標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 1216-2004 外徑千分尺》與之前的《GB/T 1216-1985 外徑千分尺》相比,主要在以下幾個方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:

  1. 技術(shù)要求提升:2004版標(biāo)準(zhǔn)對千分尺的制造材料、熱處理工藝以及測量面的硬度要求進(jìn)行了更嚴(yán)格的規(guī)定,旨在提高測量工具的精度和耐用性。

  2. 尺寸范圍擴(kuò)展:新標(biāo)準(zhǔn)可能對千分尺的測量范圍進(jìn)行了擴(kuò)展,以滿足更多樣化的測量需求。具體包括最小測量范圍、最大測量范圍以及可選的中間尺寸規(guī)格。

  3. 精度等級細(xì)化:2004版標(biāo)準(zhǔn)對千分尺的精度等級進(jìn)行了重新劃分,可能增加了更精細(xì)的分類,以適應(yīng)不同行業(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域?qū)y量精度的不同要求。

  4. 檢驗(yàn)方法改進(jìn):新標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了更科學(xué)、更系統(tǒng)的檢驗(yàn)方法和檢驗(yàn)條件,確保千分尺的校準(zhǔn)和性能驗(yàn)證更加準(zhǔn)確可靠。

  5. 標(biāo)志與包裝要求:對于產(chǎn)品標(biāo)識、使用說明、包裝及儲存條件等方面,2004版標(biāo)準(zhǔn)提出了更為明確和詳細(xì)的要求,便于用戶正確使用和維護(hù)外徑千分尺。

  6. 術(shù)語和定義更新:隨著技術(shù)進(jìn)步和行業(yè)實(shí)踐的發(fā)展,標(biāo)準(zhǔn)中對一些專業(yè)術(shù)語和定義進(jìn)行了修訂或新增,以保持其與國際標(biāo)準(zhǔn)的一致性和適用性。

  7. 參考國際標(biāo)準(zhǔn):2004版標(biāo)準(zhǔn)在制定時,更加強(qiáng)調(diào)與國際標(biāo)準(zhǔn)的接軌,吸收了國際上先進(jìn)的技術(shù)和管理經(jīng)驗(yàn),提高了我國外徑千分尺產(chǎn)品的國際競爭力。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1216-2018
  • 2004-02-10 頒布
  • 2004-08-01 實(shí)施
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GB/T 1216-2004外徑千分尺_(dá)第1頁
GB/T 1216-2004外徑千分尺_(dá)第2頁
GB/T 1216-2004外徑千分尺_(dá)第3頁
GB/T 1216-2004外徑千分尺_(dá)第4頁
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ICS17.040.30J42中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1216—2004代替GB/T1216-1985外徑千分尺Externalmicrometer2004-02-10發(fā)布2004-08-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)外徑干分GB/T1216一2004中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼:100045電話:63787337、637874472004年6月第一版2005年4月電子版制作書號:155066·1-20857版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話:010)68533533

GB/T1216—2004本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)DIN863第1部分《標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)的外徑千分尺概述、技術(shù)要求和檢驗(yàn)》(1999年英文版).對GB/T1216—1985《外徑千分尺》進(jìn)行修訂的。本標(biāo)準(zhǔn)與DIN863第1部分的一致性程度為修改·其主要差異如下:按GB/T1.1-2000標(biāo)準(zhǔn)對編排格式進(jìn)行了修改將將適用范圍擴(kuò)展至分度值0.001mm,0.002mm和0.005mm;測量范圍上限1000mm的外徑干分尺:增加了校對量桿的硬度要求;-取消了產(chǎn)品使用說明部分。本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起,代替GB/T1216-1985《外徑干分尺》本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T1216—1985相比,主要變化如下;將適用范圍擴(kuò)展至分度值0.001mm.0.002mm,0.005mm的外徑干分尺(本版的1)增加了帶計數(shù)器外徑千分尺的技術(shù)要求(本版的1);增加了模擬顯示、數(shù)字顯示等讀數(shù)方式的示意圖(本版的4.1);取消了固定套管刻度數(shù)字的規(guī)定(1985版的3.3);測微螺桿和測帖的測量端直徑由6.5mm、8.0mm兩種規(guī)格改為6.5mm、7.5mm、8.0mm三種規(guī)格(1985版的3.3:本版的5.4.1);增加了對測死和測微螺桿伸出尺架的長度要求(本版的5.4.2和5.4.3);微分簡標(biāo)尺標(biāo)記寬度由(0.15~0.20)mm改為(0.08~0.20)mm;固定套管標(biāo)尺標(biāo)記寬度不作量化規(guī)定,僅規(guī)定其與微分簡標(biāo)尺標(biāo)記的寬度差(1985版的4.3;本版的5.9.1和5.9.3)規(guī)定了尺架、測微螺桿和測死的制造材料(本版的5.2);降低了合金工具鋼測量面的硬度指標(biāo).提高了不銹鋼測量面的硬度指標(biāo).降低了校對量桿測量面的硬度指標(biāo)(1985版的3:本版的5.8.3,5.12.2);取消了千分尺測量面和校對量桿測量面的表面粗糙度指標(biāo)規(guī)定,取消了校對量桿平行度指標(biāo)規(guī)定11985版的2.4.14):測量范圍(0~500)mm的測力值由(6~10)N改為(5~10)N(1985版的4.8;本版的5.7);將示值誤差改稱為"最大允許誤差”,給出了定義;并將測量范圍(300~325.325~350)mm和(400~425,425~450)mm的最大允許誤差由11gm和13pm改為10m和12gm(1985版的1:本版的.1);將測微頭的移動偏差改稱為“測微頭最大允許誤差”.給出了定義:并規(guī)定一般情況下對測微頭最大允許誤差不作檢定(1985版的2.3,4.10.A.1;本版的1.6.7);增加了微分筒錐面的斜角要求(本版的5.9.2)檢驗(yàn)方法列入正文,而不再作為附錄(1985版的附錄A;本版的6):取消了帶計數(shù)器千分尺數(shù)字顯示裝置字碼偏移值的指標(biāo)規(guī)定(1999版的3.8:本版的5.9)。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為規(guī)范性附錄,附錄B為資料性附錄本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國量具量儀標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC132)歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:成都工具研究所、安徽出入境檢驗(yàn)檢疫局、安徽量具刃具廠。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:鄧寧、陳瑜、昂朝陽、李俊生本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:-GB1216-1975GB/T1216-1985。

GB/T1216—2004外范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了外徑千分尺(包括帶計數(shù)器外徑千分尺)的術(shù)語和定義、型式與基本參數(shù)、要求、檢驗(yàn)方法以及標(biāo)志與包裝等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于分度值為0.01mm.0.001mm,0.002mm和0.005mm,測量范圍上限至1000mm的外徑干分尺2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)GB/T17163—1997幾何量測量器具術(shù)語基本術(shù)語術(shù)語和定義GB/T17163—1997中確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)3外徑干分尺externalmicrometer利用螺旋副原理,對尺架上兩測量面間分隔的距離進(jìn)行讀數(shù)的外尺寸測量器具32帶計數(shù)器外徑干分尺externalmicrometerwithcounter利用螺旋副原理,對尺架上兩測量面間分隔的距離用機(jī)械式數(shù)字顯示裝置進(jìn)行讀數(shù)的外尺寸測量器具。3.3最大允許誤差mmaximumpermissibleerror由技術(shù)規(guī)范、規(guī)則等對外徑千分尺規(guī)定的誤差極限值3.4測微頭最大允許誤差maximumpermissibleerrorofmeasuringhead忽略了測茹和尺架的影響,僅針對測微頭,由技術(shù)規(guī)范、規(guī)則等規(guī)定的誤差極限值住

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