性和輸出特性表述O有源區(qū)正向阻斷區(qū)飽和區(qū)反向阻斷區(qū)a)b)ICUGE(th)UGEOICURMUFMUCEUGE(th)UGE增加 IGBT的轉(zhuǎn)移特性和輸出特性a) 轉(zhuǎn)移特性 b) 輸出特性2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性 轉(zhuǎn)移特性轉(zhuǎn)移特性IC與UGE間的關(guān)系,與MOSFET轉(zhuǎn)移特性類似開啟電壓開啟電壓UG E ( t h ):IGBT能實現(xiàn)電導(dǎo)調(diào)制而導(dǎo)通的最低柵射電壓 UGE(th)隨溫度升高略有降低 UGE最大值限制EGCN+N-a)PN+N+PN+N+P+發(fā)射極柵極集
29、電極注入?yún)^(qū)緩沖區(qū)漂移區(qū)J3J2J1GEC+-+-+-IDRNICVJ1IDRonb)GCc)2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性 輸出特性輸出特性(伏安特性)UGE一定時,IC與UCE間的關(guān)系 分為三個區(qū)域:正向阻斷區(qū)、有源區(qū)和飽和區(qū)。分別與GTR的截止區(qū)、放大區(qū)和飽和區(qū)相對應(yīng) uCE0時,IGBT為反向阻斷工作狀態(tài)P+N+的正向偏壓所致IGBT不適合要求器件壓降低于0.7V的場合使用2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性通態(tài)壓降通態(tài)壓降:VDC(on)=VJ1+VN+IDRonEGCN+N-a)PN+N+PN+N+P+發(fā)射極柵極集電極注入?yún)^(qū)緩沖區(qū)漂移區(qū)J3J2J1GEC+-+-+-ID
30、RNICVJ1IDRonb)GCc) =(1+)CDPNPDPNPDIIII電流分配電流分配:高壓IGBT中PNP的電流放大倍數(shù)小于1,因此,流過M O S 管的 電 流 構(gòu) 成IGBT電流的主要部分。2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性 2) IGBT的動態(tài)特性的動態(tài)特性2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性EGCN+N-a)PN+N+PN+N+P+發(fā)射極柵極集電極注入?yún)^(qū)緩沖區(qū)漂移區(qū)J3J2J1GEC+-+-+-IDRNICVJ1IDRonb )GCc) 2) IGBT的動態(tài)特性的動態(tài)特性2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性 2) IGBT的動態(tài)特性的動態(tài)特性 IGBT的開通過程的
31、開通過程與MOSFET的相似,因為開通過程中IGBT在大部分時間作為MOSFET運行 開通延遲時間td(on) t0-t1 電流上升時間tri t1-t2 電壓下降時間tfv MOSFET的電壓下降時間tfv1(t2-t3);PNP晶體管的晶體管的電壓下降時間電壓下降時間tfv2(t3-t4); 開通時間開通時間ton= td(on) + tri + tfv2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性 2) IGBT的動態(tài)特性的動態(tài)特性 IGBT的開通過程的開通過程與MOSFET的相似,因為開通過程中IGBT在大部分時間作為MOSFET運行 關(guān)斷延遲時間td(off) t5-t6 電壓上升時間tr
32、v t6-t7 電流下降時間tfi MOSFET的電流下降時間tfi1(t7-t8);PNP晶體管的晶體管的電流下降時間電流下降時間tfi2(t8-t9); 關(guān)斷時間關(guān)斷時間toff= td(off) + trv + tfi2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性 IGBT中雙極型PNP晶體管的存在,雖然帶來了電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng)的好處,但也引入了少子儲存現(xiàn)象,因而IGBT的開關(guān)速度低于電力MOSFET。 IGBT的擊穿電壓、通態(tài)壓降和關(guān)斷時間是互相矛盾的參數(shù)。實際應(yīng)用中,需根據(jù)具體情況合理選擇。2.8.2 IGBT的基本特性的基本特性 IGBT的開關(guān)時間與漏極電流、門極電阻以及結(jié)溫等參數(shù)有關(guān)。2.8
33、.2 IGBT的基本特性的基本特性2.8.3 IGBT2.8.3 IGBT的主要參數(shù)的主要參數(shù)1 1)最大集射極間電壓)最大集射極間電壓U UCESCES :內(nèi)部PNP晶體管所能承受的擊穿電壓2 2)最大集電極電流:)最大集電極電流:允許通過集電極的最大電流。包括額定直流電流IC和1ms脈寬最大電流I ICPCP3 3)最大集電極功耗)最大集電極功耗P PCMCM :正常工作溫度下允許的最大耗散功率 2.8.3 IGBT的主要參數(shù)的主要參數(shù)IGBTIGBT的特性和參數(shù)特點的特性和參數(shù)特點1. 開關(guān)速度高,開關(guān)損耗小。在電壓1000V以上時,開關(guān)損耗只有GTR的1/10,與電力MOSFET相當(dāng)2
34、. 相同電壓和電流定額時,安全工作區(qū)比GTR大,且具有耐脈沖電流沖擊能力3. 通態(tài)壓降比VDMOSFET低,特別是在電流較大的區(qū)域4. 輸入阻抗高,輸入特性與MOSFET類似5. 與MOSFET和GTR相比,耐壓和通流能力還可以進(jìn)一步提高,同時保持開關(guān)頻率高的特點2.8.3 IGBT的主要參數(shù)的主要參數(shù)2.8.4 IGBT2.8.4 IGBT的擎住效應(yīng)和安全工作區(qū)的擎住效應(yīng)和安全工作區(qū) 寄生晶閘管寄生晶閘管 該晶閘管由寄生三極管Vj2和VJ1組成。Rbr為Vj2的基極和發(fā)射極間的體區(qū)電阻。Rbr上的電壓降作為一個正向偏壓加在Vj2的基極和發(fā)射極之間。 當(dāng)IGBT處于截止態(tài)和正常穩(wěn)定通態(tài)時,Rbr上的壓降都很小,不足以產(chǎn)生Vj2的基極電流, Vj2不起作用。2.8.4 IGBT的擎住效應(yīng)和安全工作區(qū)的擎住效應(yīng)和安全工作區(qū)寄生晶閘管寄生晶閘管但是如果ic瞬時過大,Rbr上壓降過大,則可能使Vj2導(dǎo)通,一旦Vj2通,即使撤除柵極電壓,IGBT仍會像晶閘管一樣處于通態(tài),使柵極G失去控制作用。這種現(xiàn)象稱為擎
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