太斯電池綜合測試儀培訓(xùn)課件

1、深圳市泰斯電子有限公司BTS-2002電池綜合測試儀培訓(xùn)資料儀器外觀BTS-2002系列電池綜合測試儀儀器基本用途介紹電池生產(chǎn)線快速在線測試測試電池各項(xiàng)性能指標(biāo)是否滿足要求，比如，開路電壓，內(nèi)阻，充電，放電，過電流保護(hù)，短路保護(hù)等等電池容量分析，可以測試電池真實(shí)容量電池智能充電器智能放電負(fù)載用途直流電源用途電子負(fù)載用途讀碼(DS2502)用途快速測試(Static Test)內(nèi)容電池空載電壓測試電池內(nèi)阻測試識別電阻/熱敏電阻1測試（可選）識別電阻/熱敏電阻2測試（可選）碼片功能測試（可選）充電功能測試（可選）放電功能測試（負(fù)載電壓下降測試）（可選）過電流保護(hù)功能測試（可選）短路保護(hù)功能測試（可

2、選）電池內(nèi)阻(IMP)的測試原理采用1KHz純正弦波電流測量采用小電流（10mA）對電池?zé)o損傷，對電池參數(shù)影響小采用激勵(lì)源（P+/P-）和檢測端（R+/R-）分開，形成四線制測量內(nèi)阻，提高精確度。采用鎖相放大器電路，有效消除干擾，內(nèi)阻讀數(shù)穩(wěn)定可靠。如采用單測試針接觸測試，則測試針本身內(nèi)阻和接觸電阻不可忽略不計(jì)，帶來較大測試誤差充電(Charge)測量原理采用比單節(jié)電池最高充電電壓高0.2V的開路電壓測試，比如，對于單節(jié)鋰電池，采用4.4V電壓啟動(dòng)充電，對電池?zé)o損傷。采用設(shè)定電池容量的0.5C電流大小充電，如果能夠流入0.5C大小的電流，則判斷電池充電正常。誤判可能：電池容量設(shè)置過大，因?yàn)槌潆婋?/p>

3、流過大，導(dǎo)致電池電壓升高，達(dá)不到應(yīng)有充電電流，誤判為不能充電。電池本身電壓過高，如電池自身電壓超過4.2V，則在充電時(shí)，有可能過充保護(hù)，導(dǎo)致不能充電，或者不能輸入足夠的充電電流導(dǎo)致誤判。放電(Discharge)測試原理對電池施加采用逐漸增大的負(fù)載電流，當(dāng)電流達(dá)到0.5C的，保持穩(wěn)定，測量此時(shí)電池電壓，如電壓相對于空載電壓的下降在規(guī)定范圍(detV_MAX)之內(nèi)，則認(rèn)為放電測試OK。其實(shí)質(zhì)是測量電池在規(guī)定負(fù)載(0.5C)下的放電電壓下降開路電壓(VOL)和負(fù)載電壓(V-L)交替顯示。誤判可能：電池容量設(shè)置過大，導(dǎo)致電池?zé)o法輸出規(guī)定設(shè)定電流，過電流保護(hù)引起誤判。電池容量設(shè)置過大，導(dǎo)致電池在大電流

4、放電情況下，電壓下降超過設(shè)定值。電池電壓過低，如電池電壓低于3.5V，則有可能不能提供足夠的電流輸出，或者電壓下降太快，導(dǎo)致誤判。過電流(OVC)測試原理過電流保護(hù)原理大電流流過MOSFET產(chǎn)生壓降，保護(hù)IC檢測MOSFET的兩端電壓，如電壓超過過電流檢測電壓，則過電流保護(hù)電路動(dòng)作，切斷流過MOSFET的電流如MOSFET的內(nèi)阻一定，過電流檢測電壓不變，則過電流檢測值則確定。檢測方法：對電池施加不斷增加的電流負(fù)載，直到電池保護(hù)電路動(dòng)作，切斷電流輸出，電池電壓下降到規(guī)定值(0.5V)以下，記錄下最大電流值，并用上次的測量得到的過電流延時(shí)時(shí)間修正，得到的數(shù)據(jù)為過電流保護(hù)值，該數(shù)值在規(guī)定范圍之內(nèi)，則

5、認(rèn)為過電流測試OK。電流增長速度快，大約13mA/mS，從0A上升到12A，不到1秒鐘。和實(shí)際電子負(fù)載手動(dòng)測試結(jié)果差別分析：MOSFET溫度影響內(nèi)阻，手動(dòng)測量時(shí)間長，MOSFET溫度上升，內(nèi)阻上升，過電流測試值偏小。電池電壓下降因素，手動(dòng)測量時(shí)間長，電池電壓下降，MOSFET驅(qū)動(dòng)電壓下降，MOSFET內(nèi)阻上升，電流測試值偏小。短路(SHORT)測試原理動(dòng)作過程：用大功率MOSFET直接短路電池正負(fù)極輸入端判斷在規(guī)定時(shí)間內(nèi)(SHORT TIME)是否切斷電流如電池過電流保護(hù)動(dòng)作后，則根據(jù)設(shè)定恢復(fù)條件，充電(Charge)或者開路(OPEN)判斷是否恢復(fù)原來電壓。如開路，則保持開路一定時(shí)間(OPE

6、N TIME)后，再判斷電壓是否恢復(fù)到最小允許電壓。影響判斷因素如測試連接導(dǎo)線過長，內(nèi)阻過大，或者接觸電阻過大，都會(huì)影響短路電流的大小，可能進(jìn)入過電流保護(hù)狀態(tài)。電流增長速度太慢，也會(huì)導(dǎo)致過電流保護(hù)動(dòng)作，不是應(yīng)有的短路保護(hù)短路時(shí)間設(shè)定過短，導(dǎo)致不能規(guī)定時(shí)間內(nèi)斷開開路時(shí)間設(shè)定過短，對于某些輸出端有電容的，不能在規(guī)定時(shí)間恢復(fù)電壓。放電，過電流，短路測試的實(shí)際電壓電流波形右為電池電壓波形第一次下降為過電流保護(hù)動(dòng)作第二次下降為短路保護(hù)動(dòng)作右為電池放電電流波形依次為負(fù)載放電，過電流測試，短路測試波形識別電阻/熱敏電阻(R1/R2)測量原理采用分壓電路，通過測試出電壓來計(jì)算出被測試電阻值誤差分析：在10K電

7、阻附近精度最高在10K以下范圍，精度較高在100K以上范圍，誤差較大，所得結(jié)果僅作參考。Enter Calibration: 電池測試儀校準(zhǔn)操作選擇第八項(xiàng)，Enter Calibration，按下確認(rèn)鍵，進(jìn)入校準(zhǔn)菜單按向下鍵4次，向右鍵6次，按下確認(rèn)鍵，進(jìn)入校準(zhǔn)菜單VOL_CAL: 電壓測試校準(zhǔn)CHR_CUR：充電電流校準(zhǔn)DISCHR_CUR:放電電流校準(zhǔn)OVER_CUR:過電流電流校準(zhǔn)IMP_CAP:內(nèi)阻校準(zhǔn)IMP_OFFSET:內(nèi)阻測量零點(diǎn)校準(zhǔn)Save return:存盤退出Reset return:復(fù)位退出VOL_CAL: 電壓校準(zhǔn)操作選擇電壓校準(zhǔn)項(xiàng)目，按下確認(rèn)鍵采用一個(gè)電壓源作為基準(zhǔn)，

8、可以用直流電源或者電池代替用高精度萬用表測量其電壓調(diào)節(jié)電壓顯示值使之一致，按下確認(rèn)鍵CHR_CUR: 充電電流校準(zhǔn)選擇充電電流校準(zhǔn)，按下確認(rèn)鍵連接一個(gè)電子負(fù)載(設(shè)置到CC模式，1.5A)，或者如下圖所示連接電路調(diào)節(jié)顯示數(shù)值，使之與標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)一致，按下確認(rèn)鍵DISCHR_CUR/OVC_CUR: 放電電流和過電流校準(zhǔn)選擇相應(yīng)校準(zhǔn)項(xiàng)目利用一個(gè)直流電源(5V/3A)或者一個(gè)電池提供電流，串聯(lián)電流表，測量流入測試儀的電流調(diào)節(jié)顯示參數(shù)值，使之?dāng)?shù)值相等，按下確認(rèn)鍵IMP_CAL/IMP_OFFSET：內(nèi)阻校準(zhǔn)操作選擇IMP_CAL，設(shè)置內(nèi)阻校正數(shù)據(jù)將一個(gè)四線標(biāo)準(zhǔn)電阻(0.30.50.2%)連接到測試儀，如右圖所示調(diào)節(jié)測試儀顯示數(shù)值，使之與標(biāo)準(zhǔn)值一致選擇IMP_OFFSET，設(shè)置內(nèi)阻零點(diǎn)校準(zhǔn)將測試線短路在一起，如采用四線制，將需要將四根線焊接在一個(gè)焊點(diǎn)上，如右圖所示調(diào)節(jié)顯示數(shù)值到0，確認(rèn)注意，如采用四線制，則在恢復(fù)到初值后，無需設(shè)置該項(xiàng)目Save Return 保存設(shè)置當(dāng)所有數(shù)據(jù)校正完成后，必須將Save Return 設(shè)置為YES，然后按確認(rèn)鍵退出那么，校準(zhǔn)數(shù)據(jù)才可能被保存，否則校準(zhǔn)數(shù)據(jù)腳被丟失如果某個(gè)顯示數(shù)據(jù)與實(shí)際值相差較大，則可能是校準(zhǔn)數(shù)據(jù)被錯(cuò)誤設(shè)置，則必須選擇 Reset Ret