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帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)）規(guī)范下限帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)）規(guī)范下限LCL規(guī)范上限UCL\1VjLCLi\\i1UCL范圍范圍―?不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出）LCLUCLLCLUCL!iy廣、、\VlV7~_??范圍范圍廠X)2n一1過程能力指數(shù)（Cp,Cpk）的計算適用于穩(wěn)定受控的過程進行能力研究。1）計算過程變差（采用樣本極差估計）：b=R/d2*TOC\o"1-5"\h\z-2）計算Cp,Cpl,Cpu,Cpk，_其中_廠USLX十廠,XLSLCpu=或Cpl=RRUSL_LSLCp=或Cpk=MIN（Cpl,Cpu）6bR.評價過程能力根據(jù)客戶通用要求及保持合格率水平需要，對過程能力指數(shù)一般要求為:Cpk（Cpl或Cpu）>1.33;如過程能力不能滿足要求，通常應(yīng)要求進行采取管理進行系統(tǒng)改進。過程性能指數(shù)（Pp,Ppk）的計算適用于初始過程能力研究。1）計算過程總變差（采用樣本標(biāo)準(zhǔn)差估計）b=迄i=I2）計算Pp,Ppl,Ppu,Ppk,其中cUSLX十n,XLSLPpu=或Ppi=3b3bssUSL-LSL「、Pp=或Ppk=MIN（Ppi,Ppu）6bs.評價過程能力我司目前根據(jù)客戶要求及保持合格率水平需要，對過程能力（或性能）指數(shù)要求為:Cpk（或Cpu）>1.67;對新品初始過程能力研究，Ppk（或Ppu）>1.6

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