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1、 地層密度測(cè)井 formation density log FDL1是利用伽馬射線(xiàn)與物質(zhì)核外電子相互作用的原理2一：伽馬射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用射線(xiàn)的能量1.02Mev)+e-e原子核核外電子康普頓效應(yīng)： (0.2E1.02Mev) e散射的射線(xiàn)E1射線(xiàn)3光電效應(yīng)： (0.2 Mev E)光電子射線(xiàn) 二：伽馬射線(xiàn)的吸收吸收：射線(xiàn)粒子的消失4研究表明， 射線(xiàn)強(qiáng)度衰減遵循指數(shù)衰減規(guī)律 三：密度測(cè)井的原理（FDL）1、電子密度的定義（e）單位體積中巖石的電子數(shù)Z:原子序數(shù)A：質(zhì)量數(shù)N0：阿伏加德羅常數(shù)52、FDL測(cè)井的原理每個(gè)電子的康普頓吸收系數(shù)：e物質(zhì)的康普頓吸收系數(shù)：=e* e(0.2E1.02Me

2、v）： 由此可求出地層密度值6 FDC： COMPENSATE FORMAION DENSITY LOG 由于FDL的影響因素很多，目前更多采用FDC測(cè)井方法7四：補(bǔ)償密度測(cè)井的原理（FDC）利用長(zhǎng)短源距的測(cè)量結(jié)果來(lái)計(jì)算有泥餅影響條件下被測(cè)巖石的真實(shí)密度值 1個(gè)放射性源兩個(gè)探測(cè)器貼井壁測(cè)量計(jì)算公式：XL、XS權(quán)系數(shù)與裝置、源距、泥餅參數(shù)、巖石參數(shù)有關(guān)與hmc有關(guān)8輸出的測(cè)井曲線(xiàn) 密度值 密度差值 g/cm3影響因數(shù)：井徑、極板曲率10英寸 不能很好貼井壁，受泥餅影響大、下井儀9五：密度測(cè)井曲線(xiàn)的應(yīng)用1、劃分巖層G/cm3孔隙度增加-密度下降密度值不能準(zhǔn)確反映巖性2、求巖層孔隙度適用條件：純巖層砂巖=2.65 灰?guī)r =2.71 白云巖=2.87鹽巖=2.17 硬石膏=2.97 淡水泥漿=1鹽水泥漿=1.1 克/立方厘米10含泥質(zhì)巖層巖石有多種礦物構(gòu)成：3、密度與中子曲線(xiàn)重疊確定巖

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