SPC釋義統(tǒng)計制程管制ppt課件

1、SPC 講義13-Dec-02整理:楊 瀾 制造:姚 珍1. SPC:統(tǒng)計制程控制(利用統(tǒng)計方法來 改善制程、控制以確保品質(zhì)) SPC其實(shí)是五六十年代SQC(統(tǒng)計品管)衍變。 SPC與SQC的不同點(diǎn): Q 至 P 的轉(zhuǎn)變 SQC強(qiáng)調(diào)品質(zhì) SPC放在品質(zhì)的源頭-制程(PROCESS)2. SPC目的: 洞識力 籍由Shewhart控制圖原理從控制圖中獲得有關(guān)品 質(zhì)、制程作業(yè)狀況等情報再利用統(tǒng)計手法和固有技 術(shù)加以分析找出異常緣由並采取改善措施。 協(xié)助我們對數(shù)據(jù)及制程的了解，采用科學(xué)方法來消 除特殊要因及提升共同緣由的系統(tǒng)績效的快速、團(tuán) 隊學(xué)習(xí)方法。 利用控制圖這一有效過濾器，濾走能夠噪音,使我

2、們找出能夠的信號，減少把共同變成特殊緣由及把 特殊緣由變成共同緣由之風(fēng)險。 將制程參數(shù)(process parameterP)調(diào)適妥當(dāng) 並控制達(dá)到“品質(zhì)是制造出來的。 3.SPC發(fā)展史: SPC始祖:美國W.A.Shewhart博士 1924年Shewhart發(fā)明了控制圖。 1931年Shewhart發(fā)明了 以美國為例 第一波:20世紀(jì)二十年代。(Western電器公司,影響 力有限)。 第二波:二次世界大戰(zhàn)。(軍事單位用它，后由ASQC 來推廣，效果有限。 第三波:二十世紀(jì)八十年代。(由於日本品管革命的 刺激，使美國痛下決心，重?fù)鞂毼铩?中國臺灣、中國大陸是在第三波影響力中。4.機(jī)遇緣由 &

3、 非機(jī)遇緣由共同緣由 & 特殊緣由5.1.機(jī)遇緣由:在控制界限內(nèi)的變異緣由。2.非機(jī)遇緣由:超出控制界限外變異的緣由。 美國統(tǒng)計學(xué)家W.A.Shewhart博士在1924年 發(fā)明控制圖命名。3.共同緣由:控制界限內(nèi)變異的緣由。4.特殊緣由:超出控制界限外的變異緣由。 美國品管大師W.Edwards.Deming博士在 1970年左右提出。6.共同緣由 = 機(jī)遇緣由?特殊緣由= 非機(jī)遇緣由?7. 著眼於制程中的變異 機(jī)遇緣由:在控制狀態(tài)下的變異，可以認(rèn)為是穩(wěn)定而常 態(tài)存在的亦稱為無法防止之緣由。這種變異是制程中固 有的，減少/減小制程亦必要變動 非機(jī)遇緣由:制程中不能控制的變異，隨時在變動，不

4、穩(wěn)定亦不經(jīng)常存在且不是制程中一部份。它不穩(wěn)定的性 質(zhì)使制程不能照既照預(yù)定目標(biāo)操作，產(chǎn)生過多變異。應(yīng) 該把它找出來加以消除，使制程恢復(fù)正常亦稱為可防止 之緣由。 都可用來改進(jìn)制程且有不同: 機(jī)遇緣由是修正一個穩(wěn)定的制程。 非機(jī)遇緣由是創(chuàng)造一個穩(wěn)定的制程。機(jī)遇緣由與非機(jī)遇緣由8.共同緣由與特殊緣由 著眼點(diǎn)在於誰對變異負(fù)責(zé)。 共同緣由是變異是存在制造系統(tǒng)或良好控制系統(tǒng)中. 這種變異是屬於系統(tǒng)內(nèi)的，應(yīng)由控制這系統(tǒng)的人負(fù)責(zé) 即是:經(jīng)理人員、也只需經(jīng)理層人員采取行動才干消 除。 特殊緣由的變異在本質(zhì)上是部分的可用特殊 詞 來特定:一群作業(yè)人員或某一作業(yè)人員，特定的機(jī)器 等。普通能從發(fā)生問題的那一特定階層人

5、員就能夠找 出 緣由，采取行動並消除。9. 非機(jī)遇原因(不能管制的變異)機(jī)遇原因(管制的變異)每一個都有明顯影響每一個的影響都很小。特殊原因共同原因本質(zhì)上是局部的系統(tǒng)中的一部份1.特殊緣由是非機(jī)遇緣由，可由作業(yè)人員或那一部 份領(lǐng)班采取行動。2.共同緣由是既可以是機(jī)遇緣由也可以是非機(jī)遇緣由. 都是系統(tǒng)上的錯誤，只能由經(jīng)理層人員采取行動， 才有效。10.控制圖淺釋11.制程析引起的變異緣由普通有兩種:偶爾緣由(機(jī)遇緣由)、異常緣由(非機(jī)遇緣由)機(jī)遇緣由是由很多微小的緣由引起，且每一個緣由 引起變動都很小，是正常變動無法防止 的，如減少或去除是不經(jīng)濟(jì)的。非機(jī)遇緣由引起的每一個變動都很大(制程異常)不

6、 采取行動則發(fā)生莫大損失。如何判斷? 需求一個非常好的科學(xué)的方法/工具: 管 制 圖12.1.控制圖由W.A.shew hart 發(fā)明(1924年)2.SPC的基礎(chǔ)3.定義: 一種以實(shí)際產(chǎn)品品質(zhì)特性與根據(jù)過去經(jīng)驗(yàn)所判明的制程才干的控制界限比較而以時間經(jīng)過的一種圖形。 縱軸為品質(zhì)特性，以制程變化的數(shù)據(jù)為分 度。 橫軸為制品群體號碼或制造年月日等以時 間為序，制造為序?qū)Ⅻc(diǎn)繪在圖上。13.控制圖與普通圖表不同: 判斷點(diǎn)的性質(zhì)所以亦可有控制界限。 把數(shù)據(jù)分組，利用分組法來整理數(shù) 據(jù)。14. 控制圖有:中心線及上下控制界限。 中心線控制圖上的一條線,表示制程分配 的位置即制程平均值。 控制界限控制圖上一

7、條線，表示制程分 配在中心線周圍的變異程度，可作為區(qū) 分機(jī)遇緣由與非機(jī)遇緣由的基準(zhǔn)亦作為 斷定制程控制狀態(tài)。 控制界限是通過過程數(shù)據(jù)計算出來的。15.控制圖界限:普通采用3界限 它有以下風(fēng)險:制程已變異，但因抽樣 異常，點(diǎn)仍在界限內(nèi)。錯誤認(rèn)為制程未 變異。 -補(bǔ)救辦法: 利用界限內(nèi)點(diǎn)的方法來減 少。16.17.控制界限的延用: 當(dāng)制程條件及抽樣手法不發(fā)生改變時，其控制 界可以繼續(xù)運(yùn)用，即: A. 連續(xù)25個點(diǎn)，不超控制界限。 B. 連續(xù)35個點(diǎn)，有一個點(diǎn)超出控制界限。 C. 連續(xù)100個點(diǎn)，有一個或兩個點(diǎn)超出控制界 限。18.控制圖種類: 普通數(shù)值可分: 計量值:連續(xù)性數(shù)值的數(shù)據(jù)。如:長度、

8、分量、時間、速度、強(qiáng)度、收縮 率等。 計數(shù)值:間斷性數(shù)值的數(shù)據(jù)。如:人數(shù)、 不良品數(shù)、缺點(diǎn)數(shù)等。 普通控制圖亦可分為: 計量值控制圖 計數(shù)值控制圖19.控制圖之選定資料性質(zhì)?資料是不良數(shù)還是缺點(diǎn)數(shù)?單位大小能否一定?N能否一定?樣本數(shù)N2?中心線CL之性質(zhì)?N能否較大?X-圖X-R圖X-R圖X-Rm圖pn圖p圖C圖u圖計量值計量值缺點(diǎn)數(shù)不一定一定不一定一定N=1N 2XN =25N 10不良數(shù)20.NO管制圖名稱符號用途(時機(jī))數(shù)據(jù)種類1平均值與範(fàn)圍管制圖Xbar-R ChartXbar 管制圖管制品質(zhì)特性分配的平均變化。R 管制圖用來管制品質(zhì)特性分配的變異的變化。計量值2中值範(fàn)圍管制圖X-R

9、 ChartX 較 Xbar 計算簡便可適於現(xiàn)場領(lǐng)班或員用。3個個數(shù)據(jù)管制圖X Chart數(shù)據(jù)間隔長,不易分組或數(shù)據(jù)很少。4不良率管制圖P Chart制品不良率，次品率及人員出勤率等。計數(shù)值5不良個數(shù)管制圖Pn Chart品質(zhì)特性以不良個數(shù)來管制(相本大小必須相同)。6缺點(diǎn)數(shù)管制圖C Chart一定大小的樣品中所含缺點(diǎn)數(shù)。7每單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖U Chart制品大小常不一定時的缺點(diǎn)數(shù)21. 如: X bar - R Chart 1.制造方法: A.搜集100個以上的數(shù)據(jù)依測定時間順序或群體順序陳列。 B.將數(shù)據(jù)以每組4-5個數(shù)據(jù)分為25組。 C.把數(shù)據(jù)輸入表格中。22.2.控制界限的系數(shù)表23.

10、3.圖示24.普通判斷制程在控制狀態(tài)基準(zhǔn):1.點(diǎn)超出控制界線外 非控制狀態(tài)。 點(diǎn)在控制界限上視同在外。2.制程分配在一定的狀態(tài)下，平均值及變異都在完全不變狀態(tài) 完全的控制態(tài)。 控制圖是兩邊對稱分配的，點(diǎn)變動是隨機(jī)的。在中心線上下線 大約有一樣點(diǎn)數(shù)，以中心近愈多， 離中心線愈遠(yuǎn)愈少。3.制程是控制狀態(tài): 我們無法確知平均值及變異真正沒有前述第“2之變化，可 通過統(tǒng)計推測控制圖上的點(diǎn)來推測制程狀態(tài)。 A: 沒有點(diǎn)超出控制狀態(tài)。 B: 點(diǎn)沒有出現(xiàn)特殊的陳列。25.結(jié)論: 制程在穩(wěn)定狀態(tài)下才干被控制，如為非穩(wěn) 定狀態(tài)，須先作解析，如何判?控制圖。 制程解析怎麼用 ? 非控制狀態(tài)下可用管 制圖中之分組法

11、、層別法做解析。 制程變異有機(jī)遇與非機(jī)遇緣由，在制程進(jìn) 入控制狀態(tài)下如何判斷前面兩者以便采取 對策或獲得安心，這時就可用控制圖。26. S P C 的 迷 點(diǎn)-1 有控制圖就是在推動SPC -控制圖是SPC的工具 產(chǎn)品品質(zhì)(Q) OR 是制程參數(shù)(P)控制圖? 控制圖的意義? 控制參數(shù)(P)對產(chǎn)品品質(zhì)(Q)有舉足輕重的影響? 控制界限之訂定意義? 控制圖能否遭到重視?(能否按照規(guī)定執(zhí)行追蹤 與研判)27. S P C 的 迷 點(diǎn)-2 有了Ca、Cp、Cpk等計算是在推動SPC -Ca、Cp、Cpk是SPC中計算制程才干之主要指標(biāo) Ca、Cp、Cpk有定期REVIEW? Ca、Cp、Cpk被活用

12、? Ca、Cp、Cpk作為制單分派不同產(chǎn)線生產(chǎn) 的依據(jù)?28. S P C 的 迷 點(diǎn)-3 控制了制程參數(shù)(P)就是SPC -制程參數(shù)是SPC的變異? 為什麼挑這些制程參數(shù)? 制程參數(shù)的控制條件如何決定? 制程參數(shù)(P與產(chǎn)品品質(zhì)(Q間有因 果關(guān)系?29. S P C 的 步 驟制程圖示30. S P C 的 步 驟步驟一、確定制造流程確定流程圖、訂定PMP、列出控制之生產(chǎn)條件、品質(zhì)特性等步驟二、制造流程解析利用5WE手法步驟三、掌握因果方式?jīng)Q定控制項(xiàng)目 因果方式：那些制程參數(shù)(Process parameter)對產(chǎn)品 品質(zhì)(product quality)有舉足輕重的影響，換句話說 影響產(chǎn)品

13、某一品質(zhì)特性之緣由有很多且每一緣由其影 響程度不會一樣，我們應(yīng)找出每一要素對品質(zhì)特性的 貢獻(xiàn)率。31. S P C 的 步 驟 這張柏拉圖能從眾多的操作參數(shù)或品質(zhì)特性要素中過濾出少數(shù)舉足輕重的項(xiàng)目來加以控制(當(dāng)本錢也會降低)。 運(yùn)用工具: 復(fù)雜度低:查檢表、層別法 復(fù)雜度高: PM分析法、DOE32. S P C 的 步 驟步驟四、設(shè)定主要參數(shù)(項(xiàng)目)控制範(fàn)圍(規(guī)格)找出影響結(jié)果之主要參數(shù)(要素)后，我們應(yīng)研討的是這些參 數(shù)(因子)應(yīng)該控制在那一個範(fàn)圍，我這時需用相關(guān)與回歸分 析法來推測。(用前述制程圖示和步驟三之分析)假設(shè)產(chǎn)品品 質(zhì)特性是錫箔的抗撕強(qiáng)度，經(jīng)相關(guān)回歸分析得知:P2 B與抗撕 強(qiáng)

14、度成正比。33. 上圖示用公式表示為 y=-2+4x Y=抗撕強(qiáng)度 X=操作參數(shù)(P2 B) 知Y上限和下限，把其代入公式則可得出X上下限。經(jīng)過 相關(guān)回歸分析之轉(zhuǎn)換,制程參數(shù)控制範(fàn)圍可合理設(shè)定,除非有特 殊不測否則其對應(yīng)品質(zhì)特性符合就不成問題。 現(xiàn)在制程參數(shù)的設(shè)定範(fàn)圍大部份都是供應(yīng)商提供的技術(shù)資料。 S P C 的 步 驟34.步驟五、建立制程控制方法 控制頻率(抽樣時間&抽樣頻率與制造系統(tǒng)的特定有親密關(guān)系) 樣本抽取方法 樣本量測方法 樣本抽取及量測方法應(yīng)與步驟三、四采取一致的方法。 導(dǎo)入控制圖 S P C 的 步 驟35.步驟六、抽取廢品來印證原始系統(tǒng)能否正常運(yùn)轉(zhuǎn) 任何系統(tǒng)無論設(shè)計如何嚴(yán)謹(jǐn)

15、，隨著時間流逝，系統(tǒng)本身有潛伏變異的能夠,因此為偵測“原系統(tǒng)能否產(chǎn)生突變，我們必須在程參數(shù)合理範(fàn)圍內(nèi)抽取樣本來對廢品之品質(zhì)特性加以檢查,假設(shè)結(jié)果符合SPEC那么制程參數(shù)繼續(xù)控制在原範(fàn)圍內(nèi)才有意義，反之必須作改善。 SPC中抽取廢品不是作全批允收之目的而是驗(yàn)證系統(tǒng)有無 產(chǎn)生突變。 廢品抽驗(yàn)的時機(jī):接近系統(tǒng)產(chǎn)生突變時機(jī)如大修、假期、 更換原料。 S P C 的 步 驟36.制程才干分析釋義37. 對於品質(zhì)控制手法的運(yùn)用，不斷是OEM客戶留意的焦點(diǎn)。尤其是制程才干分析(Analysis for Process Capability)應(yīng)用,大家都視為一新開發(fā)產(chǎn)品導(dǎo)入量產(chǎn)階段的指標(biāo)，所以本文的主題將針對

16、制程才干分析來進(jìn)行研討。38.精細(xì)與準(zhǔn)確的概念不準(zhǔn)確準(zhǔn) 確不精細(xì)精 密39.一、制程才干是什麼 ? 所謂制程才干就是一個制程在固定的生產(chǎn)要素(條件)及穩(wěn)定的控制下所展現(xiàn)的品質(zhì)能力。 那些是固定的生產(chǎn)要素(條件):如設(shè)計的品質(zhì)、模治具、機(jī)器設(shè)備、作業(yè)方法與作業(yè)者的訓(xùn)練、作業(yè)照明與環(huán)境、檢驗(yàn)設(shè)備、檢驗(yàn)方法與檢驗(yàn)者的訓(xùn)練等等皆屬之。40. 什麼是穩(wěn)定控制:就是以上要素加以標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)定后，並徹底實(shí)施后，且該制程之測定值，都是在穩(wěn)定的控制狀態(tài)之下，此時的品質(zhì)才干才可說是制程的制程才干。 制程才干如何表示: 1.制程準(zhǔn)確度Ca (Capability of accuracy) 2.制程精確度Cp (Capa

17、bility of precision) 3. 綜合評價K 4.制程才干指數(shù)CPK 41.1.制程準(zhǔn)確度 Ca (Capability of accuracy) 凡在制程中所獲得之?dāng)?shù)據(jù)(實(shí)績)，其平均值(X)與規(guī)格中心值()之間偏向的程度，稱為制程準(zhǔn)確度Ca。標(biāo)準(zhǔn)常態(tài)曲線(設(shè)計規(guī)格)制程常態(tài)曲線(生產(chǎn)實(shí)績) X 42. Ca= (X-) / (T/2) T= SU-SL=規(guī)格上限-規(guī)格下限 如系單邊公差時，則不適用。 由上述可知: 1.平均值(X)愈接近規(guī)格中心值()愈好，(盡量 越近或相等)。 2.所以Ca值愈小(盡量越近於0) 3.惟群體呈左右對稱這常態(tài)分佈時，才干運(yùn)用Ca 做制程才干分析

18、。(單邊公差時， Ca為0) 4.正值(+)時表示偏高;負(fù)值(-)時表示偏低。43.* * * * * * * 全數(shù)抽樣2.制程精確度Cp (Capability of precision) 從制程中全廠檢驗(yàn)或隨機(jī)抽樣(普通樣本n須在50個以上)所計算出來之樣本標(biāo)準(zhǔn)差(n)，再乘以n/(n-1),以推定實(shí)績?nèi)后w標(biāo)準(zhǔn)差()。用3與規(guī)格容許公差做比較。* * * *隨機(jī)抽樣計算群體的 計算出樣本的x x Xn/(n-1)44. Cp = 規(guī)格容許差/3 = 規(guī)格公差/6 = (T/2)/3 由上述可知: 1.假設(shè)T6時, Cp值愈大。(離散趨勢都在規(guī) 格內(nèi)。) 2. Cp值愈大愈好。(盡量大於1以

19、上) 3. 假設(shè)T6時， Cp值愈小。(表示目前的生 產(chǎn)條件，不適合此精細(xì)度之產(chǎn)品。 4. Cp與Ca成反比。(Cp愈大愈好，Ca則反之)45.3.制程才干指數(shù)CpkCpk 是綜合Ca和Cp兩者之指數(shù)，其計算公式:Ca = (X-) / (T/2)Cp = 規(guī)格容許差/3=規(guī)格公差/6 =(T/2)/3Cpk=(1- Ca )XCp由上述可知:1.當(dāng)Ca =0，Cpk =Cp2.單邊規(guī)格時，Cpk =Cp46.二、制程才干在什麼時候分析 ? 正如前面所提到，制程才干的評估必須要在制程穩(wěn)定后，才可實(shí)施，也就是 Xbar-R 管制圖已顯示制中程在穩(wěn)定的統(tǒng)計控制狀態(tài)下(非機(jī)遇緣由已經(jīng)被發(fā)現(xiàn))，而且繼

20、續(xù)堅持在統(tǒng)計控制狀態(tài)下。47.三、執(zhí)行制程才干分析前有那些 步驟?1.確定制造流程: 確定流程(圖)，訂定QC工程表，列出控制 之生產(chǎn)條件、 品質(zhì)特性等。2.制造流程解析: 利用5W1H手法，將制程各作業(yè)單元的變異要素加以掌握,並可得知制程所處的狀態(tài)。48.3.決定控制項(xiàng)目: 依制程之生產(chǎn)條件、品質(zhì)特性、制程現(xiàn)況來決定控制項(xiàng)目。4.實(shí)施標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)定控制範(fàn)圍: 訂定各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)，並對相關(guān)人員實(shí)施各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)之教育與訓(xùn)練。 49.5.控制圖的運(yùn)用: 應(yīng)先建立解析用控制圖，評估控制限，再實(shí)施控制用控制圖，持續(xù)觀察制程的穩(wěn)定性與異常矯正。6.制程才干分析: 搜集數(shù)據(jù)，進(jìn)行分析，以了解能否符合規(guī)格或客戶要求,如不

21、能符合，立刻采取矯正行動。50.7.制程之持續(xù)控制: 除非有證據(jù)顯示制程平均值或全距值發(fā)生變化，否則依然運(yùn)用原控制界限,不能隨意修正。51.四、制程才干分析的評價?1.制程準(zhǔn)確度 Ca (Capability of accuracy)評價等級分級基準(zhǔn)處置原則A Ca 12.5%作業(yè)員遵守sop操作並達(dá)到規(guī)格之要求，所以持續(xù)維持。B12.5% Ca 25%如有必要時,盡可能改進(jìn)為A級。C25% Ca 50%作業(yè)員可能看錯規(guī)格不按sop操作或檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。D50% Ca應(yīng)采取緊急措施，全面檢討有可能影響之因素，必要時得停止生產(chǎn)。對策方法是以制造單位為主、技術(shù)/品管單位為輔52.2.制程精確度

22、 Cp (Capability of precision)評價等級分級基準(zhǔn)處置原則A1.33 Cp甚為穩(wěn)定，可考慮將規(guī)格公差縮小或此制程可勝任更精密之工作。B1.00 Cp 1.33有發(fā)生不良品的危險，必須加以注意，並設(shè)法維持不良使其變壞及迅速追查。C0.83 Cp 1.00檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，可能本制程不能勝任如此精密的工作。DCp 0.83應(yīng)采取緊急措施，全面檢討有可能影響之因素，必要時得停止生產(chǎn)。對策方法是以技術(shù)單位為主、制造/品管單位為輔53.範(fàn)圍等級判斷處置原則CPK1.67特級過程能力過剩為提高產(chǎn)品質(zhì)量，對關(guān)鍵或主要項(xiàng)目再次縮小公差範(fàn)圍;或提高效率，降低成本而放寬波動幅度，降底設(shè)備

23、精度等級等。1.67CPK1.331級過程能力充分當(dāng)不是關(guān)鍵或主要項(xiàng)目時，放寬波動幅度，降低對原材料的要求，簡化質(zhì)量檢驗(yàn)，采用抽樣檢驗(yàn)或減少檢驗(yàn)頻率.1.33CPK1.002級過程能力尚可必須用控制圖或其他方法對工序進(jìn)行控制和監(jiān)督,以便及時發(fā)現(xiàn)異常波動,對產(chǎn)品按正常規(guī)定檢驗(yàn).1.00CPK0.673級過程能力不充分分析分散程度大的原因,制定措施加以改進(jìn),在不影響產(chǎn)品質(zhì)量的前提下,放寬公差范圍,加強(qiáng)質(zhì)量檢驗(yàn),全數(shù)檢驗(yàn)或增加檢驗(yàn)頻次.0.67CPK4級過程能力嚴(yán)重不足一般應(yīng)停止繼櫝加工,找出原因,改進(jìn)工藝,提高CPK值,否則全數(shù)檢驗(yàn),挑出不合格品.3.制程才干指數(shù)Cpk54.五、制程才干分析的作用

24、? 1.對設(shè)計單位提供根本資料:使其了解制程 才干，從設(shè)計面解決問題。 2.分派任務(wù)到適當(dāng)?shù)臋C(jī)器上:決定一項(xiàng)機(jī)器 設(shè)備能否滿足要求。 55. 3.用來驗(yàn)收全新或翻修調(diào)整過之設(shè)備: 利用機(jī)械之才干安排適當(dāng)任務(wù)，使 其得到最正確之應(yīng)用。 4.選用合格之作業(yè)員:剔除不合格人員或再 施予教育和訓(xùn)練? 5.選擇適當(dāng)之任務(wù)方法:建立標(biāo)準(zhǔn)化SOP。 6.根據(jù)規(guī)格公差設(shè)定設(shè)備之控制界限:為獾 得最經(jīng)濟(jì)、最穩(wěn)定之生產(chǎn)。56. 7.當(dāng)制程才干超越公差時，決定最經(jīng)濟(jì)之作 業(yè)水準(zhǔn): (1)制程才干較公差窄時，用於建立經(jīng)濟(jì)管 制界限。 (2)制程才干較公差寬時，須調(diào)整一適當(dāng)中心值，以獲得最經(jīng)濟(jì)之生產(chǎn)。 8.找出最好的作

25、業(yè)方法:建立最具價格之技術(shù) 情報資料。57.6改善專案系統(tǒng)圖六、制程才干應(yīng)用: 658.品質(zhì)(Q)制程才干匯總表數(shù)據(jù)期間:_1.建立制程才干量測平臺59. 2.改善問題分析 依據(jù)制程才干匯總表，可參考Ca/Cp在制程才干改善方向圈上之落點(diǎn)位置，初步研判每一個品質(zhì)問題應(yīng)歸屬在那一類-制程才干與改善方向關(guān)系圖60.假設(shè)落入T區(qū)，則表示一個相對容易處理的T型問題，反之落入X區(qū)，那就是一個比較棘手的X型問題，至於T、A、X三型問題的分類原則及解決工具如下表所示問題類型與改善系統(tǒng)圖61.七、終究要量測多少個樣品才干計算CPK? 之前我們已經(jīng)討論到，制程才干的評估必須要在制程穩(wěn)定后，才干實(shí)施，也就是Xbar-R控制圖已顯示制程在穩(wěn)定的統(tǒng)計控制狀態(tài)下(非機(jī)遇緣由已經(jīng)被發(fā)，並經(jīng)過分析與矯正,以及防止再發(fā))，而且繼續(xù)堅持在統(tǒng)計控制狀態(tài)下。