dram兼容性測試報告-t507nanya nt5cc256m16er ddr3模板版本v1

1、Allwinner Technology.DRAM兼容性測DRAM型請認(rèn)真填寫左側(cè)信AP型測T5VERDDR316X2 1一、 測試硬件描述（注意！標(biāo)紅為必填項目1是否使用Socket？SOC使用了Socket？DRAM使用Allwinner Technology.DRAM兼容性測DRAM型請認(rèn)真填寫左側(cè)信AP型測T5VERDDR316X2 1一、 測試硬件描述（注意！標(biāo)紅為必填項目1是否使用Socket？SOC使用了Socket？DRAM使用了本硬2的歷史表現(xiàn)情況如何？之前使用其他款DDR表現(xiàn)如何？最高頻率是多少3本PCB DRAM Layout的約束條件如何？DQ vs DQS？C/Avs

2、 CLK？DQS vs CLK？信號走線線寬線距？地址信號拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)以及約4關(guān)于本PCB板的其他描述。（例如層數(shù)/層疊結(jié)構(gòu)/.）5時鐘展頻幅6DRAM參數(shù)配置（此項必填= = = = = = = = = = = = = = = = = = = = = Copyright Allwinner s.Allwinner Technology.能測測試環(huán)溫度測試樣片數(shù)量1上下電測試：通過串口打印監(jiān)測系統(tǒng)啟動情況，通過er開關(guān)/復(fù)位鍵讓系統(tǒng)不斷重啟er開關(guān)和Reset按鍵分別反復(fù)測試50次使用量產(chǎn)頻率，無需提2正常開關(guān)機測試：開機后系統(tǒng)正常運行，隨意操作應(yīng)用，然后正常關(guān)機，反復(fù)測試10次使Allwinne

3、r Technology.能測測試環(huán)溫度測試樣片數(shù)量1上下電測試：通過串口打印監(jiān)測系統(tǒng)啟動情況，通過er開關(guān)/復(fù)位鍵讓系統(tǒng)不斷重啟er開關(guān)和Reset按鍵分別反復(fù)測試50次使用量產(chǎn)頻率，無需提2正常開關(guān)機測試：開機后系統(tǒng)正常運行，隨意操作應(yīng)用，然后正常關(guān)機，反復(fù)測試10次使用量產(chǎn)頻率，無需提3進出Self-refresh測試：進出Standby的過程也是DRAM進出Self-refresh的過程，反復(fù)測試10次待機喚醒使用量產(chǎn)頻率，無需提4Self-refresh數(shù)據(jù)保持測試：進入Self-refresh后，放置1小時后，系統(tǒng)是否可以正確喚醒，測試1次使用量產(chǎn)頻率，無需提Copyright A

4、llwinner s.板判斷標(biāo)喚醒能夠正常進入主界面并可以運行應(yīng)用喚醒未能進入主界面或觸控板板判斷標(biāo)觸控開關(guān)機正常，每次開機正常進入開機未能正常進入板判斷標(biāo)每次上電都正常進入android系出現(xiàn)掛死或者未能正常進入android系A(chǔ)llwinner Technology.5 跳頻測試（如果存在此功能）：測試DRAM變換頻率的過程，根據(jù)實際設(shè)計34個跳頻場景，反復(fù)測試10次使用量產(chǎn)頻率，無需提三常溫穩(wěn)定性測測試環(huán)溫度測試樣片數(shù)量測試方法描述1系統(tǒng)起來后 Memtester測試：Memtester容量視情況而定，測試時間4小時以上Allwinner Technology.5 跳頻測試（如果存在此功

5、能）：測試DRAM變換頻率的過程，根據(jù)實際設(shè)計34個跳頻場景，反復(fù)測試10次使用量產(chǎn)頻率，無需提三常溫穩(wěn)定性測測試環(huán)溫度測試樣片數(shù)量測試方法描述1系統(tǒng)起來后 Memtester測試：Memtester容量視情況而定，測試時間4小時以上使用量產(chǎn)頻率，無需提四測試環(huán)溫度測試樣片數(shù)量測試方法描述1系統(tǒng)起來后 Memtester測試：Memtester容量視情況而定，測試時間4小時以上Copyright Allwinner s.板判斷標(biāo)memtester測試全部通死機或者memtester報板判斷標(biāo)memtester測試全部通死機或者memtester報板不支持此功能不判斷標(biāo)黑屏音樂、主界面、捕四個場

6、景來回切換，操作正場景切換過程中出現(xiàn)死機現(xiàn)Allwinner Technology.耗測測試環(huán)溫度測試樣片數(shù)量測試方法描述1 與DRAM直接相關(guān)的所有電源功耗測五、 DRAM關(guān)鍵信號測試標(biāo)論陳Copyright Allwinner s.測試等測試項1功能測常溫穩(wěn)定高低溫穩(wěn)定2功能測常溫穩(wěn)定高低溫穩(wěn)定功耗測3功能測常溫Allwinner Technology.耗測測試環(huán)溫度測試樣片數(shù)量測試方法描述1 與DRAM直接相關(guān)的所有電源功耗測五、 DRAM關(guān)鍵信號測試標(biāo)論陳Copyright Allwinner s.測試等測試項1功能測常溫穩(wěn)定高低溫穩(wěn)定2功能測常溫穩(wěn)定高低溫穩(wěn)定功耗測3功能測常溫穩(wěn)定高低溫穩(wěn)定功耗測信號測判斷標(biāo)DRAM關(guān)鍵信號測的結(jié)果為DRAM關(guān)鍵信號測