標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 12085.10-1989 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn)，專注于光學(xué)和光學(xué)儀器在特定環(huán)境條件下的試驗方法。本標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了對光學(xué)及光學(xué)儀器進(jìn)行綜合振動（正弦波形式）與極端溫度（高溫、低溫）共同作用下性能測試的具體要求和程序。下面是該標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容的概述：

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

此標(biāo)準(zhǔn)適用于評估光學(xué)和光學(xué)儀器在模擬的實際使用或運(yùn)輸過程中可能遇到的綜合環(huán)境條件下，如同時經(jīng)受振動與溫度變化時的性能穩(wěn)定性和可靠性。

環(huán)境試驗條件

  • 振動試驗：采用正弦波振動，規(guī)定了振動頻率范圍、振幅以及試驗持續(xù)時間等參數(shù)。振動試驗旨在模擬設(shè)備在運(yùn)輸或工作過程中可能遭遇的各種振動場景。
  • 溫度試驗：涵蓋了高溫和低溫兩個方面，規(guī)定了具體的溫度范圍、升降溫速率及保持時間，用以檢驗設(shè)備在極端溫度條件下的功能和結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。

試驗設(shè)備與設(shè)置

標(biāo)準(zhǔn)對用于執(zhí)行試驗的振動臺和溫控箱等設(shè)備有具體要求，包括它們的性能指標(biāo)、控制精度及安全措施，確保試驗結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

試樣準(zhǔn)備與安裝

詳細(xì)說明了試樣的選擇、預(yù)處理步驟及在試驗裝置上的正確安裝方法，確保試驗結(jié)果能夠真實反映產(chǎn)品在實際應(yīng)用中的表現(xiàn)。

試驗程序

闡述了綜合振動與溫度試驗的執(zhí)行順序，通常包括預(yù)處理、溫度循環(huán)與振動同時進(jìn)行的階段，以及試驗后的檢查和數(shù)據(jù)記錄方法。

評價準(zhǔn)則

提供了評估試樣在試驗后性能變化的準(zhǔn)則，包括光學(xué)性能下降、機(jī)械結(jié)構(gòu)受損或其他預(yù)定的失效判據(jù)，幫助判斷產(chǎn)品是否滿足設(shè)計要求和預(yù)期的環(huán)境適應(yīng)性。

數(shù)據(jù)分析與報告

要求對收集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行系統(tǒng)分析，形成試驗報告，報告中應(yīng)包含試驗條件、過程、觀察結(jié)果及結(jié)論，為產(chǎn)品的改進(jìn)和質(zhì)量控制提供依據(jù)。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 12085.10-2010
  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 12085.10-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法綜合振動(正弦)與高溫、低溫_第1頁
GB/T 12085.10-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法綜合振動(正弦)與高溫、低溫_第2頁
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束，剩余6頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 12085.10-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法綜合振動(正弦)與高溫、低溫-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

DC681.7.08N30中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB12085.10—89光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法綜合振動(正弦)與高溫、低溫Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedsinusodalvibration,dryhear,cold1989-12-29發(fā)布1990-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法GB12085·10-89與高溫、綜合振動I（正弦)低溫Opticsandopticalinstruments-Enyironmentaltestmethods-Combinedsinusoidallvibration,dryhear，cold主要內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了綜合振動（正弦））與高溫或低溫試驗的試驗條件、：條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。2試驗?zāi)康难芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等性能在高溫或低溫下受到振動（正弦）影響的變化程度。3引用標(biāo)準(zhǔn)GB12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法術(shù)語、試驗范圍GB12085.2光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法：低溫、高溫、濕熱GB12085.3：光學(xué)和光學(xué)儀器、環(huán)境試驗方法機(jī)械作用力GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ea：沖擊試驗方法GB2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Eb；碰撞試驗方法GB2423.8電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ed：自由跌落試驗方法GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Fe：振動（正弦）試驗方法GB2423.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ga：恒加速度試驗方法GB2423.35電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Z/AF·：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗方法GB2423.36電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Z／BFc；散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗方法GB2424.222電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗早川試驗條件本標(biāo)準(zhǔn)采用的自由落體加速度q為9.81m/s2。試樣進(jìn)行綜合機(jī)械作用力條件下的試驗要比前述的任一種環(huán)境條件試驗更嚴(yán)酷。溫度值從表1和表4中選擇，試樣的夾具應(yīng)隔熱。若試樣裝在

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。?，因數(shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論