標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17444-2013 紅外焦平面陣列參數(shù)測試方法》與《GB/T 17444-1998 紅外焦平面陣列特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范》相比，主要在以下幾個方面進行了調(diào)整和更新：

  1. 測試項目增補與細化：2013版標(biāo)準(zhǔn)在原有測試項目基礎(chǔ)上新增了多項參數(shù)的測試方法，如更詳細的噪聲特性測試、響應(yīng)率測量、動態(tài)范圍評估等，以適應(yīng)紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用需求的提高。同時，對原有測試項目的具體步驟和要求進行了細化，提高了測試的準(zhǔn)確性和可操作性。

  2. 測試環(huán)境與條件：新標(biāo)準(zhǔn)對測試環(huán)境的溫濕度控制、暗室條件、電磁干擾控制等方面提出了更為嚴格的要求，確保測試結(jié)果的穩(wěn)定性和重復(fù)性。此外，還明確了不同測試條件下應(yīng)遵循的具體標(biāo)準(zhǔn)操作程序。

  3. 測量儀器與精度要求：2013版標(biāo)準(zhǔn)對用于測試的儀器設(shè)備性能和精度要求進行了更新，引入了更先進的測量技術(shù)和設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，確保測試數(shù)據(jù)的可靠性和準(zhǔn)確性。同時，針對特定參數(shù)測試，規(guī)定了更精確的校準(zhǔn)方法和頻率。

  4. 數(shù)據(jù)處理與分析：新標(biāo)準(zhǔn)提供了更加系統(tǒng)化的數(shù)據(jù)處理流程和分析方法，包括對測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計處理要求、異常值剔除規(guī)則以及如何進行誤差分析等，有助于提升測試結(jié)果的科學(xué)性和客觀性。

  5. 標(biāo)準(zhǔn)適用范圍擴展：考慮到技術(shù)進步和市場變化，2013版標(biāo)準(zhǔn)擴大了適用的紅外焦平面陣列類型和應(yīng)用場景，不僅涵蓋了軍事領(lǐng)域，也包括了民用領(lǐng)域的多種新型紅外探測器，增強了標(biāo)準(zhǔn)的通用性和前瞻性。

  6. 術(shù)語定義與標(biāo)準(zhǔn)引用更新：根據(jù)技術(shù)發(fā)展，標(biāo)準(zhǔn)中對關(guān)鍵術(shù)語給出了新的或修訂的定義，并更新了引用的其他國家標(biāo)準(zhǔn)和國際標(biāo)準(zhǔn)，確保與國際接軌，便于國內(nèi)外技術(shù)交流與合作。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2013-11-12 頒布
  • 2014-04-15 實施
?正版授權(quán)
GB/T 17444-2013紅外焦平面陣列參數(shù)測試方法_第1頁
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文檔簡介

ICS31260

L52.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T17444—2013

代替

GB/T17444—1998

紅外焦平面陣列參數(shù)測試方法

Measuringmethodsforparametersofinfraredfocalplanearrays

2013-11-12發(fā)布2014-04-15實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T17444—2013

目次

前言…………………………

Ⅰ

范圍………………………

11

術(shù)語和定義………………

21

符號和單位………………

34

測試方法…………………

45

方法響應(yīng)率和響應(yīng)率不均勻性……………

4.13001:5

方法噪聲電壓………………

4.23002:8

方法探測率…………………

4.33003:9

方法噪聲等效溫差…………

4.43004:9

方法有效像元率……………

4.53005:10

方法固定圖形噪聲…………

4.63006:11

方法噪聲等效功率…………

4.73007:11

方法飽和輻照功率…………

4.83008:12

方法動態(tài)范圍………………

4.93009:12

方法相對光譜響應(yīng)………………………

4.103010:13

方法讀出速率幀頻………………………

4.113011:、14

方法串音…………………

4.123012:15

附錄規(guī)范性附錄響應(yīng)率的其他表示………………

A()17

附錄規(guī)范性附錄空間噪聲…………

B()18

附錄資料性附錄備用特性參數(shù)及相關(guān)量…………

C()19

附錄資料性附錄調(diào)制傳遞函數(shù)測試方法…………

D()20

附錄資料性附錄非線性度測試方法………………

E()22

附錄規(guī)范性附錄一種推薦算法……………………

F()23

GB/T17444—2013

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)代替紅外焦平面陣列特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范與

GB/T17444—1998《》,GB/T17444—1998

相比主要變化如下

:

標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為紅外焦平面陣列參數(shù)測試方法

———《》。

增加了一些參數(shù)定義如紅外焦平面陣列像元幀頻行頻固定圖形噪聲平均峰值探測率

———,:、、、、、、

飽和信號電壓像元噪聲等效溫差

、。

增加一些參數(shù)測試方法如固定圖形噪聲讀出速率幀頻

———,:、、。

增加了附錄調(diào)制傳遞函數(shù)測試方法附錄非線性度測試方法

———D《》、E《》。

修改了部分參數(shù)的名稱和定義如積分時間讀出速率輻照功率輻照能量飽和輻照功率

———,:、、、、、

死像元過熱像元噪聲等效功率

、、。

修改了部分參數(shù)的測試方法如響應(yīng)率噪聲電壓噪聲等效溫差探測率動態(tài)范圍相對光

———,:、、、、、

譜響應(yīng)串音

、。

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口

。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人丁瑞軍梁平治唐紅蘭陳洪雷曹嫵媚殷建軍陳世軍

:、、、、、、。

本部所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T17444—1998。

Ⅰ

GB/T17444—2013

紅外焦平面陣列參數(shù)測試方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)對紅外焦平面陣列特性參數(shù)及相關(guān)量進行了定義

。

本標(biāo)準(zhǔn)給出了紅外焦平面陣列特性參數(shù)的測試方法及測試條件

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于線列和面陣紅外焦平面陣列

。

2術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

21

.

紅外焦平面陣列infraredfocalplanearraysIRFPA

;

對紅外輻照以下簡稱輻照敏感的探測器陣列并帶有讀出電路的器件簡稱紅外焦平面

(),。

22

.

像元pixel

紅外探測器陣列的敏感單元

。

23

.

幀周期frameperiod

面陣紅外焦平面一幀信號積分和讀出所需要的時間

。

24

.

幀頻framefrequence

面陣紅外焦平面在時間內(nèi)的信號輸出幀數(shù)

1s。

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