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Minitab15的使用QC7工具常用圖形的制作p12010-10-27Minitab15的使用QC7工具常用圖形的制作p1CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitab界面和基本操作介紹2Minitab用于QC7工具常用圖形的制作3CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitp3Minitab介紹Minitab是眾多統(tǒng)計(jì)軟件當(dāng)中比較簡單易懂的軟件之一;相對(duì)來講,Minitab在質(zhì)量管理方面的應(yīng)用是比較適合的;Minitab的功能齊全,一般的數(shù)據(jù)分析和圖形處理都可以應(yīng)付自如。p3Minitab介紹Minitab是眾多統(tǒng)計(jì)軟件當(dāng)中比較簡p4Minitab的功能計(jì)算功能計(jì)算器功能生成數(shù)據(jù)功能概率分布功能矩陣運(yùn)算數(shù)據(jù)分析功能基本統(tǒng)計(jì)回歸分析方差分析實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)分析控制圖質(zhì)量工具可靠度分析多變量分析基本統(tǒng)計(jì)時(shí)間序列列聯(lián)表非參數(shù)估計(jì)EDA概率與樣本容量圖形分析直方圖散布圖時(shí)間序列圖條形圖餅圖邊際圖概率圖莖葉圖特征圖箱圖矩陣圖輪廓圖三維圖點(diǎn)圖p4Minitab的功能計(jì)算功能數(shù)據(jù)分析功能多變量分析圖形分CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitab界面和基本操作介紹2Minitab用于QC7工具常用圖形的制作3CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitp6Minitab界面工作表:輸入數(shù)據(jù)的窗口每一列的名字可以寫在最前面的列每一列的數(shù)據(jù)性質(zhì)是一致的主菜單會(huì)話:分析結(jié)果輸出窗口p6Minitab界面工作表:主菜單會(huì)話:同一時(shí)間只能激活一個(gè)窗口.每一個(gè)窗口可以單獨(dú)儲(chǔ)存.p7Minitab界面不同的要求選擇不同的保存命令同一時(shí)間只能激活一個(gè)窗口.每一個(gè)窗口可以單獨(dú)儲(chǔ)存.p7Minp8數(shù)據(jù)類型的轉(zhuǎn)換(ChangeDataType)Select:數(shù)據(jù)>更改數(shù)據(jù)類型>需要轉(zhuǎn)換的列轉(zhuǎn)換后數(shù)據(jù)存放列,可以是原來的數(shù)據(jù)列p8數(shù)據(jù)類型的轉(zhuǎn)換(ChangeDataType)Selp9數(shù)據(jù)的堆疊(Stack&Unstack)輸入需要堆積的列,如果由前后順序,按前后順序進(jìn)行輸入輸入堆積后存放列的位置注解可以用來區(qū)分?jǐn)?shù)據(jù)的來源原始數(shù)據(jù)堆疊數(shù)據(jù)Select:數(shù)據(jù)>堆疊>列/行p9數(shù)據(jù)的堆疊(Stack&Unstack)輸入需要堆積的列p10數(shù)據(jù)塊的堆疊(StackBlocks)原始數(shù)據(jù)在對(duì)話框中輸入2~5列數(shù)據(jù),及注解列輸入新工作表或注解的位置輸出數(shù)據(jù)
Select:數(shù)據(jù)>堆疊>列的區(qū)組p10數(shù)據(jù)塊的堆疊(StackBlocks)原始數(shù)據(jù)在對(duì)話原始數(shù)據(jù)p11轉(zhuǎn)置欄(TransposeColumns)輸入需要轉(zhuǎn)置的列輸入新工作表的位置可以輸入注解列
Select:數(shù)據(jù)>轉(zhuǎn)置列輸出數(shù)據(jù)原始數(shù)據(jù)p11轉(zhuǎn)置欄(TransposeColumns)輸p12合并(Concatenate)輸入需要連接的數(shù)據(jù)列輸入新數(shù)據(jù)列的位置原始數(shù)據(jù)輸出數(shù)據(jù)
Select:數(shù)據(jù)>合并p12合并(Concatenate)輸入需要連接的數(shù)據(jù)列輸入p13編碼(Code)原始數(shù)據(jù)編碼規(guī)則被編碼的變量
Select:數(shù)據(jù)>編碼>輸出數(shù)據(jù)p13編碼(Code)原始數(shù)據(jù)編碼規(guī)則被編碼的變量SeleCONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitab界面和基本操作介紹2Minitab用于QC7工具常用圖形的制作3CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitp15QC新舊七工具常用的圖形如下特性要因圖柏拉圖散布圖直方圖控制圖層別圖查檢表關(guān)聯(lián)圖系統(tǒng)圖親和圖矩陣圖PDPC法箭條圖矩陣數(shù)據(jù)解析法QC舊七工具QC新七工具p15QC新舊七工具常用的圖形如下特性要因圖關(guān)聯(lián)圖QC舊七工p16例子操作人員設(shè)備物料方法環(huán)境信息管理者能源/資源精制操作錯(cuò)誤收集器試劑精制流程不合理空氣結(jié)凈度不達(dá)標(biāo)參考文獻(xiàn)過于陳舊工作安排不合理突然停電新員工冰箱菌體保存緩沖液不合理低溫室溫度異常SOP不完備資料讀取不足突然停水樹脂保存條件不合理指示錯(cuò)誤特性要因圖為何某酶的活性異常p16例子操作人員設(shè)備物料方法環(huán)境信息管理者能源/資源精制操p17輸入表中Select:統(tǒng)計(jì)>質(zhì)量工具>因果圖注意輸入格式特性要因圖p17輸入表中Select:統(tǒng)計(jì)>質(zhì)量工具>因p18填好各項(xiàng)需要的參數(shù)特性要因圖p18填好各項(xiàng)需要的參數(shù)特性要因圖p19結(jié)果輸出特性要因圖p19結(jié)果輸出特性要因圖p20例子項(xiàng)次NC類型NC數(shù)量1VendorError92PackagingError43QCFailure34LabelError25AliquotingError26ExpirationDate27ImproperHandling2柏拉圖2010年NC發(fā)生類型分析p20例子項(xiàng)次NC類型NC數(shù)量1VendorError92p21輸入數(shù)據(jù)Select:統(tǒng)計(jì)>質(zhì)量工具>Pareto圖柏拉圖p21輸入數(shù)據(jù)Select:統(tǒng)計(jì)>質(zhì)量工具>Pp22填好各項(xiàng)參數(shù)可以對(duì)柏拉圖進(jìn)行命名輸入缺陷列輸入頻數(shù)列其他項(xiàng)所占的比率柏拉圖p22填好各項(xiàng)參數(shù)可以對(duì)柏拉圖進(jìn)行命名輸入缺陷列輸入頻數(shù)列其p23結(jié)果輸出柏拉圖p23結(jié)果輸出柏拉圖p24例子YX65800668106582066830678406785068860688706789068900散布圖p24例子YX65800668106582066830678p25輸入數(shù)據(jù)Select:圖形>散點(diǎn)圖散布圖p25輸入數(shù)據(jù)Select:圖形>散點(diǎn)圖散布圖p26輸入?yún)?shù)散布圖p26輸入?yún)?shù)散布圖p27輸出圖形可以用直接方式判定,有正相關(guān)的傾向。更詳細(xì)的說明可以參見回歸分析散布圖p27輸出圖形可以用直接方式判定,有正相關(guān)的傾向。散布圖p28例子Select:圖形>直方圖直方圖p28例子Select:圖形>直方圖直方圖p29填入?yún)?shù)可以同時(shí)為幾個(gè)變量作直方圖直方圖p29填入?yún)?shù)可以同時(shí)為幾個(gè)直方圖p30結(jié)果輸出請(qǐng)依照QC7的方法來進(jìn)行圖形分析和判定更深入的分析可以參見制程能力分析部份。直方圖創(chuàng)建直方圖后,可以使用選擇條形>編輯條形>區(qū)間來自定義區(qū)間的數(shù)量和位置。p30結(jié)果輸出請(qǐng)依照QC7的方法來進(jìn)行圖形分析和判定直方圖控制圖分類
控制圖類型功能標(biāo)準(zhǔn)差σ估算方法(默認(rèn))計(jì)量值控制圖單值變量控制圖單值控制圖I控制圖跟蹤過程水平移動(dòng)極差的平均值來估計(jì)σ移動(dòng)極差控制圖MR控制圖跟蹤過程變異移動(dòng)極差的平均值來估計(jì)σ單值-移動(dòng)極差控制圖I-MR控制圖同時(shí)跟蹤過程水平和過程變異移動(dòng)極差的平均值來估計(jì)σ子組變量控制圖子組平均值控制圖Xbar控制圖跟蹤過程水平使用合并標(biāo)準(zhǔn)差來估計(jì)σ子組極差控制圖R控制圖跟蹤大小為8或更小的樣本的過程變異根據(jù)子組極差的平均值來估計(jì)σ子組標(biāo)準(zhǔn)差控制圖S控制圖跟蹤大小為9或更大的樣本的過程變異根據(jù)子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值來估計(jì)σ子組平均值-極差控制圖Xbar-R控制圖同時(shí)跟蹤大小為8或更小的樣本過程水平和過程變異子組極差的平均值來估計(jì)σ子組平均值-標(biāo)準(zhǔn)差控制圖Xbar-S控制圖同時(shí)跟蹤大小為9或更大的樣本過程水平和過程變異根據(jù)子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值來估計(jì)σ計(jì)數(shù)值控制圖
不合格率控制圖P控制圖監(jiān)測(cè)每個(gè)子組中的不合格率
不合格品數(shù)控制圖C控制圖監(jiān)測(cè)每個(gè)子組中的不合格品數(shù)
p31控制圖分類控制圖類型功能標(biāo)準(zhǔn)差σ估單值控制圖單值控制圖標(biāo)繪變量數(shù)據(jù)在一段時(shí)間內(nèi)的單個(gè)觀測(cè)值。使用此控制圖可以在難以或不可能將測(cè)量值分成子組時(shí)監(jiān)控過程中心。這種情況通常在測(cè)量費(fèi)用高昂、生產(chǎn)量偏低或產(chǎn)品生產(chǎn)周期很長時(shí)發(fā)生。單值控制圖也稱為I控制圖。使用單值控制圖來跟蹤過程水平并檢測(cè)是否存在特殊原因。單值控制圖使用移動(dòng)極差的平均值來估計(jì)過程變異σ(標(biāo)準(zhǔn)差)。標(biāo)準(zhǔn)差是一組數(shù)據(jù)平均值分散程度的一種度量。一個(gè)較大的標(biāo)準(zhǔn)差,代表大部分?jǐn)?shù)值和其平均值之間差異較大;一個(gè)較小的標(biāo)準(zhǔn)差,代表這些數(shù)值較接近平均值。標(biāo)準(zhǔn)差公式:p32單值控制圖單值控制圖標(biāo)準(zhǔn)差是一組數(shù)據(jù)平均值分散程度的一種度量單值控制圖-繪制與分析出荷到CLI的制品,在干冰運(yùn)輸條件下,對(duì)其運(yùn)輸過程的溫度進(jìn)行跟蹤監(jiān)測(cè),每小時(shí)取一個(gè)溫度值,做其單值控制圖,并進(jìn)行質(zhì)量分析。選擇:統(tǒng)計(jì)>控制圖>單值的變量控制圖>單值。在變量中,輸入溫度。單擊單值控制圖選項(xiàng),然后單擊階段選項(xiàng)卡,輸入外部環(huán)境單擊S限制選項(xiàng)卡,輸入顯示控制限在標(biāo)準(zhǔn)差的倍數(shù):6單擊存儲(chǔ)選項(xiàng)卡,選擇均值和標(biāo)準(zhǔn)差。單擊檢驗(yàn)選項(xiàng)卡,執(zhí)行選定的特殊原因檢驗(yàn)。單擊確定p33單值控制圖-繪制與分析出荷到CLI的制品,在干冰運(yùn)輸條件下,輸出結(jié)果分析:檢驗(yàn)1。1個(gè)點(diǎn),距離中心線超過6.00個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差。檢驗(yàn)出下列點(diǎn)不合格:1,27,49,75,76,117,118。單值控制圖-繪制與分析單值控制圖顯示控制限制范圍之外有7個(gè)點(diǎn),這7個(gè)點(diǎn)基本都處于運(yùn)輸箱轉(zhuǎn)移到下一運(yùn)輸線時(shí)。p34輸出結(jié)果分析:單值控制圖-繪制與分析單值控制圖顯示控制限制范均值Xbar控制圖-制作與分析X控制圖子組平均值的控制圖。使用X控制圖可以跟蹤過程水平并檢測(cè)是否存在特殊原因。默認(rèn)情況下,Minitab的X控制圖使用合并標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)過程變異σ。合并標(biāo)準(zhǔn)差是所有數(shù)據(jù)點(diǎn)在其組平均值(不是總體平均值)附近的平均展開幅度。它是每個(gè)組的標(biāo)準(zhǔn)差的加權(quán)平均值。加權(quán)使更大組對(duì)總體估計(jì)值產(chǎn)生更大比例的影響。例如,您的研究有以下四個(gè)組:
組平均值標(biāo)準(zhǔn)差N
1
9.7
2.5
50
2
12.1
2.9
50
3
14.5
3.2
50
4
17.3
6.8
200合并標(biāo)準(zhǔn)差=5.486p35均值Xbar控制圖-制作與分析X控制圖合并標(biāo)準(zhǔn)差是所有均值Xbar控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析:數(shù)據(jù)分為8組,每組包含9-13個(gè)數(shù)據(jù),利用子組均值Xbar控制圖檢測(cè)分注過程是否穩(wěn)定。操作步驟:1
選擇統(tǒng)計(jì)>控制圖>子組的變量控制圖>Xbar。2
選擇圖表的所有觀測(cè)值均在一列中,然后輸入分注體積。3
在子組大小中,輸入分組。4單擊存儲(chǔ)選項(xiàng)卡,選擇均值和標(biāo)準(zhǔn)差。5
單擊Xbar選項(xiàng),然后單擊檢驗(yàn)選項(xiàng)卡。6
選擇執(zhí)行所有的特殊原因檢驗(yàn)。7
單擊S限制選項(xiàng)卡。8
在顯示控制限在下的標(biāo)準(zhǔn)差的這些倍數(shù)中輸入3。在每個(gè)對(duì)話框中單擊確定。p36均值Xbar控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)均值Xbar控制圖-制作與分析檢測(cè)結(jié)果檢驗(yàn)8.行內(nèi)連續(xù)8點(diǎn)距離中心線超過1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差(中心線的上方和下方)檢驗(yàn)出下列點(diǎn)不合格:8p37均值Xbar控制圖-制作與分析檢測(cè)結(jié)果p37極差R控制圖和標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖子組極差的控制圖。使用R控制圖可以跟蹤過程變異并檢測(cè)是否存在特殊原因。R控制圖通常用于跟蹤大小為8或更小的樣本的過程變異。默認(rèn)情況下,R控制圖根據(jù)子組極差的平均值來估計(jì)過程變異σ。您還可以使用合并標(biāo)準(zhǔn)差,或輸入σ的歷史值。子組標(biāo)準(zhǔn)差的控制圖。使用S控制圖可以跟蹤過程變異并檢測(cè)是否存在特殊原因。S控制圖通常用于跟蹤大小為9或更大的樣本的過程變異。默認(rèn)情況下,S控制圖根據(jù)子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值來估計(jì)過程變異σ。您還可以使用合并標(biāo)準(zhǔn)差,或輸入σ
的歷史值。p38極差R控制圖和標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖子組極差的控制圖。使用R控標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析:數(shù)據(jù)分為8組,每組包含9-13個(gè)數(shù)據(jù),檢測(cè)過程是否變異。由于每組含9-13個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù),所以使用S控制圖,每組的測(cè)量次數(shù)有所不同,因此數(shù)據(jù)中的子組大小不等,要使用合并標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)σ。1
選擇統(tǒng)計(jì)>控制圖>子組的變量控制圖>S。2
選擇圖表的所有觀測(cè)值均在一列中,然后輸入體積。3
在子組大小中,輸入分組。5
在每個(gè)對(duì)話框中單擊確定。p39標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖-制作與分析解釋結(jié)果檢驗(yàn)1。1個(gè)點(diǎn),距離中心線超過3.00個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差。檢驗(yàn)出下列點(diǎn)不合格:6,7p40標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖-制作與分析解釋結(jié)果p40Xbar-R控制圖-Xbar-S控制圖在同一個(gè)圖形窗口中顯示子組平均值控制圖(Xbar控制圖)和子組極差控制圖(R控制圖)。Xbar控制圖繪制在屏幕的上半部分,R控制圖繪制在下半部分。通過同時(shí)查看這兩個(gè)控制圖,可以同時(shí)跟蹤過程水平和過程變異,以及檢測(cè)是否存在特殊原因。Xbar和R控制圖通常用于跟蹤大小為8或更小的樣本的過程水平和過程變異,而Xbar和S控制圖用于較大的樣本。默認(rèn)情況下,Xbar-R控制圖根據(jù)子組極差的平均值來估計(jì)過程變異σ。您還可以使用合并標(biāo)準(zhǔn)差,或輸入σ的歷史值。在同一個(gè)圖形窗口中顯示子組平均值控制圖(Xbar控制圖)和子組標(biāo)準(zhǔn)差控制圖(S控制圖)。Xbar控制圖繪制在屏幕的上半部分,S控制圖繪制在下半部分。通過同時(shí)查看這兩個(gè)控制圖,可以同時(shí)跟蹤過程水平和過程變異,以及檢測(cè)是否存在特殊原因。默認(rèn)情況下,Xbar-S控制圖根據(jù)子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值來估計(jì)過程變異σ。您還可以使用合并標(biāo)準(zhǔn)差,或輸入σ的歷史值。p41Xbar-R控制圖-Xbar-S控制圖在同一個(gè)圖形窗口中顯示Xbar-S控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析:數(shù)據(jù)分為8組,每組包含9-13個(gè)數(shù)據(jù),檢測(cè)過程是否變異。由于每組含9-13個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù),所以使用Xbar-S控制圖,每組的測(cè)量次數(shù)有所不同,因此數(shù)據(jù)中的子組大小不等,要使用合并標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)σ。1
選擇統(tǒng)計(jì)>控制圖>子組的變量控制圖>Xbar-S。2
選擇圖表的所有觀測(cè)值均在一列中,然后輸入分注體積。3
在子組大小中,輸入
分注者。單擊確定。4在Xbar-S選項(xiàng)中估計(jì)選項(xiàng)卡中選擇合并標(biāo)準(zhǔn)差p42Xbar-S控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)Xbar-S控制圖-制作與分析解釋結(jié)果由S控制圖檢測(cè)出第6、7組分注體積的標(biāo)準(zhǔn)差落于控制限制范圍外。雖然Xbar控制圖中6、7組分注體積平均值落于控制限制范圍內(nèi),但是S控制圖不受控,所以Xbar控制圖的控制限制就不準(zhǔn)確了。p43Xbar-S控制圖-制作與分析解釋結(jié)果p43屬性控制圖屬性控制圖結(jié)構(gòu)上類似于變量控制圖,只不過它們是根據(jù)計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)而不是測(cè)量數(shù)據(jù)繪制統(tǒng)計(jì)圖。例如,可將產(chǎn)品與標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較,并將其歸類為有缺陷產(chǎn)品或無缺陷產(chǎn)品。也可以根據(jù)產(chǎn)品的缺陷數(shù)為產(chǎn)品歸類。缺陷品控制圖您可以將產(chǎn)品與標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較,并將其歸類為有缺陷產(chǎn)品或無缺陷產(chǎn)品。缺陷品控制圖有:
P控制圖,該控制圖繪制每個(gè)子組中缺陷品的比率。
NP控制圖,該控制圖繪制每個(gè)子組中缺陷品的數(shù)量。缺陷控制圖如果產(chǎn)品非常復(fù)雜,則某一缺陷并不一定會(huì)導(dǎo)致缺陷產(chǎn)品。根據(jù)產(chǎn)品的缺陷數(shù)將產(chǎn)品歸類有時(shí)會(huì)更加方便。缺陷控制圖有:
C控制圖,該控制圖繪制每個(gè)子組中的缺陷數(shù)。當(dāng)子組大小固定時(shí),請(qǐng)使用C控制圖。
U控制圖,該控制圖繪制在每個(gè)子組中抽取的每單位樣本的缺陷數(shù)。當(dāng)子組大小不固定時(shí),請(qǐng)使用U控制圖。p44屬性控制圖屬性控制圖結(jié)構(gòu)上類似于變量控制圖,只不過它們是根據(jù)屬性控制圖屬性控制圖控制界限計(jì)算p
圖n)p-(1p3
p±np
圖
)p-(1pn3
pn±c
圖c3
c±u
圖
au3
u±p45屬性控制圖屬性控制圖控制界限計(jì)算p圖n)p-(1p3pP控制圖-制作與分析對(duì)2010年出荷到CLI的制品按claim
kit
rate制作控制圖,觀察每個(gè)月的claim
rate,以監(jiān)測(cè)質(zhì)量控制是否穩(wěn)定。1
選擇統(tǒng)計(jì)>控制圖>屬性控制圖>P。3
在變量中,輸入ClaimkitQty。4
在子組大小中,輸入QtyofKitShipped。單擊確定。P控制圖跟蹤缺陷品比率并檢測(cè)是否存在特殊原因。p46P控制圖-制作與分析對(duì)2010年出荷到CLI的制品按claiP控制圖-制作與分析檢驗(yàn)1。1個(gè)點(diǎn),距離中心線超過3.00個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差。檢驗(yàn)出下列點(diǎn)不合格:10解釋結(jié)果10月份claim
rate超出控制上限。p47P控制圖-制作與分析檢驗(yàn)1。1個(gè)點(diǎn),距離中心線超過3.C控制圖-制作與分析C控制圖跟蹤缺陷數(shù)并檢測(cè)是否存在特殊原因。指定列中的每個(gè)條目都包含一個(gè)子組的缺陷數(shù)。假定您供職于一家亞麻制品廠。每100平方碼的織物可以有一定數(shù)量的瑕疵,超過該數(shù)量,便會(huì)被拒收。為了保證質(zhì)量,您需要在若干天時(shí)間內(nèi)跟蹤每100平方碼織物的瑕疵數(shù),以便弄清楚生產(chǎn)過程是否按預(yù)期運(yùn)行。您希望控制圖在中心線上下1、2和3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差處顯示控制限制。1
打開工作表“質(zhì)量控制示例.MTW”。2
選擇統(tǒng)計(jì)>控制圖>屬性控制圖>C。3
在變量中,輸入污點(diǎn)。4
單擊C控制圖選項(xiàng),然后單擊S限制選項(xiàng)卡。5
在顯示控制限在下的標(biāo)準(zhǔn)差的這些倍數(shù)中輸入123。6
在設(shè)置控制限邊界下,選中控制限下界并輸入0。7
在每個(gè)對(duì)話框中單擊確定。p48C控制圖-制作與分析C控制圖跟蹤缺陷數(shù)并檢測(cè)是否存在特殊原因C控制圖-制作與分析解釋結(jié)果因?yàn)辄c(diǎn)落在隨機(jī)圖案內(nèi),且位于3σ
控制限制的邊界內(nèi),所以您推斷過程按預(yù)期運(yùn)行并且受控制。p49C控制圖-制作與分析解釋結(jié)果p49選擇控制圖個(gè)別點(diǎn)界限看起來是否合適?嘗試變換是數(shù)據(jù)成正態(tài)界限看起來是否合適?嘗試單值控制圖P圖np圖u圖c圖Xbar圖,R圖Xbar圖,S圖單值圖、MR相等的樣本大小?具有某種屬性的項(xiàng)目相等的機(jī)會(huì)?事件發(fā)生次數(shù)子組大???開始數(shù)據(jù)類型?計(jì)算具有屬性的項(xiàng)目或計(jì)算事件發(fā)生次數(shù)?計(jì)數(shù)型個(gè)別點(diǎn)或子組測(cè)量?計(jì)值型子組否是否是≤8≥9是是否否p50選擇控制圖個(gè)別點(diǎn)界限看起來是否合適?嘗試變換是數(shù)據(jù)成正態(tài)界限矩陣數(shù)據(jù)分析法p51通過創(chuàng)建一個(gè)散點(diǎn)圖陣列來同時(shí)評(píng)估許多變量對(duì)之間的關(guān)系。圖的矩陣每個(gè)Y與每個(gè)X這種矩陣最多接受20個(gè)變量,為每個(gè)可能的組合創(chuàng)建一個(gè)圖。如果有很多變量,并且希望查看變量對(duì)之間的關(guān)系,則使用圖的矩陣會(huì)很有效。有時(shí)稱為窗格圖或窗扉顯示,這種矩陣接受Y和X軸變量,然后為每個(gè)可能的XY組合創(chuàng)建一個(gè)圖。如果您只關(guān)注特定變量對(duì)之間的關(guān)系,則這種類型的矩陣會(huì)很有效。矩陣數(shù)據(jù)分析法p51通過創(chuàng)建一個(gè)散點(diǎn)圖陣列來同時(shí)評(píng)估許多變量矩陣數(shù)據(jù)分析法以SGS講師提供的案例為例進(jìn)行說明。1
選擇圖形>矩陣圖>圖的矩陣>包含平滑期2
在對(duì)話框的圖形變量中輸入
文件、管理、質(zhì)量和技術(shù)。3
矩陣選項(xiàng)里,確定矩陣顯示和變量標(biāo)簽位置。5
單擊確定,輸出圖形。矩陣數(shù)據(jù)分析法以SGS講師提供的案例為例進(jìn)行說明。謝謝!培訓(xùn)資料保存在:\\tbd-s04\SharedTBD-S04\CLI_Project_Paper\QA\record_maitain_QA\140-部門培訓(xùn)記錄example\部門其他培訓(xùn)-example\QA\QC七工具謝謝!培訓(xùn)資料保存在:\\tbd-s04\SharedTBDMinitab15的使用QC7工具常用圖形的制作p542010-10-27Minitab15的使用QC7工具常用圖形的制作p1CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitab界面和基本操作介紹2Minitab用于QC7工具常用圖形的制作3CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitp56Minitab介紹Minitab是眾多統(tǒng)計(jì)軟件當(dāng)中比較簡單易懂的軟件之一;相對(duì)來講,Minitab在質(zhì)量管理方面的應(yīng)用是比較適合的;Minitab的功能齊全,一般的數(shù)據(jù)分析和圖形處理都可以應(yīng)付自如。p3Minitab介紹Minitab是眾多統(tǒng)計(jì)軟件當(dāng)中比較簡p57Minitab的功能計(jì)算功能計(jì)算器功能生成數(shù)據(jù)功能概率分布功能矩陣運(yùn)算數(shù)據(jù)分析功能基本統(tǒng)計(jì)回歸分析方差分析實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)分析控制圖質(zhì)量工具可靠度分析多變量分析基本統(tǒng)計(jì)時(shí)間序列列聯(lián)表非參數(shù)估計(jì)EDA概率與樣本容量圖形分析直方圖散布圖時(shí)間序列圖條形圖餅圖邊際圖概率圖莖葉圖特征圖箱圖矩陣圖輪廓圖三維圖點(diǎn)圖p4Minitab的功能計(jì)算功能數(shù)據(jù)分析功能多變量分析圖形分CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitab界面和基本操作介紹2Minitab用于QC7工具常用圖形的制作3CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitp59Minitab界面工作表:輸入數(shù)據(jù)的窗口每一列的名字可以寫在最前面的列每一列的數(shù)據(jù)性質(zhì)是一致的主菜單會(huì)話:分析結(jié)果輸出窗口p6Minitab界面工作表:主菜單會(huì)話:同一時(shí)間只能激活一個(gè)窗口.每一個(gè)窗口可以單獨(dú)儲(chǔ)存.p60Minitab界面不同的要求選擇不同的保存命令同一時(shí)間只能激活一個(gè)窗口.每一個(gè)窗口可以單獨(dú)儲(chǔ)存.p7Minp61數(shù)據(jù)類型的轉(zhuǎn)換(ChangeDataType)Select:數(shù)據(jù)>更改數(shù)據(jù)類型>需要轉(zhuǎn)換的列轉(zhuǎn)換后數(shù)據(jù)存放列,可以是原來的數(shù)據(jù)列p8數(shù)據(jù)類型的轉(zhuǎn)換(ChangeDataType)Selp62數(shù)據(jù)的堆疊(Stack&Unstack)輸入需要堆積的列,如果由前后順序,按前后順序進(jìn)行輸入輸入堆積后存放列的位置注解可以用來區(qū)分?jǐn)?shù)據(jù)的來源原始數(shù)據(jù)堆疊數(shù)據(jù)Select:數(shù)據(jù)>堆疊>列/行p9數(shù)據(jù)的堆疊(Stack&Unstack)輸入需要堆積的列p63數(shù)據(jù)塊的堆疊(StackBlocks)原始數(shù)據(jù)在對(duì)話框中輸入2~5列數(shù)據(jù),及注解列輸入新工作表或注解的位置輸出數(shù)據(jù)
Select:數(shù)據(jù)>堆疊>列的區(qū)組p10數(shù)據(jù)塊的堆疊(StackBlocks)原始數(shù)據(jù)在對(duì)話原始數(shù)據(jù)p64轉(zhuǎn)置欄(TransposeColumns)輸入需要轉(zhuǎn)置的列輸入新工作表的位置可以輸入注解列
Select:數(shù)據(jù)>轉(zhuǎn)置列輸出數(shù)據(jù)原始數(shù)據(jù)p11轉(zhuǎn)置欄(TransposeColumns)輸p65合并(Concatenate)輸入需要連接的數(shù)據(jù)列輸入新數(shù)據(jù)列的位置原始數(shù)據(jù)輸出數(shù)據(jù)
Select:數(shù)據(jù)>合并p12合并(Concatenate)輸入需要連接的數(shù)據(jù)列輸入p66編碼(Code)原始數(shù)據(jù)編碼規(guī)則被編碼的變量
Select:數(shù)據(jù)>編碼>輸出數(shù)據(jù)p13編碼(Code)原始數(shù)據(jù)編碼規(guī)則被編碼的變量SeleCONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitab界面和基本操作介紹2Minitab用于QC7工具常用圖形的制作3CONTENTSMinitab軟件和基本功能簡介1Minitp68QC新舊七工具常用的圖形如下特性要因圖柏拉圖散布圖直方圖控制圖層別圖查檢表關(guān)聯(lián)圖系統(tǒng)圖親和圖矩陣圖PDPC法箭條圖矩陣數(shù)據(jù)解析法QC舊七工具QC新七工具p15QC新舊七工具常用的圖形如下特性要因圖關(guān)聯(lián)圖QC舊七工p69例子操作人員設(shè)備物料方法環(huán)境信息管理者能源/資源精制操作錯(cuò)誤收集器試劑精制流程不合理空氣結(jié)凈度不達(dá)標(biāo)參考文獻(xiàn)過于陳舊工作安排不合理突然停電新員工冰箱菌體保存緩沖液不合理低溫室溫度異常SOP不完備資料讀取不足突然停水樹脂保存條件不合理指示錯(cuò)誤特性要因圖為何某酶的活性異常p16例子操作人員設(shè)備物料方法環(huán)境信息管理者能源/資源精制操p70輸入表中Select:統(tǒng)計(jì)>質(zhì)量工具>因果圖注意輸入格式特性要因圖p17輸入表中Select:統(tǒng)計(jì)>質(zhì)量工具>因p71填好各項(xiàng)需要的參數(shù)特性要因圖p18填好各項(xiàng)需要的參數(shù)特性要因圖p72結(jié)果輸出特性要因圖p19結(jié)果輸出特性要因圖p73例子項(xiàng)次NC類型NC數(shù)量1VendorError92PackagingError43QCFailure34LabelError25AliquotingError26ExpirationDate27ImproperHandling2柏拉圖2010年NC發(fā)生類型分析p20例子項(xiàng)次NC類型NC數(shù)量1VendorError92p74輸入數(shù)據(jù)Select:統(tǒng)計(jì)>質(zhì)量工具>Pareto圖柏拉圖p21輸入數(shù)據(jù)Select:統(tǒng)計(jì)>質(zhì)量工具>Pp75填好各項(xiàng)參數(shù)可以對(duì)柏拉圖進(jìn)行命名輸入缺陷列輸入頻數(shù)列其他項(xiàng)所占的比率柏拉圖p22填好各項(xiàng)參數(shù)可以對(duì)柏拉圖進(jìn)行命名輸入缺陷列輸入頻數(shù)列其p76結(jié)果輸出柏拉圖p23結(jié)果輸出柏拉圖p77例子YX65800668106582066830678406785068860688706789068900散布圖p24例子YX65800668106582066830678p78輸入數(shù)據(jù)Select:圖形>散點(diǎn)圖散布圖p25輸入數(shù)據(jù)Select:圖形>散點(diǎn)圖散布圖p79輸入?yún)?shù)散布圖p26輸入?yún)?shù)散布圖p80輸出圖形可以用直接方式判定,有正相關(guān)的傾向。更詳細(xì)的說明可以參見回歸分析散布圖p27輸出圖形可以用直接方式判定,有正相關(guān)的傾向。散布圖p81例子Select:圖形>直方圖直方圖p28例子Select:圖形>直方圖直方圖p82填入?yún)?shù)可以同時(shí)為幾個(gè)變量作直方圖直方圖p29填入?yún)?shù)可以同時(shí)為幾個(gè)直方圖p83結(jié)果輸出請(qǐng)依照QC7的方法來進(jìn)行圖形分析和判定更深入的分析可以參見制程能力分析部份。直方圖創(chuàng)建直方圖后,可以使用選擇條形>編輯條形>區(qū)間來自定義區(qū)間的數(shù)量和位置。p30結(jié)果輸出請(qǐng)依照QC7的方法來進(jìn)行圖形分析和判定直方圖控制圖分類
控制圖類型功能標(biāo)準(zhǔn)差σ估算方法(默認(rèn))計(jì)量值控制圖單值變量控制圖單值控制圖I控制圖跟蹤過程水平移動(dòng)極差的平均值來估計(jì)σ移動(dòng)極差控制圖MR控制圖跟蹤過程變異移動(dòng)極差的平均值來估計(jì)σ單值-移動(dòng)極差控制圖I-MR控制圖同時(shí)跟蹤過程水平和過程變異移動(dòng)極差的平均值來估計(jì)σ子組變量控制圖子組平均值控制圖Xbar控制圖跟蹤過程水平使用合并標(biāo)準(zhǔn)差來估計(jì)σ子組極差控制圖R控制圖跟蹤大小為8或更小的樣本的過程變異根據(jù)子組極差的平均值來估計(jì)σ子組標(biāo)準(zhǔn)差控制圖S控制圖跟蹤大小為9或更大的樣本的過程變異根據(jù)子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值來估計(jì)σ子組平均值-極差控制圖Xbar-R控制圖同時(shí)跟蹤大小為8或更小的樣本過程水平和過程變異子組極差的平均值來估計(jì)σ子組平均值-標(biāo)準(zhǔn)差控制圖Xbar-S控制圖同時(shí)跟蹤大小為9或更大的樣本過程水平和過程變異根據(jù)子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值來估計(jì)σ計(jì)數(shù)值控制圖
不合格率控制圖P控制圖監(jiān)測(cè)每個(gè)子組中的不合格率
不合格品數(shù)控制圖C控制圖監(jiān)測(cè)每個(gè)子組中的不合格品數(shù)
p84控制圖分類控制圖類型功能標(biāo)準(zhǔn)差σ估單值控制圖單值控制圖標(biāo)繪變量數(shù)據(jù)在一段時(shí)間內(nèi)的單個(gè)觀測(cè)值。使用此控制圖可以在難以或不可能將測(cè)量值分成子組時(shí)監(jiān)控過程中心。這種情況通常在測(cè)量費(fèi)用高昂、生產(chǎn)量偏低或產(chǎn)品生產(chǎn)周期很長時(shí)發(fā)生。單值控制圖也稱為I控制圖。使用單值控制圖來跟蹤過程水平并檢測(cè)是否存在特殊原因。單值控制圖使用移動(dòng)極差的平均值來估計(jì)過程變異σ(標(biāo)準(zhǔn)差)。標(biāo)準(zhǔn)差是一組數(shù)據(jù)平均值分散程度的一種度量。一個(gè)較大的標(biāo)準(zhǔn)差,代表大部分?jǐn)?shù)值和其平均值之間差異較大;一個(gè)較小的標(biāo)準(zhǔn)差,代表這些數(shù)值較接近平均值。標(biāo)準(zhǔn)差公式:p85單值控制圖單值控制圖標(biāo)準(zhǔn)差是一組數(shù)據(jù)平均值分散程度的一種度量單值控制圖-繪制與分析出荷到CLI的制品,在干冰運(yùn)輸條件下,對(duì)其運(yùn)輸過程的溫度進(jìn)行跟蹤監(jiān)測(cè),每小時(shí)取一個(gè)溫度值,做其單值控制圖,并進(jìn)行質(zhì)量分析。選擇:統(tǒng)計(jì)>控制圖>單值的變量控制圖>單值。在變量中,輸入溫度。單擊單值控制圖選項(xiàng),然后單擊階段選項(xiàng)卡,輸入外部環(huán)境單擊S限制選項(xiàng)卡,輸入顯示控制限在標(biāo)準(zhǔn)差的倍數(shù):6單擊存儲(chǔ)選項(xiàng)卡,選擇均值和標(biāo)準(zhǔn)差。單擊檢驗(yàn)選項(xiàng)卡,執(zhí)行選定的特殊原因檢驗(yàn)。單擊確定p86單值控制圖-繪制與分析出荷到CLI的制品,在干冰運(yùn)輸條件下,輸出結(jié)果分析:檢驗(yàn)1。1個(gè)點(diǎn),距離中心線超過6.00個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差。檢驗(yàn)出下列點(diǎn)不合格:1,27,49,75,76,117,118。單值控制圖-繪制與分析單值控制圖顯示控制限制范圍之外有7個(gè)點(diǎn),這7個(gè)點(diǎn)基本都處于運(yùn)輸箱轉(zhuǎn)移到下一運(yùn)輸線時(shí)。p87輸出結(jié)果分析:單值控制圖-繪制與分析單值控制圖顯示控制限制范均值Xbar控制圖-制作與分析X控制圖子組平均值的控制圖。使用X控制圖可以跟蹤過程水平并檢測(cè)是否存在特殊原因。默認(rèn)情況下,Minitab的X控制圖使用合并標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)過程變異σ。合并標(biāo)準(zhǔn)差是所有數(shù)據(jù)點(diǎn)在其組平均值(不是總體平均值)附近的平均展開幅度。它是每個(gè)組的標(biāo)準(zhǔn)差的加權(quán)平均值。加權(quán)使更大組對(duì)總體估計(jì)值產(chǎn)生更大比例的影響。例如,您的研究有以下四個(gè)組:
組平均值標(biāo)準(zhǔn)差N
1
9.7
2.5
50
2
12.1
2.9
50
3
14.5
3.2
50
4
17.3
6.8
200合并標(biāo)準(zhǔn)差=5.486p88均值Xbar控制圖-制作與分析X控制圖合并標(biāo)準(zhǔn)差是所有均值Xbar控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析:數(shù)據(jù)分為8組,每組包含9-13個(gè)數(shù)據(jù),利用子組均值Xbar控制圖檢測(cè)分注過程是否穩(wěn)定。操作步驟:1
選擇統(tǒng)計(jì)>控制圖>子組的變量控制圖>Xbar。2
選擇圖表的所有觀測(cè)值均在一列中,然后輸入分注體積。3
在子組大小中,輸入分組。4單擊存儲(chǔ)選項(xiàng)卡,選擇均值和標(biāo)準(zhǔn)差。5
單擊Xbar選項(xiàng),然后單擊檢驗(yàn)選項(xiàng)卡。6
選擇執(zhí)行所有的特殊原因檢驗(yàn)。7
單擊S限制選項(xiàng)卡。8
在顯示控制限在下的標(biāo)準(zhǔn)差的這些倍數(shù)中輸入3。在每個(gè)對(duì)話框中單擊確定。p89均值Xbar控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)均值Xbar控制圖-制作與分析檢測(cè)結(jié)果檢驗(yàn)8.行內(nèi)連續(xù)8點(diǎn)距離中心線超過1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差(中心線的上方和下方)檢驗(yàn)出下列點(diǎn)不合格:8p90均值Xbar控制圖-制作與分析檢測(cè)結(jié)果p37極差R控制圖和標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖子組極差的控制圖。使用R控制圖可以跟蹤過程變異并檢測(cè)是否存在特殊原因。R控制圖通常用于跟蹤大小為8或更小的樣本的過程變異。默認(rèn)情況下,R控制圖根據(jù)子組極差的平均值來估計(jì)過程變異σ。您還可以使用合并標(biāo)準(zhǔn)差,或輸入σ的歷史值。子組標(biāo)準(zhǔn)差的控制圖。使用S控制圖可以跟蹤過程變異并檢測(cè)是否存在特殊原因。S控制圖通常用于跟蹤大小為9或更大的樣本的過程變異。默認(rèn)情況下,S控制圖根據(jù)子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值來估計(jì)過程變異σ。您還可以使用合并標(biāo)準(zhǔn)差,或輸入σ
的歷史值。p91極差R控制圖和標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖子組極差的控制圖。使用R控標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析:數(shù)據(jù)分為8組,每組包含9-13個(gè)數(shù)據(jù),檢測(cè)過程是否變異。由于每組含9-13個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù),所以使用S控制圖,每組的測(cè)量次數(shù)有所不同,因此數(shù)據(jù)中的子組大小不等,要使用合并標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)σ。1
選擇統(tǒng)計(jì)>控制圖>子組的變量控制圖>S。2
選擇圖表的所有觀測(cè)值均在一列中,然后輸入體積。3
在子組大小中,輸入分組。5
在每個(gè)對(duì)話框中單擊確定。p92標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖-制作與分析解釋結(jié)果檢驗(yàn)1。1個(gè)點(diǎn),距離中心線超過3.00個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差。檢驗(yàn)出下列點(diǎn)不合格:6,7p93標(biāo)準(zhǔn)差S控制圖-制作與分析解釋結(jié)果p40Xbar-R控制圖-Xbar-S控制圖在同一個(gè)圖形窗口中顯示子組平均值控制圖(Xbar控制圖)和子組極差控制圖(R控制圖)。Xbar控制圖繪制在屏幕的上半部分,R控制圖繪制在下半部分。通過同時(shí)查看這兩個(gè)控制圖,可以同時(shí)跟蹤過程水平和過程變異,以及檢測(cè)是否存在特殊原因。Xbar和R控制圖通常用于跟蹤大小為8或更小的樣本的過程水平和過程變異,而Xbar和S控制圖用于較大的樣本。默認(rèn)情況下,Xbar-R控制圖根據(jù)子組極差的平均值來估計(jì)過程變異σ。您還可以使用合并標(biāo)準(zhǔn)差,或輸入σ的歷史值。在同一個(gè)圖形窗口中顯示子組平均值控制圖(Xbar控制圖)和子組標(biāo)準(zhǔn)差控制圖(S控制圖)。Xbar控制圖繪制在屏幕的上半部分,S控制圖繪制在下半部分。通過同時(shí)查看這兩個(gè)控制圖,可以同時(shí)跟蹤過程水平和過程變異,以及檢測(cè)是否存在特殊原因。默認(rèn)情況下,Xbar-S控制圖根據(jù)子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值來估計(jì)過程變異σ。您還可以使用合并標(biāo)準(zhǔn)差,或輸入σ的歷史值。p94Xbar-R控制圖-Xbar-S控制圖在同一個(gè)圖形窗口中顯示Xbar-S控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析:數(shù)據(jù)分為8組,每組包含9-13個(gè)數(shù)據(jù),檢測(cè)過程是否變異。由于每組含9-13個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù),所以使用Xbar-S控制圖,每組的測(cè)量次數(shù)有所不同,因此數(shù)據(jù)中的子組大小不等,要使用合并標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)σ。1
選擇統(tǒng)計(jì)>控制圖>子組的變量控制圖>Xbar-S。2
選擇圖表的所有觀測(cè)值均在一列中,然后輸入分注體積。3
在子組大小中,輸入
分注者。單擊確定。4在Xbar-S選項(xiàng)中估計(jì)選項(xiàng)卡中選擇合并標(biāo)準(zhǔn)差p95Xbar-S控制圖-制作與分析對(duì)業(yè)務(wù)部分注體積檢測(cè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)Xbar-S控制圖-制作與分析解釋結(jié)果由S控制圖檢測(cè)出第6、7組分注體積的標(biāo)準(zhǔn)差落于控制限制范圍外。雖然Xbar控制圖中6、7組分注體積平均值落于控制限制范圍內(nèi),但是S控制圖不受控,所以Xbar控制圖的控制限制就不準(zhǔn)確了。p96Xbar-S控制圖-制作與分析解釋結(jié)果p43屬性控制圖屬性控制圖結(jié)構(gòu)上類似于變量控制圖,只不過它們是根據(jù)計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)而不是測(cè)量數(shù)據(jù)繪制統(tǒng)計(jì)圖。例如,可將產(chǎn)品與標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較,并將其歸類為有缺陷產(chǎn)品或無缺陷產(chǎn)品。也可以根據(jù)產(chǎn)品的缺陷數(shù)為產(chǎn)品歸類。缺陷品控制圖您可以將產(chǎn)品與標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較,并將其歸類為有缺陷產(chǎn)品或無缺陷產(chǎn)品。缺陷品控制圖有:
P控制圖,該控制圖繪制每個(gè)子組中缺陷品的比率。
NP控制圖,該控制圖繪制每個(gè)子組中缺陷品的數(shù)量。缺陷控制圖如果產(chǎn)品非常復(fù)雜,則某一缺陷并不一定會(huì)導(dǎo)致缺陷產(chǎn)品。根據(jù)產(chǎn)品的缺陷數(shù)將產(chǎn)品歸類有時(shí)會(huì)更加方便。缺陷控制圖有:
C控制圖,該控制圖繪制每個(gè)子組中的缺陷數(shù)。當(dāng)子組大小固定時(shí),請(qǐng)使用C控制圖。
U控制圖,該控制圖繪制在每個(gè)子組中抽取的每單位樣本的缺陷數(shù)。當(dāng)子組大小不固定時(shí),請(qǐng)使用U控制圖。p97屬性控制圖屬性控制圖結(jié)構(gòu)上類似于變量控制圖,只不過它們是根據(jù)屬性控制圖屬性控制圖控制界限計(jì)算p
圖n)p-(1p3
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