RealLight光電教學實驗整合設(shè)計方案復(fù)習過程

1、Good is good, but better carries it.精益求精，善益求善。RealLight光電教學實驗整合設(shè)計方案-實驗室建設(shè)推薦方案方案制定人：王瑞松國內(nèi)實驗教學產(chǎn)品總代：天津市拓普儀器有限公司業(yè)務(wù)經(jīng)理：邢祥豹葉子、方案及產(chǎn)品特點：擺脫了純演示、插拔式的實驗方法。選用科研與工業(yè)級的光機部件，把光電專業(yè)實驗分成三部分內(nèi)容：系統(tǒng)調(diào)試，實驗現(xiàn)象，數(shù)據(jù)采集和分析。著重專業(yè)教學大綱與工程實踐相結(jié)合，學生動手能力的培養(yǎng)。按照基礎(chǔ)-綜合-設(shè)計三部分4-3-3比例配置實驗內(nèi)容。實驗內(nèi)容覆蓋廣泛，與教材結(jié)合緊密，緊扣安徽工程大學光電信息工程培養(yǎng)計劃。實驗方案分為四

2、個大類：激光類實驗、信息光學類實驗、光電檢測類實驗、光電子與光通訊類實驗。1-2-1激光類實驗包括半導體泵浦固體激光綜合實驗（RLE-CA01-B）、氦氖激光綜合實驗（RLE-CA02-B）和脈沖ND：YAG激光器實驗、激光光束模式變換與測量實驗（RLE-CA06），涉及到激光原理與技術(shù)、新型激光器件及應(yīng)用課程，實驗知識點參考了周炳琨教授的激光原理、陳家璧教授的激光原理與應(yīng)用、俞寬新教授的激光原理與激光技術(shù)燈等教材，知識點包括：激光器的基本組成、激光工作物質(zhì)、泵浦源、光學諧振腔、激光功率、激光橫模、激光縱模、偏振態(tài)、正交偏振、高斯光束參數(shù)（直徑、束腰、發(fā)散角）、高斯光束變換、共焦球面掃描干涉儀

3、、自由光譜區(qū)、激光閾值、LD激光器I-P曲線、倍頻、調(diào)Q、脈寬、重頻、峰值功率。激光類實驗是我公司傳統(tǒng)的特色實驗產(chǎn)品線，方案中的推薦的兩款實驗基本涵蓋了激光原理和激光技術(shù)中的全部核心知識點。其中的半導體泵浦固體激光綜合實驗具有系統(tǒng)開放、調(diào)整簡單，知識全面、可定量測量參數(shù)等特點，而氦氖激光綜合實驗在國內(nèi)獨家配置數(shù)字光斑輪廓儀，可以同時觀測縱模和橫模的分布，激光器可連續(xù)改變腔型、模式等參數(shù)，優(yōu)良的激光腔鏡調(diào)整架極大地降低了氦氖激光器的調(diào)整難度。1-2-2信息光學類實驗包括傅里葉光學基礎(chǔ)實驗（RLE-CH04）、數(shù)字全息綜合與信息安全綜合實驗（RLE-CH01）和傅里葉變換相關(guān)圖像識別實驗（RLE-

4、CH02），涉及到物理光學和信息光學課程，實驗知識點參考了蘇顯渝教授的信息光學、呂乃光教授的傅里葉光學等教材。知識點包括：傅里葉變換、夫瑯禾費衍射、阿貝成像原理、空間濾波、偽彩色編碼、液晶空間光調(diào)制器、振幅調(diào)制、相位調(diào)制、衍射光學元件、黑柵效應(yīng)、數(shù)字全息、同軸全息、離軸全息、光電圖像混合處理技術(shù)、數(shù)字圖像處理、信息安全。信息光學較傳統(tǒng)光學的一大特點就是引入了傅里葉變換理論。應(yīng)用透鏡的傅里葉變換效果對相干光與非相干光進行處理是光信息課程的二個經(jīng)典實驗?？臻g光調(diào)制器（SLM）是新一代的動態(tài)光調(diào)制器件，是信息光學領(lǐng)域中最新的核心產(chǎn)品。數(shù)字全息實驗用空間光調(diào)制器代替了傳統(tǒng)全息中的全息干板，不但可以降低

5、對環(huán)境（暗室、防震）的要求，免去了沖洗的不安全隱患，可以對數(shù)據(jù)進行二次開發(fā)，如濾波、存儲、傳輸、加密安全等，拓展了全息的應(yīng)用領(lǐng)域，使經(jīng)典光學再現(xiàn)現(xiàn)代風采。1-2-3光電檢測類實驗包括：光學系統(tǒng)像差測量實驗（RLE-ME01）、光電式焦距/傳遞函數(shù)測量實驗（RLE-ME02）、機器視覺測量綜合實驗（RLE-RI01）和三維數(shù)字化測量綜合實驗（RLE-RI02），涉及到應(yīng)用光學、光電圖像處理、光電探測與信號處理等課程，實驗知識點參考了郁道銀教授的工程光學、張以謨教授的應(yīng)用光學楊國光教授的近代光學測試技術(shù)、竺子民教授的光電圖像處理等教材。知識點包括：平行光管的使用、焦距測量、分辨率測量、瑞利判斷、調(diào)

6、制傳遞函數(shù)測量、光學系統(tǒng)的球差、位置色差、慧差、場曲、像散、畸變、刀口測量法、星點檢測法、剪切干涉法、相機標定、OCR識別、顏色測量、光源照明技術(shù)。光學系統(tǒng)像差理論是工程光學課程的重要章節(jié)，也是教學中的難點章節(jié)。而焦距測量，分辨率測量及傳遞函數(shù)測量是光學系統(tǒng)設(shè)計的核心知識點。我公司開發(fā)的實驗系統(tǒng)采用了特殊的光學器件設(shè)計，實驗平臺開發(fā)，實驗效果明顯，是學生掌握相關(guān)知識點非常理想的教學實驗系統(tǒng)。機器視覺是工程光學在實際工程應(yīng)用中的關(guān)鍵應(yīng)用，其視覺方法檢測具有非接觸、速度快、精度高等優(yōu)點，特別適用于在線的工業(yè)品檢測。本實驗的各項內(nèi)容均參考了真實工業(yè)應(yīng)用案例，機器視覺綜合實驗可充分鍛煉學生的動手能力，

7、以及幫助學生了解光電專業(yè)知識在實際工程中的應(yīng)用方向。1-2-4光電子與光通訊類實驗包括：光纖器件與光通信原理實驗（RLE-SA03）、光電探測器特性測量實驗（RLE-SA05）和半導體器件物理與工藝測量實驗（RLE-SA06），涉及到光電子技術(shù)基礎(chǔ)、光纖光學、半導體光電子材料與器件、光集成器件等課程，實驗知識點參考了朱京平教授的光電子技術(shù)基礎(chǔ)、劉德明教授的光纖光學、安毓英教授的光電探測與信號處理等教材，知識點包括：光纖結(jié)構(gòu)、單模光纖、多模光纖、光纖耦合、光纖準直、光纖數(shù)值孔徑、發(fā)散角、光纖損耗、截斷測量法、大氣激光通信、光譜響應(yīng)曲線、熱釋電探測器、硅光電二極管、光敏電阻、幅頻相應(yīng)法、脈沖響應(yīng)法

8、。光纖及相關(guān)器件種類眾多，在光通信等領(lǐng)域使用廣泛。了解光纖器件、測量光纖參數(shù)、處理光纖端面是對工程人員基本的要求。本實驗內(nèi)容設(shè)置圍繞光纖及光通信基礎(chǔ)器件的原理參數(shù)和使用展開，是光電專業(yè)本科生專業(yè)實驗及實習課程中必不可少的環(huán)節(jié)。光電探測器件是光電系統(tǒng)核心組成部件之一。頻譜特性、時間特性、電特性、都是光電探測器的重要參數(shù)。了解和掌握這些重要參數(shù)的概念、特性和測試方法是光電專業(yè)本科生必備的專業(yè)知識。本方案不但能完成學生日常專業(yè)教學實驗，還能完成畢業(yè)設(shè)計，研究生實驗。并可作為科研平臺用于老師橫向課題。本實驗方案中采用空間光調(diào)制器（Spatiallightmodulator）為核心器件，緊跟最新的科研方

9、向。RealLight在產(chǎn)品中擁有多項專利，可以保證產(chǎn)品的使用性能和唯一性。配套完善，軟硬件配套齊全。本實驗方案提供完善的實驗講義，包含原理、實驗方法、步驟、思考題等。相關(guān)實驗提供畢業(yè)設(shè)計課題。二、實驗項目與報價總攬實驗專業(yè)方向名稱型號數(shù)量單價（元）金額（元）激光類半導體泵浦固體激光綜合實驗RLE-CA01-B349800149400氦氖激光綜合實驗RLE-CA02-B339500118500脈沖ND：YAG激光器實驗裝置XGL-119800098000激光光束模式變換與測量實驗RLE-CA0624500090000信息光學類傅里葉光學基礎(chǔ)實驗RLE-CH0431950058500數(shù)字全息綜合

10、與信息安全綜合實驗RLE-CH01285000170000傅里葉變換相關(guān)圖像識別實驗RLE-CH02253000106000光電檢測類光學系統(tǒng)像差測量實驗RLE-ME01340000120000光電式焦距/傳遞函數(shù)測量實驗RLE-ME02336000108000機器視覺測量綜合實驗RLE-RI01258000116000三維數(shù)字化測量綜合實驗RLE-RI0219950099500光電子與光通訊類光纖器件與光通信原理實驗RLE-SA03338000114000光電探測器特性測量實驗RLE-SA05338000114000半導體器件物理與工藝測量實驗RLE-SA061115000115000總價：

11、1,576,900元三、實驗內(nèi)容、參數(shù)與學科要求配套表設(shè)備型號及名稱可開設(shè)實驗內(nèi)容設(shè)備參數(shù)指標備注半導體泵浦固體激光綜合實驗RLE-CA01-B1、半導體激光器泵浦源閾值及I-P特性測量實驗；2、半導體泵浦固體激光器的功功轉(zhuǎn)換效率測量實驗；3、最佳腔長選取實驗；4、最佳輸出透過率選取實驗；5、激光倍頻實驗；6、激光倍頻匹配角選擇實驗；可飽和吸收晶體被動調(diào)Q實驗；7、調(diào)Q脈沖寬度和重復(fù)頻率測量實驗。1.光源組件：TEC溫控半導體激光器組件：LD中心波長808nm，精度5nm，P1.7W,TO3封裝，溫控陶瓷，快軸整形；溫控電源：工作電流02.3A連續(xù)可調(diào)，準直激光器:650nm，P1mW，光斑輸

12、出1.5mm。2.探測器組件：高速脈沖探測器:響應(yīng)波長400nm1100nm，5ns響應(yīng)速度。3.激光晶體組件：激光晶體3mm，Nd3+:YAG，S1：AR808nm&HR1064nm,S2：AR1064nm；Nd:YVO4晶體：3x3mm，S1：AR808nm&HR1064nm,S2：AR1064nm：KTP通光口徑3mm3mm，AR532&1064nm；Cr4+:YAG通光口徑7mm，AR532&1064nm。4.光學組件：532nm輸出鏡：20mm，AR532nm&HR1064nm；1064nm輸出鏡：20mm,T=3%,T=8%輸出鏡各一片；耦合鏡頭：1640mm；紅外顯示卡一張。5.

13、機械組件：四維晶體調(diào)節(jié)架,中心高50mm,通光孔徑20mm，穩(wěn)定性2；二維腔鏡調(diào)整架，中心高50mm，通光孔徑20mm，穩(wěn)定性1.5mW，TEM00，全保護安全高壓插頭，雙開關(guān)設(shè)計（安全鑰匙、按鍵）符合CE要求；可變模式氦氖激光器：增益管長270mm，布魯斯特窗，可變腔長。2.F-P共焦球面掃描干涉儀組件：精細常數(shù)120，自由光譜區(qū)2.48GHz；鋸齒波發(fā)生器線性小于10%，鋸齒波電壓范圍0150V，偏置電壓0150V可調(diào)，頻率0100Hz可調(diào)，探測器帶寬1MHz，一級信號放大。3.光斑輪廓儀組件：分辨率12801024，量化深度10bit，像素大小5.2m5.2m，USB2.0接口，光斑能量

14、分布二維偽彩色顯示，三維立體顯示，一維分布曲線，可計算光斑直徑、質(zhì)心位置，USB2.0軟件鎖。4.光學組件：偏振片：25.4mm,K9玻璃窗口,AR400nm700nm,消光比400:1；高斯光束變換透鏡：20mm25.4mm，f=50.8mm150mm，光潔度III級，寬帶增透膜400nm700nm；衰減片透過率T=0.210%；窄帶濾光片：半波寬10nm。5.探測器組件：手持式激光功率計：三波長532/633/650nm，測量范圍：0300mW，最小分辨率0.01mW；數(shù)字CMOS相機：130萬像素，像素大小5.2m5.2m，USB2.0，A/D：10bit；6.機械組件：精密光學導軌：L

15、W=1200mm90mm，配套滑塊、一維移動滑塊，調(diào)節(jié)支座、支桿；高精度調(diào)節(jié)鏡架；CCD可變衰減光闌：C接口；二維可調(diào)棱鏡支架；激光管夾持器，二維俯仰可調(diào)，最大夾持50mm。7.講義及快速安裝指南。建議學時：6-8學時配套課程：激光原理與技術(shù)、新型激光器件及應(yīng)用配套儀器：需學校配套電腦，數(shù)字示波器可開設(shè)本科生畢設(shè)脈沖ND：YAG激光器實驗裝置XGL-11、測量激光器的輸出脈沖寬度；2、激光器的閥值測量和激光器橫模模式判別；3、激光發(fā)散角測量；4、激光電光調(diào)Q實驗；5、激光選模實驗；6、激光器晶體角度匹配倍頻實驗；7、激光諧振長度對激光閥值、能量、模式、發(fā)散角的影響；1、輸出波長：1064nm,

16、532nm，光束發(fā)散角：5mrad，指示激光：632.8nm2、電光晶體：15kv(可調(diào))，輸出能量：600mj(1064nm，不調(diào)Q)3、可選附件：YAG激光器參數(shù)測試儀器；激光能量計；示波器；光電探測器4、儀器成套性：He-Ne激光器及電源、1.06um介質(zhì)膜偏振片、激光電源及調(diào)Q電源、1.06m部分反射鏡，1.06m全反射鏡、小孔光闌、水冷系統(tǒng)、Nd:YAG晶體棒、脈沖氙燈、倍頻晶體、調(diào)Q晶體、光靶、聚光腔建議學時：6-8學時配套課程：激光原理與技術(shù)、新型激光器件及應(yīng)用激光光束模式變換與測量實驗RLE-CA061、拉蓋爾光束變換與參數(shù)測量2、平頂光束變換與參數(shù)測量3、高斯光束勻光器設(shè)計與

17、參數(shù)測量4、高斯光束分束器設(shè)計與參數(shù)測量實驗1.光源組件：激光器：DPSL532nmP20mWTEM00偏振態(tài)100:12.空間光調(diào)制器組件：液晶類型：LCD；調(diào)制類型：相位型，調(diào)制度0-2532nm、靶面尺寸：1.3、分辨率：1024768，刷新頻率：60Hz、透過率21%、對比度1000:1532nm、接口類型：VGA，RS232；3.探測器組件：數(shù)字CMOS相機，130萬像素，像素大小5.2m5.2m，USB2.0，A/D：10bit；4.光學組件：偏振片：25.4mm,K9玻璃窗口,AR400-700nm,消光比400:1,石英波片：25.4mm，石英晶體，低多級設(shè)計，光潔度III級，

18、平行度：30，成像透鏡：25.4mmAR400-700nm；可調(diào)衰減器：50mm，光密度OD0-3.0；5.機械組件：光學導軌LW=1200mm90mm、配套滑塊、一維移動滑塊，調(diào)節(jié)支座、支桿；高精度調(diào)節(jié)鏡架，穩(wěn)定性1W，亮度連續(xù)可調(diào)、半導體激光器=650nm，P2mW；2.機械組件：精密光學導軌LW=1200mm90mm配套滑塊一維平移滑塊、調(diào)節(jié)支座、支桿、高精度調(diào)節(jié)鏡架；3.光學組件:傅里葉透鏡40mm，f=150mm、天安門光柵正交光柵6C/mm衍射圖案板：多邊形圖案，精度1m；4.講義及快速安裝指南。建議學時：2-3學時配套課程：物理光學和信息光學數(shù)字全息綜合與信息安全綜合實驗RLE-

19、CH011、數(shù)字記錄數(shù)字再現(xiàn)實驗；2、光學記錄數(shù)字再現(xiàn)實驗；3、全息圖評價與圖像濾波實驗4、數(shù)字記錄光學再現(xiàn)實驗；5、光學記錄光學再現(xiàn)實驗；6、信息安全應(yīng)用實驗。1.光源組件：氦氖激光器：P1.5mW，TEM00，全保護安全高壓插頭，雙開關(guān)設(shè)計（安全鑰匙、按鍵）符合CE要求。2.空間光調(diào)制器組件：液晶類型：LCD；調(diào)制類型：相位型，調(diào)制度：01.2，靶面尺寸：1.3，分辨率：1024768，刷新頻率：60Hz，透過率21%，對比度1000:1532nm，接口類型：VGA、RS232。3.探測器組件：數(shù)字CMOS相機：130萬像素，像素大小5.2m5.2m，USB2.0，A/D：10bit。4.

20、光學組件：偏振片：25.4mm,K9玻璃窗口,AR400nm700nm,消光比200:1；可調(diào)衰減器：50mm，光密度OD：03.0；成像透鏡：40mmAR400700nm；分光光楔：40mm楔角2；光學透鏡：20mm40mm，光潔度III級，寬帶增透鍍膜400nm700nm。5.機械組件：精密光學導軌：LW=1200mm90mm，配套滑塊、一維移動滑塊、調(diào)節(jié)支座、支桿；高精度調(diào)節(jié)鏡架，穩(wěn)定性1.5mW，TEM00，全保護安全高壓插頭，雙開關(guān)設(shè)計（安全鑰匙、按鍵）符合CE要求。2.空間光調(diào)制器組件：液晶類型：LCD；調(diào)制類型：相位型，調(diào)制度：01.2，靶面尺寸：1.3，分辨率：1024768，

21、刷新頻率：60Hz，透過率21%，對比度1000:1532nm、接口類型：VGA，RS232。3.探測器組件：數(shù)字CMOS相機：130萬像素，像素大?。?.2m5.2m，USB2.0，A/D：10bit。4.光學組件：傅里葉變換透鏡：40mm，AR400nm700nm；準直鏡：25.4mm，AR400nm700nm；偏振片：25.4mm，K9玻璃窗口，AR400nm700nm，消光比400:1；可調(diào)衰減器：50mm，光密度OD：03.0；5.機械組件：精密光學導軌LW=1200mm90mm，配套滑塊，一維移動滑塊，調(diào)節(jié)支座，支桿；高精度調(diào)節(jié)鏡架，穩(wěn)定性1.5mW，TEM00，全保護安全高壓插頭

22、，雙開關(guān)設(shè)計（安全鑰匙、按鍵）符合CE標準。2.平行光管組件：光源：白光/三色LED，P1W，亮度連續(xù)可調(diào)；平行光管：D/F=1:8、L=550mm，50mm，f=400mm；分化板精度：RP=5C/mm，線寬度75m，精度1m；星點孔15m，精度1m。3.光學組件：遠心成像鏡頭：1成像，接口1/2，像方畸變0.2%；成像鏡頭：f=16mm，F(xiàn)1.4；光學平晶：50mm，Tc=20mm，平行度2，面型/10，光潔度IV級。4.探測器組件：數(shù)字CMOS相機：130萬像素，像素大小5.2m5.2m，USB2.0，A/D：10bit。5.像差鏡頭組件：鏡頭類型：單一場曲、球差、彗差、像散，通光孔徑1

23、0mm50mm，鍍寬帶增透400mm700nm。6.刀口儀組件：尺寸LW=95mm55mm，行程L=30mm，允許焦點大小12mm，微調(diào)分辨率0.01mm。7.機械組件：精密光學導軌LW=1200mm90mm，配套滑塊、一維移動滑塊、調(diào)節(jié)支座、支桿；高精度調(diào)節(jié)鏡架：穩(wěn)定性1W，亮度連續(xù)可調(diào)。平行光管：D/F=1:8、L=550mm，50mm，f=400mm；雙線目標物：線寬度75m精度1m。4.機械組件：精密光學導軌LW=1200mm90mm配套滑塊、一維平移滑塊、調(diào)節(jié)支座、支桿；自定心透鏡架6mm40mm，穩(wěn)定性2。5.光學組件：分辨率測量目標板：美軍標USAF1951標準圖案，分辨率122

24、8C/mm，精度1m；待測透鏡：25.4mm，f=-50mm100mm，隨系統(tǒng)配送3塊。6.探測器組件：數(shù)字CMOS相機，130萬像素，像素大小5.2m5.2m，USB2.0，A/D：10bit。7.軟件組件：含圖像采集、圖像計算模塊、焦距測量模塊、傳遞函數(shù)測量模塊，USB2.0軟件鎖。8.講義及快速安裝指南。建議學時：4學時配套課程：應(yīng)用光學、光電圖像處理、光電探測與信號處理配套儀器：需學校配套電腦機器視覺測量綜合實驗（RLE-RI01）1、相機標定實驗；2、光學系統(tǒng)的分辨率測量實驗；3、光源照明實驗；4、機器視覺光源特性實驗；5、二維碼檢測實驗；6、OCR識別實驗；7、工件參數(shù)測量綜合實驗

25、。1.光源組件：背光面光源：大尺寸藍色勻光照明（100mm100mm）；條形光源：白光、紅光、藍光三色照明，亮度可調(diào)，光源高度和照射角度可調(diào)。2.鏡頭組件：遠心成像鏡頭：圖像采集區(qū)域50mm，畸變系數(shù)0.3%，C接口。普通成像鏡頭：f=4mm10mm,F1.6,C接口。3.探測器組件：數(shù)字CMOS相機；130萬像素，像素大小5.2m5.2m，USB2.0，A/D：10bit。4.機械組件：機器視覺測試平臺：二維移動，移動精度0.1mm。5.測試組件：圓點陣列標定板：玻璃鍍鉻，點直徑0.45mm，點間距1.5mm，圖案精度5m；顏色實驗測試板：多個特征顏色圖案，可訂制設(shè)計特征文字和特征圖案；分辨

26、率測量目標板：美軍標USAF1951標準圖案，分辨率1-228C/mm，精度1m。6.軟件組件：目標圖像采集模塊、系統(tǒng)參數(shù)標定模塊、光學系統(tǒng)分辨率測量模塊、二維碼生成和采集模塊、OCR文字識別模塊、工件參數(shù)測量模塊，USB2.0軟件鎖。7.講義及快速安裝指南。建議學時：4-6學時配套課程：光電圖像處理配套儀器：需學校配套電腦可作為橫向課題實驗開發(fā)平臺可開設(shè)本科生畢設(shè)三維數(shù)字化測量綜合實驗RLE-RI021、三維測量系統(tǒng)標定實驗；2、工件的三維測量實驗；3、立體模型數(shù)字造型實驗。1.單面掃描范圍：400mm300mm。2.測量距離：550mm。3.單面測量精度：0.2mm。4.平均采樣點距：0.

27、3mm。5.系統(tǒng)采集器件：數(shù)字CMOS相機：130萬像素，像素大小5.2m5.2m，USB2.0，A/D:10bit，雙目。6.成像鏡頭：f=16mm，F(xiàn)1.4。7.輸出文件格式：TDC,STL,IGS。8.單面掃描時間：20mW，模式：TEM00。2.機械組件：精密光學導軌：LW=1200mm90mm，配套滑塊，調(diào)節(jié)支座、支桿；高精度調(diào)節(jié)鏡架；五維光纖耦合架：調(diào)整精度0.002mm，俯仰調(diào)整精度1。3.光學組件：光纖準直鏡，準直光斑直徑1mm7mm，F(xiàn)C接口。4.探測器組件：光纖端面觀察儀，倍率400，USB接口，內(nèi)置照明，2.5mm光纖插芯；激光光功率計，手持式，多波長，0.01mW300

28、mW，附帶FC/SMA905光纖連接座。5.大氣激光通信發(fā)射模塊組件：波長=650nm，P1mW音頻輸入，調(diào)制帶寬2kHz。6.工具套裝：光纖切割刀、光纖剝線鉗。7.其他：光纖展示箱（內(nèi)含：光通信常用光纖跳線、光纖耦合器、光纖衰減器、FC接口適配器、1.5Km通訊光纖，62.5/125m、532nm單模光纖4/125m3mFC/PC）。8.講義及快速安裝指南。建議學時：4學時配套課程：光電子技術(shù)基礎(chǔ)、光纖光學光電探測器特性測量實驗（RLE-SA05）1、熱釋電探測器光譜響應(yīng)特性實驗；2、硅光電二極管光譜響應(yīng)曲線測試實驗；3、幅頻法測量光敏電阻響應(yīng)速度實驗；4、脈沖法測量光電二級管響應(yīng)速度實驗；

29、5、偏置電壓對光電二極管響應(yīng)速度影響測試實驗；6、負載電阻對光電二極管響應(yīng)速度影響測試實驗。1.光源組件：白光源：150W鹵素光源，亮度連續(xù)可調(diào)。2.光學調(diào)制盤組件：鏤空圓形結(jié)構(gòu)，25Hz定頻調(diào)制。3.探測器組件：光譜響應(yīng)特性測試電源：25Hz調(diào)制盤驅(qū)動，檢頻輸出，精密信號放大電路增益150倍；探測器時間響應(yīng)測試電源：含硅光二級管、光敏電阻測試，負載電阻可變100100k，偏置電壓可調(diào)5V15V，內(nèi)置正弦信號/脈沖信號，頻率可調(diào)；光電二極管:響應(yīng)波長400nm1100nm；熱釋電探測器:響應(yīng)波長0.3m9m；單色儀：精度0.2nm；光譜范圍400nm1100nm。4.光學組件：紅外濾光片，25

30、.4mm，帶寬720nm2500nm。5.講義及快速安裝指南。建議課時：4課時配套課程：光電子技術(shù)基礎(chǔ)、半導體光電子材料與器件半導體器件物理與工藝測量實驗RLE-SA061、半導體封裝器件結(jié)構(gòu)觀測；2、半導體發(fā)光器件P-I-V特性曲線測試；3、半導體發(fā)光器件內(nèi)參數(shù)及效率測試；4、PN節(jié)I-V曲線的溫度特性測試；5、半導體發(fā)光器件的光譜測試；6、半導體發(fā)光器件耦合封裝測試；7、COS器件遠場光斑測試。1.半導體發(fā)光器組件：光纖耦合半導體激光器：中心波長658nm，單模光纖輸出，芯徑5um，輸出功率大于5mW；中心波長808nm，TO封裝，輸出功率大于100mW；LED光源一批，波長400-700nm，輸出功率大于100mW。2.半導體發(fā)光器件測試箱：驅(qū)動電源控制范圍：電流驅(qū)動范圍：015A；電壓驅(qū)動范圍：05V；功率測量范圍：0W20W；背光電流測量范圍：0A1000A。進行PIV測試，繪制PIV曲線，檢測激光器輸出功率Po、閾值電流Ith、工作電流Io、工作電壓Vo、背光電流PD、串聯(lián)電阻Rt、斜率效率Es、光電效率Ep、激光功率的線性度PL、背光電流的線性度PDL、可直接輸出軟件數(shù)據(jù)。3.半導體發(fā)光器件測試平臺：可測量半導體激光器，發(fā)光二極管等器件?？蓽y量溫度控制器電壓Vtec、溫度控制器電流Itec、激光器管芯溫度Tc。外置TEC