標準解讀

《GB/T 16649.2-2006 識別卡 帶觸點的集成電路卡 第2部分：觸點的尺寸和位置》相比于《GB/T 16649.2-1996 識別卡 帶觸點的集成電路卡 第2部分：觸點的尺寸和位置》，主要在以下方面進行了調整和更新：

  1. 技術內容的修訂：2006版標準對觸點的尺寸、位置以及相關電氣特性的要求進行了重新定義和細化，以適應技術進步和市場發(fā)展的新需求。這些修訂確保了集成電路卡與讀寫設備之間的兼容性和互換性得到進一步提升。

  2. 標準結構優(yōu)化：標準文檔的結構可能根據實際使用反饋和國際標準的接軌要求進行了優(yōu)化，使得信息的呈現(xiàn)更加清晰，便于使用者查閱和執(zhí)行。

  3. 引用標準更新：隨著相關基礎標準和技術規(guī)范的更新，2006版標準可能引用了最新版本的其他國家標準或國際標準，確保了標準內容的現(xiàn)代性和準確性。

  4. 圖示和說明改進：為了更直觀地表達觸點尺寸和位置的要求，新版標準可能改進了圖表質量，增加了必要的示例或者詳細說明，幫助制造商準確理解并實施標準規(guī)定。

  5. 測試方法和要求明確化：對于觸點的電氣測試、機械耐久性試驗等方面，2006版標準可能提供了更為具體和嚴格的測試條件及評判準則，以保證集成電路卡的質量控制水平。

  6. 國際化兼容性增強：考慮到全球貿易和技術交流的需求，2006版標準在制定時可能更加注重與國際標準ISO/IEC的相關部分保持一致或協(xié)調，便于國內外產品的相互認可和流通。


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  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 16649.2-2024
  • 2006-03-14 頒布
  • 2006-07-01 實施
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文檔簡介

ICS35.240.15L64中華人民共和國國家標準GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2：1999代替GB/T16649.2-1996識別卡帶觸點的集成電路卡第2部分:觸點的尺寸和位置Identificationcards-Integratedcircuit(s）cardswithcontacts-Part2:Dimensionsandlocationofthecontacts(ISO/IEC7816-2:1999,IDT)2006-03-14發(fā)布2006-07-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2:1999三次前言范圍2規(guī)范性引用文件3觸點的尺寸4觸點的數量和位置5觸點的分配附錄A(資料性附錄)相關其他技術的觸點分配附錄B(資料性附錄)可能的導電區(qū)的位置·

GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2：1999GB/T16649《識別卡帶觸點的集成電路卡》擬分為十二個部分：第1部分：物理特性：第2部分：觸點的尺寸和位置;第3部分：電信號和傳輸協(xié)議：第4部分：行業(yè)間交換用命令：第5部分：應用標識符的國家編號體系和注冊規(guī)程：第6部分：行業(yè)間數據元；第7部分：用于結構化卡查詢語言（SCQL)的行業(yè)間命令：第8部分：與安全相關的行業(yè)間命令;第9部分：附加的行業(yè)間命令和安全屬性：第10部分：同步卡的電信號和復位應答：第11部分：集成電路卡上通過生物方法的身份驗證：第12部分：帶觸點集成電路卡的USB接口。本部分為GB/T16649的第2部分。本部分等同采用國際標準ISO/IEC7816-2：1999《識別卡帶觸點的集成電路卡第2部分：觸點的尺寸和位置》英文版）。本部分代替GB/T16649.2-1996《識別卡帶觸點的集成電路卡第2部分：觸點的尺寸和位置》。本部分與GB/T16649.2—1996相比主要變化如下：“）增加了“未使用的觸點區(qū)域不應導電.并且應與其他觸點區(qū)域電隔離，以避免插入接口設備時可能發(fā)生的短路問題”這一規(guī)定：副去了1996版中的附錄A“觸點的位置b）測量方法”.在新版標準中，觸點位置的測試方法見GB/T17554.3：C）增加了附錄B"可能的導電區(qū)的位置"。GB/T16649是描述識別卡的參數和交換中識別卡使用的系列國家標準之一。下面列出了這些國家標準的預計結構及其對應的國際標準以及所代替的國家標準：）（B/T14916(識別卡物理特性》(ISO/IEC7810:2003.代替GB/T14916—1994)。b）GB/T15120《識別卡記錄技術》,分為：-第1部分：山印(ISO/IEC7811-1:1985)；第2部分：磁條（ISO/IEC7811-2：1985）：第3部分：ID-1型卡上凸印字符的位置(ISO/IEC7811-3:1985);-第4部分：只讀磁道的第1磁道和第2磁道的位置(ISO/IEC7811-4:1985)-第5部分：讀寫磁道的第3磁道的位置(ISO/IEC7811-5:1985)。c）GB/T15694《識別卡發(fā)卡者標識》,分為：一第1部分：編號體系(ISO/IEC7812-1:1993);-第2部分：申請和注冊規(guī)程(ISO/IEC7812-2:2000)。d）GB/T17552《識別卡金融交易卡》。GB/T17554《識別卡測試方法》分為：-第1部分：一般特性測試(ISO/IEC10373-1:1998.代替GB/T17554—1998)

GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2：1999-第2部分：帶磁條的卡(ISO/IEC10373-2:1998)；-第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備(ISO/IEC10373-3:2001)-第5部分：光存儲卡(ISO/IEC10373-5：1998)：第第6部分：接近式卡(ISO/IEC10373-6:2001)；-第7部分：鄰近式卡(ISO/IEC10373-7:2001)）GB/T17551《識別卡光存儲卡一般特性》。g）GB/T17550《識別卡光存儲卡線性記錄方法》.分為：-第1部分：物理特性(ISO/IEC11694-1:1994)；-第2部分：可訪間光區(qū)域的尺寸和位置（ISO/IEC11694-2：1995)：-第3部分：光屬性和特性（ISO/IEC11694-3：1995)-第4部分：邏輯數據結構(ISO/IEC11694-4:1996)本部分由中華人民共和國信息產業(yè)部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所歸口本部分起草單位：中國電子技術標準化研究所。本部分主要起草人：金倩、馮敬、蔡懷忠、耿力.

GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2：1999識別卡帶觸點的集成電路卡第2部分：觸點的尺寸和位置1范圍GB/T16649的本部分規(guī)定了ID-1型集成電路卡上每-一個觸點的尺寸、位置和分配GB/T16649的本部分應與GB/T16649.1結合使用2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T16649的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵根據本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T14916-2006識別卡物理特性(ISO/IEC7810:2003.IDT)GB/T16649.1—2006識別卡：帶觸點的集成電路卡第1部分：物理特性（ISO/IEC7816-1:1998.MOD)GB/T17554.1—2006識別卡測試方法第1部分：通用特性測試(ISO/IEC10373-1:1998，MOD)GB/T17554.3-2006識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備（ISO/IEC10373-3:2001.MOD)3觸點的尺寸包含各個觸點傳導區(qū)的表面和形狀不在GB/T16649的本部分中定義每個觸點都應有一個不小于圖1中規(guī)定尺寸的最小矩形表面區(qū)域。除了要求每個觸點和

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