GB/T 11313.1-2013射頻連接器第1部分：總規(guī)范一般要求和試驗方法

ICS3312030

L23..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T113131—2013/IEC61169-11998

代替.:

GB/T11313—1996,GB/T11313.1—2000

射頻連接器

第1部分總規(guī)范一般要求和試驗方法

:

Radio-frequencyconnectors—

Part1Genericsecification—Generalreuirementsandmeasurinmethods

:pqg

(IEC61169-1:1998,IDT)

2013-11-12發(fā)布2014-04-15實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T113131—2013/IEC61169-11998

.:

目次

前言…………………………

Ⅲ

范圍………………………

11

目的………………………

21

規(guī)范性引用文件…………………………

31

術(shù)語和定義………………

42

連接器零件通用術(shù)語………………

4.12

連接器基本術(shù)語……………………

4.23

結(jié)構(gòu)術(shù)語……………

4.34

密封…………………

4.45

其他術(shù)語和有關(guān)測量設(shè)備術(shù)語……………………

4.55

通用電工術(shù)語………………………

4.66

單位符號和尺寸…………………………

5、7

單位和符號…………………………

5.17

尺寸…………………

5.27

標(biāo)準(zhǔn)額定值和特性………………………

67

氣候類別分類……………

78

型號命名……………

8IEC8

試驗方法…………………

98

概述…………………

9.18

電氣試驗和測量程序………………

9.210

機(jī)械試驗和測試程序………………

9.339

氣候條件試驗和測試………………

9.447

機(jī)械耐久性…………………………

9.552

高溫耐久性…………………………

9.652

耐溶劑和污染流體…………………

9.753

質(zhì)量評定………………

1054

概述………………

10.154

質(zhì)量評定程序……………………

10.254

試驗和測量程序…………………

10.356

規(guī)范和有關(guān)程序…………………

10.461

標(biāo)志……………………

1162

元件標(biāo)志…………………………

11.162

包裝的標(biāo)志和內(nèi)容………………

11.262

Ⅰ

GB/T113131—2013/IEC61169-11998

.:

附錄規(guī)范性附錄用于鹽霧試驗的模擬海水溶液規(guī)定的航海環(huán)境…

A()(9.4.6.2)64

附錄資料性附錄相關(guān)文件…………

B()65

附錄資料性附錄確定電纜保持力試驗所要施加的拉力和扭矩的導(dǎo)則及一些典型電纜的

C()

推薦值……………

66

附錄資料性附錄型號命名…………

D()71

Ⅱ

GB/T113131—2013/IEC61169-11998

.:

前言

射頻連接器分為以下部分

GB/T11313《》:

第部分總規(guī)范一般要求和試驗方法

———1:

第部分型射頻同軸連接器分規(guī)范

———2:9.52

……

本部分為的第部分

GB/T113131。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替射頻連接器第部分總規(guī)范一般要求和試驗方法

GB/T11313—1996《1:》、

射頻連接器第部分單或多系列空白詳細(xì)規(guī)范

GB/T11313.1—2000《1-1:》。

本部分與相比主要技術(shù)變化如下

GB/T11313—1996:

增加了當(dāng)對插合的電纜連接器進(jìn)行連續(xù)性測量時應(yīng)小心避免由于電纜電阻的熱系數(shù)

———“d),

而產(chǎn)生錯誤的結(jié)果見

?！?9.2.3.4)

增加了安全絲孔強(qiáng)度見

———“”(9.3.15)。

增加了固定數(shù)量抽樣程序的試驗一覽表和檢驗要求見

———“”(10.3.3)。

增加了附錄資料性附錄確定電纜保持力試驗所要施加的拉力和扭矩的導(dǎo)則及一些典型

———C()

電纜的推薦值見附錄

(C)。

增加了型號命名見附錄

———(D)。

本部分與相比主要技術(shù)變化如下

GB/T11313.1—2000:

刪除了的全部內(nèi)容

———GB/T11313.1。

本部分使用翻譯法等同采用射頻連接器第部分總規(guī)范一般要求和試驗

IEC61169-1:1998《1:

方法

》。

本部分做了下列編輯性修改

:

概述第段中分組試驗表如附錄所示改為分組試驗表見

———“9.1”4,“…A”“…10.3.2.3”。

外觀檢查中將標(biāo)志應(yīng)符合的規(guī)定改為標(biāo)志應(yīng)符合的規(guī)定

———“9.1.2”,“11.2”“11.1”。

將符合規(guī)定的無誤差識別的方法改為符合和

———“9.2.1.7.29.2.1.1”“9.2.1.7.29.2.1.4

規(guī)定的無誤差識別的方法

9.2.1.5”。

將符合規(guī)定的有誤差識別的方法改為符合規(guī)

———“9.2.1.7.39.2.1.4”“9.2.1.7.39.2.1.6

定的有誤差識別的方法

”。

中表的序號很混亂本部分中對表序號進(jìn)行了更正

———IEC61169-1:1998,。

增加了型號命名見附錄

(D)。

與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下

:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗密封

———GB/T2423.23—1995Q:(eqvIEC60068-2-17:1978);

電子管參數(shù)符號

———GB/T2987—1996(neqIEC60027-1:1992、IEC60027-2:1972);

國際單位制及其應(yīng)用

———GB3100—1993(eqvISO1000:1992);

精密硬同軸線及其精密連接器總規(guī)范

———GB/T14313—1993(eqvIEC60457-1:1974);

射頻電纜和連接器用六角和正方形壓模腔體壓頭標(biāo)準(zhǔn)規(guī)外導(dǎo)體壓接

———GB/T15396—1994、、、

套和中心接觸件壓接導(dǎo)線筒的尺寸

(eqvIEC60803:1984)。

請注意本部分的某些內(nèi)容可能涉及專利本部分的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

Ⅲ

GB/T113131—2013/IEC61169-11998

.:

本部分由全國電子設(shè)備用高頻電纜及連接器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC190)。

本部分起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

:。

本部分主要起草人吳正平喬長海郭燕武向文劉慶陳國華

:、、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T11313—1996;

———GB/T11313.1—2000。

Ⅳ

GB/T113131—2013/IEC61169-11998

.:

射頻連接器

第1部分總規(guī)范一般要求和試驗方法

:

1范圍

的本部分規(guī)定了射頻連接器的一般要求和試驗方法

GB/T11313。

本部分適用于通信電子設(shè)備及類似設(shè)備中射頻傳輸線用的連接器

、。

2目的

本部分作為總規(guī)范是制定各連接器分規(guī)范的依據(jù)其目的是對下列內(nèi)容規(guī)定統(tǒng)一的概念和程序

,。。

術(shù)語

———;

標(biāo)準(zhǔn)額定值和特性

———;

有關(guān)電氣和機(jī)械性能的試驗與測量程序

———;

按溫度濕度和振動的環(huán)境試驗程序劃分的連接器類別

———、。

本部分中的試驗方法和程序適用于鑒定批準(zhǔn)試驗及其認(rèn)可在制造廠和用戶協(xié)商一致時本部分

。,

也可作為驗收試驗的基礎(chǔ)

。

3規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南

GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗低溫

GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-1:

2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗高溫

GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-2:

2007,IDT)