GB/T 17554.3-2006識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備

ICS35.240.15L64中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17554.3-2006識別卡測試方法第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備ldentificationcards-Testmethods-Part3:Integratedcircuit(s）cardswithcontactsandrelatedinterfacedevices(ISO/IEC10373-3:2001.MOD)2006-03-14發(fā)布2006-07-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T17554.3一2006前言花圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義····4測試方法的默認(rèn)條款4.1側(cè)試環(huán)境4.2預(yù)處理4.3默認(rèn)容差4.4總度量的不確定性4.5電氣測量的約定4.6投備4.7各類測試方法和與之相關(guān)的基本標(biāo)準(zhǔn)，帶觸點的集成電路卡物理特性的測試方法5135.1觸點的尺寸和位置…………135.2靜電……觸點的表面電阻·5.35.4觸點表面輪廊…6，帶觸點的集成電路卡電氣特性的測試方法6.1VCC觸點6.26.3CLK觸點RST觸點6.4186.5VPP觸點帶觸點的集成電路卡邏輯操作的測試方法·727.1復(fù)位應(yīng)答（ATR)2「=0協(xié)議7.27.3T=1協(xié)議8接口設(shè)備(IFD)物理和電氣特性的測試方法8.1觸點激活……….VCC觸點8.28.3I/〇觸點…………CLK觸點8.4RST觸點8.533VPP觸點8.68.7觸點?；睢ぁFD邏輯操作測試方法35復(fù)位應(yīng)答（ATR)9.1?.2T=0協(xié)議36

GB/T17554.3-20069,3T=1協(xié)議38附錄Λ(資料性附錄）附加測試方法A.1機(jī)械強(qiáng)度44Ａ.1.1三輪測試44A.1.2點壓力測試46.2IFD--IFD對于無效PCB的響應(yīng)A.2.1儀器47A.2.2規(guī)程A.2.3測試報告47

GB/T17554.3—2006GB/T17554《識別卡測試方法》擬分為7個部分：-第1部分：一般特性測試第第2部分：磁條卡第第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備第4部分：無觸點集成電路卡第5部分：光記憶卡第6部分：接近式卡第7部分：鄰近式卡本部分為GB/T17554的第3部分。修改采用國際標(biāo)準(zhǔn)1SO/IEC10373-3:2001《識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備》(英文版)。本部分與ISO/IEC10373-3:2001相比增加和修改了下列內(nèi)容：a）增加了4.6.2.2*參數(shù)定義”；b）附錄A中增加了A.1.2*點壓力測試”；）附錄A因增加A.1.2.其編號作了編輯性修改根據(jù)新版識別卡帶觸點的集成電路卡物理特性標(biāo)準(zhǔn)做了以上修改本部分的附錄A是資料性附錄。本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口本部分起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本部分主要起草人：馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩、劉華茂

GB/T17554.3—2006識別卡測試方法第3部分：帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備1范圍本部分定義了帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備特性的測試方法,，該方法與GB/T16649給出的定義相適應(yīng)。每一測試方法交叉引用一個或多個基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，這些基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)可以是GB/T14916.也可以是一個或多個定義了應(yīng)用在識別卡應(yīng)用的信息存儲技術(shù)的補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)。住：接收標(biāo)準(zhǔn)不包含在本部分中，而是在以上提及的國家標(biāo)準(zhǔn)中。本部分只定義了帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備特性的測試方法：GB/T17554.1定義了為一種或多種卡技術(shù)所共用的測試方法；其他部分則定義了各個專項技術(shù)的測試方法。本部分中描述的若干測試方法可單獨進(jìn)行。規(guī)定的卡不要求順序地通過所有測試本部分中規(guī)定的測試方法基干GB/T16649中的定義保用本部分中描述的測試方法確認(rèn)合格的集成電路卡（ICC)和接口設(shè)備（IFD),不排除在實際使用時出現(xiàn)失效。本部分不包含可靠性測試的內(nèi)容。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17554的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T14916-2006識別卡物理特性(ISO/IEC7810:1995.IDT)GB/T16649.1-2006識別卡：帶觸點的集成電路卡第1部分：物理特性(ISO/IEC7816-1:1998,MOD）GB/T16649.2-2006識別卡：帶觸點的集成電路卡第2部分：觸點的尺寸和位置（ISO/IEC7816-2:1999.IDT）GB/T16649.3-2006識別卡帶觸點的集成電路卡第3部分：電信號和傳輸協(xié)議（ISO/IEC7816-3:1997.1DT)第1部分：一GB/T17554.1-2006識別卡側(cè)試方法-般特性測試（ISO/IEC10373-1：1998MOD）GIB548A一1996微電子器件實驗方法和程序：方法3015靜電放電靈敏度的分類ISO/IEC7816-4:1995識別卡帶觸點的集成電路卡第4部分：交換