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GB/T 12085.22-2022光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第22部分:低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)_第1頁(yè)
GB/T 12085.22-2022光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第22部分:低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)_第2頁(yè)
GB/T 12085.22-2022光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第22部分:低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)_第3頁(yè)
GB/T 12085.22-2022光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第22部分:低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)_第4頁(yè)
GB/T 12085.22-2022光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第22部分:低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)_第5頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

ICS37020

CCSN.30

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1208522—2022

.

代替GB/T1208510—2010GB/T1208513—2010等

.,.

光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法

第22部分低溫高溫或溫度變化與

:、

碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

Opticsandphotonics—Environmentaltestmethods—

Part22Combinedcolddrheatortemeraturechanewithbumor

:,ypgp

randomvibration

ISO9022-222012MOD

(:,)

2022-10-12發(fā)布2023-05-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T1208522—2022

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅴ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

試驗(yàn)條件

4…………………1

條件試驗(yàn)

5…………………2

試驗(yàn)程序

6…………………3

環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記

7……………4

規(guī)范

8………………………4

附錄資料性說(shuō)明

A()……………………6

參考文獻(xiàn)

………………………7

GB/T1208522—2022

.

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法的第部分已經(jīng)發(fā)布了以

GB/T12085《》22。GB/T12085

下部分

:

第部分術(shù)語(yǔ)試驗(yàn)范圍

———1:、;

第部分低溫高溫濕熱

———2:、、;

第部分機(jī)械作用力

———3:;

第部分鹽霧

———4:;

第部分砂塵

———6:;

第部分滴水淋雨

———7:、;

第部分高內(nèi)壓低內(nèi)壓浸沒(méi)

———8:、、;

第部分太陽(yáng)輻射與風(fēng)化

———9:;

第部分長(zhǎng)霉

———11:;

第部分污染

———12:;

第部分露霜冰

———14:、、;

第部分污染太陽(yáng)輻射綜合試驗(yàn)

———17:、;

第部分含二氧化硫硫化氫的濕空氣

———20:、;

第部分低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

———22:、;

第部分低壓與低溫大氣溫度高溫或濕熱綜合試驗(yàn)

———23:、、。

本文件代替光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第部分振動(dòng)正弦與

GB/T12085.10—2010《10:()

高溫低溫綜合試驗(yàn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第部分沖擊碰

、》、GB/T12085.13—2010《13:、

撞或自由跌落與高溫低溫綜合試驗(yàn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第

、》、GB/T12085.15—2010《15

部分寬帶隨機(jī)振動(dòng)數(shù)字控制與高溫低溫綜合試驗(yàn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)

:()、》、GB/T12085.16—2010《

境試驗(yàn)方法第部分彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗(yàn)光學(xué)和光學(xué)

16:、》、GB/T12085.19—2011《

儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第部分溫度周期與正弦振動(dòng)隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)與

19:、》。GB/T12085.10—

2010、GB/T12085.13—2010、GB/T12085.15—2010、GB/T12085.16—2010GB/T12085.19—2011

相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外主要技術(shù)變化如下

,,:

將全文中的光學(xué)儀器更改為光學(xué)和光子學(xué)儀器

———“”“”;

更改了范圍的適用界限見(jiàn)第章

———“”(1,GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、

的第章

GB/T12085.15—2010、GB/T12085.16—2010、GB/T12085.19—20111);

增加了試驗(yàn)條件見(jiàn)第章

———(4);

增加了條件試驗(yàn)方法見(jiàn)

———22(5.2);

更改了環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記內(nèi)容見(jiàn)第章

———(7,GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、

的第章

GB/T12085.15—2010、GB/T12085.16—2010、GB/T12085.19—20116)。

———GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、GB/T12085.15—2010、GB/T12085.16—

中表的相關(guān)內(nèi)容整合為表并對(duì)表的內(nèi)容進(jìn)行了重新編寫

2010、GB/T12085.19—20111,1

見(jiàn)的表表的表表

(5.2,GB/T12085.10—20101~4、GB/T12085.13—20101~6、

的表表的表表

GB/T12085.15—20101~6、GB/T12085.16—20101~4、GB/T12085.19—

GB/T1208522—2022

.

的表表

20111~7);

刪除了條件試驗(yàn)方法條件試驗(yàn)方法條件試驗(yàn)方法條件實(shí)驗(yàn)方法

———53~55、57~60、61~62、

條件試驗(yàn)方法見(jiàn)版版

64~69、70~71(GB/T12085.19—2011、GB/T12085.16—2010、

版版版的第章

GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、GB/T12085.15—20104);

增加了與溫度變化相關(guān)的試驗(yàn)項(xiàng)目和表述見(jiàn)第章

———(5)。

本文件修改采用光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第部分低溫高溫或溫度

ISO9022-22:2012《22:、

變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

》。

本文件與相比做了下述結(jié)構(gòu)調(diào)整

ISO9022-22:2012:

為避免懸置段增加了后續(xù)條編號(hào)順延

———,A.1,。

本文件與的技術(shù)差異及其原因如下

ISO9022-22:2012:

將全文中的光學(xué)儀器更改為光學(xué)和光子學(xué)儀器以符合光學(xué)行業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域的要求

———“”“”,;

用規(guī)范性引用的替換了見(jiàn)第章第章替換了

———GB/T12085.1ISO9022-1(3、7)、GB/T12085.2

見(jiàn)第章替換了見(jiàn)第章

ISO9022-2(4、5.2、6.3)、GB/T12085.3ISO9022-3(4、5.2)、

替換了見(jiàn)第章替換了見(jiàn)

GB/T2423.43IEC60068-2-47(4)、GB/T2423.56IEC60068-2-64(

以適應(yīng)我國(guó)的技術(shù)條件提高可操作性

5.1),,;

更改了g為ɡ見(jiàn)第章以符合我國(guó)所處地理緯度

———“n”“”(4、5.2),;

更改了ɡ值四舍五入到下一個(gè)最高數(shù)如2為本文件中加速度ɡ值取整數(shù)2

———“,10m/s?!薄?10m/s?!?/p>

見(jiàn)第章以符合我國(guó)地理位置

(4),。

本文件做了下列編輯性改動(dòng)

:

第章中用資料性引用的所有部分替換了

———7GB/T12085()ISO9022。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

本文件由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC103)。

本文件起草單位寧波永新光學(xué)股份有限公司重慶銀河試驗(yàn)儀器有限公司濟(jì)南鑫光試驗(yàn)機(jī)制造

:、、

有限公司陜西科瑞迪機(jī)電設(shè)備有限公司重慶阿泰可環(huán)境可靠性檢測(cè)技術(shù)有限公司上海理工大學(xué)

、、、、

中電科思儀科技股份有限公司蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司麥克奧迪實(shí)業(yè)集團(tuán)有限公司上海光學(xué)儀

、、、

器研究所上海雄博精密儀器股份有限公司合肥知常光電科技有限公司梧州奧卡光學(xué)儀器有限公司

、、、、

寧波市教學(xué)儀器有限公司南京江南永新光學(xué)有限公司上海千欣儀器有限公司南京東利來(lái)光電實(shí)業(yè)

、、、

有限責(zé)任公司廣州粵顯光學(xué)儀器有限責(zé)任公司寧波舜宇儀器有限公司寧波華光精密儀器有限公司

、、、、

寧波湛京光學(xué)儀器有限公司

本文件主要起草人崔志英李書(shū)山王建國(guó)胡軍文明敬張薇張鵬韓森楊澤聲馮瓊輝姜冠祥

:、、、、、、、、、、、

吳周令張韜王國(guó)瑞李晞華越洪宜萍李彌高胡森虎孔燕波干林超

、、、、、、、、、。

本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

年首次發(fā)布年第一次修訂

———GB12085.10,1989,2010;

年首次發(fā)布年第一次修訂

———GB12085.13,1989,2010;

年首次發(fā)布年第一次修訂

———GB/T12085.15,1995,2010;

年首次發(fā)布年第一次修訂

———GB/T12085.16,1995,2010;

年首次發(fā)布

———GB/T12085.19,2011;

本次為第二次修訂將

———,GB/T12085.10—2010、GB/T12085.13—2010、GB/T12085.15—

及整合為

2010、GB/T12085.16—2010GB/T12085.19—2011GB/T12085.22—2022。

GB/T1208522—2022

.

引言

光學(xué)和光子學(xué)儀器廣泛應(yīng)用于國(guó)民經(jīng)濟(jì)及國(guó)際科技各個(gè)領(lǐng)域由于其使用及運(yùn)輸環(huán)境條件非常復(fù)

,

雜有來(lái)自物理的化學(xué)的生物的氣候的以及電氣的等各種環(huán)境條件的影響都會(huì)使光學(xué)和光子學(xué)儀

,、、、,

器的性能發(fā)生變化而不能正常發(fā)揮功能

鑒于上述原因?yàn)榱吮WC光學(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品的質(zhì)量需要模擬各種復(fù)雜的環(huán)境條件變化對(duì)光

,,,

學(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn)考核其經(jīng)受嚴(yán)酷環(huán)境條件的能力因而包含了試驗(yàn)條件

,,GB/T12085、

條件試驗(yàn)試驗(yàn)程序環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記等條款同時(shí)由于環(huán)境條件內(nèi)容較多且分屬不同的類型為了便于

、、。,

標(biāo)準(zhǔn)的貫徹根據(jù)環(huán)境條件的類型擬分為個(gè)部分

,GB/T1208515。

第部分術(shù)語(yǔ)試驗(yàn)范圍目的在于統(tǒng)一環(huán)境試驗(yàn)方法的術(shù)語(yǔ)和定義試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)

———1:、。、

標(biāo)記

第部分低溫高溫濕熱目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電

———2:、、。、、、()

等特性受到溫度和濕度影響的變化程度

。

第部分機(jī)械作用力目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特

———3:。、、、()

性受到機(jī)械作用力影響的變化程度

。

第部分鹽霧目的在于對(duì)儀器表面和保護(hù)涂鍍層抵抗鹽霧的能力進(jìn)行評(píng)估

———4:。()。

第部分砂塵目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性受到

———6:。、、、()

砂塵影響的變化程度

。

第部分滴水淋雨目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性

———7:、。、、、()

受到滴水淋雨影響的變化程度

、。

第部分高內(nèi)壓低內(nèi)壓浸沒(méi)目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜

———8:、、。、、、(

電等特性受到環(huán)境氣體高壓低壓或浸沒(méi)影響的變化程度

)、。

第部分太陽(yáng)輻射與風(fēng)化目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電

———9:。、、、()

等特性受到太陽(yáng)輻射或風(fēng)能太陽(yáng)照射濕熱影響的變化程度

(、)。

第部分長(zhǎng)霉目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性受到

———11:。、、、()

長(zhǎng)霉的影響程度以及評(píng)估霉菌代謝產(chǎn)物比如酶或酸性物質(zhì)導(dǎo)致對(duì)零件的腐蝕程度或引起

,()

線路板的短路等嚴(yán)重程度

。

第部分污染目的在于研究?jī)x器尤其是儀器的表面涂層或合成材料短時(shí)間內(nèi)暴露在

———12:。,、

試劑中的抵抗能力

第部分露霜冰目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性

———14:、、。、、、()

受露霜冰的影響的程度

、、。

第部分污染太陽(yáng)輻射綜合試驗(yàn)?zāi)康脑谟谘芯績(jī)x器尤其是儀器的表面涂層或合成材

———17:、。,、

料短時(shí)間內(nèi)受試劑腐蝕及太陽(yáng)輻射的抵御能力

。

第部分含二氧化硫硫化氫的濕空氣目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電

———20:、。、、、

氣包括靜電等特性受二氧化硫或硫化氫的影響

()。

第部分低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)?zāi)康脑谟谘芯吭嚇拥墓鈱W(xué)

———22:、。、

氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性受到綜合低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)

、、()、

的影響的變化程度

。

第部分低壓與低溫大氣溫度高溫或濕熱綜合試驗(yàn)?zāi)康脑谟谘芯吭嚇拥墓鈱W(xué)氣候

———23:、、。、、

機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等性能特性受到綜合低壓和低溫常溫或高溫的影響程度

、()、。

GB/T1208522—2022

.

光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法

第22部分低溫高溫或溫度變化與

:、

碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

1范圍

本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)方法

、。

本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來(lái)自其他領(lǐng)域的組件如機(jī)械化學(xué)和電子設(shè)備的低溫高溫

(、)、

或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第部分術(shù)語(yǔ)試驗(yàn)范圍

GB/T12085.1

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