標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 17455-2008 無(wú)損檢測(cè) 表面檢測(cè)的金相復(fù)型技術(shù)》與前一版《GB/T 17455-1998 無(wú)損檢測(cè) 表面檢查的金相復(fù)制件技術(shù)》相比,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:
-
術(shù)語(yǔ)和定義:新版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)一些關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)和定義進(jìn)行了修訂和完善,以更準(zhǔn)確地反映當(dāng)前無(wú)損檢測(cè)技術(shù)和金相復(fù)型領(lǐng)域的專業(yè)表述,增強(qiáng)了標(biāo)準(zhǔn)的清晰度和適用性。
-
技術(shù)內(nèi)容更新:鑒于材料科學(xué)與檢測(cè)技術(shù)的進(jìn)步,2008版標(biāo)準(zhǔn)引入了新的金相復(fù)型技術(shù)和工藝流程,包括但不限于樣品制備、復(fù)型材料選擇、復(fù)制過(guò)程控制等方面的技術(shù)改進(jìn),以提高復(fù)型的精確度和效率。
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質(zhì)量控制要求:新標(biāo)準(zhǔn)加強(qiáng)了對(duì)金相復(fù)型過(guò)程中質(zhì)量控制的要求,明確了復(fù)型質(zhì)量的評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)和方法,確保復(fù)型結(jié)果能夠真實(shí)、可靠地反映被檢測(cè)表面的微觀結(jié)構(gòu)和缺陷情況。
-
檢驗(yàn)方法與評(píng)價(jià)準(zhǔn)則:對(duì)檢驗(yàn)方法進(jìn)行了細(xì)化和優(yōu)化,提供了更詳細(xì)的檢驗(yàn)步驟和評(píng)價(jià)準(zhǔn)則,幫助檢測(cè)人員更準(zhǔn)確地執(zhí)行無(wú)損檢測(cè)任務(wù),減少主觀判斷的不確定性。
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安全與環(huán)保要求:隨著對(duì)工作環(huán)境和可持續(xù)發(fā)展的重視,2008版標(biāo)準(zhǔn)增加了關(guān)于操作安全和環(huán)境保護(hù)的相關(guān)規(guī)定,指導(dǎo)使用者在進(jìn)行金相復(fù)型時(shí)采取必要的安全措施,減少對(duì)環(huán)境的影響。
-
標(biāo)準(zhǔn)適用范圍:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍進(jìn)行了適當(dāng)?shù)恼{(diào)整,可能包括擴(kuò)大或具體化了可應(yīng)用的材料類型、表面特征或檢測(cè)目的,以更好地適應(yīng)當(dāng)前工業(yè)檢測(cè)的需求。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2008-07-30 頒布
- 2009-02-01 實(shí)施



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GB/T 17455-2008無(wú)損檢測(cè)表面檢測(cè)的金相復(fù)型技術(shù)-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
犐犆犛19.100
犑04
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜17455—2008/犐犛犗3057:1998
代替GB/T17455—1998
無(wú)損檢測(cè)表面檢測(cè)的金相復(fù)型技術(shù)
犖狅狀犱犲狊狋狉狌犮狋犻狏犲狋犲狊狋犻狀犵—
犕犲狋犪犾犾狅犵狉犪狆犺犻犮狉犲狆犾犻犮犪狋犲犮犺狀犻狇狌犲狊狅犳狊狌狉犳犪犮犲犲狓犪犿犻狀犪狋犻狅狀
(ISO3057:1998,IDT)
20080730發(fā)布20090201實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
書(shū)
犌犅/犜17455—2008/犐犛犗3057:1998
前言
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO3057:1998《無(wú)損檢測(cè)表面檢測(cè)的金相復(fù)型技術(shù)》(英文版)。
本標(biāo)準(zhǔn)等同翻譯ISO3057:1998。
為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改:
———“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本標(biāo)準(zhǔn)”;
———?jiǎng)h除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T17455—1998《無(wú)損檢測(cè)表面檢查的金相復(fù)制件技術(shù)》。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T17455—1998相比主要變化如下:
———修改和調(diào)整了范圍(1998年版的第1章和第2章,本版的第1章);
———修改了復(fù)型操作(1998年版的第4章,本版的第3章);
———增加了注2和注3。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC56)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:上海寶鋼工業(yè)檢測(cè)公司、上海材料研究所、上海上材工程材料檢測(cè)有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:陸頻、程永紅、王濱、楊力。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T17455—1998。
Ⅰ
書(shū)
犌犅/犜17455—2008/犐犛犗3057:1998
無(wú)損檢測(cè)表面檢測(cè)的金相復(fù)型技術(shù)
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用透明硝化纖維膜料、醋酸纖維素或塑料材料(帶有或不帶有載體)進(jìn)行表面檢測(cè)的
復(fù)型技術(shù),該技術(shù)用于記錄由機(jī)械或冶金原因引起的金屬表面狀態(tài)的不均勻性。
本標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定方法的優(yōu)點(diǎn)在于適用于某些難以檢測(cè)的部位或不允許破壞的工件。而且,復(fù)型件能
在現(xiàn)場(chǎng)用低倍光學(xué)裝置觀測(cè)或帶到實(shí)驗(yàn)室在高倍金相顯微鏡下檢測(cè)。
2檢測(cè)面的制備
2.1清潔檢測(cè)面
應(yīng)充分清潔被檢表面、去除油脂并干燥。采用合適的溶劑,用丙酮或無(wú)水酒精清除表面油脂,并使
用加熱空氣吹干表面。
2.2宏觀檢測(cè)面的制備
宏觀檢測(cè)面的制備適用于各類表面,包括因運(yùn)行情況造成的破裂面。按2.1規(guī)定,只需要對(duì)檢測(cè)面
進(jìn)行表面清潔、去除油脂和干燥。
2.3微觀檢測(cè)面的制備
2.3.1檢測(cè)目的在于顯示出表面冶金狀態(tài)。去除油脂后,表面應(yīng)進(jìn)行一系列細(xì)致的機(jī)械研磨,這種研
磨后道工序應(yīng)比前道工序更細(xì)。通常,表面研磨深度在0.2mm以內(nèi)。許多情況下,研磨深度是很淺
的。進(jìn)行研磨操作時(shí),不應(yīng)產(chǎn)生過(guò)大的壓力,以免過(guò)熱出現(xiàn)金屬加工硬化。每次研磨方向宜與上次研磨
方向交叉或垂直,并在每次操作后用丙酮或無(wú)水酒精清潔表面。
2.3.2上述機(jī)械研磨后,需進(jìn)行最后拋光。這種拋光可采用以下任何一種方法:
a)通過(guò)選擇適當(dāng)?shù)脑O(shè)備和電解液進(jìn)行電解法;
b)在小電解槽內(nèi)電解的方法;
c)為產(chǎn)生符合要求的表面,可用金剛石研磨軟膏、氧化鋁或其他化合物進(jìn)行機(jī)械拋光。
拋光完成后,表面應(yīng)如2.1所述進(jìn)行清潔和干燥。表面準(zhǔn)備的最后階段是用適當(dāng)?shù)脑噭┻M(jìn)行適度
浸蝕。浸蝕后,表面應(yīng)如2.1所述再次清潔和干燥。
3復(fù)型操作
3.1概述
應(yīng)確保在盡可能干燥且已去除所有灰塵的條件下進(jìn)行復(fù)型操作。
3.2膜料復(fù)型
膜料應(yīng)是透明的并且以硝化纖維、醋酸纖維素或塑料為基本原料。應(yīng)用前要特別注意不應(yīng)攪動(dòng)膜
料,否則會(huì)形成氣泡,對(duì)結(jié)果產(chǎn)生不利影響。膜料應(yīng)鋪展在被檢表面,形成一層厚度均勻的薄層,膜料必
須均勻、無(wú)氣泡和刷痕,然后根據(jù)膜料制造商的使用說(shuō)明書(shū)進(jìn)行干燥。
3.3膜片復(fù)型
3.3.1在被檢表面用適宜的溶劑潤(rùn)濕。選取具有合適成分、尺寸以及厚度的確保穩(wěn)定性和
溫馨提示
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