SSC統(tǒng)計過程控制培訓

統(tǒng)計過程控制SPC2015.12.031課程目的1、了解SPC是個什麼東西。2、學習(復習)與SPC相關(guān)的基礎知識。3、初步認識我們在用的兩張表(A、過程能力分析報告。B、X-R日常制程管制圖。)2課程大綱12345統(tǒng)計過程控制概述基本統(tǒng)計術(shù)語正態(tài)分佈控制圖製作分析控制圖6製程能力指數(shù)(CPK)3統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC一、統(tǒng)計過程控制概述4什麼是統(tǒng)計學？《中國大百科全書》:統(tǒng)計學是一門社會科學《大英百科全書》:統(tǒng)計學是根據(jù)數(shù)據(jù)進行推斷的藝術(shù)和科學5何謂『統(tǒng)計』？統(tǒng)計

---收集的數(shù)據(jù)經(jīng)過計算從而得到有意義的情報的活動

何謂『有意義的情報』？

至少應包括：

『集中趨勢+離中趨勢+含蓋在特定範圍內(nèi)的機率』

6概念統(tǒng)計過程控制（簡稱SPC)是應用統(tǒng)計技術(shù)對過程中的各個階段進行評估和監(jiān)控，建立並保持過程處於可接受的且穩(wěn)定的水準，從而保證產(chǎn)品與服務符合規(guī)定的要求的一種質(zhì)量管理技術(shù)。它是過程控制的一部分,從內(nèi)容上說主要是有兩個方面:一、是利用控制圖分析過程的穩(wěn)定性,對過程存在的異常因素進行預警。二、是計算過程能力指數(shù)分析穩(wěn)定的過程能力滿足技術(shù)要求的程度,對過程品質(zhì)進行評價。7特點

它是一種預防性方法；強調(diào)全員參與；強調(diào)整個過程，重點在於P（Process）,即過程。作用1.確保制程持續(xù)穩(wěn)定、可預測。2.提高產(chǎn)品品質(zhì)、生產(chǎn)能力、降低成本。3.為制程分析提供依據(jù)。4.區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為採取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)採取措施的指南。8變差是什麼？在一個程式的個別專案/輸出之間的不可避免的不同(可分普通和特殊原因)變差的例子你的操作有變化機器有變化你的儀器有變化產(chǎn)品的品質(zhì)特性有變化9變差的起源……測量Measurement變差人力Manpower環(huán)境Mother-natured機械Machine方法Methods物料Material10我們?yōu)闉槭颤N麼實施施SPC?SPC可以以：1）降降低成成本2）降降低不不良率率，減減少返返工和和浪費費3）提提高勞勞動生生產(chǎn)率率4）提提供核核心競競爭力力5）贏贏得廣廣泛客客戶6）更更好地地理解解和實實施品品質(zhì)體體系客戶要要求不要僅僅僅告告訴客客戶你你的程程式/產(chǎn)產(chǎn)品正正在改改良,還要過程數(shù)數(shù)據(jù)表表現(xiàn)客戶稽稽核11統(tǒng)計過過程控控制StatisticalProcessControlSPC二、基本統(tǒng)統(tǒng)計術(shù)術(shù)語12基本統(tǒng)統(tǒng)計術(shù)術(shù)語總體總體是是我們們研究究對象象的全全部,或者全全部數(shù)數(shù)據(jù)，，用N表示。。13樣本樣本是是總體體的一一個子子集,是從總總體中中抽取取的能能代表表母體體特徵徵的一一部份份,對樣本本進行行測量量後得得到的的樣本本數(shù)據(jù)據(jù),用n表示基本統(tǒng)統(tǒng)計術(shù)術(shù)語14基本統(tǒng)統(tǒng)計術(shù)術(shù)語平均值值是總體體或樣樣本所所有數(shù)數(shù)值的的平均均數(shù).總體平平均值值,是用μ表示樣本平平均值值,是用x表示15方差差是數(shù)據(jù)據(jù)與其其平均均值之之間的的差值值的平平方的的平均均值.總體方方差是是用σ2表示樣本方方差是是用S2表示基本統(tǒng)統(tǒng)計術(shù)術(shù)語16標準差差是方差差的正正平方方根,表示了了一組組數(shù)據(jù)據(jù)的分分散程程度。。簡單來來說，，標準準差是是一組組數(shù)據(jù)據(jù)平均均值分分散程程度的的一種種度量量。一一個較較大的的標準準差，，代表表大部部分數(shù)數(shù)值和和其平平均值值之間間差異異較大大；一一個較較小的的標準準差，，代表表這些些數(shù)值值較接接近平平均值值。例如，，兩組組數(shù)的的集合合{0,5,9,14}和和{5,6,8,9}其其平平均值值都是是7，，但第第二個個集合合具有有較小小的標標準差差。標標準差差可以以當作作不確確定性性的一一種測測量。?？傮w標標準差差用σ表示樣本標標準差差用S表示基本統(tǒng)統(tǒng)計術(shù)術(shù)語17基本統(tǒng)統(tǒng)計術(shù)術(shù)語例如，，A、、B兩兩組各各有6位學學生參參加同同一次次語文文測驗驗，A組的的分數(shù)數(shù)為95、、85、75、、65、55、、45，B組的的分數(shù)數(shù)為73、、72、71、、69、68、、67。這這兩組組的平平均數(shù)數(shù)都是是70，但但A組組的標標準差差為18.71分，，B組組的標標準差差為2.37分分，說說明A組學學生之之間的的差距距要比比B組組學生生之間間的差差距大大得多多。18作用總體統(tǒng)計量樣本統(tǒng)計量名稱符號名稱符號表示分佈置總體平均值μ

樣本平均值X樣本中位數(shù)X表示分佈形狀和範圍總體方差σ樣本方差S總體標準差σ

樣本標準差S樣本極差R22基本統(tǒng)統(tǒng)計術(shù)術(shù)語19∑

i=1XiNNμ總體平平均值值總體中中數(shù)據(jù)據(jù)的數(shù)數(shù)量總體中中第i個數(shù)據(jù)據(jù)總體平平均值值計算算20∑

i=1XinnX樣本平平均值值總體中中第i個數(shù)據(jù)據(jù)樣本數(shù)數(shù)量樣本平平均值值的的計計算21練習習給定樣樣本：：10,16,18,20,27,15,14,8.求樣本本平均均值22總體標標準差差總體容容量總體中中第i個數(shù)據(jù)據(jù)總體平平均值值總體標標準差差的計計算σ

∑

i=1N（Xiμ）N223S

X∑

i=1n（Xi）n-12樣本準準差樣本容容量樣本中中第i個數(shù)據(jù)據(jù)樣本平平均值值樣本標標準差差的計計算24練習習給定樣樣本：：10,16,18,20,27,15,14,8.求樣本本標準準差25R=X-Xmaxmin極差樣本中中最大大值值樣本中中最小小值極差的的計算算26極差最直接接也是是最簡簡單的的方法法，即即最大大值－－最小小值（（也就就是極極差））來評評價一一組數(shù)數(shù)據(jù)的的離散散度。。這一一方法法在日日常生生活中中最為為常見見，比比如比比賽中中去掉掉最高高最低低分就就是極極差的的具體體應用用。由於誤誤差的的不可可控性性，因因此只只由兩兩個數(shù)數(shù)據(jù)來來評判判一組組數(shù)據(jù)據(jù)是不不科學學的。。所以以人們們在要要求更更高的的領域域不使使用極極差來來評判判。27練習習給定樣樣本：：10,16,18,20,27,15,14,8.求極差差28三、正態(tài)分分佈統(tǒng)計過過程控控制StatisticalProcessControlSPC29當你測測量了了一定定數(shù)量量的產(chǎn)產(chǎn)品後後，就就會形形成一一條曲線，，這便便是品品質(zhì)特特性X的分佈佈：30什麼是是正態(tài)態(tài)分佈佈?一種用用於計計量型型數(shù)據(jù)據(jù)的,連續(xù)的的,對稱的的鐘型型頻率率分佈佈,它是計計量型型數(shù)據(jù)據(jù)用控控制圖圖的基基礎.當一組組測量量數(shù)據(jù)據(jù)服從從正態(tài)態(tài)分佈佈時,有大約約68.26%的測量量值落落在平平均值值處正正負一一個標標準差差的區(qū)區(qū)間內(nèi)內(nèi),大約95.44%的測量量值將將落在在平均均值處處正負負兩個個標準準差的的區(qū)間間內(nèi);大約99.73%的值將將落在在平均均值處處正負負三個個標準準差的的區(qū)間間內(nèi).31LSLUSL合格品缺陷品缺陷品我們將將正態(tài)態(tài)曲線線和橫橫軸之之間的的面積積看作作1,可以計計算出出上下下規(guī)格格界限限之外外的面面積,該面積積就是是出現(xiàn)現(xiàn)缺陷陷的概概率,如下圖圖:3268.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ標準正態(tài)分佈佈正態(tài)分分佈的的特徵徵：1、中間間高，，兩邊邊低，，左右右對稱稱；兩兩邊伸伸向無無窮遠遠。2、與橫橫坐標標所圍圍成區(qū)區(qū)域的的面積積為1；33規(guī)格範圍

合格概率

缺陷概率+/-168.27%

31.73%+/-295.45%

4.55%+/-399.73%

0.27%+/-499.994%

0.0063%+/-599.99994%

0.000057%+/-699.9999998%

0.000000198%σσσσσσ下表為為不同同的標標準差差值對對應的的合格格概率率和缺缺陷概概率:34如何計計算正正態(tài)分分佈和和“工序西西格瑪瑪Z”?35μUSLLSL超出規(guī)規(guī)范上上限的的缺陷陷率低于規(guī)規(guī)范下下限的的缺陷陷率ZUSL=（USL-μ）/σZLSL=（μ-LSL）/σ查SIGMA水平表表，得得到下下限缺缺陷率率總?cè)毕菹萋?下限缺缺陷率率+上限缺缺陷率率查SIGMA水平計計算表表得到到Z值查SIGMA水平表表，得得到上上限缺缺陷率率雙邊規(guī)規(guī)范限限的Z值計算算法USL-μσUSLZ規(guī)格上上限的的工序序西格格瑪值值平均值值標準差差37LSL-μσLSLZ規(guī)格下下限的的工序序西格格瑪值值平均值值標準差差38從上述述公式式可看看出,工序西西格瑪瑪值是是平均均值與與規(guī)格格上下下限之之間包包括的的標準準差的的數(shù)量量,表示如如下圖圖:LSLUSL1σ1σ1σμ39通過計計算出出的Z值,查正態(tài)態(tài)分佈佈表,即得到到對應應的缺缺陷概概率.練習習某公司司加工工了一一批零零件,其規(guī)格格為50+/-0.10mm,某小組組測量量了50個部品品，計計算出出該尺尺寸的的平均均值和和標準準差X=5.04mm，S=0.032，分別別計算算ZUSL，ZLSL，並求求出相相應的的缺陷陷概率率。40LSLUSLμ+/-3σ+/-4σ+/-5σ過程數(shù)據(jù)分佈標準差σ過程能力西格瑪Zσ=0.10σ=0.07σ=0.05Z=3Z=4Z=5標準差差值與與過程程能力力西格格瑪值值的對對照比比較41正態(tài)分分佈的的位置置與形形狀與與過程程能力力的關(guān)關(guān)係圖圖分佈位位置良良好,但形狀狀太分分散規(guī)格中中心LSLUSLμ(T)42LSLUSLμ分佈位位置及及形狀狀均比比較較理想想(T)規(guī)格中心心正態(tài)分佈佈的位置置與形狀狀與過程程能力的的關(guān)係圖圖43分佈位置置及形狀狀均不理理想LSLUSLμT規(guī)格中心心正態(tài)分佈佈的位置置與形狀狀與過程程能力的的關(guān)係圖圖44LSLUSLμT規(guī)格中心心分佈形狀狀較理想想(分散程度度小),但位置嚴嚴重偏離離正態(tài)分佈佈的位置置與形狀狀與過程程能力的的關(guān)係圖圖45四、控制圖製製作統(tǒng)計過程程控制StatisticalProcessControlSPC46貝爾實驗驗室的Walter休哈特博博士在二二十世紀紀二十年年代研究究過程時時,發(fā)明了一一個簡單單有力的的工具,那就是控控制圖,其方法為為:收集數(shù)據(jù)控制分析及改進47控制圖示例:上控制界限(UCL)中心線(CL)下控制界界限(LCL)（一）、、控制圖定義控制圖是是用於分析和控控制過程程品質(zhì)的的一種方方法?？刂茍D圖是一種種帶有控控制界限限的反映映過程品品質(zhì)的記記錄圖形形，圖的的縱軸代代表產(chǎn)品品品質(zhì)特特性值(或由品品質(zhì)特性性值獲得得的某種種統(tǒng)計量量)；橫橫軸代表表按時間間順序(自左至至右)抽抽取的各各個樣本本號；圖內(nèi)有中中心線(記為CL)、、上控制界界限(記記為UCL)和下控制制界限(記為LCL)三條線(見下圖圖)。48（二）、、控制圖的目的控制圖和一般的的統(tǒng)計圖不同，因因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來來，以觀其變異之趨勢，且能顯示變異屬於於偶然性或非偶然性，以指指示某種現(xiàn)象是否正正常，而而採取適當當?shù)拇胧?。利用控制限區(qū)隔是否為非偶然性49（三）、、控制圖圖的設計計原理：：位置：中中心值形狀：峰態(tài)分佈寬度1、在產(chǎn)產(chǎn)品的生生產(chǎn)過程程中，計量值的分佈形式式有：5068.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ正態(tài)分佈正態(tài)分佈佈的特徵徵：1、中間高高，兩邊邊低，左左右對稱稱；兩邊邊伸向無無窮遠。。2、與橫坐坐標所圍圍成區(qū)域域的面積積為1；51控制圖原理說明群體平均值=μ標準差=σμμ+kσμ-kσ抽樣520.27%99.73%μ±3σ1.00%99.00%μ±2.58σ4.55%95.45%μ±2σ5.00%95.00%μ±1.96σ31.74%68.26%μ±1σ50.00%50.00%μ±0.67σ在外的概率在內(nèi)的概率μ±kσ53控制圖原原理工序處於於穩(wěn)定狀態(tài)態(tài)下，其計計量值的的分佈大大致符合合正態(tài)分分佈。由由正態(tài)分分佈的性性質(zhì)可知知：質(zhì)量量數(shù)據(jù)出出現(xiàn)在平平均值的的正負三三個標準準偏差(X3)之外的概概率僅為為0.27%。。這是一一個很小小的概率率，根據(jù)據(jù)概率論論“視小概率率事件為為實際上上不可能能”的原理，，可以認認為：出出現(xiàn)在X3區(qū)區(qū)間外的的事件是是異常波動動，它的發(fā)發(fā)生是由由於異常常原因使使其總體體的分佈佈偏離了了正常位位置?？刂葡薜牡膶挾染途褪歉鶕?jù)據(jù)這一原原理定為為3。54“”及“”風險定定義根據(jù)控制制限作出出的判斷斷也可能能產(chǎn)生錯錯誤。可可能產(chǎn)生生的錯誤誤有兩類類。第一類錯錯誤是把把正常判判為異常常，它的的概率為為，也也就是說說，工序序過程並並沒有發(fā)發(fā)生異常常，只是是由於隨隨機的原原因引起起了數(shù)據(jù)據(jù)過大波波動，少少數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)越出了了控制限限，使人人誤將正正常判為為異常。。虛發(fā)警報，由於徒勞地查找原原因並為此採取了了相應的措施,從而造成損失.因因此,第第一種錯誤又稱為徒勞錯誤.第二類錯錯誤是將將異常判判為正常常，它的的概率記記為，，即工序序中確實實發(fā)生了了異常，，但數(shù)據(jù)據(jù)沒有越越出控制制限，沒沒有反映映出異常常，因而而使人將將異常誤誤判為正正常。漏發(fā)警報,過程已經(jīng)處於不穩(wěn)定狀態(tài),但並未採取相相應的措施,從而不合格格品增加加,也也造成損失.兩類錯誤誤不能同同時避免免，減少少第一類類錯誤()，，就會增增加第二二類錯誤誤()，反之之亦然。。55“α”及“β”風險說明“α”風險說明“β”風險說明560.005%±4σ0.27%±3σ4.56%±2σ31.74%±σ“α”值控制界限99.86%±4σ97.725%±3σ84.13%±2σ47.725%±σ“β”值控制界限“α”及““β”風險說明明假設平均均值偏移移了+1σ570σ1σ3σ6σ2σ兩種損失的合計第二種錯誤損失第一種錯誤損失因此，採採用“3σ原理”所設計的的控制圖圖不僅合合理，而而且經(jīng)濟濟。58控制圖的的形成旋轉(zhuǎn)90℃LCLUCLLCLUCL59規(guī)格界限和和控制界限規(guī)格界限：是用以以規(guī)定品質(zhì)質(zhì)特性的最大（?。┰S許可值。上規(guī)格界界限：USL；下規(guī)格格界限：：LSL；?？刂平缦蓿菏菑膶嶋H生生產(chǎn)出來來的產(chǎn)品品中抽取取一定數(shù)數(shù)量的產(chǎn)產(chǎn)品，並進行行檢測，，從所得觀測值中計算出來者。上控制界界限：UCL；下控制制界限：：LCL；60控制圖-控制過過程的工工具典型的控控制圖由由三條線線組成:UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)CL：控制中中限UCL:上控制限限LCL:下控制限限61（四）、、控制圖的種類1、按數(shù)據(jù)性質(zhì)分類：計量型控控制圖平均數(shù)與極差控制圖(Chart)平均數(shù)與標準差控制制圖(Chart)中位數(shù)與極差控制圖(Chart)個別值與移移動極差控制圖(chart)計數(shù)值控制圖不良率控控制圖(Pchart)不良數(shù)控製圖(nPchart,又稱npchart或dchart)缺點數(shù)控製圖(Cchart)單位缺點數(shù)控製圖(Uchart)s-X622、按控控制圖的用途分分類分析用控制制圖：根據(jù)樣樣本數(shù)據(jù)據(jù)計算出出控制圖圖的中心心線和上上、下控控制界限限，畫出出控制圖圖，以便便分析和和判斷過過程是否否處於於於穩(wěn)定狀狀態(tài)。如如果分析析結(jié)果顯顯示過程程有異常常波動時時，首先先找出原原因，採採取措施施，然後後重新抽抽取樣本本、測定定數(shù)據(jù)、、重新計計算控制制圖界限限進行分分析?？刂朴每乜刂茍D：經(jīng)過上上述分析析證實過過程穩(wěn)定定並能滿滿足品質(zhì)質(zhì)要求，，此時的的控制圖圖可以用用於現(xiàn)場場對日常常的過程程品質(zhì)進進行控制制。63XRChart均值極差差圖64由兩部份份分組成成:圖解釋觀察樣本本均值的的變化R圖解釋釋觀察誤差差的變化化X-RX組和可以以監(jiān)控過過程位置置和分佈佈的變化化X-R65製作的準備X-R取得高層層對推行行控制圖圖的認可可和支持持確定需用用均值極極差圖進進行控制制的過程程和特性性定義測量量系統(tǒng)消除明顯顯的過程程偏差66製作均值值極差圖圖進行測量量系統(tǒng)分分析確定子組組樣本容容量（不不少於100個數(shù)據(jù)））確定子組組數(shù)（最最好2-10個子組數(shù)數(shù)）搜集數(shù)據(jù)據(jù)67XinX計算均值值Xi為子組內(nèi)內(nèi)每個測測量數(shù)據(jù)據(jù)n為子組容容量即X=(X1+X2+X3...+Xn)/n68計算極差差R=XmaxXminX最大為子子組中最最大值X最小為子子組中最最小值69XjKX計算過程程平均值值K代表子組數(shù)X代表每個子組的均值70RKRj計算極差差平均值值K代表子組組數(shù)R代表每個個子組的的極差71常數(shù)計算均值值圖控制制限UCL=X+ARX2LCL=X–ARX2均值圖控制制上限均值圖控制制下限72計算極差圖圖控制限極差圖控制制上限極差圖控制制下限常數(shù)常數(shù)LCL=DR3RUCL=DRR473X-R圖常數(shù)表*對于樣本本容量小于于7的情況,LCLR可能技術(shù)上上為一個負負值.在這種情況況下沒有下下控制限,這意味著對對于一個樣樣本數(shù)為6的子組,6個“同樣的的”測量結(jié)結(jié)果是可能能成立的。。74將計算結(jié)果果繪於XRChart75練習習76五、分析控制圖圖統(tǒng)計過程控控制StatisticalProcessControlSPC77點超過控制制線連續(xù)7點上上升或下降降連續(xù)14點點交替上升升或下降連續(xù)9點在在控制中線線單側(cè)連續(xù)11個個點至少有有10個點點在中心線線一側(cè)連續(xù)14個個點中至少少有12個個點在中線線一側(cè)連續(xù)17個個點中至少少有14個個點在中線線一側(cè)連續(xù)20個個點中至少少有16個個點在中線線一側(cè)其他明顯的的非隨機圖圖形，應有有大約2/3的點集集中在控制制圖中央1/3區(qū)域域。分析控制圖圖78UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)超出控制上上限X圖79UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)超出控制下下限X圖80UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)七點上上升X圖81UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)七點下下降X圖82UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)過於規(guī)則的的分佈連續(xù)14點交替上升升和下降X圖83UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)九點在控制中中限的下方方X圖84UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)九點在控制中中限的上方方X圖85UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)11個個點至少有有10個點點在中心線線一側(cè)X圖86UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)14個個點中至少少有12個個點在中線線一側(cè)X圖87UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)14個個點中至少少有12個個點在中線線一側(cè)X圖88UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)17個個點中至少少有14個個點在中線線一側(cè)X圖89UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)17個個點中至少少有14個個點在中線線一側(cè)X圖90UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)20個個點中至少少有16個個點在中線線一側(cè)X圖91UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)20個個點中至少少有16個個點在中線線一側(cè)X圖92六、製程能力指指數(shù)(CPK)統(tǒng)計過程控控制StatisticalProcessControlSPC93一種用以量量度某一特特性的變化化趨勢及概概率的統(tǒng)計計指標.CPK=CP×(1-Ca)=T/6δ×【1-2(M-X)/T】】δ:標準準差M:規(guī)格中中心公式一公式二Cpk=min(，，)即取兩者最最小值，但但不管采用用那種方式式，結(jié)果都都是一樣的的。CPK製製程能力指指數(shù)94數(shù)據(jù)分析Cp、Ca、Cpk95A:每件産品的的尺寸與別別的都不同同數(shù)據(jù)的分布布B:但它們們形成一個個模型，若若穩(wěn)定，可可以描述爲爲一個分佈佈C:數(shù)據(jù)會會有不同的的分布型態(tài)態(tài)，正態(tài)分分布為鐘型96CPCapabilityofPrecision精確度：是衡量工序序能力對産産品規(guī)格要要求滿足程程度的數(shù)量量值，記爲爲Cp。通常以規(guī)規(guī)格範圍T與工序能能力6*δ的比值來表示。。即：??????????????????不精密精密97精密度表示示什麼1.製製程精密度度，其值越越高表示製製程實際值值間的離散散程度越小小，亦即表表示製程穩(wěn)穩(wěn)定而變異異?。x中中趨勢，與與σ有關(guān)））。2.當公公差範圍內(nèi)內(nèi)能納入愈愈多的σ個個數(shù)，則此此製程表現(xiàn)現(xiàn)愈好，其其本身是一一種製程固固有的（已已決定的））特性值，，代表一種種潛在的能能力Cp=T/6δ=規(guī)規(guī)格公差/6*標準準差規(guī)格公差=UCL-LCL=規(guī)格上線線-規(guī)格下下線98精密度評價價99Ca

CapabilityofAccuracy準確度:代表製程平平均值偏離離規(guī)格中心心值之程度度。若其值值越小，表表示製程平平均值越接接近規(guī)格中中心值，亦亦即品質(zhì)越越接近規(guī)格格要求之水水準（集中中趨勢，與與有關(guān)），，值越大，，表示製程程平均值愈愈偏離規(guī)格格中心值，，所造成的的不良率將將愈大）_x???????