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1、EDA技術(shù)及應(yīng)用課程設(shè)計(jì)報(bào)告 題目:數(shù)字頻率計(jì)的設(shè)計(jì) 班級: 自動化132 學(xué)生姓名: 王肖亮 指導(dǎo)老師: 潘清明1. 引言1) .數(shù)字頻率計(jì)數(shù)字頻率計(jì)是采用數(shù)字電路制做成的能實(shí)現(xiàn)對周期性變化信號頻率測量的儀器。頻率計(jì)主要用于測量正弦波、矩形波、三角波和尖脈沖等周期信號的頻率值。其擴(kuò)展功能可以測量信號的周期和脈沖寬度。通常說的,數(shù)字頻率計(jì)是指電子計(jì)數(shù)式頻率計(jì)。測量頻率的方法有很多,按照其工作原理分為無源測量法、比較法、示波器法和計(jì)數(shù)法等。計(jì)數(shù)法在實(shí)質(zhì)上屬于比較法,其中最常用的方法是電子計(jì)數(shù)器法。電子計(jì)數(shù)器是一種最常見、最基本的數(shù)字化測量儀器。數(shù)字計(jì)數(shù)式頻率計(jì)能直接計(jì)數(shù)單位時(shí)間內(nèi)被測信號的脈沖數(shù)
2、,然后以數(shù)字形式顯示頻率值。這種方法測量精確度高、快速,適合不同頻率、不同精確度測頻的需要。電子計(jì)數(shù)器測頻有兩種方式:一是直接測頻法,即在一定閘門時(shí)間內(nèi)測量被測信號的脈沖個(gè)數(shù);二是間接測頻法,如周期測頻法。由于數(shù)字電路的飛速發(fā)展和集成電路的普及,計(jì)數(shù)器的應(yīng)用十分廣泛。利用電子計(jì)數(shù)器測量頻率具有精度高,顯示醒目直觀,測量迅速,以及便于實(shí)現(xiàn)測量過程自動化等一系列突出優(yōu)點(diǎn),所以該方法是目前最好的。在電子技術(shù)領(lǐng)域,頻率是一個(gè)最基本的參數(shù)。數(shù)字頻率計(jì)作為一種最基本的測量儀器以其測量精度高、速度快、操作簡便、數(shù)字顯示等特點(diǎn)被廣泛應(yīng)用。許多物理量,例如溫度、壓力、流量、液位、PH值、振動、位移、速度等通過傳
3、感器轉(zhuǎn)換成信號頻率,可用數(shù)字頻率計(jì)來測量。尤其是將數(shù)字頻率計(jì)與微處理器相結(jié)合,可實(shí)現(xiàn)測量儀器的多功能化、程控化和智能化.隨著現(xiàn)代科技的發(fā)展,基于數(shù)字式頻率計(jì)組成的各種測量儀器、控制設(shè)備、實(shí)時(shí)監(jiān)測系統(tǒng)已應(yīng)用到國際民生的各個(gè)方面。2).EDA技術(shù) 現(xiàn)代電子設(shè)計(jì)技術(shù)的核心已日趨轉(zhuǎn)向基于計(jì)算機(jī)的電子設(shè)計(jì)自動化技術(shù),即EDA技術(shù)。EDA技術(shù)是依賴功能強(qiáng)大的計(jì)算機(jī),在EDA工具軟件平臺上,對以硬件描述語言HDL為系統(tǒng)邏輯描述手段完成的設(shè)計(jì)文件,自動地完成編譯、化簡、分割、綜合、布局布線以及邏輯優(yōu)化和仿真測試,直至實(shí)現(xiàn)既定的電路而隨著技術(shù)的進(jìn)步,EDA技術(shù)更多地應(yīng)用到各個(gè)電子系統(tǒng)中已成一種趨勢,本設(shè)計(jì)主要設(shè)
4、計(jì)一8位10進(jìn)制頻率計(jì)。Quartus II 是Altera公司的綜合性PLD/FPGA開發(fā)軟件,支持原理圖、VHDL、VerilogHDL以及AHDL(Altera Hardware Description Language)等多種設(shè)計(jì)輸入形式,內(nèi)嵌自有的綜合器以及仿真器,可以完成從設(shè)計(jì)輸入到硬件配置的完整PLD設(shè)計(jì)流程。Quartus II可以在XP、Linux以及Unix上使用,除了可以使用Tcl腳本完成設(shè)計(jì)流程外,提供了完善的用戶圖形界面設(shè)計(jì)方式。具有運(yùn)行速度快,界面統(tǒng)一,功能集中,易學(xué)易用等特點(diǎn)。Quartus II支持Altera的IP核,包含了LPM/MegaFunction宏功
5、能模塊庫,使用戶可以充分利用成熟的模塊,簡化了設(shè)計(jì)的復(fù)雜性、加快了設(shè)計(jì)速度。對第三方EDA工具的良好支持也使用戶可以在設(shè)計(jì)流程的各個(gè)階段使用熟悉的第三方EDA工具.2.實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?) 熟悉Quartus /ISE Suite/ispLEVER 軟件的基本使用方法。(2) 熟悉GW48-CK或其他EDA實(shí)驗(yàn)開發(fā)系統(tǒng)的基本使用方法。(3) 學(xué)習(xí)VHDL基本邏輯電路的綜合設(shè)計(jì)應(yīng)用。3.實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 設(shè)計(jì)并調(diào)試好8位十進(jìn)制數(shù)字頻率計(jì),并用GW48-CK或其他EDA實(shí)驗(yàn)開發(fā)系統(tǒng)(事先應(yīng)選定擬采用的實(shí)驗(yàn)芯片的型號)進(jìn)行硬件驗(yàn)證。4.實(shí)驗(yàn)要求 (1)畫出系統(tǒng)的原理框圖,說明系統(tǒng)中各主要組成部分的功能。 (2)編
6、寫各個(gè)VHDL源程序 (3)根據(jù)系統(tǒng)的功能,選好測試用例,畫出測試輸入信號波形或編好測試程序。 (4)根據(jù)選用的EDA實(shí)驗(yàn)開發(fā)裝置編號用于硬件驗(yàn)證的管腳鎖定表格或文件。 (5)記錄系統(tǒng)仿真、邏輯綜合及硬件驗(yàn)證結(jié)果。 (6)記錄實(shí)驗(yàn)過程中出現(xiàn)的問題及解決辦法。5.系統(tǒng)設(shè)計(jì)思路 8位十進(jìn)制數(shù)字頻率計(jì)由1個(gè)測頻控制信號發(fā)生器TESTCTL、8個(gè)有時(shí)鐘使能的十進(jìn)制計(jì)數(shù)器CNT10、1個(gè)32位鎖存器REG32B組成。以下分別敘述頻率計(jì)各邏輯模塊的功能與設(shè)計(jì)方法。 1)測頻控制信號發(fā)生器的設(shè)計(jì) 頻率測量的基本原理是計(jì)算每秒內(nèi)待測信號的脈沖個(gè)數(shù)。這就要求TESTCTL的計(jì)數(shù)使能信號TSTEN能產(chǎn)生一個(gè)1秒脈
7、寬的周期信號,并對頻率計(jì)的每一計(jì)數(shù)器CNT10的ENA使能端進(jìn)行同步控制。當(dāng)TETEN高電平時(shí),允許計(jì)數(shù);低電平時(shí)停止計(jì)數(shù),并保持其所記的數(shù)。在停止計(jì)數(shù)期間,首先需要一個(gè)鎖存信號LOAD的上跳沿將計(jì)數(shù)器在前1秒鐘的計(jì)數(shù)值鎖存進(jìn)32位鎖存器REG32B中,由外部的7段譯碼器譯出并穩(wěn)定顯示。鎖存信號之后,必須有一清零信號CLR_CNT對計(jì)數(shù)器進(jìn)行清零,為下一秒鐘的技術(shù)操作做準(zhǔn)備。 測頻控制信號發(fā)生器的工作時(shí)序,需首先建立一個(gè)由D觸發(fā)器構(gòu)成的二分頻器,在每次時(shí)鐘CLK的頻率取1Hz,而信號TSTEN的脈寬恰好為1s,可以用作閘門信號。此時(shí),根據(jù)測頻的時(shí)序要求,可得出信號LOAD和CLR_CNT的邏輯
8、描述。在計(jì)數(shù)完成后,即計(jì)數(shù)使能信號TSTEN在1S的高電平后,利用其反相值的上跳沿產(chǎn)生一個(gè)鎖存信號LOAD,0.5s后,CLR_CNT產(chǎn)生一個(gè)清零信號上跳沿。 測頻控制信號發(fā)生器工作時(shí)序 高質(zhì)量的測頻控制信號發(fā)生器的設(shè)計(jì)十分重要,設(shè)計(jì)中要對其進(jìn)行仔細(xì)的實(shí)時(shí)仿真(TIMING SIMULATION),防止可能產(chǎn)生的毛刺。 2)寄存器REG32B的設(shè)計(jì) 設(shè)置鎖存器的好處是,顯示的數(shù)據(jù)穩(wěn)定,不會由于周期性的清零信號而不斷閃爍。若已有32位BCD碼存在于此模塊的輸入口,在信號LOAD的上升沿后即被鎖存到寄存器REG32B的內(nèi)部,并由REG32B的輸出端輸出,然后由實(shí)驗(yàn)板上的7段譯碼器譯成能在數(shù)碼管上顯
9、示的相對應(yīng)的數(shù)值。 3)十進(jìn)制計(jì)數(shù)器CNT10的設(shè)計(jì) 此十進(jìn)制計(jì)數(shù)器的特殊之處是,有一時(shí)鐘使能輸入端ENA,用于鎖定計(jì)數(shù)值。當(dāng)高電平時(shí)計(jì)數(shù)允許,低電平時(shí)計(jì)數(shù)禁止。6.VHDL源程序1).有時(shí)鐘使能的十進(jìn)制計(jì)數(shù)器的源程序CNT10.VHDLIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY CNT10 IS PORT(CLK:IN STD_LOGIC; -計(jì)數(shù)時(shí)鐘信號 CLR:IN STD_LOGIC; -清零信號 ENA:IN STD_LOGIC; -計(jì)數(shù)使能信號 CQ:OUT INTEGER RANGE 0 TO 15; -4位計(jì)數(shù)結(jié)果輸出 CO:O
10、UT STD_LOGIC); -計(jì)數(shù)進(jìn)位END ENTITY CNT10;ARCHITECTURE ART OF CNT10 IS SIGNAL CQI:INTEGER RANGE 0 TO 15; BEGIN PROCESS(CLK,CLR,ENA) IS BEGIN IF CLR='1' THEN CQI<=0; -計(jì)數(shù)器異步清零 ELSIF CLK'EVENT AND CLK='1' THEN IF ENA='1' THEN IF CQI<9 THEN CQI<=CQI+1; ELSE CQI<=0; END
11、 IF; -等于9,則計(jì)數(shù)器清零 END IF; END IF; END PROCESS; PROCESS(CQI) IS BEGIN IF CQI=9 THEN CO<='1' -進(jìn)位輸出 ELSE CO<='0' END IF; END PROCESS; CQ<=CQI;END ARCHITECTURE ART; 2)32位鎖存器的源程序REG32B.VHDLIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY REG32B ISPORT(LOAD:IN STD_LOGIC; DIN:IN STD_L
12、OGIC_VECTOR(31 DOWNTO 0); DOUT:OUT STD_LOGIC_VECTOR(31 DOWNTO 0);END ENTITY REG32B;ARCHITECTURE ART OF REG32B ISBEGINPROCESS(LOAD,DIN) ISBEGINIF(LOAD 'EVENT AND LOAD = '1')THENDOUT<=DIN;END IF;END PROCESS;END ARCHITECTURE ART;3) 測頻控制信號發(fā)生器的源程序TESTCTL.VHDLIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_
13、1164.ALL;USE IEEE.STD_LOGIC_UNSIGNED.ALL;ENTITY TESTCTL IS PORT(CLK:IN STD_LOGIC; -1HZ測頻控制時(shí)鐘 TSTEN:OUT STD_LOGIC; -計(jì)數(shù)器時(shí)鐘使能 CLR_CNT:OUT STD_LOGIC; -計(jì)數(shù)器清零 LOAD:OUT STD_LOGIC); -輸出鎖存信號END ENTITY TESTCTL;ARCHITECTURE ART OF TESTCTL IS SIGNAL DIV2CLK:STD_LOGIC; BEGIN PROCESS(CLK) IS BEGIN IF CLK'EVEN
14、T AND CLK='1' THEN -1Hz時(shí)鐘二分頻 DIV2CLK<=NOT DIV2CLK; END IF;END PROCESS;PROCESS(CLK,DIV2CLK) IS BEGIN IF CLK='0' AND DIV2CLK='0' THEN -產(chǎn)生計(jì)數(shù)器清零信號 CLR_CNT<='1' ELSE CLR_CNT<='0' END IF;END PROCESS;LOAD<=NOT DIV2CLK; TSTEN<=DIV2CLK;END ARCHITECTURE A
15、RT;4) 數(shù)字頻率計(jì)的源程序FREQ.VHD LIBRARY IEEE;USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL;ENTITY FREQ ISPORT(FSIN: IN STD_LOGIC; CLK: IN STD_LOGIC; DOUT: OUT STD_LOGIC_VECTOR(31 DOWNTO 0);END ENTITY FREQ;ARCHITECTURE ART OF FREQ ISCOMPONENT CNT10 IS -待調(diào)用的有時(shí)鐘使能的十進(jìn)制計(jì)數(shù)器端口定義PORT(CLK:IN STD_LOGIC; CLR:IN STD_LOGIC; ENA:IN STD_LO
16、GIC; CQ:OUT STD_LOGIC_VECTOR(3 DOWNTO 0); CO:OUT STD_LOGIC);END COMPONENT CNT10;COMPONENT REG32B IS -待調(diào)用的32位鎖存器端口定義PORT(LOAD:IN STD_LOGIC; DIN:IN STD_LOGIC_VECTOR(31 DOWNTO 0); DOUT:OUT STD_LOGIC_VECTOR(31 DOWNTO 0);END COMPONENT REG32B;COMPONENT TESTCTL IS -待調(diào)用的測頻控制信號發(fā)生器端口定義PORT(CLK:IN STD_LOGIC; T
17、STEN:OUT STD_LOGIC; CLR_CNT:OUT STD_LOGIC; LOAD:OUT STD_LOGIC);END COMPONENT TESTCTL;SIGNAL SE,SC,SL:STD_LOGIC;SIGNAL S1,S2,S3,S4,S5,S6,S7,S8:STD_LOGIC;SIGNAL SD:STD_LOGIC_VECTOR(31 DOWNTO 0);BEGINU0:TESTCTL PORT MAP(CLK=>CLK,TSTEN=>SE,CLR_CNT=>SC,LOAD=>SL);U1:CNT10 PORT MAP(CLK=>FSIN
18、,CLR=>SC,ENA=>SE,CQ=>SD(3 DOWNTO 0),CO=>S1);-名字關(guān)聯(lián)U2:CNT10 PORT MAP(CLK=>S1, CLR=>SC,ENA=>SE,CQ=>SD(7 DOWNTO 4),CO=>S2);U3:CNT10 PORT MAP(S2,SC,SE,SD(11 DOWNTO 8),S3);-位置關(guān)聯(lián)U4:CNT10 PORT MAP(S3,SC,SE,SD(15 DOWNTO 12),S4);U5:CNT10 PORT MAP(S4,SC,SE,SD(19 DOWNTO 16),S5);U6:CNT10 PORT MAP(S5,SC,SE,SD(23 DOWNTO 20),S6);U7:CNT10 PORT MAP(S6,SC,SE,SD(27 DOWNT
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