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電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)(一)IC類檢驗(yàn)規(guī)( 包括BGA)1.1.目的IQCIC類物料之依據(jù)。2.適用范圍ICBGA之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;4.允收水準(zhǔn)主要缺點(diǎn)(MA):0.4;(AQL次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5.參考文無(wú)件檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注a.LABELP/N及實(shí)物是否包裝檢驗(yàn)MA都正確,任何有誤,均不可接受。目檢b.包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。a.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;檢數(shù)數(shù)量檢驗(yàn)MAb. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;來(lái)料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝,均不可接受;c.本體變形,或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受;目檢或檢驗(yàn)時(shí),必須佩外觀檢驗(yàn)MAd.0.5mnt且未露出基質(zhì),可接受;否則不可接受;10倍以上的放大鏡帶靜電帶。e.Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受;f.元件腳彎曲,偏位,缺損或少腳,均不可接受;備注:凡用于真空完全密閉方式包裝的 IC,由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場(chǎng)打開封裝的, IQC僅進(jìn)行包裝檢驗(yàn),并加蓋免ICSMTIQC若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應(yīng)商的要求進(jìn)行烘烤。

20%RH寸應(yīng)的位置有沒(méi)有變成粉紅色,(二)貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范(電容,電阻,電感…)目的適用范圍便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。適用于本公司所有貼片元件(電容,電阻,電感…)之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》 。嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;(AQL

主要缺點(diǎn)(MA):0.4;次要缺點(diǎn)(MI):1.5.《LCR數(shù)字電橋操作指引》《數(shù)字萬(wàn)用表操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目

缺陷屬性

缺陷描述

檢驗(yàn)方式 備注包裝檢驗(yàn) 正確,任何有誤,

LABEL上的P/N及實(shí)物是否都目檢包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。數(shù)量檢驗(yàn)

a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受; 目檢外觀檢驗(yàn)

實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;來(lái)料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝,均不可接受;本體變形,或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受;元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔,其面積不超過(guò)0.5mm,且未露出基質(zhì),可接受;否則不可接受;Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受;

點(diǎn)數(shù)目檢10倍以上的放檢驗(yàn)時(shí),必須大鏡 帶靜電帶。電性檢驗(yàn) MA 元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).

LCR數(shù)字萬(wàn)用表

檢驗(yàn)時(shí),必須佩帶靜電帶。二極管類型 檢 測(cè) 方 法選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔,正向測(cè)量,LED 管不合格。注:有標(biāo)記的一端為負(fù)極。

LED需發(fā)岀與要求相符的顏色的光,而反向測(cè)量不發(fā)光;否則該二極其它二極管

選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔,正向測(cè)量,讀數(shù)需小于注:有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。

1,而反向測(cè)量讀數(shù)需無(wú)窮大;否則該二極管不合格。抽樣計(jì)劃說(shuō)明對(duì)于CHIP二極管執(zhí)行抽樣計(jì)劃時(shí)來(lái)料數(shù)量以盤為單位樣本數(shù)也以盤為單位從抽檢的每盤中取3 5pcs元件進(jìn)行檢測(cè);AQL不變。檢驗(yàn)方法見(jiàn)"LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀操作指引"和"數(shù)字萬(wàn)用表操作指引"。備注(三)目的適用范圍抽樣計(jì)劃(AQL參考文件

插件用電解電容.作為IQC人員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之依據(jù)。適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》 。嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;主要缺點(diǎn)(MA):0.4;次要缺點(diǎn)(MI):1.5.《LCR數(shù)字電橋操作指引》、《數(shù)字電容表操作指引》。檢驗(yàn)項(xiàng)目

缺陷屬性

缺陷描述

檢驗(yàn)方式 備注包裝檢驗(yàn)

根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或 LABEL上的P/N及實(shí)物是否MA 目檢都正確,任何有誤,均不可接受。a.Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;占數(shù)量檢驗(yàn) MA b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 目占八受。極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清,難以辨認(rèn)不可接受;電解電容之熱縮套管破損、脫落,不可接受;外觀檢驗(yàn) MA c. 本體變形,破損等不可接受; 目檢d.Pin生銹氧化,均不可接受。a.Pin上錫不良,或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現(xiàn)使用之合格可焊性檢驗(yàn) MA 的松香水,再插入小錫爐 5秒鐘左右后拿起觀看PIN 實(shí)際操作是否100%良好上錫;如果不是則拒收)

LOT取5~10PCS爐上驗(yàn)證上錫性若用于新的若用于新的尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MAa.外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受。卡尺PCB位置進(jìn)行試插用數(shù)字電容表或電性檢驗(yàn)MAa.電容值超岀規(guī)格要求則不可接受。LCR試儀量測(cè)(四)晶體類檢驗(yàn)規(guī)范1.1.目的IQC人員檢驗(yàn)晶體類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;4.允收水準(zhǔn)主要缺點(diǎn)(MA):0.4;(AQL次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5.參考文件《數(shù)字頻率計(jì)操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注a.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABELP/N及實(shí)物是否都包裝檢驗(yàn)MA目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA正確,任何有誤,均不可接受。實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接檢數(shù)受。a. 字體模糊不清,難以辨認(rèn)不可接受;b.有不同規(guī)格的晶體混裝在一起,不可接受;LOT取外觀檢驗(yàn)MAc.元件變形,或受損露出本體等不可接受;目檢5 10PCS在小d.Pin生銹氧化、上錫不良,或斷Pin,均不可接受。錫爐上驗(yàn)證上錫性測(cè)試工位電性檢驗(yàn)a. 晶體不能起振不可接受;MA和數(shù)字頻率b. 測(cè)量值超岀晶體的頻率范圍則不可接受。計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢測(cè)方法32.768KHZ32.768KHZ在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體,再接通電源開機(jī);在正常開機(jī)后,用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體,16.934MHz25.000MHz看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi),若不能開機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi),則該晶體不合格。在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、CPU內(nèi)存條等,再接通電源開機(jī),看能否正常開機(jī)顯示;在正常開機(jī)24.576MHz顯示后,用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體,看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi),若不能開機(jī)顯示或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi),則該晶體不合格。(五)三極管檢驗(yàn)規(guī)范1.1.目的IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;4.允收水準(zhǔn)主要缺點(diǎn)(MA):0.4;(AQL次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注a.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABELP/N及實(shí)物是否包裝檢驗(yàn)MA都正確,任何有誤,均不可接受。目檢b.包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。a.Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;數(shù)量檢驗(yàn)MAb.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接目占八受。Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;來(lái)料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝,均不可接受;目檢本體變形,或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受; 檢驗(yàn)時(shí),必須外觀檢驗(yàn)MAd.元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔,其面積不超10大鏡佩帶靜電帶。0.5mm,且未露出基質(zhì),可接受;否則不可接受;e.Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受。。4.。4.允收水主要缺點(diǎn)(MA)0.4;準(zhǔn)(AQL)次要缺點(diǎn)(MI)1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABELP/N及實(shí)物是否都正包裝檢驗(yàn)MA確,任何有誤,均不可接受。目檢MA目檢數(shù)量檢驗(yàn)a.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。點(diǎn)數(shù)電性檢驗(yàn)無(wú)(六) 排針&插槽(座)類檢驗(yàn)規(guī)范目的適用范圍作為IQC人員檢驗(yàn)排針&插槽(座)類物料之依據(jù)。適用于本公司所有排針&插槽(座)之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;Marking錯(cuò)或模糊不能辯認(rèn);塑料與針腳不能緊固連接;C.塑料體破損,體臟,變形,明顯色差,劃傷,縮水;外觀檢驗(yàn) MA d. 過(guò)錫爐后塑料體外觀變色,變形,脫皮 ; 目?jī)L針腳擰結(jié),彎曲,偏位,缺損,斷針或缺少;針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹 ;針腳端部成蘑菇狀影響安裝.a.PIN上錫不良,或完全不上錫,均不可接受;(將零件腳插入焊錫性檢驗(yàn) MA 現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi),全部浸潤(rùn),再插入小錫爐 5秒鐘 實(shí)際操作左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫;如果不是則拒收)

LOT取5~10PCS安裝檢驗(yàn) MA a.b.

針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝;0.5mm2.0mm;

針腳露岀機(jī)板卡尺 長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm 2.0mm范圍內(nèi)。CABLE類檢驗(yàn)規(guī)范1.1.目的CCABLE類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有CABLE類之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;4.允收水主要缺點(diǎn)(MA):0.4;準(zhǔn)(AQL)次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注a.包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.b.數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。檢數(shù)小目占五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良;五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良;塑料體變形、劃傷、毛邊、破(斷)裂、異色等不良;排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不可接受;外觀檢驗(yàn)MAd.排線與支架等組裝不牢,易松脫;目檢上下各輕搖Mechanical3DrawingofCablee.標(biāo)識(shí)CABLE接插方向的顏色不能明確分辯;/

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