標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12085.10-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第10部分：振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》相比于《GB/T 12085.10-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫》有以下幾點(diǎn)主要變化：

  1. 標(biāo)準(zhǔn)名稱結(jié)構(gòu)調(diào)整：2010版標(biāo)準(zhǔn)在名稱中明確指出了“第10部分”，這表明該標(biāo)準(zhǔn)被納入了一個(gè)更廣泛的系列標(biāo)準(zhǔn)體系中，便于用戶識(shí)別和引用特定部分的內(nèi)容，而1989版未體現(xiàn)這種系列化分類。

  2. 標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容更新：依據(jù)技術(shù)進(jìn)步和行業(yè)發(fā)展，2010版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)振動(dòng)試驗(yàn)和溫度試驗(yàn)的具體參數(shù)、測(cè)試方法、設(shè)備要求等方面進(jìn)行了修訂或增補(bǔ)，以更準(zhǔn)確地反映當(dāng)前光學(xué)和光學(xué)儀器在實(shí)際使用環(huán)境中可能遇到的挑戰(zhàn)，確保試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。

  3. 試驗(yàn)程序細(xì)化：新版本標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)振動(dòng)與溫度綜合試驗(yàn)的實(shí)施步驟進(jìn)行了更加詳細(xì)的規(guī)定，包括試驗(yàn)順序、穩(wěn)定時(shí)間、數(shù)據(jù)記錄方法等，旨在提高試驗(yàn)的可重復(fù)性和標(biāo)準(zhǔn)化水平。

  4. 安全與環(huán)保要求：隨著對(duì)安全生產(chǎn)和環(huán)境保護(hù)意識(shí)的增強(qiáng)，2010版標(biāo)準(zhǔn)可能加入了關(guān)于試驗(yàn)過程中的安全操作指導(dǎo)和環(huán)保要求，確保試驗(yàn)活動(dòng)符合現(xiàn)代法律法規(guī)及行業(yè)最佳實(shí)踐。

  5. 國(guó)際接軌：新版標(biāo)準(zhǔn)在制定時(shí)可能會(huì)參考更多的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或先進(jìn)國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)，使得中國(guó)國(guó)內(nèi)的試驗(yàn)方法與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)相協(xié)調(diào)，便于國(guó)際貿(mào)易和技術(shù)交流。

  6. 術(shù)語(yǔ)和定義：為了提升標(biāo)準(zhǔn)的清晰度和一致性，2010版可能對(duì)相關(guān)專業(yè)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了更新或補(bǔ)充，確保與國(guó)際通行術(shù)語(yǔ)保持一致，減少理解上的歧義。

  7. 合規(guī)性與適用范圍：更新后的標(biāo)準(zhǔn)可能根據(jù)光學(xué)和光學(xué)儀器的新發(fā)展，調(diào)整了適用的產(chǎn)品類型或增加了新的測(cè)試類別，確保標(biāo)準(zhǔn)的廣泛適用性和前瞻性。


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  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實(shí)施
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GB/T 12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第10部分：振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

ICS37.020N30中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.10—2010代替GB/T12085.10-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第10部分:振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Part10：Combinedsinusoidalvibrationanddryheatorcold(ISO9022-10:1998.MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第10部分：振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)GB/T12085.10-2010中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼：100045網(wǎng)址：服務(wù)熱線：010-685220062011年6月第一版書號(hào)：155066·1-42752版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T12085.10—2010前GB/T12085《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法》分為以下16個(gè)部分：-第1部分：術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍：第2部分：低溫、高溫、濕熱;-第3部分：機(jī)械作用力；第4部分：鹽霧；-第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn);第6部分：砂塵;第第7部分：滿水、淋雨：第8部分：高壓、低壓、浸沒；第9部分：太陽(yáng)輻射；第10部分：振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)第11部分：長(zhǎng)霉；第第12部分：污染；-第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)：-第14部分：露、霜、冰；第15部分：寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)：-第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)本部分為GB/T12085的第10部分。本部分修改采用ISO9022-10:1998《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)環(huán)境試驗(yàn)方法第10部分：振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)》。本部分與ISO9022-10:1998的主要差異如下：-刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言：根據(jù)ISO9022-10第1章及我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)用語(yǔ)習(xí)慣作了重新編寫；“國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)本部分"一詞改為"本部分"。本部分代替GB/T12085.10-1989《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法綜合振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫》.與GB/T12085.10—1989的主要差異為：修修改了標(biāo)準(zhǔn)名稱：-修改了變量溫差的計(jì)量單位：合并了范圍與試驗(yàn)?zāi)康模涸黾恿嗽囼?yàn)條件中的引用標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：條件試驗(yàn)中懸置段加編號(hào)，合并原版本表1、表2,將附錄八放入標(biāo)準(zhǔn)正文；修改、增加了條件試驗(yàn)方法的工作狀態(tài)和嚴(yán)酷等級(jí).修改相應(yīng)的參數(shù)：增加了試驗(yàn)程序的總則：-增加了環(huán)境試驗(yàn)的標(biāo)記名稱，修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)的編寫。本部分由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本部分由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC103)歸口本部分起草單位：上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司。

GB/T12085.10—2010本部分主要起草人:馮瓊輝、章慧賢、曾麗珠、葉慧.本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T12085.10-1989。

GB/T12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第10部分:振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)1范圍本部分規(guī)定了振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫的影響時(shí)的變化程度2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而.鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T2423.35電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)(GB/T2423.35—2005,1EC60068-2-50:1983.IDT）GB/T2423.36電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)（GB/T2423.36-2005,IEC60068-2-51:1983.IDT）GB/T2423.43電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝（GB/T2423.43-2008.IEC60068-2-47:2005IDT）（B/T2424.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則（GB/T2424.22-1986.eqvIEC60068-2-53:1984）GB/T12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分：術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍(GB/T12085.1-2010.1SO9022-1:1994.MOD)GB/T12085.2光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法、第2部分：低溫、高溫、濕熱(GB/T12085.2-2010.1SO9022-2:2002.MOD)GB/T12085.3光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：機(jī)械作用力（GB/T12085.3-2010.1SO9022-3：1998.MOD)3試驗(yàn)條件在綜合作用力條件下對(duì)暴露的試樣進(jìn)行的測(cè)試，要比任何一種單一環(huán)境條件試驗(yàn)更為嚴(yán)酷表1與表3中規(guī)定的溫度值選自GB/T12085.2,條件試驗(yàn)方法10和11。試驗(yàn)應(yīng)按G

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