標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12085.3-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：機(jī)械作用力》相比于其前版《GB/T 12085.3-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 機(jī)械作用力》，主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了更新與調(diào)整：

  1. 標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍：2010版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)適用的光學(xué)和光學(xué)儀器類型及試驗(yàn)范圍進(jìn)行了細(xì)化或擴(kuò)展，以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和產(chǎn)品發(fā)展的需求。

  2. 試驗(yàn)方法的完善：新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)機(jī)械作用力的測(cè)試方法進(jìn)行了修訂，可能包括了更精確的測(cè)試程序、參數(shù)設(shè)置或新增了針對(duì)新型光學(xué)元件的測(cè)試要求，以確保試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

  3. 安全與環(huán)保要求：考慮到技術(shù)發(fā)展與國(guó)際接軌的需求，2010版標(biāo)準(zhǔn)可能加入了更多關(guān)于試驗(yàn)過(guò)程中的安全操作規(guī)程和環(huán)境保護(hù)的相關(guān)規(guī)定，符合現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室管理的要求。

  4. 術(shù)語(yǔ)和定義：隨著光學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展，新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)相關(guān)專業(yè)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了更新或增補(bǔ)，確保了術(shù)語(yǔ)的準(zhǔn)確性和時(shí)代性。

  5. 試驗(yàn)設(shè)備和技術(shù)指標(biāo)：為了適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步，2010版標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)對(duì)試驗(yàn)所用設(shè)備的技術(shù)要求進(jìn)行更新，包括精度、穩(wěn)定性等方面，同時(shí)也可能引入新的測(cè)量技術(shù)和設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。

  6. 數(shù)據(jù)處理與結(jié)果判定：在數(shù)據(jù)分析和結(jié)果判定方面，新標(biāo)準(zhǔn)可能引入了更科學(xué)的數(shù)據(jù)處理方法，或者調(diào)整了合格判定的標(biāo)準(zhǔn)，使得測(cè)試結(jié)果更加客觀公正。

  7. 標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)與表述：為提高標(biāo)準(zhǔn)的可讀性和實(shí)施性，2010版可能對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了優(yōu)化，使用更清晰的條目劃分和表述方式，便于使用者理解和執(zhí)行。


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  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介

ICS37.020N30中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.3-2010代替GB/T12085.3-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分;機(jī)械作用力Opticsandopticalinstruments--Environmentaltestmethods-Part3:Mechanicalstresses（ISO9022-3:1998,MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T12085.3-2010前GB/T12085《光學(xué)和光學(xué)儀器杯環(huán)境試驗(yàn)方法》分為以下16個(gè)部分：第1部分：術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍：-第2部分：低溫、高溫、濕熱；-第3部分：機(jī)械作用力；第4部分：鹽霧；-第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn);第6部分：砂塵：第7部分：滴水、淋雨;第第8部分：高壓、低壓、浸沒-第9部分：太陽(yáng)輻射：第10部分：振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)：第第11部分：長(zhǎng)霉;第12部分：污染;-第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)：第14部分：露、霜、冰；-第15部分：寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)；-第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)本部分為GB/T12085的第3部分。本部分修改采用ISO9022-3:1998《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：機(jī)械作用力》本部分與ISO9022-3:1998的主要差異如下:除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言：-根據(jù)1SO9022-3第1章及我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)用語(yǔ)習(xí)慣作了重新編寫：“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為"本部分”。本部分代替GB/T12085.3—1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法機(jī)械作用力》,與GB/T12085.3-1989的主要差異為：一合并了范圍與試驗(yàn)?zāi)康模辉黾恿嗽囼?yàn)條件的條件方法及引用的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)列表：修改了加速度值,明確了加速度倍數(shù)：增加了條件試驗(yàn)方法30、31、32、33.34、35、36.37的工作狀態(tài)種數(shù)；修改了條件試驗(yàn)方法傾跌和跌落高度及碰撞次數(shù)允許偏差：增加了條件試驗(yàn)方法35的嚴(yán)酷等級(jí)級(jí)數(shù)；修改條件試驗(yàn)方法37的名稱；將附錄A典型應(yīng)用實(shí)例放入標(biāo)準(zhǔn)正文中；增加了條件試驗(yàn)方法36的懸置段編號(hào)：增加了試驗(yàn)程序；增加了環(huán)境試驗(yàn)的標(biāo)記名稱,修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)的編寫。本部分由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。

GB/T12085.3-2010本部分由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC103)歸口本部分起草單位：寧波永新光學(xué)股份有限公司、上海理工大學(xué)。本部分主要起草人：曾麗珠、章慧賢、馮瓊輝、張燕珂。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T12085.3-1989.

GB/T12085.3—2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：機(jī)械作用力范圍本部分規(guī)定了機(jī)械作用力試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)及電學(xué)等特性受到機(jī)械作用力影響的變化程度范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。環(huán)境試驗(yàn)方法GB/T12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器第1部分：術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍(GB/T12085.1-2010.ISO9022-1:1994，MOD)第2部分：試驗(yàn)方法GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Fc:振動(dòng)（正弦）(GB/T2423.10-2008.IEC60068-2-6:1995.IDT)GB/T2423.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度（GB/T2423.15-2008.1EC60068-2-7：1986IDT）GB/T2423.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊(GB/T2423.5-1995.idtIEC60068-2-27:1987)GB/T2423.6電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞（GB/T2423.6-1995.idtIEC60068-2-29:1987)GB/T2423.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ee和導(dǎo)則：傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品）GB/T2423.7-1995.idtIEC60068-2-31:1982)（B/T2423.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則：自由跌落（GB/T2423.8-1995.idtIEC60068-2-32:1990）GB/T2423.43電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝（GB/T2423.43-2008.IEC60068-2-47:2005.IDT）GB/T2423.39電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ee:彈跳（GB/T2423.39-2008.IEC60068-2-55:1987.MOD)GB/T2423.56電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制)和導(dǎo)則(GB/T2423.56-2006.EC60068-2

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