標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17554.1-2006 識(shí)別卡 測試方法 第1部分：一般特性測試》與《GB/T 17554-1998 識(shí)別卡 測試方法》相比，主要存在以下幾點(diǎn)差異和更新：

  1. 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)的調(diào)整：最顯著的變化是從單一的測試方法標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)變?yōu)橄盗袠?biāo)準(zhǔn)，通過引入“第1部分”的命名，為未來可能增加的其他特定測試部分預(yù)留了空間，提高了標(biāo)準(zhǔn)的擴(kuò)展性和靈活性。

  2. 測試內(nèi)容細(xì)化：新標(biāo)準(zhǔn)更詳細(xì)地規(guī)定了一般特性測試的具體內(nèi)容，可能包括識(shí)別卡的物理特性、環(huán)境適應(yīng)性、電氣性能等方面的測試方法，相比舊標(biāo)準(zhǔn)，其測試項(xiàng)目更加全面且具體。

  3. 技術(shù)指標(biāo)更新：鑒于科技進(jìn)步和識(shí)別卡技術(shù)的發(fā)展，新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測試參數(shù)、合格判定標(biāo)準(zhǔn)等方面進(jìn)行了修訂，以適應(yīng)新的技術(shù)和市場需求。這些更新可能涉及到讀寫距離、數(shù)據(jù)傳輸速率、耐用度、抗干擾能力等多個(gè)方面。

  4. 測試方法優(yōu)化：為了提高測試的有效性和可操作性，新標(biāo)準(zhǔn)可能引入了新的測試設(shè)備、測試程序或計(jì)算方法，使得測試過程更為科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，測試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。

  5. 標(biāo)準(zhǔn)化語言和格式：遵循國際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）的最新指導(dǎo)原則，新標(biāo)準(zhǔn)在表述上可能更加規(guī)范、清晰，便于國內(nèi)外用戶理解和執(zhí)行，同時(shí)增強(qiáng)了與其他國際標(biāo)準(zhǔn)的一致性和互認(rèn)性。

  6. 合規(guī)性和適用范圍：新標(biāo)準(zhǔn)可能根據(jù)行業(yè)發(fā)展和應(yīng)用需求，調(diào)整了適用的識(shí)別卡類型范圍，確保標(biāo)準(zhǔn)的廣泛適用性和前瞻性，同時(shí)強(qiáng)化了與相關(guān)法律法規(guī)、行業(yè)規(guī)范的銜接。

這些變化旨在提升識(shí)別卡測試的標(biāo)準(zhǔn)化水平，促進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量控制和產(chǎn)業(yè)升級(jí)，滿足日益增長的信息化應(yīng)用需求。


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  • 2006-03-14 頒布
  • 2006-07-01 實(shí)施
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GB/T 17554.1-2006識(shí)別卡測試方法第1部分：一般特性測試_第1頁
GB/T 17554.1-2006識(shí)別卡測試方法第1部分：一般特性測試_第2頁
GB/T 17554.1-2006識(shí)別卡測試方法第1部分：一般特性測試_第3頁
GB/T 17554.1-2006識(shí)別卡測試方法第1部分：一般特性測試_第4頁
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文檔簡介

ICS35.240.15L64中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17554.1—2006代替GB/T17554-1998識(shí)別卡測試方法第1部分：一般特性測試Identificationcards-Testmethods-Part1:Generalcharacteristicstests(ISO/IEC10373-1:1998.MOD)2006-03-14發(fā)布2006-07-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T17554.1一2006三前言范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義4測試方法的默認(rèn)條款5測試方法5.1卡卡翹曲5.2：卡的尺寸5.3剝離強(qiáng)度5.4耐化學(xué)性5.5在溫度和濕度條件下卡尺寸的穩(wěn)定性和翹曲5.6帖連或并塊5.7彎曲韌性5.8動(dòng)態(tài)彎曲應(yīng)力（彎曲特性）5.9動(dòng)態(tài)扭曲應(yīng)力(扭曲特性)5.10可燃性5.11阻光度5.12紫外線5.13X射線5.14靜磁場5.15字符凸印的起伏高度5.16抗熱度15

GB/T17554.1—2006GB/T17554《識(shí)別卡測試方法》擬分為7個(gè)部分：-第1部分：一般特性測試第第2部分：磁條卡第第3部分：帶觸點(diǎn)的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備第4部分：無觸點(diǎn)集成電路卡第5部分：光記憶卡第6部分：接近式卡第7部分：鄰近式卡本部分為GB/T17554的第1部分.修改采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC10373-1：1998《識(shí)別卡測試方法第1部分：一般特性測試》英文版)。本部分與ISO/IEC10373-1:1998相比,存在如下少量技術(shù)性差異：根據(jù)新版識(shí)別卡物理特性標(biāo)準(zhǔn)，本部分增加了5.16“抗熱度測試方法”本部分與GB/T17554—1998相比主要變化如下：a增加了5.16*抗熱度測試方法”；b）刪除了第6章“帶觸點(diǎn)的集成電路卡”本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。本部分起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所本部分主要起草人：馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩本部分從實(shí)施之日起，同時(shí)替代GB/T17554—1998《識(shí)別卡測試方法》。

GB/T17554.1—2006識(shí)別卡測試方法第1部分：一般特性測試T范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了符合GB/T14916-2006所定義的識(shí)別卡特性的一些測試方法。每一測試方法交叉引用一個(gè)或多個(gè)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn).這些基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)可以是GB/T14916.也可以是一個(gè)或多個(gè)定義了應(yīng)用在識(shí)別卡應(yīng)用的信息存儲(chǔ)技術(shù)的補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)，注1：接收標(biāo)準(zhǔn)不包含在本部分中，而是在以上提及的國家標(biāo)準(zhǔn)中注2：本部分描述的若干測試方法預(yù)期可單獨(dú)進(jìn)行。規(guī)定的卡不要求順序地通過所有測試本部分定義了為一種或多種卡技術(shù)所共用的測試方法。GB/T17554的其他部分定義了專有技術(shù)的測試方法。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17554的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T131-1993機(jī)械制圖表面粗糙度符號(hào)、代號(hào)及其注法（eqvISO1302：1992）GB/T1690—1992硫化橡膠耐液體實(shí)驗(yàn)方法(neqISO1817:1985)GB/T3922-1995紡織品耐汗演色牢度實(shí)驗(yàn)方法(eqvISO105/E04:1994)GB/T11500—1989攝影透射密度測量的兒何條件(neqISO5-2:1985)GB/T14916-2006識(shí)別卡物理特性（ISO/IEC7810:2003.IDT)GB/T17552—1998識(shí)別卡：金融交易卡(idtISO/IEC7813:1995)GB/T16649.1-2006識(shí)別卡：帶觸點(diǎn)的集成電路卡第1部分：物理特性(ISO/IEC7816-1:1998.MOD)GB/T10125—1997人造氣氰腐蝕試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)(eqvISO9227：1990）GB/T17553.1—1998識(shí)別卡無觸點(diǎn)集成電路卡第1部分:物理特性(idtISO/IEC10536-1:1992）GB/T17550.3—1998識(shí)別卡光記憶卡線性記錄方法第3部分：光屬性和特性(idtISO/IEC11694-3：1995)ISO/IEC7811-1:1995識(shí)別卡：記錄技術(shù)：第1部分：凸印ISO/IEC7811-2:1995識(shí)別卡記錄技術(shù)第2部分：

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