標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 14114-1993 半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理》作為一項技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路中電壓/頻率轉(zhuǎn)換器(VFC)和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器(FVC)的測試原則、方法及要求。然而,您提供的對比要求中,《》部分為空,這意味著沒有具體指出要與哪個標(biāo)準(zhǔn)或版本進(jìn)行比較。因此,直接對比變更內(nèi)容無法完成。但可以概述該標(biāo)準(zhǔn)本身的一些關(guān)鍵點:

  1. 適用范圍:該標(biāo)準(zhǔn)明確了適用于測試半導(dǎo)體集成電路中的電壓/頻率轉(zhuǎn)換器和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器的基本方法,為這類集成電路的性能評估提供了統(tǒng)一的測試基準(zhǔn)。

  2. 測試環(huán)境:標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)說明了測試環(huán)境的條件,包括溫度、濕度、電源穩(wěn)定性等,以確保測試結(jié)果的一致性和可比性。

  3. 測試項目:涵蓋了基本參數(shù)如轉(zhuǎn)換精度、線性度、響應(yīng)時間、工作頻率范圍等的測試方法,確保轉(zhuǎn)換器的功能和性能符合設(shè)計要求。

  4. 測量儀器與校準(zhǔn):規(guī)定了測試中應(yīng)使用的測量設(shè)備類型及其必要的校準(zhǔn)要求,保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

  5. 測試程序:詳細(xì)描述了各項測試的具體步驟,包括預(yù)處理、測試執(zhí)行、數(shù)據(jù)記錄等,便于操作者遵循。

  6. 結(jié)果判定:提供了測試結(jié)果的判定準(zhǔn)則,幫助判斷被測器件是否滿足規(guī)格要求。

若需要對比該標(biāo)準(zhǔn)與其他特定標(biāo)準(zhǔn)或后續(xù)修訂版之間的差異,請?zhí)峁┚唧w的對比對象。


如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1993-01-21 頒布
  • 1993-08-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 14114-1993半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理_第1頁
GB/T 14114-1993半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理_第2頁
GB/T 14114-1993半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理_第3頁
免費預(yù)覽已結(jié)束,剩余17頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 14114-1993半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.382L56中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T14114一93半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofV/Frintegratedcircuits1993-01-21發(fā)布1993-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

(京)新登字023號中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理GB/T14114-93中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號邯政編碼:10XX45電話:63787337637874471993年11月第一版204年12月電子版制作書號:155066·1-9972版權(quán)專有廠侵權(quán)必究舉報電話:(010)68533533

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理GB/T14114-93GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofV/FandF/Vconvertersforsemiconductorintegratedcircuits主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器(以下簡稱器件)測試方法的基本原理本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器的電參數(shù)測試。引用標(biāo)準(zhǔn)GB3439華導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理GB3442半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理GB3834半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理總的要求3.1若無特殊說明,測試期間,環(huán)境或參考點溫度偏離規(guī)定值的范圍應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定.3.2測試期間,應(yīng)避免外界干擾對測試精度的影響,測試設(shè)備引起的測試誤差應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。3.3測試期間,施于被測試器件的電參量應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定3.4被測器件與測試系統(tǒng)連接或斷開時,不應(yīng)超過器件的使用極限條件。3.5若有要求時,應(yīng)按器件詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的順序接通電源。3.6測試期間,被測器件應(yīng)按器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定連接外接網(wǎng)絡(luò),3.7,測試期間,被測器件應(yīng)避免出現(xiàn)自激現(xiàn)象。3.8若電參數(shù)值是由幾步測試的結(jié)果經(jīng)計算而確定時;這些測試的時間間隔應(yīng)盡可能短4電壓/頻率轉(zhuǎn)換器參數(shù)測試4.1失調(diào)誤差Eo4.1.1目的測試器件輸出頻率為規(guī)定的起始值時實際輸入電壓與理想輸入電壓之

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打?。?,因數(shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論