GB/T 15651.4-2017半導(dǎo)體器件分立器件第5-4部分：光電子器件半導(dǎo)體激光器

ICS31260

L51.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T156514—2017/IEC60747-5-42006

.:

半導(dǎo)體器件分立器件

第5-4部分光電子器件

:

半導(dǎo)體激光器

Semiconductordevices—Discretedevices—Part5-4Otoelectronicdevices—

:p

Semiconductorlasers

(IEC60747-5-4:2006,IDT)

2017-05-31發(fā)布2017-12-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T156514—2017/IEC60747-5-42006

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………2

物理概念

3.1……………2

器件類型半導(dǎo)體激光器激光二極管

3.2———()………2

一般術(shù)語(yǔ)

3.3……………2

與額定值和特性有關(guān)的術(shù)語(yǔ)

3.4………………………3

基本額定值和特性

4………………………7

類型

4.1…………………7

半導(dǎo)體

4.2………………7

外形與封裝細(xì)節(jié)

4.3……………………7

極限值絕對(duì)最大額定值

4.4()…………7

光電特性

4.5……………8

補(bǔ)充資料溫度對(duì)波長(zhǎng)的影響

4.6———…………………9

測(cè)試方法

5…………………10

功率測(cè)試

5.1……………10

輸出功率穩(wěn)定性

5.2……………………10

時(shí)域分布

5.3……………12

壽命

5.4…………………14

激光束的光學(xué)特性

5.5…………………14

附錄資料性附錄空間分布和光譜特性相關(guān)術(shù)語(yǔ)及定義參照表

A()…………………18

附錄資料性附錄空間分布和光譜特性相關(guān)測(cè)試方法參照表

B()……22

附錄資料性附錄功率測(cè)試和壽命相關(guān)術(shù)語(yǔ)定義及測(cè)試方法參照表

C()、…………23

參考文獻(xiàn)

……………………24

圖帶端口無(wú)透鏡器件

1……………………3

圖開關(guān)時(shí)間

2………………4

圖激光二極管的閾值電流

3………………5

圖基本電路圖

4…………………………10

圖基本電路圖

5…………………………12

圖典型脈沖響應(yīng)圖

6……………………13

圖基本電路圖

7…………………………14

Ⅰ

GB/T156514—2017/IEC60747-5-42006

.:

圖半強(qiáng)度角

8……………15

圖指定平面和機(jī)械參考面的關(guān)系

9……………………15

圖基本測(cè)量裝置圖

10……………………16

圖D和D的測(cè)量裝置

111/21/e2……………17

表光電特性

1………………8

Ⅱ

GB/T156514—2017/IEC60747-5-42006

.:

前言

半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第部分光電子器件由以下部分組成

GB/T15651《5:》:

第部分光電子器件基本額定值和特性

———5-2:;

第部分光電子器件測(cè)試方法

———5-3:;

第部分光電子器件半導(dǎo)體激光器

———5-4:。

本部分為的第部分

GB/T156515-4。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用半導(dǎo)體器件分立器件第部分光電子器件

IEC60747-5-4:2006《5-4:

半導(dǎo)體激光器

》。

與本部分中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下

:

激光輻射功率和功率不穩(wěn)定度測(cè)試方法

———GB/T13863—2011(ISO11554:2006,MOD);

激光術(shù)語(yǔ)

———GB/T15313—2008(ISO11145:2006,MOD);

半導(dǎo)體器件和集成電路第部分總則

———GB/T17573—19981(IEC747-1:1983,IDT);

激光和激光相關(guān)設(shè)備激光光束寬度發(fā)散角和光束傳輸比的試驗(yàn)方

———GB/T26599.1—2011、

法第部分無(wú)象散和簡(jiǎn)單象散光束

1:(ISO11146-1:2005,IDT);

激光光束指向和位置穩(wěn)定性測(cè)試方法

———GB/T27662—2011(ISO11670:2003,IDT)。

本部分做了下列編輯性修改

:

在第章規(guī)范性引用文件中增加了

———2,“IEC60747-1”;

圖中接收角或束散角對(duì)應(yīng)為全角

———1α;

開關(guān)時(shí)間中見圖改為見圖

———3.4.1“(3)”“(2)”;

注中微分輸出輻射功率量子效率中η改為η

———3.4.33()“ed”“d”;

激光束光學(xué)特性中見改為見

———3.4.7“(ISO1146-3)”“(ISO11146-3)”;

改為

———“4.2.1.1”“4.2.1”;

表中邊模抑制比改為

———1,4.5.12“SMS”“SMSR”;

注中根據(jù)?依次確定指定平面后確定后增加如圖所示

———5.5.4a)“”“8?！?

附錄中術(shù)語(yǔ)相干性脈沖重復(fù)頻率引用由改為

———A,“~”ISO11145“3.14~3.51”“3.15~3.52”,

術(shù)語(yǔ)量子效率非穩(wěn)腔引用由改為術(shù)語(yǔ)偏振引用

“~”ISO11145“3.52~3.56”“3.54~3.58”,“”

由改為

ISO11145“3.36”“3.37”;

附錄中刪除術(shù)語(yǔ)峰值發(fā)射波長(zhǎng)光譜輻射帶寬引用的的

———A,“”、“”ISO11145“3.54”;

附錄中開通延遲時(shí)間引用由改為壽命引用

———C,“”IEC60747-5-4“3.4.1.4”“3.4.1.3”,“”

由改為

ISO11145“3.33”“3.34”。

本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC78)。

本部分起草單位中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所

:。

本部分主要起草人劉小文陳海蓉安振峰牛江麗王曉燕任浩

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T156514—2017/IEC60747-5-42006

.:

半導(dǎo)體器件分立器件

第5-4部分光電子器件

:

半導(dǎo)體激光器

1范圍

的本部分規(guī)定了半導(dǎo)體激光器的基本額定值特性及測(cè)試方法

GB/T15651、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第部分總則

IEC60747-11:(Semiconductordevices—Dis-

cretedevicesandintegratedcircuits—Part1:General)

光纖光學(xué)系統(tǒng)用半導(dǎo)體光電器件第部分基本額定值和特性

IEC62007-11:(Semiconductor

optoelectricdevicesforfibreopticsystemapplications—Part1:Essentialratingsandcharacteristics)

光纖光學(xué)系統(tǒng)用半導(dǎo)體光電器件第部分測(cè)試方法

IEC62007-22:(Semiconductoroptoelectric

devicesforfibreopticsystemapplications—Part2:Measuringmethods)

光學(xué)和光學(xué)儀器激光和激光相關(guān)設(shè)備術(shù)語(yǔ)和符號(hào)

ISO11145(Opticsandoptical

instruments—Lasersandlaserrelatedequipment—Vocabularyandsymbols)

激光和激光相關(guān)設(shè)備激光光束寬度發(fā)散角和光束傳輸比的試驗(yàn)測(cè)試方法第

ISO11146-1、1

部分無(wú)像散和簡(jiǎn)單像散光束

:(Lasersandlaser-relatedequipment—Testmethodsforlaserbeam

widths,divergenceanglesandbeampropagationratios—Part1:Stigmaticandsimpleastigmatic

beams)

激光和激光相關(guān)設(shè)備激光光束寬度束散角和光束傳輸比的測(cè)試方法第部

ISO11146-2、2

分廣義像散光束

:(Lasersandlaser-relatedequipment—Testmethodsforlaserbeamwidths,

divergenceanglesandbeampropagationratios—Part2:Generalastigmaticbeams)

激光和激光相關(guān)設(shè)備激光光束寬度束散角和光束傳輸比的測(cè)試方法第部

ISO11146-3