spc統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)

1、 QS-9000 QS-9000 技術(shù)手冊(cè)培訓(xùn)課程技術(shù)手冊(cè)培訓(xùn)課程 SPC(Statistical Process Control)SPC(Statistical Process Control)統(tǒng)計(jì)制程管制統(tǒng)計(jì)制程管制目錄目錄 1 SPC的產(chǎn)生 2 SPC的作用 3 SPC常用術(shù)語解釋 4 持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述 a 制程控制系統(tǒng) b 變差的普通及特殊原因 c 局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施 d 過程控制和過程能力 e 過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制 f 控制圖 5 管制圖的類型 6 管制圖的選擇方法 7 計(jì)量型數(shù)據(jù)管制圖 a 與過程有關(guān)的控制圖 b 使用控制圖的準(zhǔn)備 c X-R 圖 d 過程能力分析

2、SPC 簡簡 介介1。練習(xí)： 將骰子扔100次，將每次的結(jié)果除2，使用表格記錄；2。畫直方圖： 將骰子扔100次的結(jié)果用直方圖表示； 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍但它們形成一個(gè)模型，若穩(wěn)定，可以描述為一個(gè)分布 范圍 范圍 范圍分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合預(yù)防與檢測預(yù)防與檢測 過去制造商經(jīng)常通過生產(chǎn)來制造產(chǎn)品，通過質(zhì)量控制來檢查最終產(chǎn)品并剔除不符合規(guī)范的產(chǎn)品。在管理部門則經(jīng)?？繖z查或重新檢查工作來找出錯(cuò)誤，在這兩種情況下都是使用檢測的方法，這種方法是浪費(fèi)的，因?yàn)樗试S將時(shí)間和材料投入到生產(chǎn)不一定有用的產(chǎn)品或服務(wù)中。 一種在第一步就可

3、以避免生產(chǎn)無用的輸出，從而避免浪費(fèi)的更有效的方法是-預(yù)防。 對(duì)許多人來說預(yù)防的策略聽起來很明智，甚至是顯然的。經(jīng)常能聽到這樣的口號(hào)“第一次就把工作做好。”但光有口號(hào)是不夠的。所要求的是理解統(tǒng)計(jì)過程控制系統(tǒng)的各個(gè)要素； 過程控制系統(tǒng)過程控制系統(tǒng) 一個(gè)過程控制系統(tǒng)可以稱為一個(gè)反饋系統(tǒng)。統(tǒng)計(jì)一個(gè)過程控制系統(tǒng)可以稱為一個(gè)反饋系統(tǒng)。統(tǒng)計(jì)過程控制（過程控制（SPCSPC）是一類反饋系統(tǒng)）是一類反饋系統(tǒng)；所謂過程過程指：是共同工作以產(chǎn)生輸出的供方、生產(chǎn)者、人、設(shè)備、輸入材料、方法和環(huán)境以及使用輸出的顧客之集合 ；有關(guān)性能性能的信息：與性能有關(guān)的最有用的信息還是以研究過程本質(zhì)以及其內(nèi)在的變化性中得到的。過程特

4、性（如溫度、循環(huán)時(shí)間、進(jìn)給速率、缺勤、周轉(zhuǎn)時(shí)間、延遲以及中止的次數(shù)等）是我們關(guān)心的重點(diǎn)；對(duì)過程采取措施對(duì)過程采取措施：對(duì)重要的特性（過程或輸出）采取措施從而避免它們偏離目標(biāo)值太遠(yuǎn)是很經(jīng)濟(jì)的。這樣能保持過程的穩(wěn)定性并保持過程輸出的變差在可接受的界限之內(nèi) ；對(duì)輸出采取措施對(duì)輸出采取措施：如果僅限于對(duì)輸出檢測并糾正不符合規(guī)范的產(chǎn)品，而沒有分析過程中的根本原因，常常是最不經(jīng)濟(jì)的 變差的普通及特殊原因（一）變差的普通及特殊原因（一） 過程中有些變差造成短期的、零件間的差異-例如機(jī)器及其固定裝置間的游隙和間隙，或記悵人員工鍛造的準(zhǔn)確性等。另外一些變差的原因僅經(jīng)過較長的時(shí)期后對(duì)輸出造成影響，例如隨著刀具或機(jī)

5、器的逐漸磨損，或是規(guī)程發(fā)生有規(guī)則的變化，或是諸如動(dòng)力不穩(wěn)定等不規(guī)則的環(huán)境變化。這樣，測量的周期以及測量時(shí)的條件將會(huì)影響存在的變差的總量。 雖然單個(gè)的測量值可能全都不同，但形成一組后它們趨于形成一個(gè)可以描述成一個(gè)分布的圖形，這個(gè)分布按下列特性區(qū)別： l 位置（典型值）； l 分布寬度（從最小值至最大值之間的距離）； l 形狀（變差錯(cuò)的模式-是否對(duì)稱、偏斜等）。變差的普通及特殊原因（二）變差的普通及特殊原因（二） 普通原因指的是造成隨著時(shí)間的推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因，我們稱之為：“處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)”、“受統(tǒng)計(jì)控制”，或有時(shí)簡稱“受控”。普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因

6、。只有變差的普通原因存在且不改變時(shí)，過程的輸出才是可以預(yù)測的。 比如：機(jī)器振動(dòng)、人員對(duì)機(jī)器正常的 操作； 特殊原因（通常也叫可查明原因）指的是造成不是始終作用于過程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成（整個(gè)）過程的分布改變。除非所有的特殊原因都被查找出來并且采取了措施，否則它們將繼續(xù)用不可預(yù)測的方式來影響過程的輸出。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出將不穩(wěn)定。 比如：機(jī)器故障、材料未干、人員操作不一致；如果僅存在變差的普通原因， 目標(biāo)值線隨著時(shí)間的推移，過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。 預(yù)測 時(shí)間 范圍 目標(biāo)值線如果存在變差的特殊原因，隨著時(shí)間的推 預(yù)測移，過程的輸出

7、不穩(wěn)定。 時(shí)間 范圍局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施 局部措施局部措施通常用來消除變差的特殊原因通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施通?？杉m正大約15%的過程問題比如：機(jī)器故障、機(jī)器維修； 對(duì)系統(tǒng)采取措施對(duì)系統(tǒng)采取措施通常用來消除變差的普通原因幾乎總是要求管理措施，以便糾正大約可糾正85%的過程問題過程控制過程控制 受控 （消除了特殊原因） 時(shí)間 范圍 不受控 （存在特殊原因） 過程能力過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時(shí)間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大）SPC的產(chǎn)生的產(chǎn)生 工業(yè)革命以后， 隨著生產(chǎn)力的進(jìn)一步發(fā)

8、展，大規(guī)模生產(chǎn)的形成，如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量成為一個(gè)突出問題，單純依靠事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法已不能適應(yīng)當(dāng)時(shí)經(jīng)濟(jì)發(fā)展的要求，必須改進(jìn)質(zhì)量管理方式。于是，英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。 1924年，美國的休哈特博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”，對(duì)過程變量進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。SPC的作用的作用 1、確保制程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測。 2、提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)能力、降低成本。 3、為制程分析提供依據(jù)。 4、區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措 施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。SPC常用術(shù)語解釋

9、常用術(shù)語解釋名稱解釋平均值（X） 一組測量值的均值均值極差（Range） 一個(gè)子組、樣本或總體中最大與最小值之差最大與最小值之差（Sigma）用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母標(biāo)準(zhǔn)差(Standard Deviation)過程輸出的分布寬度分布寬度或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度量度，用希臘字母或字母s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。分布寬度（Spread）一個(gè)分布中從最小值到最大值之間的間距最小值到最大值之間的間距中位數(shù) x將一組測量值從小到大排列后，中間的值中間的值即為中位數(shù)。如果數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個(gè)數(shù)的平均值作為中位數(shù)。單值（Individual）一個(gè)單個(gè)的單位產(chǎn)品或一個(gè)

10、特性的一次測量一次測量，通常用符號(hào) X 表示。名稱解釋中心線（Central Line）控制圖上的一條線，代表所給數(shù)據(jù)平均值數(shù)據(jù)平均值。過程均值（Process Average）一個(gè)特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用 X 來表示。鏈（Run）控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的點(diǎn)點(diǎn)。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。變差（Variation）過程的單個(gè)輸出之間不可避免的差別不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。特殊原因（Special Cause）一種間斷性的，不可預(yù)計(jì)的，不穩(wěn)定的變差根源。有時(shí)被稱為可查明原因，它存在的信號(hào)是：存在超

11、過控制限的點(diǎn)或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。名稱解釋普通原因（Common Cause）造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。過程能力(Process Capability)是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用Z來表示。移動(dòng)極差（Moving Range)兩個(gè)或多個(gè)連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。制程控制系統(tǒng)制程控制系統(tǒng) 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 過程的呼聲 人 設(shè)備 材料 方法 產(chǎn)品或 環(huán)境 服務(wù) 輸入 過程/系統(tǒng) 輸出 顧客的呼聲我們工作的方式/資源的融合統(tǒng)計(jì)方法顧客識(shí)別不斷變化的需求量和期望 過程

12、改進(jìn)循環(huán)過程改進(jìn)循環(huán)1、分析過程、分析過程 2、維護(hù)過程、維護(hù)過程 本過程應(yīng)做什么？ 監(jiān)控過程性能 會(huì)出現(xiàn)什么錯(cuò)誤？ 查找變差的特殊原因并 本過程正在做什么？ 采取措施。 達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)？ 確定能力 計(jì)劃 實(shí)施 計(jì)劃 實(shí)施 措施 研究 措施 研究 計(jì)劃 實(shí)施 3、改進(jìn)過程、改進(jìn)過程 措施 研究 改進(jìn)過程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差控制圖控制圖 上控制限 中心限 下控制限1、收集收集數(shù)據(jù)并畫在圖上2、控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限 識(shí)別變差的特殊原因并采取措施3、分析及改進(jìn)確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn)過程管制圖類型管制圖類型計(jì)量型數(shù)據(jù)X

13、-R 均值和極差圖計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)P chart 不良率管制圖 X-均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖nP chart 不良數(shù)管制圖X -R 中位值極差圖 C chart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 X-MR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？ 性質(zhì)上是否均勻或不能按子組取樣？關(guān)心的是不合格品率嗎？樣本容量是否恒定？樣本容量是否恒定？ 子組容量 9？MRX sx Rx np或p圖p圖C或U圖U圖是否是是是是是否否否否否關(guān)心的是單位零件缺陷數(shù)嗎？是選擇合適的控制圖控制圖的選擇方法控制圖的選擇方法確定要制定控制圖的特性是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？否關(guān)心的是不合格品率？否關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？是樣本容量是否恒定？是使用np

14、或p圖否使用p圖樣本容量是否恒定？否使用u圖是是使用c或u圖是性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？否子組均值是否能很方便地計(jì)算？否使用中位數(shù)圖是使用單值圖X-MR是接上頁接上頁子組容量是否大于或等于9？是否是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的S值？使用XR圖是否使用XR圖使用X s圖注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評(píng)價(jià)并且是適用的。計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖 計(jì)量單位：（mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6結(jié)果舉例控制圖舉例螺絲的外徑（mm）從基準(zhǔn)面到孔的距離（mm）電阻（）錫爐溫度（C）工程更改處理時(shí)間（h） X圖 R

15、圖接上頁接上頁測量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果不精密 精密準(zhǔn)確不準(zhǔn)確 使用控制圖的準(zhǔn)備使用控制圖的準(zhǔn)備1、建立適合于實(shí)施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應(yīng)的資源 c 管理者支持2、定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系，分析每個(gè)階段的影響 因素。3、確定待控制的特性 應(yīng)考慮到： 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系4、確定測量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。 b 確保檢測設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性。接上頁接上頁5、使不必要的變差最小 確保過程按預(yù)定的方式運(yùn)行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注：注：應(yīng)在過程記

16、錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過程分析。均值和極差圖（均值和極差圖（X-RX-R） 1、收集數(shù)據(jù)、收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報(bào)告，子組通常包括2-5件連續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的抽取子組。 注：注：應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的計(jì)劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的計(jì)劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。1-1 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù)選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 1-1-1 子組大小子組大小：一般為5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具/沖頭/過程 流等。（注：注：數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個(gè)單一的生產(chǎn)流。） 1-1-2 子

17、組頻率子組頻率：在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班/操作人 員更換/材料批次不同等原因引起。對(duì)正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測的子組頻率可以是每班2次，或一小時(shí)一 次等。 接上頁接上頁1-1-3 子組數(shù)：子組數(shù)：子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。一般為25組，首次使 用管制圖選用35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 1-2 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖）（見下圖） 烤紙“溫度”X-R圖記錄單位：組立濾紙材質(zhì)：機(jī)油格規(guī)范溫度：170-175c機(jī)器名稱：烤爐 =均值 = UCL= +A2R= LCL= -A2R=173UCL= +A2 =175L

18、CL= +A2 =170 =均值R =4.3UCL=D4 =9.09LCL=D3 =0編號(hào)1234567891011121314151617181920212223242526272829日期/時(shí)間9/68:00-9:009/69:00-10:009/610:-11:009/611:00-12:009/613:30-14:309/614:30-15:309/615:30-16:309/78:00-9:009/79:00-10:009/710:00-11:009/711:00-12:009/713:30-14:309/715:30-16:309/810:30-11:309/813:30-14:3

19、09/814:30-15:309/815:30-16:309/118:00-9:009/119:00-10:009/1110:00-11:009/1111:00-12:009/1113:30-14:309/128:00-9:009/1213:30-14:309/1214:30-15:309/1215:30-16:309/1216:30-17:30138:00-9:009/139:00-10:00讀數(shù) 1174175175173171172173176171172174176173176174172170175172176171175173169170175175175174讀數(shù) 2175176

20、177174170174170175172173173174172174175172169174173175173174172171169173176173175讀數(shù) 3174175176175172173169173173174170172170171176173171172175174173175170173171170174171175讀數(shù) 4173174174176174172171170174176171169171170174174172170176173174173171174172169172169174讀數(shù) 5173173172175175173172169175175172

21、170173171171175173171174170175172172175173171170170173 讀數(shù)之和 讀數(shù)數(shù)量R=最大值-最小值23535247444736534546433646662應(yīng)記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機(jī)器或測量系統(tǒng)的任何變化，當(dāng)控制圖上出現(xiàn)信號(hào)時(shí)，這些記錄將有助于采取糾正措施.日期/時(shí)間172173172174172171174173174172173171172174172172172174173A2=0.577D3=0.000D4=2.115172175172備注日期/時(shí)間備注174175175173171173174XXRXXRRX圖1711721731

22、741751 12 23 34 45 56 67 78 89 9101011111212131314141515161617171818191920202121222223232424252526262727282829293030系列系列1系列系列2R圖0481 12 23 34 45 56 67 78 89 9101011111212131314141515161617171818191920202121222223232424252526262727282829293030系列系列1RR1-3、計(jì)算每個(gè)子組的均值（、計(jì)算每個(gè)子組的均值（X）和極差）和極差R 對(duì)每個(gè)子組計(jì)算：對(duì)每個(gè)子組計(jì)算

23、： X=（X1+X2+Xn）/ n R=Xmax-Xmin 式中：式中： X1 ， X2 為子組內(nèi)的每個(gè)測量值。為子組內(nèi)的每個(gè)測量值。n 表示子組表示子組 的樣本容量的樣本容量1-4、選擇控制圖的刻度、選擇控制圖的刻度 4-1 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測量值。 4-2 刻度選擇 ：接上頁接上頁 對(duì)于X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（X）的最大值與最小值的差的2倍，對(duì)于R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（R）的2倍。 注：注：一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的2倍。 （ 例如：平均值圖上1個(gè)刻度代表

24、0.01英寸，則在極差圖上 1個(gè)刻度代表0.02英寸）1-5、將均值和極差畫到控制圖上、將均值和極差畫到控制圖上 5-1 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接，瀏覽各點(diǎn)是否 合理，有無很高或很低的點(diǎn)，并檢查計(jì)算及畫圖是否正確。 5-2 確保所畫的X 和R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。 注：注：對(duì)于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“初始研初始研究究”字樣。2計(jì)算控制限計(jì)算控制限 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。 2-1 計(jì)算平均極差（計(jì)算平均極差（R）及過程均值（）及過程均值（X） R=（R1+R2+Rk）/ k（K表示子組數(shù)量）表示子組數(shù)量） X =（X1+X2+Xk）/

25、 k 2-2 計(jì)算控制限計(jì)算控制限 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 值和極差的變化和范圍?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 計(jì)算公式：計(jì)算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X - A2R LCLR=D3R 接上頁接上頁 注：注：式中A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值 見下表 ：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3?0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31 注：

26、注： 對(duì)于樣本容量小于7的情況，LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為6的子組，6個(gè)“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 2-3 在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線 平均極差和過程均值用畫成實(shí)線。 各控制限畫成虛線。 對(duì)各條線標(biāo)上記號(hào)（UCLR ，LCLR ，UCLX ，LCLX） 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗(yàn)控制限。3過程控制分析過程控制分析 分析控制圖的目的在于識(shí)別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 （即其中之一或兩者均不受控）進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧?注注1：R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過程

27、 的特殊原因。 注注2：因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 因此，首先應(yīng)分析R圖。3-1 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)3-1-1 超出控制限的點(diǎn)超出控制限的點(diǎn) a 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù)，應(yīng)分析。 b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種： b.1 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) b.2 零件間的變化性或分布的寬度已增大(即變壞） b.3 測量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗(yàn)員或量具） c 有一點(diǎn)位于控制限之下，說明存在下列情況的一種或多種 c.1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) c.2 分布的寬度變?。ㄗ兒茫?c.3 測量系統(tǒng)已改變

28、（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點(diǎn)）UCLLCLUCLLCL R R受控制的過程的極差3-1-2 鏈鏈- 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)； 連續(xù)7點(diǎn)連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a-1 輸出值的分布寬度增加，原因可能是無規(guī)律的（例如：設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?dòng)）或是由于過程中的某要素變化（如使用新 的不一致的原材料），這些問題都是常見的問題，需要糾正。 a-2 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗(yàn)人或新的量具)。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b-1 輸出值的分布寬度減

29、小，好狀態(tài) 。 b-2 測量系統(tǒng)的改好。 注注1：當(dāng)子組數(shù)（n）變得更?。?或更?。r(shí)，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過程變差減小。注注2：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸 到鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時(shí)間。UCLLCL RUCL RLCL 不受控制的過程的極差（存在高于和低于極差均值的兩種鏈）不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈）3-1-3 明顯的非隨機(jī)圖形明顯的非隨機(jī)圖形a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。b 一般情況，各點(diǎn)與R 的距離：大約2/3的描點(diǎn)

30、應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點(diǎn)落在其外的2/3的區(qū)域。 C 如果顯著多余2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對(duì)于25子組，如果超過90%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c-1 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 。 c-2 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多 個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)）。 c-3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除）。 d 如果顯著少余2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處（對(duì)于 25子組，如果有40%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的

31、一種或更多進(jìn)行調(diào)查： d-1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)。 d-2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆）。 注：注：如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。3-2 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖）識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖）a 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個(gè)過程操作 分析，從而確定該原因并改進(jìn)，防止再發(fā)生。b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 3-3 重新計(jì)算控制限（極差圖）重新計(jì)算控制限（極差圖） a 在進(jìn)行首次過程研究或重新評(píng)

32、定過程能力時(shí)，失控的原因已 被識(shí)別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除失控 時(shí)期的影響，排除所有已被識(shí)別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差R和控制限，并畫下來， 使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。b 由于出現(xiàn)特殊原因而從R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從X圖中去掉。 修改后的 R 和 X 可用于重新計(jì)算均值的試驗(yàn)控制限，X A2R 。注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)丟棄壞數(shù)據(jù)”。而是排。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。并且一定要改變過程，以使特殊除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會(huì)作為過程的一

33、部分重現(xiàn)。原因不會(huì)作為過程的一部分重現(xiàn)。3-4 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)3-4-1 超出控制限的點(diǎn)：超出控制限的點(diǎn)： a 一點(diǎn)超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a-1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) a-2 過程已更改，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)（可能是一件獨(dú)立的 事件）或是一種趨勢的一部分。 a-3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或QC） 不受控制的過程的均值（有一點(diǎn)超過控制限） 受控制的過程的均值UCLLCL XLCLUCL X3-4-2 鏈鏈- 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢：有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或7點(diǎn)連續(xù)上升或下降

34、a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者。 a-1 過程均值已改變 a-2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度）注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到 鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時(shí)間。鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時(shí)間。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈）不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈）UCL XLCLUCL XLCL3-4-3 明顯的非隨機(jī)圖形明顯的非隨機(jī)圖形a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè) 控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有

35、規(guī)律的關(guān)系等。b 一般情況，各點(diǎn)與 X的距離：大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的 中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點(diǎn)落在其外的2/3的區(qū)域；1/20的 點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處（位于外1/3的區(qū)域）。c 如果顯著多余2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處（對(duì)于25子組， 如果超過90%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的 一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c-1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) c-2 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或 多個(gè)具有完全不 同的過程均值的過程流的測量值（如：從 幾組軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)。 c-3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯(極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除）d 如果顯著少

36、余2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處（對(duì)于25子組， 如 果有40%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一 種或更多進(jìn)行調(diào)查： d-1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 。 d-2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)不 同的過程流的測量值（這可能是由于對(duì)可調(diào)整的過程進(jìn)行 過度 控制造成的，這里過程改變是對(duì)過程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動(dòng)的響應(yīng)）。 注：如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。注：如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。UCL XLCLUCL XLCL均值失控的過程（點(diǎn)離過程均值太近）均值失控的過程（點(diǎn)離控制限太近）3-5 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖）識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（均值

37、圖） a 對(duì)于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 3-6 重新計(jì)算控制限（均值圖）重新計(jì)算控制限（均值圖） 在進(jìn)行首次過程研究或重新評(píng)定過程能力時(shí)，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點(diǎn)，然后重新計(jì)算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 3-7 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗(yàn)控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控 制限，將其作為將來的一段時(shí)期的控制限。 b 當(dāng)子組容量變化時(shí)，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。方法如下： b -1 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 表示），用現(xiàn)有的現(xiàn)有的子組容 量計(jì)算： = R/d2 式中R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.